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DeepSeek對芯片算力的影響2025-02-07 10:02
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非常詳細(xì)的BUCK電路 PCB layout建議2025-01-17 10:03
在DC-DC芯片的應(yīng)用設(shè)計中，PCB布板是否合理對于芯片能否表現(xiàn)出其最優(yōu)性能有著至關(guān)重要的影響。不合理的PCB布板會造成芯片性能變差如線性度下降（包括輸入線性度以及輸出線性度）、帶載能力下降、工作不穩(wěn)定、EMI輻射增加、輸出噪聲增加等，更嚴(yán)重的可能會直接造成芯片損壞。一般DC-DC芯片的使用手冊中都會有其對應(yīng)的PCB布板設(shè)計要求以及布板示意圖，本次我們就以同 -
拋磚引玉，教你學(xué)習(xí)各種總線技術(shù)2025-01-10 10:02
如果一座只能容一個人來往的獨(dú)木橋，兩端的人都想要過橋，為了不擁擠、阻塞，那我們就得采取有效的辦法。比如規(guī)定某段時間哪端的人過橋，另一端的人就等著該他過橋的時間段的到來，同時也還可以規(guī)定人多時要按先來后到或年齡長幼的次序過橋。在這不經(jīng)意間，我們就體會到了現(xiàn)代電子信息數(shù)據(jù)通過總線按時分系統(tǒng)傳輸?shù)淖钤嫉乃枷搿，F(xiàn)代網(wǎng)絡(luò)信息的發(fā)展，特別是對于成本和空間而言，總線傳輸 -
芯片行業(yè)，怎么看？2025-01-03 10:03
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半導(dǎo)體，最新預(yù)測2024-12-27 10:03
人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對2025年更加樂觀，但阻力可能來自地緣政治和人才保留問題。這些是美國審計、稅務(wù)和咨詢公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報告中的一些預(yù)測。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測2025年整個行業(yè)將實(shí)現(xiàn)增長。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無線通信和汽車應(yīng)用的發(fā)展，對芯片的需求將持續(xù)增長，畢馬威 -
芯片的失效性分析與應(yīng)對方法2024-12-20 10:02
在汽車、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域，半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展，芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求，其失效問題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源，剖析芯片老化的內(nèi)在機(jī)理，揭示芯片失效問題的復(fù)雜性，并提出針對性的應(yīng)對策略，為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案，助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對挑戰(zhàn)，保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定 -
北京漢通達(dá)科技有限公司正式簽約德國ATX公司，成為中國獨(dú)家代理商2024-12-07 01:04
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IC芯片老化測試以及方案詳解2024-11-23 01:02
芯片老化試驗是一種對芯片進(jìn)行長時間運(yùn)行和負(fù)載測試的方法，以模擬芯片在實(shí)際使用中的老化情況。1.目的：芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負(fù)載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性，以確定其壽命和可靠性指標(biāo)。2.測試方案設(shè)計：-選擇適當(dāng)?shù)臏y試負(fù)載：根據(jù)芯片的應(yīng)用場景和預(yù)期使用條件，確定合適的測試負(fù)載，包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計測試持續(xù)時間：根據(jù)芯片的預(yù)期使用