動態(tài)
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發(fā)布了文章 2025-04-28 20:17
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發(fā)布了文章 2025-04-28 20:16
AEC-Q之高壓蒸煮試驗(PCT)
在現(xiàn)代電子技術飛速發(fā)展的背景下,電子元件的性能和可靠性直接決定了各類設備的穩(wěn)定性和使用壽命。高壓蒸煮試驗(PCT)作為一種關鍵的測試手段,為評估電子元件在極端環(huán)境下的表現(xiàn)提供了科學依據(jù)。模擬極端環(huán)境的關鍵技術PCT試驗的核心在于模擬電子元件在實際使用中可能遭遇的高濕、高溫和高壓環(huán)境。通過將待測元件置于100%相對濕度(R.H.)的飽和蒸汽環(huán)境中,并施加一定的120瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-04-28 20:14
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