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金鑒實(shí)驗(yàn)室

金鑒實(shí)驗(yàn)室是光電半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一

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動態(tài)

  • 發(fā)布了文章 2025-04-16 15:17

    透射電鏡與 FIB 制樣技術(shù)解析

    透射電鏡的樣品種類透射電鏡(TEM)的樣品類型多樣,涵蓋了粉末試樣、薄膜試樣、表面復(fù)型和萃取復(fù)型等多種形式。薄膜試樣則側(cè)重于研究樣品內(nèi)部的組織、結(jié)構(gòu)、成分、位錯組態(tài)和密度、相取向關(guān)系等。表面復(fù)型和萃取復(fù)型主要用于金相組織觀察、斷口形貌、形變條紋、第二相形態(tài)、分布和結(jié)構(gòu)等方面的分析。透射電鏡工作原理透射電子顯微鏡(TEM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),其工作原理
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-15 15:48

    機(jī)械沖擊試驗(yàn)參數(shù)選擇指南

    機(jī)械沖擊試驗(yàn)是力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)中極為關(guān)鍵的檢測手段。它以瞬間性和破壞性為特點(diǎn),主要用于評估電工電子元器件、設(shè)備及其他產(chǎn)品在實(shí)際使用和運(yùn)輸過程中抵御非多次重復(fù)機(jī)械沖擊的能力。通過該試驗(yàn),可以判斷產(chǎn)品對沖擊環(huán)境的適應(yīng)性和結(jié)構(gòu)的完整性。沖擊方向的確定在進(jìn)行機(jī)械沖擊試驗(yàn)時,沖擊方向的確定是基礎(chǔ)且關(guān)鍵的一步。通常情況下,沖擊測試的方向涵蓋三個相互垂直的正反向,具體而言,即
  • 發(fā)布了文章 2025-04-14 16:07

    PCB紅墨水試驗(yàn)的作用

    在電子制造領(lǐng)域,PCB的質(zhì)量直接影響到電子設(shè)備的性能與可靠性。PCB紅墨水試驗(yàn)的主要作用包括以下3個方面:檢測焊點(diǎn)完整性焊點(diǎn)的完整性是PCB質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)之一。在PCB紅墨水試驗(yàn)中,通過將PCB浸泡在紅墨水中,可以利用紅墨水的滲透性來檢測焊點(diǎn)內(nèi)部的情況。當(dāng)焊點(diǎn)完整時,紅墨水無法滲透到焊點(diǎn)內(nèi)部,焊點(diǎn)表面會被紅墨水均勻覆蓋;然而,如果焊點(diǎn)存在裂縫、空洞等缺陷,紅
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-11 22:51

    聚焦離子束技術(shù)的原理和應(yīng)用

    聚焦離子束(FIB)技術(shù)在納米科技里很重要,它在材料科學(xué)、微納加工和微觀分析等方面用處很多。離子源:FIB的核心部件離子源是FIB系統(tǒng)的關(guān)鍵部分,液態(tài)金屬離子源(LMIS)用得最多,特別是鎵(Ga)離子源。鎵的熔點(diǎn)低,能形成穩(wěn)定的液態(tài)金屬源,而且鎵離子聚焦性能好,能聚焦成很細(xì)的束斑,用來精確加工和分析材料。在離子源里,金屬離子被電場加速和聚焦,形成高能、高精
  • 發(fā)布了文章 2025-04-10 12:17

    什么是AEC-Q200認(rèn)證

    AEC-Q200認(rèn)證是由汽車電子協(xié)會(AutomotiveElectronicsCouncil,簡稱AEC)制定的一套標(biāo)準(zhǔn),其目的在于確保汽車電子部件的可靠性和質(zhì)量。AEC是由克萊斯勒、福特和通用汽車等主要汽車制造商與美國主要部件制造商共同成立的組織,旨在為車載電子部件的可靠性和認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化提供統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。在2023年3月20日,AEC發(fā)布了最新的無源元
  • 發(fā)布了文章 2025-04-10 12:15

    恒溫試驗(yàn):產(chǎn)品性能的關(guān)鍵檢測方法

    恒溫試驗(yàn)簡介恒溫試驗(yàn)是通過在特定溫度條件下對各類材料、產(chǎn)品和設(shè)備進(jìn)行測試,以評估其性能穩(wěn)定性和可靠性的一種實(shí)驗(yàn)方法。恒溫試驗(yàn)?zāi)M了產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的溫度環(huán)境,是確保產(chǎn)品在不同環(huán)境下都能正常工作的關(guān)鍵手段,為產(chǎn)品的技術(shù)改進(jìn)和性能提升提供了重要依據(jù)。核心參數(shù)與指標(biāo)1.溫度范圍:試驗(yàn)溫度通常介于-40℃至+150℃,但可根據(jù)具體需求調(diào)整。2.溫度均勻性:試
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-10 11:53

    聚焦離子束雙束系統(tǒng) FIB - SEM 的技術(shù)剖析與應(yīng)用拓展

    技術(shù)原理與核心優(yōu)勢聚焦離子束雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備,其核心構(gòu)成包括聚焦離子束(FIB)模塊、掃描電子顯微鏡(SEM)模塊以及多軸樣品臺,這種獨(dú)特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得它能夠?qū)崿F(xiàn)加工與觀測的一體化操作,極大地提高了工作效率和分析精度。1.FIB模塊的關(guān)鍵作用FIB模塊采用液態(tài)金屬離子源(LMIS)產(chǎn)生鎵離子束(Ga?),這種鎵離子束
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-08 17:58

    RoHS、REACH 、無鹵的區(qū)別

    RoHS指令詳解RoHS(限制特定有害物質(zhì))是歐盟為降低電子和電氣設(shè)備中有害物質(zhì)含量而實(shí)施的一項(xiàng)法規(guī)。該指令的主要目的是限制六種有害物質(zhì)的使用,以減少對環(huán)境和人類健康的影響。鉛(Pb):不得超過0.1%(1000ppm),常見用途包括焊料、玻璃和PVC穩(wěn)定劑。汞(Hg):不得超過0.1%(1000ppm),用于溫控器、傳感器等。鎘(Cd):不得超過0.01%
  • 發(fā)布了文章 2025-04-08 17:57

    熱膨脹系數(shù)測試

    熱膨脹系數(shù)測試是材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)一項(xiàng)至關(guān)重要的實(shí)驗(yàn)技術(shù)。熱膨脹系數(shù)測試的原理熱膨脹系數(shù)是衡量材料在溫度變化時尺寸(長度或體積)相對變化量的物理指標(biāo),具體定義為:當(dāng)溫度升高1K時,材料尺寸相對于其原始尺寸的增量比例。熱膨脹系數(shù)的大小受多種因素影響,包括材料的化學(xué)構(gòu)成、鍵的牢固程度、結(jié)晶狀態(tài)、晶體取向、相轉(zhuǎn)變過程、內(nèi)部裂紋及缺陷等對于同一材料而言,熱膨脹系數(shù)并非恒
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  • 發(fā)布了文章 2025-04-08 17:56

    聚焦離子束技術(shù)之納米尺度

    聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡稱FIB)技術(shù),宛如一把納米尺度的“萬能鑰匙”,在材料加工、分析及成像領(lǐng)域大放異彩。它憑借高度集中的離子束,精準(zhǔn)操控離子束與樣品表面的相互作用,實(shí)現(xiàn)納米級別的精細(xì)操作,為眾多學(xué)科和工業(yè)領(lǐng)域帶來了前所未有的機(jī)遇。核心構(gòu)成FIB系統(tǒng)的核心在于離子束的生成與調(diào)控。生成用于撞擊樣品的離子束,其中最為普遍的離子源類型為液態(tài)金
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認(rèn)證信息: 金鑒實(shí)驗(yàn)室官方賬號

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公司介紹:金鑒實(shí)驗(yàn)室是半導(dǎo)體行業(yè)最知名的第三方檢測機(jī)構(gòu)之一,是專注于第三代半導(dǎo)體氮化鎵和碳化硅芯片和器件失效分析的新業(yè)態(tài)科研檢測機(jī)構(gòu)。金鑒實(shí)驗(yàn)室是工業(yè)和信息化廳認(rèn)定的“中小企業(yè)LED材料表征與失效分析公共技術(shù)服務(wù)平臺”。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有CMA和CNAS資質(zhì),可提供LED材料及失效分析、LED質(zhì)量鑒定及解決方案、司法鑒定、材料表征測試等服務(wù),所發(fā)布的檢測報(bào)告可用于產(chǎn)品質(zhì)量評價、成果驗(yàn)收及司法鑒定,具有法律效力。

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