金鑒實(shí)驗(yàn)室

動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-01-15 15:34

  帶你一文了解什么是燈具檢測測試

  

  在燈具制造業(yè)中，技術(shù)檢驗(yàn)是確保產(chǎn)品符合安全和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的基石。本文將深入探討燈具產(chǎn)品在技術(shù)檢驗(yàn)中需遵循的各項(xiàng)測試要求和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以保障其在市場上的可靠性和競爭力。兩種規(guī)格的高壓測試1.UL/cUL普通固定式燈具需經(jīng)受1500V/1.0mA/1秒的高壓測試，可移動式燈具則為1500V/0.5mA/1秒。測試頻率應(yīng)處于40~70Hz區(qū)間，且泄漏電流上限為0.5mA

  LED燈具檢測 接地電阻 測試

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• 發(fā)布了文章 2025-01-15 15:33

  RoHS檢測常見問題及解答

  

  RoHS檢測樣品的拆分依據(jù)是什么？RoHS檢測樣品的拆分主要依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會發(fā)布的《電子電氣產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測樣品拆分通用要求》和工信部限用物質(zhì)檢測方法。拆分過程通常采用機(jī)械手段，如旋開、切斷、擠壓、研磨等，以獲得均質(zhì)材料。特殊情況下，也可以使用化學(xué)手段進(jìn)行拆分。這些規(guī)定確保了檢測樣品的準(zhǔn)確性和一致性，為企業(yè)提供了明確的操作指南。均質(zhì)物質(zhì)是什么？均質(zhì)

  RoHS 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-01-14 12:04

  一文帶你了解聚焦離子束（FIB）

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種高精度的納米加工和分析工具，廣泛應(yīng)用于微電子、材料科學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。FIB通過將高能離子束聚焦到樣品表面，實(shí)現(xiàn)對材料的精確加工和分析。目前，使用Ga（鎵）離子的FIB裝置是最為常見的類型，因其具有良好的分辨率和加工能力。FIB的三個基本功能1.濺射功能FIB的濺射功能是其最基礎(chǔ)的應(yīng)用之一。當(dāng)Ga離子束聚焦并照射到樣品表面時，

  fib 顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-01-14 12:02

  激光雷達(dá)光電組件的AEC-Q102認(rèn)證：保障自動駕駛硬件的可靠性與品質(zhì)

  

  自動駕駛的發(fā)展與激光雷達(dá)的作用由于目前5G技術(shù)的廣泛應(yīng)用，自動駕駛技術(shù)正逐步從理論走向?qū)嶋H應(yīng)用。在這一轉(zhuǎn)型過程中，激光雷達(dá)（LiDAR）作為一種高精度、高適應(yīng)性和強(qiáng)大的環(huán)境感知能力的傳感器，已經(jīng)成為自動駕駛技術(shù)中不可或缺的核心組件。市場研究預(yù)測，到2025年，全球激光雷達(dá)市場規(guī)模將達(dá)到135.4億美元，這一數(shù)字不僅顯示了激光雷達(dá)技術(shù)的市場潛力，也反映了其在自

  光電 激光雷達(dá) 自動駕駛

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• 發(fā)布了文章 2025-01-14 12:01

  LED失效分析重要手段——光熱分布檢測

  

  光熱分布檢測意義在LED失效分析領(lǐng)域，光熱分布檢測技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。LED作為一種高效的照明技術(shù)，其性能和壽命受到多種因素的影響，其中光和熱的分布情況尤為關(guān)鍵。光熱分布不均可能導(dǎo)致芯片界面開裂、斷裂、漏電等問題，這些問題不僅影響LED產(chǎn)品的可靠性，還可能縮短其使用壽命。因此，對LED產(chǎn)品的光熱分布情況進(jìn)行精確檢測和分析，對于提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性具有重

  led 失效分析 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-01-14 12:00

  一文帶你讀懂EBSD

  

  電子背散射衍射（ElectronBackscatterDiffraction，簡稱EBSD）技術(shù)是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM）的顯微分析技術(shù)，它能夠提供材料微觀結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息，包括晶體取向、晶體結(jié)構(gòu)、晶界特征等。EBSD技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，如相鑒定、晶體取向分析、織構(gòu)分析、晶界特征研究等。SEM原理：EBSD技術(shù)的基石掃描電子顯微鏡（SEM

  SEM 顯微鏡 電子束

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• 發(fā)布了文章 2025-01-14 11:58

  PCB線路板離子污染度的檢測技術(shù)與報(bào)告規(guī)范

  

  PCB線路板離子污染度概覽在電子制造領(lǐng)域，隨著技術(shù)的發(fā)展，PCB線路板的集成度不斷攀升，元件布局變得更加密集，線路間距也日益縮小。在這樣的技術(shù)背景下，對PCB線路板的清潔度要求也隨之提高。離子污染，作為影響PCB板清潔度的重要因素之一，其控制變得尤為關(guān)鍵。PCB線路板在潮濕環(huán)境中運(yùn)行時，可能會遭遇各種離子污染殘留物的問題。這些殘留物可能來自助焊劑殘留、化學(xué)清

  pcb PCB PCB線路板 檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-01-13 11:20

  漏電起痕試驗(yàn)

  

  漏電起痕的定義與重要性當(dāng)固體絕緣材料在電場和電解液的聯(lián)合作用下，其表面可能會逐漸形成導(dǎo)電路徑，這種現(xiàn)象被稱為電痕化。材料對電痕化現(xiàn)象的抵抗能力，即其耐電痕化性能，是衡量絕緣材料絕緣性能優(yōu)劣的一個重要指標(biāo)。電痕化的發(fā)生可能會導(dǎo)致電氣設(shè)備的性能退化，甚至引起設(shè)備故障，因此，耐電痕化性能成為了評估絕緣材料質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵指標(biāo)之一。耐漏電起痕試驗(yàn)的目的耐漏電起痕測

  測試 漏電

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• 發(fā)布了文章 2025-01-13 11:19

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)與其它衍射分析方法的對比

  

  電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)概述電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種在材料科學(xué)領(lǐng)域中用于表征晶體結(jié)構(gòu)的重要方法。它通過分析從樣品表面反射回來的電子的衍射模式，能夠精確地測量晶體的取向、晶界的角度差異、不同物相的識別，以及晶體的局部完整性等關(guān)鍵信息。傳統(tǒng)衍射技術(shù)的局限性傳統(tǒng)的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒取向分析方法，如X光衍射（XRD）和中子衍射，雖然能夠提供材料的宏觀統(tǒng)

  材料 測量

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• 發(fā)布了文章 2025-01-13 11:18

  2024年環(huán)保法規(guī)關(guān)鍵動態(tài)回顧與分析

  

  歐盟RoHS指令的最新動態(tài)與合規(guī)性分析歐盟RoHS指令（RestrictionofHazardousSubstances）是一項(xiàng)旨在限制電子電氣設(shè)備中有害物質(zhì)使用的法規(guī)。該指令自2003年首次發(fā)布以來，經(jīng)過多次修訂，目前以2011/65/EU指令的形式存在。其核心目標(biāo)是通過限制特定有害物質(zhì)的使用，減少對環(huán)境和人體健康的潛在危害。限用物質(zhì)的最新調(diào)整2024年1

  RoHS 電氣設(shè)備

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