--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 電池仿真通道 16
- 單體電壓 1.3V-5V
- 電壓輸出精度 正負(fù)1mV
- 電壓回讀精度 正負(fù)1mV
- 電壓輸出步進(jìn) 0.15mV
- 電流輸出 -3A-3A
- 電流回讀精度 正負(fù)2mA
- 隔離電壓 正負(fù)750VDC
--- 數(shù)據(jù)手冊(cè) ---
--- 產(chǎn)品詳情 ---
UI100E 系列鋰電池模擬模塊是針對(duì)混合動(dòng)力汽車(chē)、純電動(dòng)汽車(chē)BMS測(cè)試的需求而推出的高精度電池電壓模擬解決方案??梢酝ㄟ^(guò)專(zhuān)用硬件配合系統(tǒng)軟件完整仿真汽車(chē)動(dòng)力電池組的各種工作狀態(tài)與故障狀態(tài),廣泛適用于BMS開(kāi)發(fā)與調(diào)試、BMS生產(chǎn)與下線(xiàn)檢測(cè),以及BMS檢修與維護(hù)。為了方便用戶(hù)使用,UI100E系列支持系統(tǒng)級(jí)接口API,用戶(hù)可以根據(jù)自己的需求進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)。
為你推薦
-
UI-7110 六位半數(shù)字多用表2022-06-02 09:35
產(chǎn)品型號(hào):UI-7110 直流電壓:100mV~1000V 直流電流:100μA -10A 交流電壓:100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流:100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻:10Ω -100MΩ -
源測(cè)量單元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-06-01 15:32
產(chǎn)品型號(hào):UI-X6330 輸出通道數(shù)(DACs:4 上電后繼電器狀態(tài):全通道關(guān)閉 工作溫度:0 °C to +55 °C 存儲(chǔ)溫度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U -
源測(cè)量單元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-05-31 15:23
產(chǎn)品型號(hào):UI-X6320 輸出通道數(shù)(DACs:4 上電后繼電器狀態(tài):全通道關(guān)閉 工作溫度:0 °C to +55 °C 存儲(chǔ)溫度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U -
100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡(Timing,PPMU)2022-05-25 15:12
產(chǎn)品型號(hào):UI-X6920 型號(hào):X6920 時(shí)鐘速率:5kHz ~100 MHz 通道數(shù):32 pins (通過(guò)級(jí)聯(lián)最高可達(dá)512 pins) Pattern內(nèi)存:64M/每通道 Sequence內(nèi)存:64M/每通道 -
MEMS芯片測(cè)試板卡2022-02-21 15:14
產(chǎn)品型號(hào):UI-X6220 時(shí)針?biāo)俾剩?0MHz(最大) 通道數(shù):32pins?card 驅(qū)動(dòng)電流:正負(fù)32mA DC(最大) 電壓精度:16bits 電壓量程:-1V到+10V -
100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡(Timing,PPMU)2022-02-21 11:29
產(chǎn)品型號(hào):UI-X6920 時(shí)針?biāo)俾剩?KHz~100MHz 通道數(shù):32pins Pattern內(nèi)存:64M/每通道 Sequence:64M/每通道 并行測(cè)試能力:Any pin to any site -
MEMS芯片測(cè)試系統(tǒng)2021-12-13 17:15
產(chǎn)品型號(hào):UI300系列MEMS傳感器測(cè)試機(jī) Pin Channe:32~224pin (支持多板卡擴(kuò)展) Test Rate:10MHz PMU:PMU per channel/16bit DPS:-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang:2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8 -
MEMS芯片測(cè)試板卡2021-12-08 14:49
產(chǎn)品型號(hào):UI-X6220 時(shí)鐘速率:10MHz(最大) 通道數(shù):32pins/card 電壓量程:-1V到正負(fù)10V 驅(qū)動(dòng)電流:正負(fù)32mA DC(最大) 電壓精度:16bits -
BMS測(cè)試系統(tǒng)2021-12-02 10:58
產(chǎn)品型號(hào):UI120C系列 集成電池管理系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 單體電壓:0.1-5V 電壓輸出精度:正負(fù)1mV 步進(jìn)精度:<0.5mA 隔離電壓:正負(fù)750V 安全保護(hù):短路保護(hù),極性反轉(zhuǎn)保護(hù),過(guò)熱保護(hù),多通道互鎖結(jié)構(gòu) -
BMS測(cè)試產(chǎn)品2021-12-02 10:47
產(chǎn)品型號(hào):UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道:16 單體電壓:1.3V-5V 電壓輸出精度:正負(fù)1mV 電壓回讀精度:正負(fù)1mV 電壓輸出步進(jìn):0.15mV
-
半導(dǎo)體,最新預(yù)測(cè)2024-12-27 10:03
人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對(duì)2025年更加樂(lè)觀,但阻力可能來(lái)自地緣政治和人才保留問(wèn)題。這些是美國(guó)審計(jì)、稅務(wù)和咨詢(xún)公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報(bào)告中的一些預(yù)測(cè)。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測(cè)2025年整個(gè)行業(yè)將實(shí)現(xiàn)增長(zhǎng)。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無(wú)線(xiàn)通信和汽車(chē)應(yīng)用的發(fā)展,對(duì)芯片的需求將持續(xù)增長(zhǎng),畢馬威 -
芯片的失效性分析與應(yīng)對(duì)方法2024-12-20 10:02
在汽車(chē)、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域,半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展,芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求,其失效問(wèn)題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源,剖析芯片老化的內(nèi)在機(jī)理,揭示芯片失效問(wèn)題的復(fù)雜性,并提出針對(duì)性的應(yīng)對(duì)策略,為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案,助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn),保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定 -
【漢通達(dá)科技】引領(lǐng)未來(lái)測(cè)試技術(shù),ATX中國(guó)區(qū)獨(dú)家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備2024-12-13 10:01
在這個(gè)日新月異的科技時(shí)代,每一個(gè)細(xì)微的精準(zhǔn)都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國(guó)ATX公司在中國(guó)區(qū)的獨(dú)家代理商,北京漢通達(dá)科技有限公司攜手ATX,為您帶來(lái)一場(chǎng)前所未有的測(cè)試技術(shù)盛宴。ATX,以其卓越的創(chuàng)新能力和對(duì)品質(zhì)的不懈追求,為全球客戶(hù)提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測(cè)試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天,就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線(xiàn)邁向更高效、更安全的未來(lái)。一、產(chǎn)品介紹1 -
北京漢通達(dá)科技有限公司正式簽約德國(guó)ATX公司,成為中國(guó)獨(dú)家代理商2024-12-07 01:04
近日,北京漢通達(dá)科技有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“漢通達(dá)”)與德國(guó)ATX公司達(dá)成戰(zhàn)略合作,正式成為ATX公司在中國(guó)地區(qū)的獨(dú)家代理商。這一里程碑式的合作不僅標(biāo)志著漢通達(dá)在測(cè)試夾具及自動(dòng)化技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)一步拓展,也意味著中國(guó)客戶(hù)將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司,作為歐洲市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者,自1997年成立以來(lái),始終致力于為客戶(hù)提供高質(zhì)量的測(cè)試夾具和自 -
IC芯片老化測(cè)試以及方案詳解2024-11-23 01:02
芯片老化試驗(yàn)是一種對(duì)芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行和負(fù)載測(cè)試的方法,以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的:芯片老化試驗(yàn)的目的是評(píng)估芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性,以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測(cè)試方案設(shè)計(jì):-選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試負(fù)載:根據(jù)芯片的應(yīng)用場(chǎng)景和預(yù)期使用條件,確定合適的測(cè)試負(fù)載,包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計(jì)測(cè)試持續(xù)時(shí)間:根據(jù)芯片的預(yù)期使用 -
芯片測(cè)試程序2024-11-16 01:03
一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序,即被ATE(AutomaticTestEquipment,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)識(shí)別和執(zhí)行的指令集,是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程序的主要功能是指引ATE在測(cè)試中如何與被測(cè)器件(DUT)交互,具體包括如何對(duì)DUT施加不同的輸入激勵(lì),如何測(cè)量其響應(yīng)信號(hào),以及將測(cè)量結(jié)果與設(shè)定的門(mén)限值(Limit)進(jìn)行比較,最終判定測(cè)試結(jié)果為“通過(guò)”(Pas -
CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別2024-11-02 08:03
在集成電路(IC)制造與測(cè)試過(guò)程中,CP(ChipProbing,晶圓探針測(cè)試)和FT(FinalTest,最終測(cè)試)是兩個(gè)重要的環(huán)節(jié),它們承擔(dān)了不同的任務(wù),使用不同的設(shè)備和方法,但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測(cè)試與FT測(cè)試的基礎(chǔ)概念要理解CP和FT的區(qū)別,我們可以將整個(gè)芯片制造和測(cè)試過(guò)程比喻成“篩選和包裝水果”的過(guò)程。CP測(cè)試:相當(dāng)于在水果采摘 -
芯片大廠們:不好意思,明年也已售罄2024-10-25 13:00
最近,芯片大廠頻頻傳出售罄的消息。芯片出現(xiàn)售罄的情況并不常見(jiàn),但在一些特定情況下會(huì)發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮,在這一年,全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨著嚴(yán)重的芯片短缺問(wèn)題,多家芯片公司的產(chǎn)品都出現(xiàn)了供應(yīng)緊張甚至售罄的情況。與疫情時(shí)期的大多數(shù)芯片缺貨不同,這次是缺的是細(xì)分領(lǐng)域的AI芯片。01售罄的芯片大廠們最近,英偉達(dá)的BlackwellGPU未來(lái)12個(gè)月的供應(yīng)量 -
IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成2024-10-12 08:03
IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi),保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來(lái)越大,對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高,集成電路的測(cè)試方法也變得越來(lái)越困難。因此,研究和發(fā)展IC測(cè)試,有著重要的意義。而測(cè)試向量作為IC測(cè)試中的重要部分,研究其生成方法也日漸重要。1IC測(cè)試1.1IC測(cè)試原理IC測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件(DUT)特點(diǎn) -
聚焦‘芯’科技,第12屆半導(dǎo)體設(shè)備展圓滿(mǎn)落幕,漢通達(dá)與業(yè)內(nèi)同仁共繪產(chǎn)業(yè)藍(lán)圖"2024-09-28 08:02
隨著“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會(huì)”的圓滿(mǎn)閉幕,北京漢通達(dá)科技有限公司在此向所有關(guān)注和支持我們的朋友致以最誠(chéng)摯的感謝!經(jīng)過(guò)數(shù)日的精彩展示與深入交流,我們滿(mǎn)載而歸,不僅展示了公司的最新科技成果,更與眾多行業(yè)精英建立了深厚的友誼與合作橋梁。展會(huì)亮點(diǎn)回顧:尖端技術(shù),震撼亮相:我們精心策劃的展示內(nèi)容,涵蓋了半導(dǎo)體設(shè)備的最新進(jìn)展與核心部件的創(chuàng)新突破。無(wú)論是高精度287瀏覽量
-
MEMS傳感器轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試設(shè)備2021-12-13 15:30
聯(lián)合儀器MEMS測(cè)試系統(tǒng)UI320采用測(cè)試機(jī)加轉(zhuǎn)臺(tái)的構(gòu)架,是對(duì)MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測(cè)試平臺(tái)??蓪?duì)MEMS傳感器芯片進(jìn)行測(cè)試,支持I2C/SPI的通訊方式,提供免費(fèi)的開(kāi)源軟件底層API基于C開(kāi)發(fā),支持VC,VC++,labview等。2.1k瀏覽量
-
上傳時(shí)間:2022-06-02 10:15
2次下載 -
上傳時(shí)間:2022-05-31 16:26
3次下載 -
上傳時(shí)間:2021-12-17 09:53
7次下載 -
上傳時(shí)間:2021-12-13 15:59
38次下載 -
上傳時(shí)間:2021-12-09 09:30
46次下載 -
上傳時(shí)間:2021-12-09 09:24
128次下載