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標(biāo)簽 > 白光干涉儀
干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。
干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。
光的干涉是指從目標(biāo)對(duì)象表面到某點(diǎn)的光距(光路)產(chǎn)生偏差時(shí),所發(fā)生的現(xiàn)象。利用這種現(xiàn)象測(cè)量目標(biāo)對(duì)象表面凹凸的就是光學(xué)干涉儀。右圖是干涉應(yīng)變計(jì)的結(jié)構(gòu)圖。從光源(半導(dǎo)體激光等)發(fā)出的光有一些透過(guò)分光鏡到達(dá)參考面上,其余被反射到樣本表面。透過(guò)的光經(jīng)參考面反射通過(guò)光接收元件即CCD元件成像。其余被反射的光經(jīng)目標(biāo)對(duì)象表面反射透過(guò)分光鏡,同樣通過(guò)光接收元件即CCD元件成像。
3D白光干涉輪廓儀 WLI-1000提供了強(qiáng)?、多功能的?接觸式光學(xué)表?分析。它可以簡(jiǎn)單和快速地測(cè)量各種表?類型,包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表?。
2024-08-10 標(biāo)簽:測(cè)量系統(tǒng)圖像輪廓三維掃描儀 491 0
在納米顯微測(cè)量領(lǐng)域,中圖儀器基于納米傳動(dòng)與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)、共聚焦測(cè)量等技術(shù)積累,推出了具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的白光干涉儀(Z向分辨率可...
2024-07-09 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x納米級(jí)精密儀器 1010 0
微觀特征輪廓尺寸測(cè)量:光學(xué)3D輪廓儀、共焦顯微鏡與臺(tái)階儀的應(yīng)用
顯微測(cè)量?jī)x器被用于微觀尺寸的測(cè)量,其中包括光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)、共聚焦顯微鏡和臺(tái)階儀。有效評(píng)估材料表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌,從而指導(dǎo)生產(chǎn)過(guò)程、優(yōu)...
2024-06-05 標(biāo)簽:測(cè)量輪廓測(cè)量?jī)x白光干涉儀 572 0
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在光學(xué)鏡片領(lǐng)域的應(yīng)用
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,光學(xué)鏡片廣泛應(yīng)用于人們的日常生活。提高光學(xué)鏡片的產(chǎn)品質(zhì)量與性能對(duì)提升現(xiàn)代光學(xué)產(chǎn)業(yè)的競(jìng)爭(zhēng)力起著至關(guān)重要的作用,而要提高光學(xué)鏡片的產(chǎn)品質(zhì)...
白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀):揭秘測(cè)量坑的形貌的利器!
SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來(lái)提高測(cè)量的精度和效率,揭秘并測(cè)量坑的形貌,為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。
就 ” 白光 -干涉- 高度” 三個(gè)內(nèi)容, 小優(yōu)博士帶大家一起了解白光干涉儀是如何獲得高度。 ? 一、什么是白光? 可見(jiàn)光波長(zhǎng)范圍390nm - 780...
2023-05-11 標(biāo)簽:白光干涉儀 843 0
光譜分光型白光干涉儀結(jié)構(gòu)原理及應(yīng)用
光源是超輻射發(fā)光二極管(SLD),從光源發(fā)出的光進(jìn)入光纖耦合器,從耦合器輸出的光經(jīng)消色差準(zhǔn)直器準(zhǔn)直成平行光,使用分光棱鏡將準(zhǔn)直光分為參考光和樣品光。
本文介紹了白光干涉儀的故障現(xiàn)象和原因與檢修方法還介紹了白光干涉儀的維護(hù)方法。
激光干涉儀的原理是什么 白光干涉儀和激光干涉儀有何區(qū)別
根據(jù)激光干涉儀的原理,我們可以清楚知道,激光干涉儀是用來(lái)檢測(cè)設(shè)備的運(yùn)動(dòng)精度的,SJ6000激光干涉儀目前在機(jī)床、直線電機(jī)、滑臺(tái)、模組、自動(dòng)化設(shè)備、機(jī)器人...
白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用立即下載
類別:電子資料 2024-12-16 標(biāo)簽:光學(xué)原理光學(xué)測(cè)量白光干涉儀
類別:電子資料 2024-03-06 標(biāo)簽:涂層厚度測(cè)量精密測(cè)量影像測(cè)量?jī)x
類別:電子資料 2023-03-01 標(biāo)簽:光學(xué)檢測(cè)白光干涉儀
類別:電子資料 2023-02-03 標(biāo)簽:三維形貌光學(xué)測(cè)量白光干涉儀
白光干涉儀測(cè)量原理及干涉測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用
白光干涉儀利用干涉原理測(cè)光程差,測(cè)物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測(cè)量安全。
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角度、粒子統(tǒng)計(jì)、粗糙度等。...
從“制造”到“智造”:中圖光學(xué)測(cè)量?jī)x器的進(jìn)階與應(yīng)用
在當(dāng)今全球化和科技快速發(fā)展的時(shí)代,制造業(yè)正經(jīng)歷著從傳統(tǒng)的“制造”模式向智能化的“智造”模式的深刻轉(zhuǎn)變。消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和個(gè)性化的要求越來(lái)越高,產(chǎn)品的更新...
2024-10-12 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器光學(xué)測(cè)量白光干涉儀 379 0
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀:激光陀螺儀提升良率與精度的關(guān)鍵
激光陀螺儀廣泛應(yīng)用于航空航天、軍事防御、海洋勘探、自動(dòng)駕駛等領(lǐng)域,其高靈敏度、強(qiáng)抗干擾和可靠性源于精密制造技術(shù)。優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力激光陀螺儀鏡片精度提...
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力紅外探測(cè)行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測(cè)
晶圓襯底的質(zhì)量對(duì)紅外探測(cè)器芯片性能至關(guān)重要,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀可以高精度測(cè)量晶圓襯底的亞納米級(jí)粗糙度、納米級(jí)臺(tái)階、整體平面度、微觀三維形貌等。
文章介紹了白光干涉儀的Z軸垂直精度和XY橫向精度的相關(guān)概念,包括垂直分辨率、RMS重復(fù)性、臺(tái)階重復(fù)性等,以及影響精度的因素,并強(qiáng)調(diào)使用環(huán)境的穩(wěn)定性對(duì)精度...
2024-08-13 標(biāo)簽:測(cè)量?jī)x器精密儀器白光干涉儀 559 0
在精密測(cè)量領(lǐng)域,激光共聚焦顯微鏡和白光干涉儀是兩種不同的高精度光學(xué)測(cè)量?jī)x器。它們各自有著獨(dú)特的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用場(chǎng)景。選擇哪種儀器更好,取決于具體的測(cè)量需求...
提高競(jìng)爭(zhēng)力!創(chuàng)新助力新質(zhì)生產(chǎn)力!中圖儀器補(bǔ)齊國(guó)產(chǎn)精密測(cè)量短板
新質(zhì)生產(chǎn)力是科技進(jìn)步和生產(chǎn)方式變革下的新型生產(chǎn)力形態(tài),強(qiáng)調(diào)智能化、靈活化、個(gè)性化和高質(zhì)量化。中圖儀器通過(guò)自主研發(fā)高精度測(cè)量?jī)x器和激光跟蹤儀,推動(dòng)制造業(yè)生...
優(yōu)可測(cè)響應(yīng)“以舊換新”行動(dòng)方案,加速“高端、智能、綠色”儀器設(shè)備更新迭代
日前,國(guó)務(wù)院印發(fā)的《推動(dòng)大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新行動(dòng)方案》(以下簡(jiǎn)稱《行動(dòng)方案》)對(duì)外發(fā)布。在此,優(yōu)可測(cè)響應(yīng)“以舊換新”《行動(dòng)方案》,加速“高端、...
2024-03-16 標(biāo)簽:位移傳感器線激光影像測(cè)量?jī)x 771 0
橡膠密封圈的密封性是評(píng)判產(chǎn)品好壞的重要指標(biāo),其中表面粗糙度、平面度以及尺寸等均是影響密封性的重要因素。優(yōu)可測(cè)白光干涉儀、一鍵式影像測(cè)量?jī)x、3D線激光測(cè)量...
2024-03-13 標(biāo)簽:干涉儀影像測(cè)量?jī)x尺寸測(cè)量 899 0
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