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金鑒實驗室

金鑒實驗室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一

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動態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47

    透射電子顯微鏡(TEM)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應(yīng)用

    什么是透射電子顯微鏡(TEM)透射電子顯微鏡(TEM)是一種功能強(qiáng)大的分析工具,可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息:能量色散X射線分析(EDX)、電子能量損失光譜(EELS)和高角度環(huán)形暗場成像(HAADF)。金鑒實驗室配備先進(jìn)的TEM設(shè)備,擁有經(jīng)驗豐富的操作團(tuán)隊,可為客戶提供專業(yè)的材料分析服務(wù)。1.能量色散X射
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  • 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30

    元器件失效分析有哪些方法?

    失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對失效電子元器件進(jìn)行診斷的過程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機(jī)理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式,例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等;而失效機(jī)理則是指導(dǎo)致失效的物理或化學(xué)過程,如疲勞、腐蝕、過應(yīng)力等。通過失效分析,我們能夠提出有效的糾正措施,防止同類問題再次出現(xiàn),從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集
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  • 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26

    聚焦離子束技術(shù):原理、應(yīng)用與展望

    聚焦離子束技術(shù)(FocusedIonBeam,簡稱FIB)作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù),近年來在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術(shù)和服務(wù),成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的首選合作伙伴。FIB技術(shù)的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素(如鎵元素)的離子化為帶正電的離子(Ga+),并通過電場加速使其獲得高能量。隨后,借助靜電透鏡系統(tǒng)
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  • 發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11

    AEC-Q102認(rèn)證之器件可焊性

    可焊性測試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè),AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測試提供了全面而嚴(yán)格的規(guī)范。其中,可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一,對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運(yùn)行過程中需要面對復(fù)雜多變的工作環(huán)境,如高溫、高濕、振動等,而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機(jī)械固定的基礎(chǔ)。只有
  • 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06

    雪崩二極管:汽車電子系統(tǒng)中的關(guān)鍵光檢測元件

    雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu)雪崩二極管(AvalanchePhotodiode,簡稱APD)是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時,光生載流子在強(qiáng)電場中獲得足夠的動能,與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對,從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增,顯著增加電流增益。這種倍增效應(yīng)使得APD在低光強(qiáng)條
  • 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03

    聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用

    聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束,通常以鎵(Ga)離子為主,部分設(shè)備還配備氦(He)或氖(Ne)離子源。離子束在轟擊樣品時,會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象,從而實現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除,同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌
  • 發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20

    FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應(yīng)用

    橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束(FIB)技術(shù)對電池材料進(jìn)行精確切割,能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結(jié)構(gòu)特征,從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如,通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況,了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍;同時,還能觀察到相界面的形態(tài),確定不同相之間的接觸關(guān)系
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28

    AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同

    汽車電子行業(yè)中光電半導(dǎo)體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導(dǎo)體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關(guān)鍵因素之一。隨著汽車技術(shù)的進(jìn)步,這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作,還要承受來自車輛內(nèi)部和外部的多種應(yīng)力。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序,以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴(yán)格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中的一個重
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:26

    元器件失效之推拉力測試

    元器件失效之推拉力測試在當(dāng)代電子設(shè)備的生產(chǎn)與使用過程中,組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能,還可能導(dǎo)致產(chǎn)品徹底失效,給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟(jì)損失,同時對制造商的聲譽(yù)和成本也會造成負(fù)面影響。為什么要做推拉力測試?在電子元件的焊接、運(yùn)輸和使用過程中,它們經(jīng)常遭受到振動、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾,這些力量可能在焊點(diǎn)或元件上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,進(jìn)而有可能導(dǎo)致焊點(diǎn)斷裂或元件損
  • 發(fā)布了文章 2025-04-28 20:18

    LED芯片質(zhì)量檢測技術(shù)之X-ray檢測

    X射線檢測在光電半導(dǎo)體領(lǐng)域,LED芯片作為核心技術(shù),其質(zhì)量至關(guān)重要。隨著制造工藝的不斷進(jìn)步,LED芯片的結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜,內(nèi)部潛在缺陷的風(fēng)險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下,這些缺陷可能不會明顯影響芯片的性能,但在高電流、高溫等極端環(huán)境下,它們可能引發(fā)功能失效,甚至導(dǎo)致整個LED系統(tǒng)損壞。因此,在LED芯片制造和應(yīng)用過程中,利用無損檢測技術(shù)對內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)檢查

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認(rèn)證信息: 金鑒實驗室官方賬號

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地址:廣東金鑒實驗室科技有限公司

公司介紹:金鑒實驗室是半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一,是專注于第三代半導(dǎo)體氮化鎵和碳化硅芯片和器件失效分析的新業(yè)態(tài)科研檢測機(jī)構(gòu)。金鑒實驗室是工業(yè)和信息化廳認(rèn)定的“中小企業(yè)LED材料表征與失效分析公共技術(shù)服務(wù)平臺”。金鑒實驗室擁有CMA和CNAS資質(zhì),可提供LED材料及失效分析、LED質(zhì)量鑒定及解決方案、司法鑒定、材料表征測試等服務(wù),所發(fā)布的檢測報告可用于產(chǎn)品質(zhì)量評價、成果驗收及司法鑒定,具有法律效力。

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