有源探頭低電流/電容測(cè)試高壓模塊激光修復(fù)高清數(shù)字相機(jī)探針卡/封裝/PCB板夾具Hot Chuck防震桌屏蔽箱兼容測(cè)試儀器各種型號(hào)示波器 各種品牌型號(hào)的源表安捷倫B1500、安捷倫4155、安捷倫
2020-02-10 14:28:15
探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)
2023-05-31 10:29:33
測(cè)試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測(cè)試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
以下內(nèi)容轉(zhuǎn)自ADI中文技術(shù)論壇：ezchina.analog.com/thread/18011以測(cè)量電壓為例，主要有兩種探針可供選擇——單端探針，提供的波形通常最干凈，但是，接地基準(zhǔn)需是示波器的接地
2018-04-21 14:55:17
串口工作的流程。另外，本文對(duì)于正點(diǎn)原子原有的system文件夾中的程序已經(jīng)簡(jiǎn)化。完整的工程文件見(jiàn)GitHub：
2021-08-10 06:18:59
編輯-Z在拿到ASEMI整流模塊MSCD165-16時(shí)要怎么更換呢？下面給大家講講ASEMI整流模塊MSCD165-16更換流程和注意事項(xiàng)。 MSCD165-16參數(shù)描述型號(hào)：MSCD165-16
2021-08-13 16:22:55
`射頻探針是通過(guò)安裝在測(cè)試治具上，一端與射頻線纜組件配合連接測(cè)試儀器，另一端與客戶的被測(cè)物連接，檢查被測(cè)件的信號(hào)傳輸性能；產(chǎn)品測(cè)試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口，連接點(diǎn)采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口，具有使用頻率高
2019-07-25 14:21:01
N32替換STM32記錄前言目前大形勢(shì)影響，芯片價(jià)格日益上漲，采購(gòu)周期變長(zhǎng)，導(dǎo)致國(guó)產(chǎn)芯片替代進(jìn)口芯片成為大趨勢(shì)，該文章記錄了使用國(guó)民技術(shù)的N32替換STM32的操作流程。話不多說(shuō)，上步驟。一、工程
2022-02-22 06:35:29
內(nèi)存和外存的區(qū)別是什么？SD卡啟動(dòng)流程是怎樣的?
2021-10-18 07:58:11
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測(cè)試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 11:26:56
ICT測(cè)試治具的使用通常需要用到探針，而探針是電測(cè)試的接觸媒介，是一種高端精密型電子五金元器件。那么ICT測(cè)試治具的探針類型主要有哪幾種呢？選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)
2016-02-23 13:50:27
的設(shè)計(jì)人員被要求將測(cè)試模式引入存儲(chǔ)陣列。測(cè)試的設(shè)計(jì)人員在探索如何將測(cè)試流程更加簡(jiǎn)化而有效，例如在芯片參數(shù)評(píng)估合格后使用簡(jiǎn)化的測(cè)試程序，另外也可以隔行測(cè)試晶圓上的芯片，或者同時(shí)進(jìn)行多個(gè)芯片的測(cè)試。`
2011-12-01 13:54:00
四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆的方法是什么？使用四探針電阻率測(cè)試儀有哪些注意事項(xiàng)？
2021-05-08 07:12:20
能否將基板用作我的定制硬件板的JTAG 探針？擴(kuò)展基座上確實(shí)有 14 引腳的 JTAG 連接器，而且只要移除控制卡，我就不必使用 JTAG 信號(hào)同時(shí)與兩個(gè)處理器對(duì)話。我認(rèn)為這樣是可行的，除非至 100
2018-11-05 11:46:18
本帖最后由 儀商城客服 于 2018-1-26 11:12 編輯
四探針電阻率測(cè)試儀特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除
2018-01-26 11:10:03
1：影響探針使用壽命的主要因素測(cè)試探針的行程是否過(guò)壓，是否存在側(cè)面力介入，通過(guò)的測(cè)試電流是否大于額定值等等2：怎么使用能使探針的壽命最大化測(cè)試探針按照推薦的使用行程使用，保證探針在設(shè)備上是垂直伸縮
2019-07-22 17:39:39
在很多PCB板、晶圓的測(cè)試中，高頻探針是一個(gè)必不可少的探測(cè)工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測(cè)試中，對(duì)于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問(wèn)題來(lái)了，探針本身的性能好壞如何衡量？
2019-08-09 06:26:54
射頻探針的發(fā)展射頻（RF）探針在射頻產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開(kāi)發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試和最終的生產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)使用射頻探針，人們便有可能在晶片層次
2019-07-17 08:09:01
射頻探針是通過(guò)安裝在測(cè)試治具上，一端與射頻線纜組件配合連接測(cè)試儀器，另一端與客戶的被測(cè)物連接，檢查被測(cè)件的信號(hào)傳輸性能；產(chǎn)品測(cè)試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口，連接點(diǎn)采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口，具有使用頻率高、機(jī)械
2019-12-18 17:32:00
，具有虛擬COM端口和多路橋接功能，燒寫(xiě)性能是上一代探針的三倍，產(chǎn)品價(jià)格具市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，節(jié)省應(yīng)用開(kāi)發(fā)時(shí)間，簡(jiǎn)化設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)重新編程流程。除提供典型的JTAG /串行線調(diào)試（SWD）和單線接口模塊（SWIM
2018-10-11 13:53:03
現(xiàn)在測(cè)試治具中，探針是作為一個(gè)媒介，探針放在套管里，探針頭接觸待測(cè)物，另一端的套管引出線將信號(hào)傳導(dǎo)出去，接收回來(lái)的信號(hào)在測(cè)試機(jī)里處理，比如電阻利用電流源計(jì)算探針兩端的壓降，電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
顯微鏡和體式顯微鏡，顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2.5英寸，移動(dòng)精度1um可搭配4~8顆探針座，進(jìn)行DC或者高頻測(cè)試可選附件射頻測(cè)試探頭及電纜有源探頭低電流/電容測(cè)試高壓模塊激光修復(fù)高清數(shù)字相機(jī)探針卡/封裝
2020-03-28 12:14:08
和無(wú)功功率。VSC不像LCC那樣依賴于AC網(wǎng)絡(luò)，因此它們可以向無(wú)源負(fù)載供電并具有黑啟動(dòng)能力。使用絕緣柵雙極晶體管（IGBT）閥，則無(wú)需進(jìn)行晶閘管所需的換流操作，并可實(shí)現(xiàn)雙向電流。表1對(duì)LCC和VSC進(jìn)行了
2022-11-14 07:15:35
該系列文章的第一部分介紹了電網(wǎng)換相換流器（LCC）。這篇文章將討論電壓源換流器（VSC）并比較兩種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。 VSC目前已成為首選實(shí)施對(duì)象，原因如下：VSC具有較低的系統(tǒng)成本，因?yàn)樗鼈兊呐湔颈容^簡(jiǎn)單
2019-08-21 04:45:11
`芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試簡(jiǎn)介：可以便捷的測(cè)試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號(hào)引出功能，支持微米級(jí)的測(cè)試點(diǎn)信號(hào)引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
`特點(diǎn)/應(yīng)用 ◆ 2至6英寸樣品臺(tái)◆ 高真空腔體◆ 防輻射屏設(shè)計(jì)，樣品溫度均勻性更好◆ 77K-675K高低溫環(huán)境◆ 兼容IV/CV/RF測(cè)試◆ 外置多探針臂，移動(dòng)行程大◆ 經(jīng)濟(jì)實(shí)用，可無(wú)縫升級(jí)
2020-03-20 16:17:48
該系列文章的第一部分介紹了電網(wǎng)換相
換流器（LCC）。在這部分中，我將討論電壓源
換流器（VSC）并比較兩種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。VSC目前已成為首選實(shí)施對(duì)象，原因如下：VSC具有較低的系統(tǒng)成本，因?yàn)樗鼈兊呐湔?/div>
2019-03-22 06:45:12
給大家推薦一款國(guó)產(chǎn)RF射頻測(cè)試探針（6代RF測(cè)試探針）6代RF測(cè)試探針 6代射頻探針采用SMPM接口進(jìn)行線纜轉(zhuǎn)接，同時(shí)自帶浮動(dòng)裝置，彈簧內(nèi)置保護(hù)，使用更順暢。我們的射頻探針法蘭寬度為
2022-04-19 18:29:31
奧納科技主要為客戶提供各種RF射頻測(cè)試探針，也叫高頻探針。我們針對(duì)第6代USS天線插座定制了一款測(cè)試探針，型號(hào)為21340019601。主要是針對(duì)日本村田MURATA品牌的MM6829-2700
2022-06-02 14:51:12
介紹了基于故障字典的電路故障診斷系統(tǒng)設(shè)計(jì)及故障定位過(guò)程，提出了針對(duì)固定型故障的簡(jiǎn)化探針測(cè)試點(diǎn)集合的流域覆蓋法的思想，在分析單固定型故障和多固定型故障的基礎(chǔ)上
2009-08-28 11:14:30
9 選擇用于阻抗測(cè)試的最佳IP探針:使用Polar CITS或其它TDR探針測(cè)量阻抗時(shí)，選擇尤為重要。本應(yīng)用說(shuō)明將討論如何選擇最佳探針并澄清可能存在的誤區(qū)。
是否有適用于所有阻抗
2009-10-08 08:24:049 移動(dòng)性管理流程分析:移動(dòng)性管理流程分析6.1 概述6.2 前向切換流程6.2.1 概述6.2.2 小區(qū)更新6.2.3 URA更新6.2.4 CELL UPDATE消息6.2.5 URA UPDATE消息6.3 軟切換流程6.3.1
2009-11-28 17:55:3515 摘 要： 本文介紹了在斜置式方形探針測(cè)試系統(tǒng)中，如何應(yīng)用圖像識(shí)別技術(shù)來(lái)判定探針在微區(qū)的位置，進(jìn)而控制步進(jìn)電機(jī)，使探針自動(dòng)定位成方形結(jié)構(gòu)，從而保證測(cè)試的準(zhǔn)確性
2006-03-24 13:13:33
698 
Cypress全新套件簡(jiǎn)化LCD驅(qū)動(dòng)應(yīng)用設(shè)計(jì)流程
Cypress Semiconductor公司推出兩款評(píng)估套件，可簡(jiǎn)化LCD Segment驅(qū)動(dòng)裝置設(shè)計(jì)流程，提供了PSoC 3架構(gòu)容易上手、快速設(shè)計(jì)時(shí)程以及高彈
2009-12-01 08:33:28766 首先根據(jù) 四探針 測(cè)試理論.闡述了恒流源電路在四探針測(cè)試儀中的重要性，給出了對(duì)恒流源的基本要求。然后介紹了我們?cè)陂_(kāi)發(fā)前期實(shí)驗(yàn)過(guò)的2種恒流源電路，它們分別是級(jí)聯(lián)型鏡象電流
2011-08-09 14:59:2144 工程師在工作中經(jīng)常會(huì)用到萬(wàn)用表測(cè)電阻，或者測(cè)試電壓和電流。而最長(zhǎng)用到的測(cè)試方法還有四探針測(cè)電阻法，那么用萬(wàn)用表測(cè)電阻和四探針測(cè)電阻，這兩種測(cè)試方法有什么不同？本文將為你總結(jié)和分析這其中的區(qū)別。
2016-11-05 01:11:402186 
DVR測(cè)試流程
2017-01-04 13:52:400 基于模塊化多電平換流器的_500_省略_輸電系統(tǒng)功率模塊閉環(huán)測(cè)試方法研究_許彬
2017-01-05 15:33:0316 高效設(shè)計(jì)：簡(jiǎn)化工程師設(shè)計(jì)流程
2017-01-24 17:21:0410 本文首先介紹了wifi探針的概念和特點(diǎn)，其次詳細(xì)介紹了WiFi探針的工作原理，最后介紹了WiFi探針可以采集的數(shù)據(jù)及融合。
2018-04-23 14:53:3744941 換流變壓器是指接在換流橋與交流系統(tǒng)之間的電力變壓器。采用換流變壓器實(shí)現(xiàn)換流橋與交流母線的連接，并為換流橋提供一個(gè)中性點(diǎn)不接地的三相換相電壓。換流變壓器與換流橋是構(gòu)成換流單元的主體。
2019-01-08 15:02:1710963 如何通過(guò)流程化來(lái)簡(jiǎn)化電源穩(wěn)壓器原型設(shè)計(jì)
2019-05-10 06:23:002190 
PCBA測(cè)試一般根據(jù)客戶的測(cè)試方案制定具體的測(cè)試流程，基本的PCBA測(cè)試流程如下：程序燒錄→ICT測(cè)試→FCT測(cè)試→老化測(cè)試。
2019-05-23 17:00:3317183 PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，為高端緊密型電子五金元器件，屬于是重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。 通常線路板的探針有很多的規(guī)格，針主要是有三個(gè)部分組成的：一是針管：主要是以銅合金為材料
2019-07-12 16:05:0013136 實(shí)際上，飛針測(cè)試可以作為飛針測(cè)試的升級(jí)，飛針測(cè)試儀利用探針替換釘床。飛針測(cè)試儀沿XY軸配備四個(gè)接頭，可以高速移動(dòng)。
2019-08-02 16:08:1623118 10月30日消息，半導(dǎo)體測(cè)試探針卡領(lǐng)導(dǎo)廠商—思達(dá)科技，今天宣布推出新款測(cè)試探針卡—思達(dá)牡羊座Aries Sigma-M。此系列探針卡是采用微電子機(jī)械系統(tǒng)工藝制造的微懸臂式測(cè)試探針卡 ，主要是針對(duì)圖像
2019-10-30 15:30:134009 彈片微針模組和探針模組的作用 彈片微針模組和探針模組都是應(yīng)用于3C鋰電池、LCD、OLED屏幕、手機(jī)攝像頭測(cè)試的測(cè)試針模組。在測(cè)試中都能起到傳送信號(hào)和導(dǎo)通電流的作用。隨著科技的發(fā)展，數(shù)碼產(chǎn)品的體型
2020-04-02 14:24:364222 什么是探針？探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件，主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中，起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介，測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物，另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào)，進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:234959 探針是什么？探針是一個(gè)多義詞，在不同的領(lǐng)域中，探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢？主要可以分為以下幾類： 信息探測(cè)工具 探針是什么？作為信息探測(cè)工具來(lái)說(shuō)，探針卡是一種測(cè)試接口，主要
2020-03-30 14:27:2725526 換流變壓器保護(hù)功能配置的流程：
2020-06-18 14:24:491781 PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，屬于重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測(cè)試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送，導(dǎo)電接觸，通過(guò)探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:224815 電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況，需要測(cè)試材料的電阻率。 四探針法是目前測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率的常用方法，因?yàn)榇朔ㄔO(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高且對(duì)樣品形狀
2020-10-19 09:53:333651 
中美貿(mào)易摩擦的一次次升級(jí)也給我們敲響了警鐘，不僅是IC測(cè)試環(huán)節(jié)需要國(guó)產(chǎn)化替代，作為重要配件的測(cè)試治具以及測(cè)試探針環(huán)節(jié)同樣需要加快國(guó)產(chǎn)化進(jìn)程。
2020-12-30 16:17:255207 上的測(cè)試。這樣，可以檢測(cè)晶片上的功能缺陷。（包括失效分析，晶圓可靠性測(cè)試，器件表征測(cè)試） 當(dāng)然，這只是晶圓測(cè)試的概述。要更詳細(xì)地了解一下，我們首先檢查一下用于進(jìn)行此測(cè)試的設(shè)備-晶圓測(cè)試#探針臺(tái)#。 晶圓測(cè)試探針臺(tái)的組成： 誠(chéng)然，
2021-10-14 10:25:477092 HC-Z4 直線四探針電阻率測(cè)試儀，包含直線直線四探針夾具、雙探針自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)和測(cè)試軟件組成。使用時(shí)需要有一臺(tái)計(jì)算機(jī)安裝測(cè)試軟件，可以通過(guò) R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:2754 基于NI-VISA的晶圓測(cè)試探針臺(tái)遠(yuǎn)程控制軟件
2021-06-29 15:07:0821 晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。這步測(cè)試是晶圓生產(chǎn)過(guò)程的成績(jī)單，它不僅是節(jié)約芯片
2021-11-17 15:29:155703 史密斯英特康是全球領(lǐng)先的關(guān)鍵半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用創(chuàng)新解決方案的供應(yīng)商,其最新推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin(開(kāi)爾文)彈簧探針技術(shù),適用于低至 0.35 毫米間距的Kelvin測(cè)試應(yīng)用。該探針獨(dú)特
2021-11-18 16:00:44744 迪賽康科技(深圳)有限公司一直專注于高頻、高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā)，已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測(cè)試夾具，多款同軸連接器，高頻高速線纜和測(cè)試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品，并申請(qǐng)專利。
2022-04-15 17:55:132262 集成電路測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分。在對(duì)集成電路進(jìn)行在片測(cè)試時(shí)，需要對(duì)整個(gè)晶圓進(jìn) 行測(cè)試。文中以 Cascade Summit 12000 半自動(dòng)探針臺(tái)為例，設(shè)計(jì)一個(gè)由計(jì)算機(jī)、探針臺(tái)、單片機(jī)
2022-06-02 10:04:413082 內(nèi)部抽成真空后，對(duì)晶圓上的芯片加上壓力、聲、振動(dòng)、液體、溫度等影響因素，在這些因素環(huán)境中進(jìn)行電性能 測(cè)試，對(duì)測(cè)試芯片的優(yōu)劣進(jìn)行判斷。那么真空探針臺(tái)的測(cè)試流程以及要點(diǎn)是怎樣的那，下面我們進(jìn)行一個(gè)簡(jiǎn)單的介紹。
2022-06-06 10:44:302018 測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下，最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率，來(lái)縮短生 產(chǎn)周期，降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手，提出幾種
2022-06-06 10:50:071145 尺寸的Pad），保證探針本身一致的較低的接觸電阻，憑借快速調(diào)試、便于維護(hù)和規(guī)范的清潔流程降低了生產(chǎn)測(cè)試成本。
2022-06-13 10:12:04370 高級(jí)精細(xì)的工具簡(jiǎn)化了超低溫測(cè)試 低溫工具軟件是一種Velox應(yīng)用程序，通過(guò)控制真空泵和冷卻液參數(shù)，可在極端環(huán)境中進(jìn)行精確的晶圓上測(cè)量。它是為低溫探針臺(tái)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的，可以測(cè)試冷卻紅外傳感器和需要低溫
2022-06-24 18:15:41583 
晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:103833 以上6種粉末材料在使用兩種測(cè)試方法測(cè)得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢(shì)，且趨勢(shì)一致（如圖2左圖）。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對(duì)比分析，GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測(cè)試結(jié)果均小于兩探針的測(cè)試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307 探針卡是由探針（probe pin）、電子元件（component）、線材（wire）與印刷電路板（PCB）組成的一種測(cè)試接口，根據(jù)不同的情況，還會(huì)有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板（Stiffener）等的需求，主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試，即wafer level測(cè)試。
2022-10-17 17:44:421781 單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)（SoC）的測(cè)試流程。
2022-11-30 09:39:21530 測(cè)試一：先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后，然后連接兩個(gè)探針測(cè)試DUT，將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出，然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌，得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424893 在ICT或者FCT測(cè)試中，治具上的探針總歸會(huì)測(cè)試到一定的壽命時(shí)候變得臟污，造成測(cè)試不通，通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài)，但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測(cè)試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811 
測(cè)試探針工作在測(cè)試夾具板上，與安裝的探針針套相配合。探針通過(guò)壓縮到工作行程與PCB上的元件接觸，然后接觸器將PCB信號(hào)從探針傳到安裝在接收板上的終端。 根據(jù)零件的不同，夾具設(shè)計(jì)人員可以選擇相應(yīng)的探針
2022-12-30 09:49:141197 
晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:501579 隨著集成電路的快速發(fā)展，許多電氣和汽車(chē)應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測(cè)試這類產(chǎn)品正在成為一個(gè)新的挑戰(zhàn)。 我們還開(kāi)發(fā)了大電流測(cè)試探針，通常用于測(cè)試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來(lái)看，要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052010 
探針卡（Probe card）或許很多人沒(méi)有聽(tīng)過(guò)，但看過(guò)關(guān)于，也就是晶圓測(cè)試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生，其中就有提到過(guò)探針卡。
2023-02-27 17:48:492326 一個(gè)自動(dòng)化的測(cè)試流程。
2023-05-04 17:48:400 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273459 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363 
Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針，模擬鉗式電流表，其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣，鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中，而只需要將其前端的鉗子（電流夾）打開(kāi)，使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞，利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。
2023-05-18 11:26:007281 
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上，主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試，就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè)，以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55732 
據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道，芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示：“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試的探針芯片，將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?！崩^新工廠啟動(dòng)之后，預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42633 供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series（測(cè)試探針與測(cè)試線纜）
2022-03-02 11:40:11786 
了解RF射頻測(cè)試座的用途及如何選擇合適的測(cè)試探針
2023-02-24 11:03:171032 
5代IPEX天線座專用測(cè)試探針，同時(shí)兼容4代天線座。
使用壽命大于10000次。
測(cè)試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:04869 
近年來(lái)，隨著電池廠商對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的要求越來(lái)越高，在生產(chǎn)中太陽(yáng)能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽(yáng)能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測(cè)試儀，可對(duì)
2023-08-26 08:36:01331 
"去嵌"是一種高頻測(cè)試中常用的技術(shù)，旨在消除測(cè)量中探針或連接線等外部元件的影響，以便更準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)試器件的性能。
2023-08-28 15:39:241153 
制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07529 
通過(guò)RA MCU和微型ROS簡(jiǎn)化機(jī)器人設(shè)計(jì)流程
2023-10-24 17:55:26232 
針對(duì)目前主流使用的RF射頻測(cè)試座與USS天線插座進(jìn)行射頻測(cè)試時(shí)如何匹配合適的射頻探針進(jìn)行選型推薦，歡迎交流合作。
2021-10-11 17:21:0336 DRAM測(cè)試發(fā)生在晶圓探針和封裝測(cè)試。最終組裝的封裝、終端系統(tǒng)要求和成本考慮推動(dòng)了測(cè)試流程，包括ATE要求和相關(guān)測(cè)試內(nèi)容。
2023-11-22 16:52:11909 
便攜式光伏組件測(cè)試儀簡(jiǎn)化光伏組件測(cè)試流程，提高測(cè)試效率。它基于光伏效應(yīng)原理，通過(guò)測(cè)量輸出電流和電壓變化來(lái)計(jì)算光伏組件的輸出功率和效率。測(cè)試儀小巧便攜，操作簡(jiǎn)單，高可靠，在光伏能源行業(yè)中發(fā)揮重要作用。
2023-12-14 14:48:51309 作為芯片晶圓測(cè)試階段的重要工具之一，探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測(cè)試，針卡類型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級(jí)。
2024-01-25 10:29:21662 
換流器的工作原理 換流器類型和應(yīng)用? 換流器是一種電力裝置，用于將電流的頻率、相數(shù)或電壓等參數(shù)從一種形式轉(zhuǎn)換為另一種形式。它在現(xiàn)代電力系統(tǒng)中起到了非常重要的作用，廣泛應(yīng)用于電力變換、電能傳輸和消費(fèi)
2024-02-01 11:32:29452 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 
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