大電流注入(BCI)測試的國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 11452-4就汽車電子產(chǎn)品使用環(huán)境的發(fā)展變化,對測試的相關(guān)要求進(jìn)行了相應(yīng)的調(diào)整。其測試標(biāo)準(zhǔn)從ISO11452-4:2005版本到ISO 11452-4:2011版本再到現(xiàn)在最新的ISO 11452-4:2020版本。
BCI(Bulk current injection)屬于EMC抗擾測試,是機(jī)動車電子電器組件的電磁輻射抗擾性限值和測量的一種方法。主要用于場對電纜線束的輻射敏感度測試,它是用電流注入實驗來替代輻射場照射的測試技術(shù)。
這是利用電流注入探頭通過將電流直接感應(yīng)到連接線束進(jìn)行抗擾性試驗的一種方法。該注入探頭由一個耦合鉗組成,被測系統(tǒng)的電纜從耦合鉗中穿過。然后通過改變感應(yīng)信號的頻率進(jìn)行抗擾性試驗。
將一個電流注人探頭夾住樣品線束,然后向該探頭注入RF干擾。RF電流先在線束中以共模方式流過(即電流在裝置的所有導(dǎo)體上以同樣的方式流動),然后再進(jìn)入DUT的連接端口。
非侵入性,因為探頭可以簡單地夾在任何直徑不超過其最大可接受直徑的電纜上,不需進(jìn)行任何直接的電纜導(dǎo)體連接,也不會影響電纜所連接的工作電路。
BCI屬于emc測試,是機(jī)動車電子電器組件的電磁輻射抗擾性限值和測量方法。主要用于場對電纜線束的輻射敏感度測試,它是用電流注入實驗來替代輻射場照射的測試技術(shù)。
試驗條件應(yīng)符合ISO11452-1中的相關(guān)規(guī)定,包括以下內(nèi)容:
試驗溫度:(23±5)℃
試驗濕度:(50±30)% RH
試驗電壓:12V系統(tǒng)為(13±1)V;24V系統(tǒng)為(26±2)V
對于汽車電子系統(tǒng)測試來說,典型的信號頻率范圍如下:
BCI測試法頻率范圍:1MHz~400MHz or 0.1MHz~400MHz 試驗需在屏蔽室中進(jìn)行。
BCI測試功能狀態(tài)分類
BCI調(diào)制方式介紹
每個頻點的駐留時間不小于1Sec
BCI測試頻率步長
BCI嚴(yán)酷等級
BCI嚴(yán)酷等級曲線
測試方法介紹
替代法:
使用前向功率作為標(biāo)定和試驗的基準(zhǔn)參數(shù),特定試驗電平(電場、電流、電壓或功率)應(yīng)在實測前標(biāo)定,按試驗計劃中預(yù)先確定的標(biāo)定值對DUT施加干擾信號進(jìn)行試驗。標(biāo)定和試驗過程中前向功率和反射功率都應(yīng)被記錄。
閉環(huán)法:
在實際試驗中,用標(biāo)定裝置測量實驗電平(電場、電壓、電流或功率)并反饋給信號發(fā)生器,以便增加或減少試驗電平直到達(dá)到預(yù)定電平。
BCI校準(zhǔn)
按照測試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的等級需要定期進(jìn)行校準(zhǔn),校準(zhǔn)是通過記錄將測試中所需的正向發(fā)射功率加載在一個 50? 校準(zhǔn)裝置所產(chǎn)生的電流來完成,這個過程中的頻率步長不得超過 ISO11452-1 中定義的最大頻率步長,校準(zhǔn)需用未調(diào)制的正弦射頻信號進(jìn)行 校準(zhǔn)。裝置的一端需連接一個高功率的 50Ω 負(fù)載,另一端連接一個 50Ω的射頻功率測量裝置,同時用一個足夠功率裕量的 50Ω 衰減器進(jìn)行保護(hù)。
BCI期間核查
為保證實驗室設(shè)備測試的穩(wěn)定性、可靠性、測試結(jié)果的精準(zhǔn)性,實驗室的所有設(shè)備在正常運(yùn)行的狀況下需進(jìn)行1次/月的設(shè)備核查我們稱之為期間核查,通過本月度校準(zhǔn)前向功率和場強(qiáng)值與上月校準(zhǔn)值進(jìn)行比對,判斷其設(shè)備運(yùn)行情況,旨在把握測試設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),提高測試精準(zhǔn)度。
BCI測試設(shè)備及作用
1.屏蔽室:為了防止受電磁攪擾的影響,而由金屬板或金屬網(wǎng)構(gòu)成的一種關(guān)閉室。
2.人工電源網(wǎng)絡(luò):在指定頻率范圍內(nèi)使待測設(shè)備與電源和負(fù)載電氣隔離及耦合DUT騷擾信號。
3.電流注入探頭:用于測試功率信號的輸出。
4.功率放大器:放大信號發(fā)生器產(chǎn)生的功率。
5.功率計:用于監(jiān)視輸出或反饋的功率。
6.信號發(fā)生器:提供一個穩(wěn)定的信號。
7.定向耦合器:前向功率和反向功率的監(jiān)測通道。
8.6dB固定衰減器:防止測試過程中出現(xiàn)不匹配,造成能量反灌使設(shè)備損壞。
BCI測試架設(shè)示意圖
.除非有其他規(guī)定,連接 DUT 與負(fù)載模擬器的線束長度為:
替代法:線束長度為1700(+300/-0) mm。
電流注入探頭與 DUT 的距離為(150±50) mm,(450±50)mm,(750±50)mm。
如需放置電流監(jiān)控探頭,其距 DUT 的距離為(50±10)mm。
閉環(huán)法:1000(+200/-0) mm。
電流注入探頭與DUT的距離為(900±10)mm,閉環(huán)法必須要放置電流監(jiān)控探頭且到被測設(shè)備連接器的距離為(50±10)mm。
BCI替代法測試配置
BCI閉環(huán)法測試配置
審核編輯:湯梓紅
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