企業(yè)號介紹

全部
  • 全部
  • 產(chǎn)品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業(yè)

漢通達

開發(fā)、生產(chǎn)計算機軟硬件,開發(fā)電子測控儀器儀表及配套機械設(shè)備,以及批發(fā)、零售和售后服務(wù)。

145 內(nèi)容數(shù) 19w+ 瀏覽量 49 粉絲

新能源技術(shù)測試系統(tǒng)

型號: UI110A06 6通道電池單體仿真器

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 模擬電池通道 6
  • 每通道輸出電壓 0-5V穩(wěn)定可調(diào)
  • 每通道電壓精度 正負1-2mV
  • 每通道輸出均衡電流 0-1A
  • 每通道吸收電流 0-300mA(16檔可調(diào))
  • 負載響應(yīng)時間 250us
  • 隔離電壓 正負750V
  • 計算機通訊接口 LAN

--- 數(shù)據(jù)手冊 ---

--- 產(chǎn)品詳情 ---

UI110A06是一個6通道電池單體仿真器,每個通道能夠提供高達7V和300mA驅(qū)動負載。每個通道與接地和彼此允許串聯(lián)連接成一系列電池仿真的通道是完全隔離的,隔離電容為750V的屏障,可以允許UI110A06用來仿真構(gòu)建一個用于車輛行駛的小型低功率電池堆。

為你推薦

  • UI-7110 六位半數(shù)字多用表2022-06-02 09:35

    產(chǎn)品型號:UI-7110 直流電壓:100mV~1000V 直流電流:100μA -10A 交流電壓:100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流:100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻:10Ω -100MΩ
  • 源測量單元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-06-01 15:32

    產(chǎn)品型號:UI-X6330 輸出通道數(shù)(DACs:4 上電后繼電器狀態(tài):全通道關(guān)閉 工作溫度:0 °C to +55 °C 存儲溫度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U
  • 源測量單元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-05-31 15:23

    產(chǎn)品型號:UI-X6320 輸出通道數(shù)(DACs:4 上電后繼電器狀態(tài):全通道關(guān)閉 工作溫度:0 °C to +55 °C 存儲溫度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U
  • 100M動態(tài)數(shù)字功能板卡(Timing,PPMU)2022-05-25 15:12

    產(chǎn)品型號:UI-X6920 型號:X6920 時鐘速率:5kHz ~100 MHz 通道數(shù):32 pins (通過級聯(lián)最高可達512 pins) Pattern內(nèi)存:64M/每通道 Sequence內(nèi)存:64M/每通道
  • MEMS芯片測試板卡2022-02-21 15:14

    產(chǎn)品型號:UI-X6220 時針速率:10MHz(最大) 通道數(shù):32pins?card 驅(qū)動電流:正負32mA DC(最大) 電壓精度:16bits 電壓量程:-1V到+10V
  • 100M動態(tài)數(shù)字功能板卡(Timing,PPMU)2022-02-21 11:29

    產(chǎn)品型號:UI-X6920 時針速率:5KHz~100MHz 通道數(shù):32pins Pattern內(nèi)存:64M/每通道 Sequence:64M/每通道 并行測試能力:Any pin to any site
  • MEMS芯片測試系統(tǒng)2021-12-13 17:15

    產(chǎn)品型號:UI300系列MEMS傳感器測試機 Pin Channe:32~224pin (支持多板卡擴展) Test Rate:10MHz PMU:PMU per channel/16bit DPS:-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang:2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8
  • MEMS芯片測試板卡2021-12-08 14:49

    產(chǎn)品型號:UI-X6220 時鐘速率:10MHz(最大) 通道數(shù):32pins/card 電壓量程:-1V到正負10V 驅(qū)動電流:正負32mA DC(最大) 電壓精度:16bits
  • BMS測試系統(tǒng)2021-12-02 10:58

    產(chǎn)品型號:UI120C系列 集成電池管理系統(tǒng)自動測試系統(tǒng) 單體電壓:0.1-5V 電壓輸出精度:正負1mV 步進精度:<0.5mA 隔離電壓:正負750V 安全保護:短路保護,極性反轉(zhuǎn)保護,過熱保護,多通道互鎖結(jié)構(gòu)
  • BMS測試產(chǎn)品2021-12-02 10:47

    產(chǎn)品型號:UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道:16 單體電壓:1.3V-5V 電壓輸出精度:正負1mV 電壓回讀精度:正負1mV 電壓輸出步進:0.15mV
  • 半導(dǎo)體,最新預(yù)測2024-12-27 10:03

    人工智能技術(shù)讓半導(dǎo)體領(lǐng)導(dǎo)者對2025年更加樂觀,但阻力可能來自地緣政治和人才保留問題。這些是美國審計、稅務(wù)和咨詢公司畢馬威(KPMG)和全球半導(dǎo)體聯(lián)盟(GSA)發(fā)布的第20份年度全球半導(dǎo)體展望報告中的一些預(yù)測。接受調(diào)查的半導(dǎo)體高管中約有92%預(yù)測2025年整個行業(yè)將實現(xiàn)增長。由于人工智能、云、數(shù)據(jù)中心、無線通信和汽車應(yīng)用的發(fā)展,對芯片的需求將持續(xù)增長,畢馬威
  • 芯片的失效性分析與應(yīng)對方法2024-12-20 10:02

    在汽車、數(shù)據(jù)中心和人工智能等關(guān)鍵領(lǐng)域,半導(dǎo)體芯片的可靠性成為系統(tǒng)穩(wěn)定運行的核心要素。隨著技術(shù)發(fā)展,芯片面臨著更為復(fù)雜的使用環(huán)境與性能需求,其失效問題愈發(fā)凸顯。本文將深入探討芯片失效的根源,剖析芯片老化的內(nèi)在機理,揭示芯片失效問題的復(fù)雜性,并提出針對性的應(yīng)對策略,為提升芯片可靠性提供全面的分析與解決方案,助力相關(guān)行業(yè)在芯片應(yīng)用中有效應(yīng)對挑戰(zhàn),保障系統(tǒng)的高效穩(wěn)定
  • 【漢通達科技】引領(lǐng)未來測試技術(shù),ATX中國區(qū)獨家呈現(xiàn)高端夾具與設(shè)備2024-12-13 10:01

    在這個日新月異的科技時代,每一個細微的精準都決定了產(chǎn)品的卓越與否。作為德國ATX公司在中國區(qū)的獨家代理商,北京漢通達科技有限公司攜手ATX,為您帶來一場前所未有的測試技術(shù)盛宴。ATX,以其卓越的創(chuàng)新能力和對品質(zhì)的不懈追求,為全球客戶提供了一系列領(lǐng)先業(yè)界的測試夾具與生產(chǎn)設(shè)備。今天,就讓我們一起探索ATX如何助力您的生產(chǎn)線邁向更高效、更安全的未來。一、產(chǎn)品介紹1
    107瀏覽量
  • 北京漢通達科技有限公司正式簽約德國ATX公司,成為中國獨家代理商2024-12-07 01:04

    近日,北京漢通達科技有限公司(以下簡稱“漢通達”)與德國ATX公司達成戰(zhàn)略合作,正式成為ATX公司在中國地區(qū)的獨家代理商。這一里程碑式的合作不僅標志著漢通達在測試夾具及自動化技術(shù)領(lǐng)域的進一步拓展,也意味著中國客戶將能夠更便捷地接觸到ATX公司的卓越產(chǎn)品和一流服務(wù)。ATX公司,作為歐洲市場的領(lǐng)導(dǎo)者,自1997年成立以來,始終致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試夾具和自
    337瀏覽量
  • IC芯片老化測試以及方案詳解2024-11-23 01:02

    芯片老化試驗是一種對芯片進行長時間運行和負載測試的方法,以模擬芯片在實際使用中的老化情況。1.目的:芯片老化試驗的目的是評估芯片在長時間使用和負載情況下的可靠性和性能穩(wěn)定性,以確定其壽命和可靠性指標。2.測試方案設(shè)計:-選擇適當?shù)臏y試負載:根據(jù)芯片的應(yīng)用場景和預(yù)期使用條件,確定合適的測試負載,包括電壓、頻率、溫度等參數(shù)。-設(shè)計測試持續(xù)時間:根據(jù)芯片的預(yù)期使用
  • 芯片測試程序2024-11-16 01:03

    一、測試程序的基本概念測試程序,即被ATE(AutomaticTestEquipment,自動測試設(shè)備)識別和執(zhí)行的指令集,是集成電路測試的核心。測試程序的主要功能是指引ATE在測試中如何與被測器件(DUT)交互,具體包括如何對DUT施加不同的輸入激勵,如何測量其響應(yīng)信號,以及將測量結(jié)果與設(shè)定的門限值(Limit)進行比較,最終判定測試結(jié)果為“通過”(Pas
  • CP測試與FT測試的區(qū)別2024-11-02 08:03

    在集成電路(IC)制造與測試過程中,CP(ChipProbing,晶圓探針測試)和FT(FinalTest,最終測試)是兩個重要的環(huán)節(jié),它們承擔了不同的任務(wù),使用不同的設(shè)備和方法,但都是為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。1.CP測試與FT測試的基礎(chǔ)概念要理解CP和FT的區(qū)別,我們可以將整個芯片制造和測試過程比喻成“篩選和包裝水果”的過程。CP測試:相當于在水果采摘
  • 芯片大廠們:不好意思,明年也已售罄2024-10-25 13:00

    最近,芯片大廠頻頻傳出售罄的消息。芯片出現(xiàn)售罄的情況并不常見,但在一些特定情況下會發(fā)生。比如2021年全球芯片缺貨潮,在這一年,全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨著嚴重的芯片短缺問題,多家芯片公司的產(chǎn)品都出現(xiàn)了供應(yīng)緊張甚至售罄的情況。與疫情時期的大多數(shù)芯片缺貨不同,這次是缺的是細分領(lǐng)域的AI芯片。01售罄的芯片大廠們最近,英偉達的BlackwellGPU未來12個月的供應(yīng)量
  • IC測試基本原理與ATE測試向量生成2024-10-12 08:03

    IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開,保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來越大,對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高,集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此,研究和發(fā)展IC測試,有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分,研究其生成方法也日漸重要。1IC測試1.1IC測試原理IC測試是指依據(jù)被測器件(DUT)特點
  • 聚焦‘芯’科技,第12屆半導(dǎo)體設(shè)備展圓滿落幕,漢通達與業(yè)內(nèi)同仁共繪產(chǎn)業(yè)藍圖"2024-09-28 08:02

    隨著“第12屆半導(dǎo)體設(shè)備與核心部件展示會”的圓滿閉幕,北京漢通達科技有限公司在此向所有關(guān)注和支持我們的朋友致以最誠摯的感謝!經(jīng)過數(shù)日的精彩展示與深入交流,我們滿載而歸,不僅展示了公司的最新科技成果,更與眾多行業(yè)精英建立了深厚的友誼與合作橋梁。展會亮點回顧:尖端技術(shù),震撼亮相:我們精心策劃的展示內(nèi)容,涵蓋了半導(dǎo)體設(shè)備的最新進展與核心部件的創(chuàng)新突破。無論是高精度
  • MEMS傳感器轉(zhuǎn)臺測試設(shè)備2021-12-13 15:30

    聯(lián)合儀器MEMS測試系統(tǒng)UI320采用測試機加轉(zhuǎn)臺的構(gòu)架,是對MEMS陀螺儀和加速度計的測試平臺。可對MEMS傳感器芯片進行測試,支持I2C/SPI的通訊方式,提供免費的開源軟件底層API基于C開發(fā),支持VC,VC++,labview等。