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納米級(jí)材料尺寸如何測(cè)量?

中圖儀器 ? 2024-07-09 09:32 ? 次閱讀

在納米顯微測(cè)量領(lǐng)域,中圖儀器基于納米傳動(dòng)與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)、共聚焦測(cè)量等技術(shù)積累,推出了具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的白光干涉儀(Z向分辨率可高達(dá)0.1納米)和共聚焦顯微鏡,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、3C電子、高??蒲械刃袠I(yè)領(lǐng)域。

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從納米到宏觀,產(chǎn)品解決方案全面覆蓋,滿足多樣化需求:
1、光學(xué)3D表面輪廓儀
SuperView W系列光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描模塊和3D建模算法,能夠?qū)Ω鞣N精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。
典型應(yīng)用:

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2、共聚焦顯微鏡
VT6000系列共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量。
典型應(yīng)用:

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3、臺(tái)階儀
CP系列臺(tái)階儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù),具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率。
典型應(yīng)用:

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中圖儀器以深厚的技術(shù)積累、創(chuàng)新的產(chǎn)品解決方案和全球化的服務(wù)網(wǎng)絡(luò),為全球客戶提供精準(zhǔn)、可靠的測(cè)量產(chǎn)品和服務(wù)。未來(lái)公司將不斷推動(dòng)科技創(chuàng)新,繼續(xù)在精密測(cè)量領(lǐng)域發(fā)揮領(lǐng)導(dǎo)作用,助力科技進(jìn)步和工業(yè)發(fā)展。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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