PRBTEK分享電流注入探頭系數─插入損耗

本文prbtek將為您介紹電流注入探頭注入感應電流的原理，插入損耗如何校準得到，分析插入損耗在實際電磁兼容試驗中的應用場景。

在電磁兼容檢測領域，電流注入探頭是應用廣泛的信號注入裝置，在GJB151B-2013《軍用設備和分系統電磁發(fā)射和敏感度要求與測量》標準中涉及電流注入探頭的項目有CS114、CS115、CS116等。

電流注入探頭是一種可以套在導線上向導線中注入電流的裝置，用來向線上注入電流，一般做成鉗形結構，使用時兩個半環(huán)可以張開夾住導線，使用時不需要和導線接觸，也不需要斷開導線，不會在相連回路中引入大的阻抗。電流注入探頭實物如圖1所示。

圖1 電流注入探頭

電流注入探頭本質上是一個環(huán)形變壓器，當電流注入探頭夾在被測導線上時，電流注入探頭其實相當于初級繞組，而被測導線相當于變壓器的次級繞組。下圖為電流注入探頭注入電流示意圖。

圖2 電流注入探頭注入電流示意圖

電流注入探頭的最基本性能指標是探頭的效率，用插入損耗來衡量。

插入損耗可以通過以下方法校準得到：

1)按圖3所示連接校準儀器，頻譜分析儀1接定向耦合器耦合端，校準夾具一端連接50Ω負載，一端接頻譜分析儀2;被校電流注入探頭放于校準夾具中;信號發(fā)生器連接定向耦合器，定向耦合器連接被校電流注入探頭;

2) 在頻率范圍依次選定被校頻率，信號發(fā)生器輸出一定量值幅度，記錄頻譜分析儀1測量得到的功率值P1，和頻譜分析儀2測量得到的功率值P2;

3)按下面公式計算被校電流注入探頭在各被校頻率的的插入損耗IL：

IL=P1+C-P2

式中：

IL——被校電流注入探頭的插入損耗，dB;

P1——定向耦合器藕合端測得的射頻功率，dBm;

C——定向耦合器的藕合度，dB;

P2——同軸線上的射頻功率，dBm。

圖3 電流注入探頭插入損耗校準示意圖

在實際的電磁兼容檢測中，按照實際需要達到的注入感應電流要求，可以通過電流注入探頭插入損耗去評估所需要的注入功率，選擇合適的功率放大器。同時，已知各頻率點的電流注入探頭插入損耗并輸入電磁兼容測試軟件，電磁兼容測試軟件可利用插入損耗曲線加快到達目標值，即加快試驗的收斂速度，節(jié)省時間。另外，相關標準對插入損耗的量值會有要求，也需要知道電流注入探頭插入損耗。

以上電流注入探頭系數─插入損耗由普科科技/PRBTEK整理分享， 西安普科電子科技有限公司致力于示波器測試附件配件研發(fā)、生產、銷售，涵蓋產品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等。旨在為用戶提供高品質的探頭附件，打造探頭附件國產化知名品牌。

審核編輯黃宇