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芯片測(cè)試

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芯片測(cè)試技術(shù)

一、測(cè)試程序的基本概念測(cè)試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測(cè)試的核心。測(cè)試程...

2024-11-16 標(biāo)簽：芯片測(cè)試 ATE 測(cè)試程序 207 0

高低溫測(cè)試的重要性與應(yīng)用

高低溫測(cè)試，亦稱為高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的關(guān)鍵組成部分，其主要目的是評(píng)估在高溫和低溫條件下，裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能表現(xiàn)。隨著科技的進(jìn)步，...

2024-11-07 標(biāo)簽：芯片測(cè)試試驗(yàn)箱產(chǎn)品測(cè)試 258 0

芯片測(cè)試術(shù)語介紹及其區(qū)別

在芯片制造過程中，測(cè)試是非常重要的一環(huán)，它確保了芯片的性能和質(zhì)量。芯片測(cè)試涉及到許多專業(yè)術(shù)語這其中，CP（Chip Probing），F(xiàn)T（Final ...

2024-10-25 標(biāo)簽：芯片芯片測(cè)試芯片制造 404 0

新思科技TSO.ai助力解決芯片測(cè)試成本和時(shí)間挑戰(zhàn)

人工智能技術(shù)日漸普及，廣泛運(yùn)用于解決當(dāng)今的各種復(fù)雜問題，尤其是那些涉及海量數(shù)據(jù)的分析和相應(yīng)決策等單靠人力難以應(yīng)對(duì)的棘手難題。換句話說，在應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、...

2024-08-12 標(biāo)簽：芯片測(cè)試 AI 人工智能 497 0

一文了解芯片測(cè)試的重要性

集成電路測(cè)試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，貫穿設(shè)計(jì)、制造、封裝以及應(yīng)用的全過程。從整個(gè)制造流程上來看，集成電路測(cè)試具體包括設(shè)計(jì)階段的設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓制造階段的過程工...

2024-08-06 標(biāo)簽：集成電路 IC測(cè)試芯片測(cè)試 1335 0

芯片測(cè)試有哪些芯片測(cè)試介紹

本文就芯片測(cè)試做一個(gè)詳細(xì)介紹。芯片的測(cè)試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會(huì)進(jìn)行SLT（s...

2024-07-26 標(biāo)簽：晶圓芯片測(cè)試可靠性測(cè)試 2436 0

確保測(cè)試精準(zhǔn)：芯片高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)箱操作要點(diǎn)

芯片高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)箱是一種專業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能。為了確保設(shè)備的正常運(yùn)行和延長使用壽命，廣東貝爾為您分享一些關(guān)...

2024-07-05 標(biāo)簽：芯片測(cè)試試驗(yàn)箱產(chǎn)品測(cè)試 447 0

芯片測(cè)試和封裝包含哪些流程

在測(cè)試準(zhǔn)備階段，需要對(duì)測(cè)試環(huán)境、測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試設(shè)備進(jìn)行準(zhǔn)備。同時(shí)需要對(duì)測(cè)試方案進(jìn)行評(píng)估和修訂，以確保測(cè)試方案的合理性和可行性。此外，還需要確定測(cè)試的目標(biāo)...

2024-05-08 標(biāo)簽：芯片測(cè)試芯片封裝 874 0

芯片測(cè)試目的和方法有哪些

芯片測(cè)試的主要目的是確保芯片的質(zhì)量和可靠性，以及驗(yàn)證芯片的設(shè)計(jì)是否符合規(guī)范和要求。具體來說，測(cè)試可以檢測(cè)出芯片中的故障，并及時(shí)修復(fù)它們，以保證產(chǎn)品的一致...

2024-05-08 標(biāo)簽：芯片測(cè)試 1542 0

芯片測(cè)試和硬件測(cè)試的區(qū)別

主要關(guān)注芯片本身及其所具備的電路功能、電氣特性參數(shù)等。芯片是一種微型電子器件或部件，通過集成電路工藝將所需的元件及布線互連在一起，制作在半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上。

2024-05-08 標(biāo)簽：芯片測(cè)試硬件測(cè)試 861 0

芯片測(cè)試和軟件測(cè)試的區(qū)別

2024-05-08 標(biāo)簽：芯片測(cè)試軟件測(cè)試 1308 0

芯片測(cè)試和芯片驗(yàn)證的區(qū)別

這是芯片在設(shè)計(jì)過程中的一個(gè)環(huán)節(jié)，主要通過EDA（電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化）工具進(jìn)行仿真檢驗(yàn)。它的主要目的是在芯片生產(chǎn)之前，驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)是否符合預(yù)定的需求規(guī)格，是否...

2024-05-08 標(biāo)簽：芯片測(cè)試芯片驗(yàn)證 2132 0

芯片測(cè)試的基本流程是什么

在開始量產(chǎn)之前，芯片設(shè)計(jì)師會(huì)進(jìn)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證，以確保芯片的設(shè)計(jì)滿足規(guī)格要求。這包括功能驗(yàn)證、時(shí)序驗(yàn)證和電氣驗(yàn)證等，確保芯片在理論設(shè)計(jì)上沒有問題。

2024-05-08 標(biāo)簽：芯片測(cè)試晶圓測(cè)試 2149 0

半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié)：芯片測(cè)試

CP（Chip Probing）測(cè)試也叫晶圓測(cè)試(wafer test)，也就是在芯片未封裝之前對(duì)wafer進(jìn)行測(cè)試，這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...

2024-04-20 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試測(cè)試機(jī) 1802 0

為什么要進(jìn)行芯片測(cè)試?芯片測(cè)試在什么環(huán)節(jié)進(jìn)行?

WAT需要標(biāo)注出測(cè)試未通過的裸片（die），只需要封裝測(cè)試通過的die。 FT是測(cè)試已經(jīng)封裝好的芯片（chip），不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)...

2024-04-17 標(biāo)簽：芯片晶圓芯片測(cè)試 830 0

集成電路芯片種類、作用及測(cè)試流程

集成電路芯片是由半導(dǎo)體材料制成的片狀電子元件，上面集成了多種電子器件和電路結(jié)構(gòu)。

2024-01-24 標(biāo)簽：集成電路半導(dǎo)體芯片測(cè)試 3058 0

一文了解SOC的DFT策略及全芯片測(cè)試的內(nèi)容

SOC ( System on Chip）是在同一塊芯片中集成了CPU、各種存儲(chǔ)器、總線系統(tǒng)、專用模塊以及多種l/O接口的系統(tǒng)級(jí)超大規(guī)模集成電路。 ...

2023-12-22 標(biāo)簽：芯片 soc 芯片設(shè)計(jì) 2985 0

ATE測(cè)試機(jī)是什么

半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。

2023-12-04 標(biāo)簽：芯片測(cè)試 ATE 測(cè)試機(jī) 2091 0

芯片導(dǎo)通電阻是什么？如何用ATECLOUD-IC測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試？

導(dǎo)通電阻測(cè)試就是用來檢測(cè)導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法，是指兩個(gè)導(dǎo)體間在一定電壓下通過的電流所引起的電壓降之比，通俗的說就是導(dǎo)線通電后的電阻值。芯片引...

2023-09-28 標(biāo)簽：導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試 2201 0

芯片測(cè)試方案之電源芯片片輸入閾值的測(cè)試方法

在芯片眾多特殊的引腳中，EN引腳無疑是最為重要的一個(gè)。EN引腳又稱使能引腳(Enable pins)，不同的芯片對(duì)其稱呼也有所不同，如EA、RUN等，它...

2023-09-27 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試電源芯片 1475 0

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802.11ac

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IEEE 802.11ac，是一個(gè)802.11無線局域網(wǎng)（WLAN）通信標(biāo)準(zhǔn)，它通過5GHz頻帶（也是其得名原因）進(jìn)行通信。理論上，它能夠提供最多1Gbps帶寬進(jìn)行多站式無線局域網(wǎng)通信，或是最少500Mbps的單一連接傳輸帶寬。
是德科技

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是德科技公司(NYSE:KEYS)是全球領(lǐng)先的電子測(cè)量公司,通過在無線、模塊化和軟件解決方案等領(lǐng)域的不斷創(chuàng)新,為您提供全新的測(cè)量體驗(yàn)。
TSV

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FLIR

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FLIR Systems Inc，（NASDAQ： FLIR）作為創(chuàng)新成像系統(tǒng)制造領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè)，其產(chǎn)品范圍涉及紅外熱像儀、航空攝像機(jī)和機(jī)械檢測(cè)系統(tǒng)等。FLIR產(chǎn)品已在全球60余個(gè)國家內(nèi)的工商業(yè)及政府領(lǐng)域中發(fā)揮了重要作用。
封測(cè)

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量子計(jì)算

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量子計(jì)算/量子計(jì)算機(jī)的概念是著名物理學(xué)家費(fèi)曼于1981年首先提出的。一般認(rèn)為傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)其理論模型是通用圖靈機(jī)；而量子計(jì)算是一種遵循量子力學(xué)規(guī)律調(diào)控量子信息單元進(jìn)行計(jì)算的新型計(jì)算模式。從計(jì)算的效率上來說量子計(jì)算處理問題的速度要快于傳統(tǒng)的通用計(jì)算機(jī)。
ICL7107

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致遠(yuǎn)電子

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廣州致遠(yuǎn)電子有限公司創(chuàng)立于2001年，作為智能物聯(lián)生態(tài)系統(tǒng)產(chǎn)品與解決方案供應(yīng)商，專注服務(wù)工業(yè)領(lǐng)域企業(yè)類用戶，提供從感知控制、互聯(lián)互通、邊緣計(jì)算到ZWS IoT-PaaS云平臺(tái)的產(chǎn)品與系統(tǒng)化方案。
太陽能逆變器

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逆變器又稱電源調(diào)整器、功率調(diào)節(jié)器，是光伏系統(tǒng)必不可少的一部分。光伏逆變器最主要的功能是把太陽能電池板所發(fā)的直流電轉(zhuǎn)化成家電使用的交流電，太陽能電池板所發(fā)的電全部都要通過逆變器的處理才能對(duì)外輸出。
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磁力計(jì)

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　　磁力計(jì)（Magnetic、M-Sensor）也叫地磁、磁感器，可用于測(cè)試磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向，定位設(shè)備的方位，磁力計(jì)的原理跟指南針原理類似，可以測(cè)量出當(dāng)前設(shè)備與東南西北四個(gè)方向上的夾角。
萊特波特

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萊特波特LitePoint為全球最具創(chuàng)新力的無線設(shè)備制造商提供無線測(cè)試解決方案和服務(wù)，幫助他們確保其產(chǎn)品能夠滿足當(dāng)今高標(biāo)準(zhǔn)的消費(fèi)者需求。LitePoint是無線測(cè)試領(lǐng)域的領(lǐng)先創(chuàng)新企業(yè)，其產(chǎn)品開箱即用，可用于測(cè)試全球范圍內(nèi)最廣泛使用的無線芯片組。LitePoint與智能手機(jī)、平板電腦、個(gè)人電腦、無線接入點(diǎn)和芯片組的領(lǐng)先制造商合作。LitePoint也在新興互聯(lián)設(shè)備（物聯(lián)網(wǎng)）測(cè)試領(lǐng)域處于前沿。
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泰克有限責(zé)任公司（英文名Tektronix Inc.，以下簡稱“泰克”）是一家全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案提供商。泰克成立于1946年，是世界第一臺(tái)觸發(fā)式示波器的發(fā)明者。當(dāng)今泰克已成為全球主要的電子測(cè)試測(cè)量供應(yīng)商之一，其市場(chǎng)遍布全球各洲。
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電源紋波是在電源中，存在大量可以很輕松地與探針耦合的高速、大信號(hào)電壓和電流波形，其中包括耦合自電源變壓器的磁場(chǎng)，耦合自開關(guān)節(jié)點(diǎn)的電場(chǎng)，以及由變壓器互繞電容產(chǎn)生的共模電流。
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電氣化就是國民經(jīng)濟(jì)各部門和人民生活廣泛使用電力。電氣化沒有終極目標(biāo)。因?yàn)楝F(xiàn)在還沒有人能預(yù)見到第四次能源大轉(zhuǎn)變。人們更難預(yù)測(cè)電氣化將達(dá)到什么樣的程度，例如當(dāng)煤炭、石油和天然氣枯竭之后，電力的應(yīng)用會(huì)發(fā)展到何等地步。
四方光電

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四方光電股份有限公司（以下簡稱“四方光電”）是一家從事智能氣體傳感器和高端氣體分析儀器的科創(chuàng)板上市企業(yè)。
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失調(diào)電壓

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　　失調(diào)電壓，又稱輸入失調(diào)電壓，指在差分放大器或差分輸入的運(yùn)算放大器中，為了在輸出端獲得恒定的零電壓輸出，而需在兩個(gè)輸入端所加的直流電壓之差。
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