動態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47
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發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30
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發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26
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發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11
AEC-Q102認(rèn)證之器件可焊性
可焊性測試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè),AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測試提供了全面而嚴(yán)格的規(guī)范。其中,可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一,對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運(yùn)行過程中需要面對復(fù)雜多變的工作環(huán)境,如高溫、高濕、振動等,而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機(jī)械固定的基礎(chǔ)。只有 -
發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06
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發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03
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發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20
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發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28
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發(fā)布了文章 2025-04-29 17:26
元器件失效之推拉力測試
元器件失效之推拉力測試在當(dāng)代電子設(shè)備的生產(chǎn)與使用過程中,組件的故障不僅可能降低產(chǎn)品的性能,還可能導(dǎo)致產(chǎn)品徹底失效,給用戶帶來麻煩和經(jīng)濟(jì)損失,同時對制造商的聲譽(yù)和成本也會造成負(fù)面影響。為什么要做推拉力測試?在電子元件的焊接、運(yùn)輸和使用過程中,它們經(jīng)常遭受到振動、沖擊以及彎曲等外部力量的干擾,這些力量可能在焊點(diǎn)或元件上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,進(jìn)而有可能導(dǎo)致焊點(diǎn)斷裂或元件損141瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-28 20:18
LED芯片質(zhì)量檢測技術(shù)之X-ray檢測
X射線檢測在光電半導(dǎo)體領(lǐng)域,LED芯片作為核心技術(shù),其質(zhì)量至關(guān)重要。隨著制造工藝的不斷進(jìn)步,LED芯片的結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜,內(nèi)部潛在缺陷的風(fēng)險也隨之增加。盡管在常規(guī)工作條件下,這些缺陷可能不會明顯影響芯片的性能,但在高電流、高溫等極端環(huán)境下,它們可能引發(fā)功能失效,甚至導(dǎo)致整個LED系統(tǒng)損壞。因此,在LED芯片制造和應(yīng)用過程中,利用無損檢測技術(shù)對內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳細(xì)檢查