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芯片測試

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文章:114 瀏覽:20121 帖子:13

芯片測試技術(shù)

芯片常見測試手段:CP測試和FT測試

檢查和修理集成電路前首先要熟悉所用集成電路的功能、內(nèi)部電路、主要電氣參數(shù)、各引腳的作用以及引腳的正常電壓、波形與外圍元件組成電路的工作原理。如果具備以上...

2023-02-23 標(biāo)簽:示波器芯片測試 3.3萬 0

半導(dǎo)體廠商如何做芯片的出廠測試

半導(dǎo)體廠商如何做芯片的出廠測試呢,這對芯片來說,是流片后或者上市前的必須環(huán)節(jié)。

2016-06-18 標(biāo)簽:芯片測試半導(dǎo)體廠商 1.5萬 0

為什么要進(jìn)行芯片測試?芯片測試都一般包含哪些測試類型?

考慮到每一次測試版本迭代都是幾十萬行的代碼,保證代碼不能出錯。需要涉及上百人的測試工程師協(xié)同工作,這還不算流水線技工,因此測試是費時費力的工作。

2023-01-07 標(biāo)簽:芯片測試 7539 0

半導(dǎo)體封裝測試設(shè)備有哪些 芯片封測工藝流程

芯片測試中的leakage測試是為了評估集成電路(IC)中的漏電流(leakage current)水平。漏電流是指在正常工作條件下,沒有通過預(yù)期路徑流...

2023-08-16 標(biāo)簽:芯片集成電路恒流 6876 0

IC測試技術(shù)NAND Tree確認(rèn)管腳連接問題

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本文將淺談基于NAND Tree的芯片測試技術(shù),主要是測試芯片的管腳I/O Pin和芯片的PAD之間的連接問題,將NAND門接入PAD和上級的NAND門...

2018-02-18 標(biāo)簽:ic測試芯片測試 6110 0

什么是芯片封測技術(shù) 芯片設(shè)計制造封裝測試全流程

芯片封測技術(shù)(Chip Packaging and Testing)是指在芯片制造完畢后,將裸芯片封裝為可供使用的封裝芯片,并對封裝后的芯片進(jìn)行功能測試...

2023-08-23 標(biāo)簽:芯片芯片測試芯片制造 4696 0

集成電路芯片種類、作用及測試流程

集成電路芯片是由半導(dǎo)體材料制成的片狀電子元件,上面集成了多種電子器件和電路結(jié)構(gòu)。

2024-01-24 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體芯片測試 3064 0

一文了解SOC的DFT策略及全芯片測試的內(nèi)容

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SOC ( System on Chip)是在同一塊芯片中集成了CPU、各種存儲器、總線系統(tǒng)、專用模塊以及多種l/O接口的系統(tǒng)級超大規(guī)模集成電路。 ...

2023-12-22 標(biāo)簽:芯片soc芯片設(shè)計 2986 0

基于芯片測試的環(huán)路濾波器設(shè)計

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本文以ADF 4153型小數(shù)分頻頻率合成器為例,給出了容易實現(xiàn)的三階環(huán)路濾波器的設(shè)計方法,能夠滿足芯片實際測試的需要。

2016-01-27 標(biāo)簽:頻率合成器芯片測試環(huán)路濾波器 2564 0

帶你了解IC測試座及探針作用!

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芯片測試座又稱:IC Socket 、 IC 測試座、IC插座。

2023-07-08 標(biāo)簽:集成電路PCB連接器 2530 0

芯片測試有哪些 芯片測試介紹

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本文就芯片測試做一個詳細(xì)介紹。芯片的測試大致可以分成兩大部分。CP(chipprobering)和FT(finaltest)。某些芯片還會進(jìn)行SLT(s...

2024-07-26 標(biāo)簽:晶圓芯片測試可靠性測試 2436 0

關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)芯片單元可連通性測試 影響因素有哪些

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介紹了一種標(biāo)準(zhǔn)芯片單元可連通性的檢測方法,可以有效檢測標(biāo)準(zhǔn)芯片單元的可連通性,在布局布線階段之前,改進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖,或者增加布局布線的約束條件,從而保...

2018-05-01 標(biāo)簽:芯片設(shè)計芯片測試 2429 0

芯片導(dǎo)通電阻是什么?如何用ATECLOUD-IC測試系統(tǒng)測試?

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導(dǎo)通電阻測試就是用來檢測導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法,是指兩個導(dǎo)體間在一定電壓下通過的電流所引起的電壓降之比,通俗的說就是導(dǎo)線通電后的電阻值。芯片引...

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芯片測試的基本流程是什么

在開始量產(chǎn)之前,芯片設(shè)計師會進(jìn)行設(shè)計驗證,以確保芯片的設(shè)計滿足規(guī)格要求。這包括功能驗證、時序驗證和電氣驗證等,確保芯片在理論設(shè)計上沒有問題。

2024-05-08 標(biāo)簽:芯片測試晶圓測試 2153 0

芯片測試和芯片驗證的區(qū)別

這是芯片在設(shè)計過程中的一個環(huán)節(jié),主要通過EDA(電子設(shè)計自動化)工具進(jìn)行仿真檢驗。它的主要目的是在芯片生產(chǎn)之前,驗證芯片設(shè)計是否符合預(yù)定的需求規(guī)格,是否...

2024-05-08 標(biāo)簽:芯片測試芯片驗證 2133 0

ATE測試機(jī)是什么

半導(dǎo)體測試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺、分選機(jī)。其中測試功能由測試機(jī)實現(xiàn),而探針臺和分選機(jī)實現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測晶圓/芯片揀選至測試機(jī)進(jìn)行檢測。

2023-12-04 標(biāo)簽:芯片測試ATE測試機(jī) 2093 0

淺談芯片測試的問題

芯片上的晶體管數(shù)以十億計,金屬連接更是不計其數(shù),要想在短時間內(nèi)對它們做個遍歷并不是件容易的事。例如處理奇偶校驗碼異常的電路,在沒有發(fā)生異常的時候是不工作的。

2022-07-21 標(biāo)簽:芯片芯片測試 2062 0

半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測試

半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測試

CP(Chip Probing)測試也叫晶圓測試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對wafer進(jìn)行測試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...

2024-04-20 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)芯片測試測試機(jī) 1805 0

芯片測試目的和方法有哪些

芯片測試的主要目的是確保芯片的質(zhì)量和可靠性,以及驗證芯片的設(shè)計是否符合規(guī)范和要求。具體來說,測試可以檢測出芯片中的故障,并及時修復(fù)它們,以保證產(chǎn)品的一致...

2024-05-08 標(biāo)簽:芯片測試 1547 0

芯片測試方案之電源芯片片輸入閾值的測試方法

芯片測試方案之電源芯片片輸入閾值的測試方法

在芯片眾多特殊的引腳中,EN引腳無疑是最為重要的一個。EN引腳又稱使能引腳(Enable pins),不同的芯片對其稱呼也有所不同,如EA、RUN等,它...

2023-09-27 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)芯片測試電源芯片 1476 0

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