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金鑒實(shí)驗(yàn)室

金鑒實(shí)驗(yàn)室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一

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動態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2025-03-20 11:19

    LED光效、熱阻與光衰的深度剖析

    LED光效LED光效是衡量光源性能的關(guān)鍵指標(biāo),其定義為光通量(lm)與光源消耗功率(W)的比值,單位為lm/W。瞬態(tài)光效是LED光源啟動瞬間的發(fā)光效率,也稱初始冷態(tài)光效。它主要反映了LED在短時間內(nèi)光-電轉(zhuǎn)換的特性,與芯片和熒光粉的量子激發(fā)能力、膠體折射率、透光率以及支架結(jié)構(gòu)(反光杯)的反光率等因素密切相關(guān),而與芯片結(jié)溫幾乎無關(guān)。瞬態(tài)光效僅具有測量對比的意義
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-20 11:18

    Decap開蓋檢測方法及案例分析

    開蓋檢測(DecapsulationTest),即Decap,是一種在電子元器件檢測領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用的破壞性實(shí)驗(yàn)方法。這種檢測方式在芯片的失效分析、真?zhèn)舞b定等多個關(guān)鍵領(lǐng)域發(fā)揮著不可或缺的作用,為保障電子產(chǎn)品質(zhì)量和安全性提供了有力支持。應(yīng)用方法1.化學(xué)開蓋化學(xué)開蓋是利用特定化學(xué)試劑的腐蝕作用來去除芯片外部封裝的一種方法在實(shí)際操作中,常用的化學(xué)試劑包括發(fā)煙硝酸、濃
  • 發(fā)布了文章 2025-03-20 11:17

    透射電子顯微鏡(TEM)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用

    鋰電池材料微觀結(jié)構(gòu)研究在新能源技術(shù)迅猛發(fā)展的當(dāng)下,鋰電池材料研究的重要性日益凸顯。深入鉆研鋰電池材料的原子與電子結(jié)構(gòu),為材料設(shè)計(jì)的優(yōu)化與電池性能的提升筑牢根基。而透射電子顯微鏡(TEM)技術(shù),便是這一探索旅程中的得力助手,其原子尺度的空間分辨本領(lǐng),使科研人員得以深度洞察材料的微觀構(gòu)造。(a)TEM透射電鏡的結(jié)構(gòu)原理圖;(b)TEM測試照片(Co3O4納米片)
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-19 11:51

    聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)

    聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)作為一種前沿的微納加工與成像技術(shù),憑借其強(qiáng)大的功能和多面性,在材料科學(xué)研究中占據(jù)著舉足輕重的地位。它能夠深入微觀世界,揭示材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)與特性,為材料科學(xué)的發(fā)展提供了強(qiáng)有力的支撐。定點(diǎn)剖面形貌與成分分析FIB-SEM系統(tǒng)具備精準(zhǔn)的定點(diǎn)切割與分析能力,能夠深入材料內(nèi)部,揭示其微觀結(jié)構(gòu)與成分。以CdS微米線為例,光學(xué)顯
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-19 11:47

    氬離子拋光技術(shù):材料科學(xué)中的關(guān)鍵樣品制備方法

    氬離子拋光技術(shù)的核心氬離子拋光技術(shù)的核心在于利用高能氬離子束對樣品表面進(jìn)行精確的物理蝕刻。在拋光過程中,氬離子束與樣品表面的原子發(fā)生彈性碰撞,使表面原子或分子被濺射出來。這種濺射作用能夠在不引入新的損傷的情況下,逐步去除樣品表面的一層薄膜。通過精確控制離子束的能量、流量、角度和作用時間,可以實(shí)現(xiàn)對不同材料樣品的優(yōu)化拋光。這種技術(shù)的原理基于物理濺射機(jī)制,避免了
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-18 21:32

    AEC-Q102之正弦振動

    振動試驗(yàn)(VibrationalVerificationforFunctionality,VVF)是確保汽車電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中保持性能穩(wěn)定和可靠性的一項(xiàng)關(guān)鍵測試。振動試驗(yàn)重要性在汽車電子行業(yè)中,AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),其中振動試驗(yàn)部分主要參照J(rèn)ESD22-B103B.01行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。這一標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了振動試驗(yàn)的條件、方法和評估準(zhǔn)則,
  • 發(fā)布了文章 2025-03-18 21:31

    絕緣電阻測試:電氣安全的關(guān)鍵防線

    絕緣電阻測試的起源與定義絕緣電阻測試(InsulationResistanceTest,簡稱IR)是一種歷史悠久且廣泛應(yīng)用的絕緣質(zhì)量評估手段。自20世紀(jì)初誕生以來,也是燈具安規(guī)測試標(biāo)準(zhǔn)評估燈具安全性能的重要指標(biāo)之一。該測試的核心在于測量被測設(shè)備的絕緣電阻,通過將相線和中性線短路,確保測得的電阻值高于國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值。兆歐表(又稱絕緣電阻測試儀)是這一測試的
  • 發(fā)布了文章 2025-03-18 21:30

    FIB測試技術(shù):從原理到應(yīng)用

    FIB技術(shù)的核心價值聚焦離子束(FIB)技術(shù)是一種在微納尺度上實(shí)現(xiàn)材料精確加工的先進(jìn)技術(shù)。它通過將離子束聚焦到極高的精度,能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行納米級的蝕刻和加工。這種技術(shù)的關(guān)鍵在于其能夠產(chǎn)生直徑極細(xì)的離子束,從而在納米加工領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。其高精度的加工能力使其成為現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)制造中不可或缺的工具。FIB的工作原理FIB的工作原理基于離子源產(chǎn)生的離子
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  • 發(fā)布了文章 2025-03-17 16:30

    PCB失效分析技術(shù):保障電子信息產(chǎn)品可靠性

    在現(xiàn)代電子信息產(chǎn)業(yè)中,PCB(印刷電路板)作為元器件的載體和電路信號傳輸?shù)臉屑~,其質(zhì)量與可靠性水平直接決定了整機(jī)設(shè)備的性能表現(xiàn)。然而,由于成本控制和技術(shù)限制,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中常常出現(xiàn)各種失效問題。為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性,失效分析技術(shù)顯得尤為重要。外觀檢查外觀檢查是失效分析的第一步,通過目測或借助簡單儀器(如立體顯微鏡、金相顯微鏡或放大鏡)對PC
  • 發(fā)布了文章 2025-03-17 16:29

    聚焦歐盟RoHS:高風(fēng)險物料統(tǒng)計(jì)分析解讀

    金屬類物質(zhì)風(fēng)險剖析在電子電氣設(shè)備的生產(chǎn)制造中,金屬及其化合物的應(yīng)用極為廣泛。鉛及其化合物憑借其耐酸耐腐蝕、穩(wěn)定等特性,被大量用于焊料、鉛蓄電池、塑料橡膠、顏料、玻璃和化工等產(chǎn)品中,以提升產(chǎn)品性能并降低成本。然而,鉛的超標(biāo)風(fēng)險在歐盟RoHS指令管控的金屬中相對較高,主要集中在電子元器件、金屬、陶瓷、膏體和PCB等材料中。盡管歐盟RoHS指令豁免清單中包含許多鉛
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公司介紹:金鑒實(shí)驗(yàn)室是半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一,是專注于第三代半導(dǎo)體氮化鎵和碳化硅芯片和器件失效分析的新業(yè)態(tài)科研檢測機(jī)構(gòu)。金鑒實(shí)驗(yàn)室是工業(yè)和信息化廳認(rèn)定的“中小企業(yè)LED材料表征與失效分析公共技術(shù)服務(wù)平臺”。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有CMA和CNAS資質(zhì),可提供LED材料及失效分析、LED質(zhì)量鑒定及解決方案、司法鑒定、材料表征測試等服務(wù),所發(fā)布的檢測報告可用于產(chǎn)品質(zhì)量評價、成果驗(yàn)收及司法鑒定,具有法律效力。

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