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芯片流片失敗都有哪些原因2025-03-28 10:03
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PCB 板為何會(huì)變形?有哪些危害?2025-03-21 10:08
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如何通俗理解芯片封裝設(shè)計(jì)2025-03-14 10:07
封裝設(shè)計(jì)是集成電路(IC)生產(chǎn)過程中至關(guān)重要的一環(huán),它決定了芯片的功能性、可靠性和制造工藝。1.封裝設(shè)計(jì)的總體目標(biāo)封裝設(shè)計(jì)的主要目標(biāo)是為芯片提供機(jī)械保護(hù)、電氣連接以及熱管理等功能,確保芯片在使用過程中穩(wěn)定工作。通過封裝,芯片與外部系統(tǒng)建立電氣互連和機(jī)械連接,同時(shí)要保證芯片能有效散熱。類比來說,封裝就像是芯片的“外殼”和“支架”,它不僅保護(hù)芯片免受外界環(huán)境的損 -
芯片制造,耗水量驚人2025-03-07 10:03
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射頻產(chǎn)品測(cè)試基礎(chǔ)2025-02-28 10:03
射頻芯片有哪些測(cè)試項(xiàng)一、射頻芯片測(cè)試的方法射頻芯片測(cè)試主要包括兩種方法:實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和生產(chǎn)線測(cè)試。實(shí)驗(yàn)室測(cè)試主要用于評(píng)估射頻芯片在不同環(huán)境下的性能,包括發(fā)射功率、接收靈敏度、頻率偏差等指標(biāo)的測(cè)量。而生產(chǎn)線測(cè)試則是在射頻芯片的生產(chǎn)過程中進(jìn)行的,主要用于保證芯片的質(zhì)量和一致性。(鴻怡電子射頻芯片測(cè)試座工程師提供參數(shù)指標(biāo))二、射頻芯片測(cè)試的指標(biāo)1.發(fā)射功率(TXPo -
雙MOS組成防反灌電路-防倒灌電路設(shè)計(jì)2025-02-21 10:01
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DeepSeek對(duì)芯片算力的影響2025-02-07 10:02
DeepSeek模型,尤其是其基于MOE(混合專家)架構(gòu)的DeepSeek-V3,對(duì)芯片算力的要求產(chǎn)生了深遠(yuǎn)影響。為了更好地理解這一影響,我們可以從幾個(gè)方面進(jìn)行分析。一.MOE架構(gòu)對(duì)算力的優(yōu)化MOE架構(gòu)的核心理念是將整個(gè)模型劃分為多個(gè)子模型(專家),每個(gè)子模型負(fù)責(zé)特定的任務(wù),且在實(shí)際推理時(shí)并非激活所有專家,而是根據(jù)輸入數(shù)據(jù)選擇性激活需要的專家。對(duì)于芯片算力的 -
非常詳細(xì)的BUCK電路 PCB layout建議2025-01-17 10:03
在DC-DC芯片的應(yīng)用設(shè)計(jì)中,PCB布板是否合理對(duì)于芯片能否表現(xiàn)出其最優(yōu)性能有著至關(guān)重要的影響。不合理的PCB布板會(huì)造成芯片性能變差如線性度下降(包括輸入線性度以及輸出線性度)、帶載能力下降、工作不穩(wěn)定、EMI輻射增加、輸出噪聲增加等,更嚴(yán)重的可能會(huì)直接造成芯片損壞。一般DC-DC芯片的使用手冊(cè)中都會(huì)有其對(duì)應(yīng)的PCB布板設(shè)計(jì)要求以及布板示意圖,本次我們就以同 -
拋磚引玉,教你學(xué)習(xí)各種總線技術(shù)2025-01-10 10:02
如果一座只能容一個(gè)人來往的獨(dú)木橋,兩端的人都想要過橋,為了不擁擠、阻塞,那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時(shí)間哪端的人過橋,另一端的人就等著該他過橋的時(shí)間段的到來,同時(shí)也還可以規(guī)定人多時(shí)要按先來后到或年齡長(zhǎng)幼的次序過橋。在這不經(jīng)意間,我們就體會(huì)到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過總線按時(shí)分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿,F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)信息的發(fā)展,特別是對(duì)于成本和空間而言,總線傳輸