測(cè)試探頭電路圖
2008-12-24 14:42:301024 過(guò)去的幾年里,測(cè)試探針卡的發(fā)展允許平行測(cè)試更多的器件——同時(shí)可測(cè)的待測(cè)器件(DUT)數(shù)量從32到64到128不斷上升——減少了測(cè)試平臺(tái)的數(shù)目。這樣,通過(guò)在300 mm晶圓上一次完成測(cè)試,
2011-11-10 12:04:204899 歐姆龍電子部品事業(yè)公司特別研發(fā)推出了一款能夠顛覆傳統(tǒng)的微型測(cè)試探針——?dú)W姆龍XP3B,以獨(dú)有的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、特殊的材質(zhì)工藝以及豐富多樣的品類選擇,為芯片測(cè)試座行業(yè)的發(fā)展做出了突出貢獻(xiàn)。
2018-04-26 09:07:0311279 UltraSoC日前宣布:公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系,以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2018-08-06 14:04:474829 半導(dǎo)體供應(yīng)商意法半導(dǎo)體,簡(jiǎn)稱ST宣布,全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功。
2011-12-31 09:45:371370 民幣,增幅約10.95%。該公司在去年10月才宣布完成5000萬(wàn)元戰(zhàn)略融資,投資方是豐年資本。 ? ? 在MEMS探針卡市場(chǎng)名列前茅 ? 強(qiáng)一半導(dǎo)體成立于2015年8月,是先進(jìn)的集成電路晶圓測(cè)試探針卡供應(yīng)商,專業(yè)從事研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造和組裝半導(dǎo)體測(cè)試解決方案產(chǎn)
2021-06-24 07:30:004438 Lite 提供一個(gè)圖形用戶界面,具有強(qiáng)大的分析工具,探針驅(qū)動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試工具。備注:Agilent HP 4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4155c半導(dǎo)體測(cè)試儀是Agilent下一代精密半導(dǎo)體測(cè)試
2019-09-25 11:45:16
作者: Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么,有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本,從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢?有,答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
提供測(cè)試探針及各類Socket,有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
地,2020 年業(yè)界普遍認(rèn)為 5G 會(huì)實(shí)現(xiàn)大規(guī)模商用,熱點(diǎn)技術(shù)與應(yīng)用推動(dòng)下,國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體材料需求有望進(jìn)一步增長(zhǎng)。寬禁帶半導(dǎo)體材料測(cè)試1 典型應(yīng)用一. 功率雙極性晶體管BJT 特性表征2 典型應(yīng)用二. 功率
2020-05-09 15:22:12
半導(dǎo)體制冷片是利用半導(dǎo)體材料的Peltier效應(yīng)而制作的電子元件,當(dāng)直流電通過(guò)兩種不同半導(dǎo)體材料串聯(lián)成的電偶時(shí),在電偶的兩端即可分別吸收熱量和放出熱量,可以實(shí)現(xiàn)制冷的目的。它是一種產(chǎn)生負(fù)熱阻的制冷技術(shù),其特點(diǎn)是無(wú)運(yùn)動(dòng)部件,可靠性也比較高。半導(dǎo)體制冷片的工作原理是什么?半導(dǎo)體制冷片有哪些優(yōu)缺點(diǎn)?
2021-02-24 09:24:02
半導(dǎo)體材料半導(dǎo)體的功能分類集成電路的四大類
2021-02-24 07:52:52
請(qǐng)教下以前的[半導(dǎo)體技術(shù)天地]哪里去了
2020-08-04 17:03:41
半導(dǎo)體材料從發(fā)現(xiàn)到發(fā)展,從使用到創(chuàng)新,擁有這一段長(zhǎng)久的歷史。宰二十世紀(jì)初,就曾出現(xiàn)過(guò)點(diǎn)接觸礦石檢波器。1930年,氧化亞銅整流器制造成功并得到廣泛應(yīng)用,是半導(dǎo)體材料開始受到重視。1947年鍺點(diǎn)接觸三極管制成,成為半導(dǎo)體的研究成果的重大突破。
2020-04-08 09:00:15
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測(cè)試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試方法有很多種,其中四探針法具有設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高以及對(duì)樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
廣電計(jì)量檢測(cè)專業(yè)做半導(dǎo)體集成芯片檢測(cè)機(jī)構(gòu),有相關(guān)問(wèn)題互相探討溝通聯(lián)系***
2020-10-20 15:10:37
國(guó)際半導(dǎo)體芯片巨頭壟斷加劇半導(dǎo)體芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)三大趨勢(shì)
2021-02-04 07:26:49
半導(dǎo)體是什么?芯片又是什么?半導(dǎo)體芯片是什么?半導(dǎo)體芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)是由哪些部分組成的?
2021-07-29 09:18:55
` 誰(shuí)來(lái)闡述一下半導(dǎo)體集成電路是什么?`
2020-03-24 17:12:08
探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)
2023-05-31 10:29:33
,測(cè)試探針經(jīng)過(guò)短路后的S11參數(shù)。再利用PLTS 分析軟件以及AFR校準(zhǔn)技術(shù),得到探針的4 個(gè)S參數(shù)、時(shí)域阻抗參數(shù)和響應(yīng)時(shí)間參數(shù)。下面是分別測(cè)試1號(hào)探針和2 號(hào)探針后,再用PLTS軟件轉(zhuǎn)換,得到二個(gè)探針的特性曲線。
2019-07-18 08:14:37
那么,ICD4得到J-Link,所以它能代替SEGGER J-Link調(diào)試探針嗎?如果ICD4可以用在J-Link調(diào)試探針的其他工具上,那就好了……對(duì)于SEGER J-Link的ICD4可能有一個(gè)
2019-01-15 07:41:53
的研發(fā)團(tuán)隊(duì),可以為您提供各種定制化產(chǎn)品和解決方案。凡有射頻微波產(chǎn)品、射頻測(cè)試探針及其產(chǎn)品解決方案、測(cè)試電纜及電纜組件的需求,上海里庫(kù)電子科技有限公司,其超高的產(chǎn)品性價(jià)比定是您的不二選擇。上海里庫(kù)電子24
2019-07-25 14:21:01
及更高版本的各種調(diào)試探針。一些開發(fā)板需要更新板上固件才能與Keil Studio一起工作。
此應(yīng)用程序說(shuō)明指向板載調(diào)試探測(cè)器的更新信息。
2023-08-08 06:35:54
MOS 管的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)MOS 管的工作機(jī)制
2020-12-30 07:57:04
我有 S32G-VNP-RDB2 和 S32 調(diào)試探針。我試著寫在flash區(qū)。但是發(fā)生了如下錯(cuò)誤。程序已完成,錯(cuò)誤為 #-1073741819。我不知道該怎么辦。
2023-03-22 08:54:34
我有 S32G-VNP-RDB2 板和 S32 調(diào)試探針。我嘗試在構(gòu)建示例項(xiàng)目后進(jìn)行調(diào)試。但調(diào)試失敗并顯示以下錯(cuò)誤代碼(錯(cuò)誤代碼為 102。)??赡苁鞘裁丛??
2023-03-16 07:40:26
FastLab是一款通用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量工具軟件,主要用于在半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室中協(xié)同探針臺(tái)與測(cè)量?jī)x器進(jìn)行自動(dòng)化的片上半導(dǎo)體器件的IV/CV特性測(cè)量。 該軟件界面友好、操作簡(jiǎn)便、功能全面。機(jī)器學(xué)習(xí)算法
2020-07-01 09:59:09
建模工具所采用?;谄浼傻牟⑿蠸PICE引擎,BSIMProPlus提供強(qiáng)大的全集成SPICE建模平臺(tái),可以用于對(duì)各種半導(dǎo)體器件從低頻到高頻的各種器件特性的SPICE建模,包括電學(xué)特性測(cè)試、器件模型
2020-07-01 09:36:55
1、GaAs半導(dǎo)體材料可以分為元素半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體兩大類,元素半導(dǎo)體指硅、鍺單一元素形成的半導(dǎo)體,化合物指砷化鎵、磷化銦等化合物形成的半導(dǎo)體。砷化鎵的電子遷移速率比硅高5.7 倍,非常適合
2019-07-29 07:16:49
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針,而探針是電測(cè)試的接觸媒介,是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類型主要有哪幾種呢?選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 11:26:56
UltraSoC日前宣布:公司已與SEGGER達(dá)成合作伙伴關(guān)系,以在UltraSoC集成化的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)監(jiān)測(cè)和分析環(huán)境中為J-Link調(diào)試探針提供支持。SEGGER的J-Link探針是業(yè)界
2019-10-21 08:00:38
直接影響轉(zhuǎn)換器的體積、功率密度和成本?! ∪欢褂玫?b class="flag-6" style="color: red">半導(dǎo)體開關(guān)遠(yuǎn)非理想,并且由于開關(guān)轉(zhuǎn)換期間電壓和電流之間的重疊而存在開關(guān)損耗。這些損耗對(duì)轉(zhuǎn)換器工作頻率造成了實(shí)際限制。諧振拓?fù)淇梢酝ㄟ^(guò)插入額外的電抗
2023-02-21 16:01:16
我們收到了 NXP RDB3 開發(fā)板。我嘗試使用 S32G 調(diào)試探針為串行 RCON 配置 EEPROM。遇到以下
2023-03-20 06:05:50
想問(wèn)一下,半導(dǎo)體設(shè)備需要用到溫度傳感器的有那些設(shè)備,比如探針臺(tái)有沒(méi)有用到,具體要求是那些,
2024-03-08 17:04:59
測(cè)試對(duì)測(cè) 試系統(tǒng)的要求越來(lái)越高。通常這些器件的接觸電極尺 寸只有微米量級(jí),這些對(duì)低噪聲源表,探針臺(tái)和顯微 鏡性能都提出了更高的要求。半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案,泰克公司與合作 伙伴使用泰克吉時(shí)利
2019-10-08 15:41:37
1:影響探針使用壽命的主要因素測(cè)試探針的行程是否過(guò)壓,是否存在側(cè)面力介入,通過(guò)的測(cè)試電流是否大于額定值等等2:怎么使用能使探針的壽命最大化測(cè)試探針按照推薦的使用行程使用,保證探針在設(shè)備上是垂直伸縮
2019-07-22 17:39:39
如何獲得WIN半導(dǎo)體的ADS設(shè)計(jì)套件?謝謝! 以上來(lái)自于谷歌翻譯 以下為原文how to get ADS design kit of WIN secmiconductor?Thank you!
2018-12-28 15:52:56
電氣性能優(yōu)越、可靠性高、測(cè)試壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。從產(chǎn)品用途來(lái)分,分為三大類:1、IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針里庫(kù)電子IPEX和SWITCH 系列測(cè)試探針,主要用于IPEX 1代到5代以及相對(duì)
2019-12-18 17:32:00
常用的功率半導(dǎo)體器件有哪些?
2021-11-02 07:13:30
中國(guó),2018年10月10日——意法半導(dǎo)體推出了STLINK-V3下一代STM8 和STM32微控制器代碼燒寫及調(diào)試探針,進(jìn)一步改進(jìn)代碼燒寫及調(diào)試靈活性,提高效率。STLINK-V3支持大容量存儲(chǔ)
2018-10-11 13:53:03
現(xiàn)在測(cè)試治具中,探針是作為一個(gè)媒介,探針放在套管里,探針頭接觸待測(cè)物,另一端的套管引出線將信號(hào)傳導(dǎo)出去,接收回來(lái)的信號(hào)在測(cè)試機(jī)里處理,比如電阻利用電流源計(jì)算探針兩端的壓降,電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
`手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問(wèn)題的咨詢,在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供大家參考。一:手動(dòng)探針臺(tái)用途:探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
2020-03-28 12:14:08
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求?對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式?如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試?
2021-07-30 06:27:39
電力半導(dǎo)體器件的分類
2019-09-19 09:01:01
應(yīng)用范圍:探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對(duì)集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。芯片失效分析探針臺(tái)
2020-10-16 16:05:57
村田MM206417射頻探針主要用于MM8030-2600/2610型號(hào)射頻測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試,也可用于其他品牌的兼容型號(hào)射頻測(cè)試座。
MM206417探針法蘭上有2個(gè)螺絲孔與2個(gè)導(dǎo)針
2021-10-12 11:18:00
90575-0001測(cè)試探針由日本 I-PEX品牌設(shè)計(jì)生產(chǎn),主要用于I-PEX的天線插座型號(hào)20279-001E,20314-001E,20441-001E,20429-001E,信號(hào)測(cè)試使用,也可
2021-10-12 11:55:06
供應(yīng)日本村田MURATA品牌射頻測(cè)試探針MXFQB1PY1000,國(guó)內(nèi)庫(kù)存現(xiàn)貨,交期快,價(jià)格優(yōu)。MXFQB1PY1000測(cè)試探針是一款帶同軸線的MINI探針。主要用于測(cè)試MM8830-2600
2022-03-08 16:39:17
給大家推薦一款國(guó)產(chǎn)RF射頻測(cè)試探針(6代RF測(cè)試探針)6代RF測(cè)試探針 6代射頻探針采用SMPM接口進(jìn)行線纜轉(zhuǎn)接,同時(shí)自帶浮動(dòng)裝置,彈簧內(nèi)置保護(hù),使用更順暢。我們的射頻探針法蘭寬度為
2022-04-19 18:29:31
奧納科技主要為客戶提供各種RF射頻測(cè)試探針,也叫高頻探針。我們針對(duì)第6代USS天線插座定制了一款測(cè)試探針,型號(hào)為21340019601。主要是針對(duì)日本村田MURATA品牌的MM6829-2700
2022-06-02 14:51:12
下面介紹一款?yuàn)W納科技AWNA的射頻探針,型號(hào)是ML52,原型為日本HRS品牌的U.FLP-ML51.J-PA(F)-ST測(cè)試探針。我們的探針在尺寸上與HRS的一至,內(nèi)部結(jié)構(gòu)上做了優(yōu)化,性能比
2022-07-15 17:10:36
一 F-200A-60V 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)專為以下測(cè)試需求研制: 二 技術(shù)參數(shù)
2023-10-12 15:38:30
摘要:本文采用1.3UM HE-NE激光或LNGAASP/INP半導(dǎo)體激光作探針,實(shí)時(shí),無(wú)損地測(cè)量硅半導(dǎo)體器件中的自由載流子濃度的變化,從理論上分析了器件內(nèi)自由載流子濃度變化引起的折射率改變及
2010-11-27 01:36:2429 首先根據(jù) 四探針 測(cè)試理論.闡述了恒流源電路在四探針測(cè)試儀中的重要性,給出了對(duì)恒流源的基本要求。然后介紹了我們?cè)陂_發(fā)前期實(shí)驗(yàn)過(guò)的2種恒流源電路,它們分別是級(jí)聯(lián)型鏡象電流
2011-08-09 14:59:2144 現(xiàn)代對(duì)于射頻圓晶探針的設(shè)計(jì)將測(cè)試信號(hào)從一個(gè)三維媒質(zhì)(同軸電纜或矩形波導(dǎo))轉(zhuǎn)換到兩維(共面)探針的接觸上。這種操作需要對(duì)傳輸媒質(zhì)的特性阻抗Z0進(jìn)行仔細(xì)的處理,并且要在不同傳播模式之間進(jìn)行電磁能量的正確轉(zhuǎn)換。
2017-10-26 16:44:3934089 本文主要介紹了半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,分別有橢偏儀/四探針/熱波系統(tǒng)/相干探測(cè)顯微鏡/光學(xué)顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-09-25 17:44:5216618 意法半導(dǎo)體推出了STLINK-V3下一代STM8 和STM32微控制器代碼燒寫及調(diào)試探針,進(jìn)一步改進(jìn)代碼燒寫及調(diào)試靈活性,提高效率。STLINK-V3支持大容量存儲(chǔ),具有虛擬COM端口和多路橋接功能,燒寫性能是上一代探針的三倍,產(chǎn)品價(jià)格具市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,節(jié)省應(yīng)用開發(fā)時(shí)間,簡(jiǎn)化設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)重新編程流程。
2018-10-25 14:48:316508 本視頻主要介紹了半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,分別有橢偏儀、四探針、熱波系統(tǒng)、相干探測(cè)顯微鏡、光學(xué)顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-11-02 16:39:0925351 、high Z測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)的探針、測(cè)試電纜、樣品架都有多種類型可供選擇,從而滿足不同應(yīng)用的需要。系統(tǒng)適用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的精準(zhǔn)電學(xué)特性測(cè)量和分析。半導(dǎo)體特性分析
2018-11-15 13:51:01379 。國(guó)際通用的真空接口設(shè)計(jì),使未來(lái)的擴(kuò)展與升級(jí)更加容易。變溫范圍從-196℃~400℃極限真空在1*10-4Pa以上應(yīng)用領(lǐng)域:半導(dǎo)體器件:片上參數(shù)測(cè)試、晶圓級(jí)可靠性、封裝器件的特性分析、C-V、I-V
2018-11-15 13:53:25831 美國(guó)VLSI Research是一家專門調(diào)查半導(dǎo)體及相關(guān)設(shè)備、材料的市場(chǎng)調(diào)查公司,近日公布了用于半導(dǎo)體方面的探針卡(Probe)供應(yīng)商的2018年的銷售額排名。
2019-05-08 14:25:1227298 10月30日消息,半導(dǎo)體測(cè)試探針卡領(lǐng)導(dǎo)廠商—思達(dá)科技,今天宣布推出新款測(cè)試探針卡—思達(dá)牡羊座Aries Sigma-M。此系列探針卡是采用微電子機(jī)械系統(tǒng)工藝制造的微懸臂式測(cè)試探針卡 ,主要是針對(duì)圖像
2019-10-30 15:30:134009 什么是探針?探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件,主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中,起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介,測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物,另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào),進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:234959 以2019年度的數(shù)據(jù)計(jì)算,精微屏蔽罩的收入占比最大,達(dá)到66.50%;精密結(jié)構(gòu)件占比次之,為14.98%;半導(dǎo)體芯片測(cè)試探針的收入占比達(dá)到10.34%。
2020-06-19 08:54:443850 電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù),為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況,需要測(cè)試材料的電阻率。 四探針法是目前測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率的常用方法,因?yàn)榇朔ㄔO(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高且對(duì)樣品形狀
2020-10-19 09:53:333651 平板電腦各個(gè)部件進(jìn)行的質(zhì)檢與測(cè)試環(huán)節(jié)尤為重要,尤其是LCD/OLED屏幕、3C鋰電池、平板上的攝像頭等重要部件。凱智通創(chuàng)新研發(fā)了一款大電流彈片微針模組,有效解決測(cè)試探針不穩(wěn)定的問(wèn)題。 大電流
2020-11-17 16:30:271802 中美貿(mào)易摩擦的一次次升級(jí)也給我們敲響了警鐘,不僅是IC測(cè)試環(huán)節(jié)需要國(guó)產(chǎn)化替代,作為重要配件的測(cè)試治具以及測(cè)試探針環(huán)節(jié)同樣需要加快國(guó)產(chǎn)化進(jìn)程。
2020-12-30 16:17:255207 就像其他較大的電子元件一樣,半導(dǎo)體在制造過(guò)程中也經(jīng)過(guò)大量測(cè)試。 這些檢查之一是#晶圓測(cè)試#,也稱為電路探測(cè)(CP)或電子管芯分類(EDS)。這是一種將特殊測(cè)試圖案施加到半導(dǎo)體晶圓上各個(gè)集成電路
2021-10-14 10:25:477092 和CP測(cè)試,探針臺(tái)在其中起著至關(guān)重要的作用。探針臺(tái)設(shè)備主要技術(shù)壁壘在系統(tǒng)的精準(zhǔn)定位、微米級(jí)運(yùn)動(dòng)以及高準(zhǔn)確率通信等關(guān)鍵參數(shù)。目前全球高端探針臺(tái)市場(chǎng)仍主要被美、日、韓等國(guó)所占據(jù)。近年來(lái)在國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)
2021-06-04 16:04:064671 基于NI-VISA的晶圓測(cè)試探針臺(tái)遠(yuǎn)程控制軟件
2021-06-29 15:07:0821 迪賽康科技(深圳)有限公司一直專注于高頻、高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā),已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測(cè)試夾具,多款同軸連接器,高頻高速線纜和測(cè)試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品,并申請(qǐng)專利。
2022-04-15 17:55:132262 手動(dòng)探針臺(tái)是廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的綜合經(jīng)濟(jì)型測(cè)試儀器,主要用于半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)檢測(cè)。
2022-06-02 10:06:186955 Apollo 探針卡概述 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求,半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì),但是它們
2022-06-09 15:05:36600 TrueScale 探針卡概述 為了滿足消費(fèi)者對(duì)于低價(jià)、低功耗和高連接性的便攜式計(jì)算產(chǎn)品的需求,半導(dǎo)體行業(yè)加快了工藝和封裝技術(shù)的發(fā)展。 雖然尖端半導(dǎo)體技術(shù)為低成本和低功耗應(yīng)用提供了重要優(yōu)勢(shì),但是它們
2022-06-13 09:50:51466 2022年12月15日上午 10:30-11:30力科將帶來(lái)《解析寬禁帶功率半導(dǎo)體測(cè)試中的探頭選擇難題》直播會(huì)議!歡迎企業(yè)、工程師積極報(bào)名! 以碳化硅與氮化鎵為代表的第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料,它們具有
2022-12-09 14:29:42859 ,給測(cè)試帶來(lái)影響。 這時(shí)候,我們通??梢圆扇∫恍┍容^有效的手段來(lái)控制探針的使用效率。? 1.?????創(chuàng)造良好的測(cè)試環(huán)境 眾所周知的,測(cè)試探針測(cè)試大部分的線路板,因?yàn)楸?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試產(chǎn)品的精密性,測(cè)試探針也是被制造成高精密性的產(chǎn)品,
2022-12-28 10:15:321811 測(cè)試探針工作在測(cè)試夾具板上,與安裝的探針針套相配合。探針通過(guò)壓縮到工作行程與PCB上的元件接觸,然后接觸器將PCB信號(hào)從探針傳到安裝在接收板上的終端。 根據(jù)零件的不同,夾具設(shè)計(jì)人員可以選擇相應(yīng)的探針
2022-12-30 09:49:141197 值是大電流測(cè)試探頭最重要的性能。從物理上講,測(cè)試探針在攜帶電流作為導(dǎo)體時(shí)會(huì)產(chǎn)生熱量,我們可以簡(jiǎn)單地認(rèn)為探針可以在通過(guò)測(cè)試探針的高電流下繼續(xù)工作并且不會(huì)燒毀探針。 熱量的測(cè)量是由溫度表示的,大電流探頭可以測(cè)試大
2023-01-10 08:40:052010 迪賽康科技一直專注于高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā),已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測(cè)試夾具,多款同軸連接器和測(cè)試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品。
2023-02-02 15:47:58860 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同,針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273464 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè),而是透過(guò)探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363 Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針,模擬鉗式電流表,其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣,鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中,而只需要將其前端的鉗子(電流夾)打開,使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞,利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。
2023-05-18 11:26:007286 在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上,主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試,就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè),以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡,以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55732 據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道,芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示:“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試的探針芯片,將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?!崩^新工廠啟動(dòng)之后,預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42633 供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series(測(cè)試探針與測(cè)試線纜)
2022-03-02 11:40:11786 了解RF射頻測(cè)試座的用途及如何選擇合適的測(cè)試探針
2023-02-24 11:03:171033 5代IPEX天線座專用測(cè)試探針,同時(shí)兼容4代天線座。
使用壽命大于10000次。
測(cè)試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:04869 半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是全球技術(shù)進(jìn)步的核心引擎,其成果無(wú)處不在,從我們的智能手機(jī)到現(xiàn)代交通工具,再到各種先進(jìn)的醫(yī)療設(shè)備。而在這一巨大產(chǎn)業(yè)中,每一個(gè)微小但至關(guān)重要的部分都需經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試,以確保其性能和可靠性。這就是半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備探針臺(tái)(通常稱為“探針卡”或“探針臺(tái)”)發(fā)揮作用的地方。
2023-07-25 09:59:13748 據(jù)傳感器專家網(wǎng)獲悉,近日,和林微納在接受機(jī)構(gòu)調(diào)研時(shí)表示,線針、MEMS晶圓測(cè)試探針均進(jìn)入部分客戶驗(yàn)證環(huán)節(jié)。 和林微納進(jìn)一步稱,半導(dǎo)體探針業(yè)務(wù)受行業(yè)及經(jīng)濟(jì)環(huán)境等綜合影響,營(yíng)業(yè)收入較往年有較大的變化
2023-11-16 08:38:47229 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上,然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳,以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中,探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào),通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 近日,上海韜盛科技旗下的蘇州晶晟微納宣布推出其最新研發(fā)的N800超大規(guī)模AI算力芯片測(cè)試探針卡。這款高性能探針卡采用了前沿的嵌入式合金納米堆疊技術(shù),旨在滿足當(dāng)前超大規(guī)模AI算力芯片的高精度測(cè)試需求。
2024-03-04 13:59:12203
評(píng)論
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