大電流注入探頭的校準(zhǔn)方法

大電流注入 ( Bulk Current Injection， BCI) 法廣泛用于評估多種電子設(shè)備的電磁敏感度， 包括汽車、 航空、 計(jì)算處理、 醫(yī)學(xué)、 電信等設(shè)備， BCI法模擬被測設(shè)備在正常工作狀態(tài)下電導(dǎo)體中產(chǎn)生的連續(xù)波的電流， 這些導(dǎo)體包括被評估的設(shè)備信號、 控制和電源電路。

電流注入探頭是 BCI 技術(shù)中的關(guān)鍵設(shè)備， 它的作用像一個多繞組或單繞組的初級線圈， 被測的線路或電路像一個次級線圈，將一定大小的電流以耦合的方式注入到受試設(shè)備中， 使之產(chǎn)生感應(yīng)電流進(jìn)行抗擾度測試。

在抗擾度測試中，要把電流注入探頭的插入損耗值作為轉(zhuǎn)換系數(shù)導(dǎo)入測試軟件，由軟件根據(jù)轉(zhuǎn)換系數(shù)計(jì)算出 控制功率放大器的前向功率，得到最終的目標(biāo)試驗(yàn)電平。因此，對電流注入探頭的插入損耗的校準(zhǔn)是此類抗擾度測試的第一步。

ISO 11452—4: 2011［1］在附錄 A 中介紹了校準(zhǔn)電流注入探頭插入損耗的程序，但目前還沒有相對應(yīng)的國家校準(zhǔn)規(guī)范對電流注入探頭以及校準(zhǔn)時(shí)所使用校準(zhǔn)夾具的校準(zhǔn)方法進(jìn)行規(guī)范。

電流注入探頭校準(zhǔn)夾具的作用是對探頭的性能進(jìn)行標(biāo)定，電流注入探頭校準(zhǔn)夾具能讓使用戶在進(jìn)行抗擾度測試之前能快速簡易的校準(zhǔn)電流注入探頭，所以校準(zhǔn)夾具的傳輸性能會影響抗擾度試驗(yàn)時(shí)注入探頭饋入功率的有效轉(zhuǎn)換。

電流注入探頭及其校準(zhǔn)夾具的 3 個主要參數(shù)分別是: 電流注入探頭的插入損耗、校準(zhǔn)夾具的插入損 耗和校準(zhǔn)夾具兩側(cè)端口的電壓駐波比。

(1) 電流注入探頭插入損耗是將電流注入探頭安裝在與其相匹配的校準(zhǔn)夾具中，并將校準(zhǔn)夾具一側(cè)的輸入端口用 50Ω 電阻端接時(shí)，校準(zhǔn)夾具輸出端口電壓與電流注入探頭輸入口電壓的比值。

(2) 校準(zhǔn)夾具的插入損耗是校準(zhǔn)夾具輸出端口電壓與輸入端口電壓的比值，分為夾具上無探頭和夾具上放置探頭兩種情況的插入損耗。校準(zhǔn)夾具插入電流注入探頭后， 會增加校準(zhǔn)夾具的插入損耗， 增加值不得超過 1. 6 dB。

(3) 校準(zhǔn)夾具兩側(cè)端口的電壓駐波比是校準(zhǔn)夾具兩豎板間同軸結(jié)構(gòu)在駐波圖形上電壓最大值與電壓最小值之比值。校準(zhǔn)夾具豎板的作用是固定夾具兩邊的圓柱凸臺，連接底板和頂板，形成外導(dǎo)體回路。

典型的 BCI 校準(zhǔn)設(shè)置

1） 20dB 衰減器 10 W （>100 mA）

2） 150Ω 至 50Ω BCI 阻抗適配器

3） BCICF-6-150 校準(zhǔn)夾具

4） FCCF-120-9A 注射探頭

5） 50 Ω端接負(fù)載

其中我司提供在校準(zhǔn)IEC 61000-4-6大電流注入測試期間所需的適配器。包括的零件：

HNA 721-100：150 歐姆至 50 歐姆適配器（N 型）

HNA 721-150：150 歐姆終端（N 型）

深圳市華瑞高電子技術(shù)有限公司，是專業(yè)致力于為客戶提供優(yōu)質(zhì)且性價(jià)比高的電磁兼容抗擾度校準(zhǔn)裝置，屏蔽效能測試系統(tǒng)和諧波閃爍分析測試系統(tǒng)的研發(fā)生產(chǎn)性企業(yè)。