金鑒實(shí)驗(yàn)室

動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-04-07 16:01

  帶你一文了解芯片開封技術(shù)

  

  芯片開封的定義芯片開封，即Decap，是一種對完整封裝的集成電路（IC）芯片進(jìn)行局部處理的工藝。其目的是去除芯片的封裝外殼，暴露出芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，同時(shí)確保芯片功能不受損。芯片開封是芯片故障分析實(shí)驗(yàn)的重要準(zhǔn)備環(huán)節(jié)，能夠保護(hù)芯片的Die、bondpads、bondwires及l(fā)ead等關(guān)鍵部分，為后續(xù)的失效分析測試提供便利，便于進(jìn)行熱點(diǎn)定位、聚焦離子束（FIB）等

  激光 芯片 集成電路

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• 發(fā)布了文章 2025-04-07 15:57

  什么是雷擊浪涌測試？

  

  浪涌電流的定義浪涌電流是指電路在開啟瞬間吸收的最大電流，通常出現(xiàn)在輸入波形的幾個(gè)周期內(nèi)。其值遠(yuǎn)高于電路的穩(wěn)態(tài)電流，這種高電流可能會(huì)對設(shè)備造成損壞，甚至觸發(fā)斷路器。浪涌電流常見于所有包含磁芯的設(shè)備中，例如變壓器、工業(yè)電壓設(shè)備等。浪涌的產(chǎn)生原因1.電力系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)1）主要的電力系統(tǒng)切換騷擾，例如電容器組的切換，電容瞬間放電或者充電；2）配電系統(tǒng)中較小的局部開關(guān)動(dòng)

  測試 浪涌 雷擊浪涌

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• 發(fā)布了文章 2025-04-07 15:55

  帶你一文了解掃描透射電子顯微鏡

  

  掃描透射電子顯微鏡（STEM）掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合了透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）部分特點(diǎn)的先進(jìn)顯微技術(shù)。該技術(shù)對操作環(huán)境和設(shè)備要求較高，需要維持極高真空度，其電子學(xué)系統(tǒng)也比TEM和SEM更為復(fù)雜，這使得STEM在硬件配置和操作維護(hù)方面都面臨一定挑戰(zhàn)，但同時(shí)也為其提供了獨(dú)特的性能優(yōu)勢。掃描透射電鏡的原理掃描透射電子顯微

  stem 顯微鏡 電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-04-01 18:01

  燈具防塵試驗(yàn)：保障燈具性能與安全的關(guān)鍵

  

  在燈具的使用過程中，灰塵接觸是不可避免的現(xiàn)象。灰塵不僅會(huì)附著在燈具表面，還可能進(jìn)入燈具內(nèi)部，對其正常運(yùn)行造成潛在威脅。因此，對燈具進(jìn)行防塵試驗(yàn)至關(guān)重要。防塵試驗(yàn)?zāi)軌蛴行гu估燈具在灰塵環(huán)境中的防護(hù)能力，從而確保其在實(shí)際使用中的安全性和可靠性。燈具防塵試驗(yàn)的目的燈具防塵試驗(yàn)的主要目的是確定照明和光信號裝置（封閉式燈除外）的防塵性能。通過模擬實(shí)際使用中可能遇到的灰

  燈具 試驗(yàn)

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• 發(fā)布了文章 2025-04-01 18:00

  聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）的應(yīng)用領(lǐng)域

  

  聚焦離子束顯微鏡（FIB-SEM）作為一種前沿的微觀分析與加工工具，將聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)深度融合，兼具高分辨率成像和精密微加工能力，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工業(yè)、生命科學(xué)及納米技術(shù)等領(lǐng)域，成為現(xiàn)代科研與工業(yè)不可或缺的重要設(shè)備。FIB-SEM其獨(dú)特的雙束系統(tǒng)設(shè)計(jì)，使SEM能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控FIB操作，實(shí)現(xiàn)了高分辨率電子束成像與精細(xì)離子

  fib SEM 顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2025-03-31 13:56

  最新！歐盟 RoHS 與 REACH 法規(guī)解讀

  

  RoHS指令：電子電氣產(chǎn)品的綠色標(biāo)尺RoHS指令，全稱為《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》，是歐盟為規(guī)范電子電氣產(chǎn)品而設(shè)立的重要環(huán)保法規(guī)。自2006年7月1日起，歐盟市場上的新電子電氣設(shè)備被明確禁止使用鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等六種有害物質(zhì)。這些物質(zhì)在電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中曾被廣泛使用，例如鉛用于鍍鉻、鉻酸

  REACH RoHS 電氣設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2025-03-31 13:53

  UL阻燃標(biāo)準(zhǔn)常見誤區(qū)

  

  UL阻燃標(biāo)準(zhǔn)的復(fù)雜性與誤解根源UL阻燃標(biāo)準(zhǔn)作為國際上廣泛使用的材料阻燃性能評估體系，其重要性不言而喻。然而，由于該標(biāo)準(zhǔn)源自美國，其專業(yè)術(shù)語和復(fù)雜的技術(shù)細(xì)節(jié)在翻譯和傳播過程中，容易引發(fā)理解上的偏差，每個(gè)廠家對“V0”級等關(guān)鍵指標(biāo)有著不同的定義和判定標(biāo)準(zhǔn)。這種混亂的局面，不僅給上游原材料供應(yīng)商和下游產(chǎn)品制造商帶來了極大的溝通成本和質(zhì)量把控難題，也使得整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈在

  UL 阻燃

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• 發(fā)布了文章 2025-03-28 12:19

  焊接質(zhì)量檢測方法

  

  焊接作為一種關(guān)鍵的金屬連接工藝，其質(zhì)量直接決定了產(chǎn)品的整體性能和使用壽命。因此，準(zhǔn)確檢測焊接質(zhì)量對于保障產(chǎn)品安全性和可靠性至關(guān)重要。目視檢查目視檢查是焊接質(zhì)量檢測的第一步，也是最為直觀和簡便的方法。通過肉眼觀察焊縫的外觀特征，可以初步判斷焊接工藝是否符合要求。拉伸試驗(yàn)拉伸試驗(yàn)是檢測焊接接頭力學(xué)性能的重要方法之一。通過將焊接試樣置于拉伸試驗(yàn)機(jī)中，對其施加拉力，

  焊接 質(zhì)量檢測

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• 發(fā)布了文章 2025-03-28 12:14

  FIB-SEM雙束系統(tǒng)：多領(lǐng)域應(yīng)用的前沿技術(shù)

  

  系統(tǒng)構(gòu)成與工作原理FIB-SEM雙束系統(tǒng)是一種集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的綜合型分析與表征設(shè)備。其基本構(gòu)成是將單束聚焦離子束系統(tǒng)與掃描電子顯微鏡（SEM）耦合而成。在常見的雙束設(shè)備中，電子束垂直安裝，離子束與電子束成一定夾角安裝，兩者的焦平面交點(diǎn)被稱為共心高度位置。當(dāng)樣品處于共心高度時(shí)，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)電子束成像和離子束加工，并可通過樣品臺的傾轉(zhuǎn)使樣品表面

  fib SEM 電子束

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• 發(fā)布了文章 2025-03-27 10:29

  一文了解材料耐候老化測試

  

  高分子材料老化現(xiàn)象高分子材料在其整個(gè)生命周期，包括合成、貯存、加工以及最終應(yīng)用階段，都面臨著變質(zhì)的風(fēng)險(xiǎn)，這種變質(zhì)表現(xiàn)為材料性能的惡化。具體而言，可能出現(xiàn)泛黃、相對分子質(zhì)量降低、制品表面龜裂、光澤喪失等問題，更為嚴(yán)重的是力學(xué)性能的大幅下降，如沖擊強(qiáng)度、撓曲強(qiáng)度、拉伸強(qiáng)度和伸長率等，從而影響制品的正常使用，這種現(xiàn)象被稱為塑料的化學(xué)老化，簡稱老化。從化學(xué)角度來看，

  材料 老化測試

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