過(guò)去的幾年里，測(cè)試探針卡的發(fā)展允許平行測(cè)試更多的器件——同時(shí)可測(cè)的待測(cè)器件(DUT)數(shù)量從32到64到128不斷上升——減少了測(cè)試平臺(tái)的數(shù)目。這樣，通過(guò)在300 mm晶圓上一次完成測(cè)試，
2011-11-10 12:04:20
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行業(yè)網(wǎng)絡(luò)、SDN、LTE將是未來(lái)測(cè)試產(chǎn)業(yè)的三大戰(zhàn)略發(fā)展機(jī)遇，這三大領(lǐng)域都處于快速發(fā)展期，對(duì)測(cè)試的需求量非常巨大。
2013-11-12 17:55:522608 spacer.gif2017年12月6日，英國(guó)，倫敦 ——全球領(lǐng)先的電子元器件、連接器、微波元器件，子系統(tǒng)以及射頻產(chǎn)品生產(chǎn)商Smiths Interconnect史密斯英特康正式推出一款性能更優(yōu)化的晶片級(jí)芯片封裝測(cè)試探針頭——Volta系列探針頭。
2017-12-08 11:06:326376 Volta獨(dú)特的設(shè)計(jì)具有極短的信號(hào)路徑，低接觸電阻，可實(shí)現(xiàn)最佳電氣性能，并且可有效地降低清潔頻率，提高了探針頭的使用壽命和延長(zhǎng)單次正常運(yùn)行時(shí)間。
2020-03-17 08:21:00752 大家參考。因經(jīng)驗(yàn)有限，有說(shuō)的不合適的地方，望大家指正。一：手動(dòng)探針臺(tái)用途：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保
2020-02-10 14:28:15
探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)
2023-05-31 10:29:33
測(cè)試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測(cè)試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
`射頻探針是通過(guò)安裝在測(cè)試治具上，一端與射頻線纜組件配合連接測(cè)試儀器，另一端與客戶的被測(cè)物連接，檢查被測(cè)件的信號(hào)傳輸性能；產(chǎn)品測(cè)試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口，連接點(diǎn)采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口，具有使用頻率高
2019-07-25 14:21:01
性價(jià)比高的，建議選用(ingun、LH)。通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金；二是彈簧，主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金；三是針頭，主要是工具鋼（SK）鍍鎳或者鍍金，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。
2016-02-23 11:26:56
性價(jià)比高的，建議選用(ingun、LH)。通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金；二是彈簧，主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金；三是針頭，主要是工具鋼（SK）鍍鎳或者鍍金，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。
2016-02-23 13:50:27
四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試四探針筆的方法是什么？使用四探針電阻率測(cè)試儀有哪些注意事項(xiàng)？
2021-05-08 07:12:20
提供測(cè)試探針及各類Socket，有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
臺(tái)積電宣布5nm基本完工開(kāi)始試產(chǎn)：面積縮小45%、性能提升15%.pdf(105.52 KB)
2019-04-24 06:00:42
旋緊小螺絲；5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。四探針電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng)：1、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說(shuō)明書(shū)，規(guī)范操作；2、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量；3、儀器不使用時(shí)請(qǐng)
2018-01-26 11:10:03
為滿足市場(chǎng)需求，意法半導(dǎo)體啟動(dòng)新工廠、擴(kuò)充STM8產(chǎn)能取得積極進(jìn)展，預(yù)計(jì)在2018年第四季度初開(kāi)始批量出貨。點(diǎn)擊查看STM8單片機(jī)產(chǎn)品信息
2018-06-15 16:21:15
WLAN測(cè)試的五要素分別是什么？如何提升WLAN測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量速度？
2021-05-07 06:34:30
的損傷！所以，如果想提高探針的使用壽命，還請(qǐng)從以下方面進(jìn)行改善：1.定期清理探針頭部的污染物，清理時(shí)采用干燥的靜電刷，針尖與地面平行2.保證測(cè)點(diǎn)的潔凈，不要有過(guò)多的松香、助焊劑之類的殘留3.測(cè)試探針
2019-07-22 17:39:39
在很多PCB板、晶圓的測(cè)試中，高頻探針是一個(gè)必不可少的探測(cè)工具。特別是高速數(shù)字電路板、微波芯片的測(cè)試中，對(duì)于探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。那么問(wèn)題來(lái)了，探針本身的性能好壞如何衡量？
2019-08-09 06:26:54
的市場(chǎng)規(guī)模在飛速擴(kuò)大。要想進(jìn)行全面的生產(chǎn)測(cè)試并提高測(cè)試產(chǎn)能，測(cè)試工程師們必須懂得選用最適合的儀器完成這些測(cè)試工作。那么，如何選擇射頻測(cè)試儀器呢？
2019-09-24 07:53:56
射頻探針是通過(guò)安裝在測(cè)試治具上，一端與射頻線纜組件配合連接測(cè)試儀器，另一端與客戶的被測(cè)物連接，檢查被測(cè)件的信號(hào)傳輸性能；產(chǎn)品測(cè)試端采用非標(biāo)準(zhǔn)接口，連接點(diǎn)采用射頻連接器的標(biāo)準(zhǔn)接口，具有使用頻率高、機(jī)械
2019-12-18 17:32:00
答案是可以。進(jìn)行焊接測(cè)試后的WLCSP IC樣品，從測(cè)試板上拔下欲二次進(jìn)行FIB電路修改，IC上的錫球?qū)?huì)是破碎不完整，因此，第一步驟必須先將WLCSP表面破碎的錫球清除干凈，第二步驟，即可二次進(jìn)行
2021-12-17 17:01:00
怎么快速提升LabVIEW編程水平？
2022-03-17 14:33:35
現(xiàn)在需要設(shè)計(jì)一個(gè)板子，用到WLCSP封裝，但是在Altium Designer里面沒(méi)有找到這樣的封裝，應(yīng)該用什么軟件去設(shè)計(jì)
2018-04-26 09:42:01
操作，測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量速度已經(jīng)變得越來(lái)越重要。然而，在大多數(shù)情況下，除了縮短測(cè)試的時(shí)間并降低測(cè)試成本之外，系統(tǒng)的測(cè)量精度與可重復(fù)性卻不能受到影響。怎么進(jìn)行WLAN測(cè)試？提升測(cè)試速度？這些問(wèn)題急需解決。
2019-08-08 08:28:40
現(xiàn)在測(cè)試治具中，探針是作為一個(gè)媒介，探針放在套管里，探針頭接觸待測(cè)物，另一端的套管引出線將信號(hào)傳導(dǎo)出去，接收回來(lái)的信號(hào)在測(cè)試機(jī)里處理，比如電阻利用電流源計(jì)算探針兩端的壓降，電容以定電壓源不同頻率去
2016-07-05 16:20:11
`手動(dòng)探針臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)失效分析 趙工2020年開(kāi)年伊始就收到很多朋友對(duì)手動(dòng)探針臺(tái)使用問(wèn)題的咨詢，在此收集整理供手動(dòng)探針臺(tái)相關(guān)信息供大家參考。一：手動(dòng)探針臺(tái)用途：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)
2020-03-28 12:14:08
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)測(cè)試產(chǎn)品概述
2019-05-07 07:04:44
與工時(shí)。iST宜特科技的第二代WLCSP電路修改技術(shù)，已為此類產(chǎn)品帶來(lái)全面的解決方案，在錫球、RDL、或有機(jī)護(hù)層下方的區(qū)域，都能執(zhí)行電路修改。1獨(dú)特前處理工法搭配平整快速的有機(jī)護(hù)層FIB局部移除技術(shù)，有效縮短工時(shí)。2提供局部錫球移除解決方案，不須重新植回錫球。3錫球移除后，可植回全新錫球。
2018-09-11 10:09:57
一、針頭安裝調(diào)試問(wèn)題1，堵針頭：分析原因：裝回去后，因每個(gè)人扭的力度不一樣，就算同一個(gè)人也沒(méi)辦法扭得跟拆之前一模一樣。未經(jīng)過(guò)調(diào)機(jī)，就開(kāi)始運(yùn)行，有些錫膏里面有比較粗的顆?；蛘咂渌愇飼r(shí)，導(dǎo)致堵針頭
2019-07-22 11:44:16
`芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試簡(jiǎn)介：可以便捷的測(cè)試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號(hào)引出功能，支持微米級(jí)的測(cè)試點(diǎn)信號(hào)引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
你好，在我們的應(yīng)用中，7x7mm QFN將不適合。我們需要使用WLCSP版本，但我們很難找到任何參考設(shè)計(jì)使用這個(gè)包。你有這個(gè)包裝的推薦設(shè)計(jì)嗎？PSoC 4 BLE WLCSP和PROC 4 BLE WLCSP插銷是相同的/可互換的嗎？
2019-10-28 06:03:07
調(diào)試產(chǎn)品該從何入手呢？我看到一些工程師只要去做靜電測(cè)試或者電源干擾測(cè)試時(shí)有問(wèn)題了他們就知道從哪方面去解決，而我就是一頭霧水{:2:}
2013-03-18 18:02:39
是非常重要的，測(cè)試環(huán)境對(duì)彈簧的材料要求也是非常嚴(yán)格的，高低溫測(cè)試直接影響探針的工作壽命?！ ♂樄堋⑦x擇的材料比較多一般選用PB的材料。 導(dǎo)致良率低下的最主要的原因可能是由于探針的測(cè)試過(guò)程中阻抗變大引起的?！ ∽杩沟淖兇螅鄶?shù)是由于針頭在測(cè)試過(guò)程中針頭的磨損、鍍層的破壞、以及針頭的掛錫造成的
2016-06-27 16:48:19
`特點(diǎn)/應(yīng)用 ◆ 2至6英寸樣品臺(tái)◆ 高真空腔體◆ 防輻射屏設(shè)計(jì)，樣品溫度均勻性更好◆ 77K-675K高低溫環(huán)境◆ 兼容IV/CV/RF測(cè)試◆ 外置多探針臂，移動(dòng)行程大◆ 經(jīng)濟(jì)實(shí)用，可無(wú)縫升級(jí)
2020-03-20 16:17:48
給大家推薦一款國(guó)產(chǎn)RF射頻測(cè)試探針（6代RF測(cè)試探針）6代RF測(cè)試探針 6代射頻探針采用SMPM接口進(jìn)行線纜轉(zhuǎn)接，同時(shí)自帶浮動(dòng)裝置，彈簧內(nèi)置保護(hù)，使用更順暢。我們的射頻探針法蘭寬度為
2022-04-19 18:29:31
奧納科技主要為客戶提供各種RF射頻測(cè)試探針，也叫高頻探針。我們針對(duì)第6代USS天線插座定制了一款測(cè)試探針，型號(hào)為21340019601。主要是針對(duì)日本村田MURATA品牌的MM6829-2700
2022-06-02 14:51:12
SPEA-4080 飛針測(cè)試機(jī)簡(jiǎn)介4080是由SPEA研發(fā)生產(chǎn)的一款高速雙面飛針測(cè)試設(shè)備，設(shè)備搭載8個(gè)探針頭（4頂部+4底部），每秒測(cè)試點(diǎn)位可達(dá)180個(gè)，適合中大產(chǎn)能的PCBA、PCB
2022-09-09 11:51:20
探針的電性能與使用壽命都得到了提升。ST1外型尺寸圖我們的ST1探針使用頻率滿足0-8G，外殼采用不銹鋼主體與黃銅鍍金工藝，硬度高，使用壽命長(zhǎng)，導(dǎo)通性能好；測(cè)試內(nèi)針
2022-10-28 10:27:29
選擇用于阻抗測(cè)試的最佳IP探針:使用Polar CITS或其它TDR探針測(cè)量阻抗時(shí)，選擇尤為重要。本應(yīng)用說(shuō)明將討論如何選擇最佳探針并澄清可能存在的誤區(qū)。
是否有適用于所有阻抗
2009-10-08 08:24:04
9 超聲針針頭韌性測(cè)試儀醫(yī)用針針管剛性測(cè)試儀是一款專門設(shè)計(jì)用來(lái)測(cè)試醫(yī)用針管剛性的設(shè)備。醫(yī)用針管在醫(yī)療領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用，其質(zhì)量直接影響到醫(yī)療效果和患者安全。因此，對(duì)醫(yī)用針管進(jìn)行全面的檢測(cè)是至關(guān)重要的。醫(yī)用針
2023-11-01 13:45:02
摘 要： 本文介紹了在斜置式方形探針測(cè)試系統(tǒng)中，如何應(yīng)用圖像識(shí)別技術(shù)來(lái)判定探針在微區(qū)的位置，進(jìn)而控制步進(jìn)電機(jī)，使探針自動(dòng)定位成方形結(jié)構(gòu)，從而保證測(cè)試的準(zhǔn)確性
2006-03-24 13:13:33699 
用靜脈注射針頭拆卸元器件
采用靜脈注射針頭拆卸多腳元器件，簡(jiǎn)便易行，
2009-09-14 18:01:191044 首先根據(jù) 四探針 測(cè)試理論.闡述了恒流源電路在四探針測(cè)試儀中的重要性，給出了對(duì)恒流源的基本要求。然后介紹了我們?cè)陂_(kāi)發(fā)前期實(shí)驗(yàn)過(guò)的2種恒流源電路，它們分別是級(jí)聯(lián)型鏡象電流
2011-08-09 14:59:2144 受到零組件供貨吃緊沖擊，包括愛(ài)德萬(wàn)（Advantest）、泰瑞達(dá)（Teradyne）的高端系統(tǒng)單晶片（SoC）測(cè)試機(jī)臺(tái)交期大幅拉長(zhǎng)到近6個(gè)月時(shí)間，導(dǎo)致高端SoC測(cè)試產(chǎn)能在第三季出現(xiàn)供不應(yīng)求，每小時(shí)
2018-07-23 16:14:003885 飛針測(cè)試是目前電氣測(cè)試一些主要問(wèn)題的最新解決辦法。它用探針來(lái)取代針床，使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測(cè)量。
2019-04-23 16:22:5720832 近日，智光電氣在投資者互動(dòng)平臺(tái)上透露，其參與投資的廣州粵芯半導(dǎo)體技術(shù)有限公司在生產(chǎn)線在做試產(chǎn)前的測(cè)試，計(jì)劃在本月月內(nèi)試產(chǎn)。
2019-06-19 17:56:075873 外面鍍金。二是彈簧：主要是琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金。三是針頭：主要是工具鋼（ＳＫ）鍍鎳或者鍍金。以上三個(gè)部分組裝成一根探針。另外還有外套管，可以連焊接線。 PCB探針廣泛用于測(cè)試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送，導(dǎo)電接觸，通過(guò)探針導(dǎo)電
2019-07-12 16:05:0013136 10月30日消息，半導(dǎo)體測(cè)試探針卡領(lǐng)導(dǎo)廠商—思達(dá)科技，今天宣布推出新款測(cè)試探針卡—思達(dá)牡羊座Aries Sigma-M。此系列探針卡是采用微電子機(jī)械系統(tǒng)工藝制造的微懸臂式測(cè)試探針卡 ，主要是針對(duì)圖像
2019-10-30 15:30:134009 什么是探針？探針其實(shí)就是一種高端精密型的電子元件，主要應(yīng)用于手機(jī)等電子產(chǎn)品中，起連接作用。文中介紹的測(cè)試探針相當(dāng)于一個(gè)媒介，測(cè)試時(shí)可用探針的頭部去接觸待測(cè)物，另一端則用來(lái)傳導(dǎo)信號(hào)，進(jìn)行電流的傳輸
2020-03-30 14:26:234959 探針是什么？探針是一個(gè)多義詞，在不同的領(lǐng)域中，探針的含義和作用也不相同。那么到底探針是什么呢？主要可以分為以下幾類： 信息探測(cè)工具 探針是什么？作為信息探測(cè)工具來(lái)說(shuō)，探針卡是一種測(cè)試接口，主要
2020-03-30 14:27:2725526 Volta獨(dú)特的設(shè)計(jì)具有極短的信號(hào)路徑，低接觸電阻，可實(shí)現(xiàn)最佳電氣性能，并且可有效的降低清潔頻率，提高了探針頭的使用壽命和延長(zhǎng)單次正常運(yùn)行時(shí)間。
2020-05-07 10:18:432826 導(dǎo)電膠點(diǎn)膠代加工過(guò)程中，導(dǎo)電膠直接由針頭流到點(diǎn)膠指定位置，點(diǎn)膠針頭的選擇直接關(guān)系著點(diǎn)膠的效果，有時(shí)我們遇到膠水出的太慢，效率不高，導(dǎo)電膠點(diǎn)膠代加工點(diǎn)的大小達(dá)不到要求，要么太小，要么膠點(diǎn)太大，膠水
2020-06-16 15:43:433089 PCB探針是電測(cè)試的接觸謀介，屬于重要的電子部件，是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測(cè)試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送，導(dǎo)電接觸，通過(guò)探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:224815 阻抗的穩(wěn)定性。這種鍍層比普通鍍金耐磨三倍。有效適用于OSP技術(shù)上的PCB待測(cè)點(diǎn)。 強(qiáng)刺穿能力針頭 FUSION系列探針的針頭具有非常優(yōu)秀的刺穿能力，尤其是70頭型的設(shè)計(jì)針對(duì)無(wú)焊錫的OSP測(cè)試點(diǎn)有著優(yōu)秀的測(cè)試能力 彈力預(yù)增加 FUSION系列探針的彈簧比普通探針的彈簧有著更優(yōu)
2020-08-28 14:07:183853 如何使用正確的檢測(cè)技術(shù)幫助拯救生命？INGUN通過(guò)為醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域提供專業(yè)的測(cè)試解決方案，支持著這個(gè)高要求行業(yè)的制造商實(shí)現(xiàn)最高的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。我們所使用的測(cè)試探針和測(cè)試夾具不僅能確保電氣和電子元件
2020-08-31 17:01:434855 在進(jìn)行智能穿戴點(diǎn)膠代加工時(shí)所用自動(dòng)點(diǎn)膠機(jī)設(shè)備的點(diǎn)膠針頭即點(diǎn)膠出膠針筒頂端可以任意裝卸的一種針頭。點(diǎn)膠針頭的規(guī)格通常較小，通常在14-35（G）之間。并且有色系種類，因此在選擇時(shí)需要考慮一個(gè)合適
2020-10-19 10:44:014291 電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況，需要測(cè)試材料的電阻率。 四探針法是目前測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率的常用方法，因?yàn)榇朔ㄔO(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高且對(duì)樣品形狀
2020-10-19 09:53:333651 
由于全球半導(dǎo)體市場(chǎng)規(guī)模不斷增長(zhǎng)，終端電子產(chǎn)品需求旺盛，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)迎來(lái)了良好的發(fā)展機(jī)遇。國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)如何實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、可持續(xù)發(fā)展？一時(shí)間，半導(dǎo)體封裝測(cè)試產(chǎn)業(yè)再起熱議。
2020-11-19 10:17:324483 使用壽命。以下建議可在您檢查彈簧探針時(shí)為您提供幫助并且保證測(cè)試的可靠性：1、活塞磨損機(jī)械磨損會(huì)降低探針的使用壽命。在檢測(cè)點(diǎn)上侵入的深度越深以及彈簧力越高，磨損也會(huì)越嚴(yán)重。側(cè)向負(fù)荷會(huì)增加涂層的磨損，并且還會(huì)
2020-12-30 15:45:413296 上的測(cè)試。這樣，可以檢測(cè)晶片上的功能缺陷。（包括失效分析，晶圓可靠性測(cè)試，器件表征測(cè)試） 當(dāng)然，這只是晶圓測(cè)試的概述。要更詳細(xì)地了解一下，我們首先檢查一下用于進(jìn)行此測(cè)試的設(shè)備-晶圓測(cè)試#探針臺(tái)#。 晶圓測(cè)試探針臺(tái)的組成： 誠(chéng)然，
2021-10-14 10:25:477092 HC-Z4 直線四探針電阻率測(cè)試儀，包含直線直線四探針夾具、雙探針自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)和測(cè)試軟件組成。使用時(shí)需要有一臺(tái)計(jì)算機(jī)安裝測(cè)試軟件，可以通過(guò) R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:2754 基于NI-VISA的晶圓測(cè)試探針臺(tái)遠(yuǎn)程控制軟件
2021-06-29 15:07:0821 晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。這步測(cè)試是晶圓生產(chǎn)過(guò)程的成績(jī)單，它不僅是節(jié)約芯片
2021-11-17 15:29:155703 史密斯英特康是全球領(lǐng)先的關(guān)鍵半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用創(chuàng)新解決方案的供應(yīng)商,其最新推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin(開(kāi)爾文)彈簧探針技術(shù),適用于低至 0.35 毫米間距的Kelvin測(cè)試應(yīng)用。該探針獨(dú)特
2021-11-18 16:00:44744 迪賽康科技(深圳)有限公司一直專注于高頻、高速相關(guān)的產(chǎn)品研發(fā)，已經(jīng)陸續(xù)推出全系列接口高速測(cè)試夾具，多款同軸連接器，高頻高速線纜和測(cè)試探針等高速相關(guān)產(chǎn)品，并申請(qǐng)專利。
2022-04-15 17:55:132262 集成電路測(cè)試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分。在對(duì)集成電路進(jìn)行在片測(cè)試時(shí)，需要對(duì)整個(gè)晶圓進(jìn) 行測(cè)試。文中以 Cascade Summit 12000 半自動(dòng)探針臺(tái)為例，設(shè)計(jì)一個(gè)由計(jì)算機(jī)、探針臺(tái)、單片機(jī)
2022-06-02 10:04:413083 真空探針臺(tái)主要進(jìn)行MEMS 器件晶圓級(jí)的射頻測(cè)試、特種氣體環(huán)境測(cè)試、壓力測(cè)試、光電性能測(cè)試、溫度測(cè)試、震動(dòng)測(cè)試、聲音測(cè)試及電參數(shù) 測(cè)試，這些測(cè)試類型都基于探針臺(tái)的真空環(huán)境。當(dāng)真空探針臺(tái)腔體
2022-06-06 10:44:302018 測(cè)試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下，最大限度地提高探針臺(tái)的測(cè)試效率，來(lái)縮短生 產(chǎn)周期，降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測(cè)試 的流程入手，提出幾種
2022-06-06 10:50:071145 晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:103834 探針臺(tái)是半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵設(shè)備，成立于2003年的矽電股份長(zhǎng)期專注探針臺(tái)研發(fā)與制造，攻克高精度快響應(yīng)大行程精密步進(jìn)技術(shù)、定位精度協(xié)同控制等在內(nèi)的多項(xiàng)探針測(cè)試核心技術(shù)，打破海外廠商的壟斷，成為中國(guó)大陸首家實(shí)現(xiàn)12英寸晶圓探針臺(tái)設(shè)備量產(chǎn)的企業(yè)。
2022-09-02 09:39:511733 以上6種粉末材料在使用兩種測(cè)試方法測(cè)得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢(shì)，且趨勢(shì)一致（如圖2左圖）。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對(duì)比分析，GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測(cè)試結(jié)果均小于兩探針的測(cè)試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307 探針卡是由探針（probe pin）、電子元件（component）、線材（wire）與印刷電路板（PCB）組成的一種測(cè)試接口，根據(jù)不同的情況，還會(huì)有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板（Stiffener）等的需求，主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試，即wafer level測(cè)試。
2022-10-17 17:44:421781 測(cè)試一：先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后，然后連接兩個(gè)探針測(cè)試DUT，將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出，然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌，得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424893 在ICT或者FCT測(cè)試中，治具上的探針總歸會(huì)測(cè)試到一定的壽命時(shí)候變得臟污，造成測(cè)試不通，通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài)，但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測(cè)試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811 
在通常的ICT測(cè)試案例里，有三種主要的測(cè)試解決方案。 焊點(diǎn)，過(guò)孔，引腳。 一些電子制造服務(wù)商都會(huì)有在線測(cè)試和功能性測(cè)試， 在我們開(kāi)始如何有效選擇探針頭型之時(shí)，請(qǐng)對(duì)我們的測(cè)試環(huán)境有個(gè)初步了解。 大部分
2022-12-29 09:59:261077 
尖端來(lái)匹配測(cè)試點(diǎn)，在這里你可以參考如何選擇探針針頭的選擇。 事實(shí)上，安捷倫ICT測(cè)試機(jī)通過(guò)一個(gè)探針來(lái)檢查PCB線路的開(kāi)路或短路，從而接觸焊接、引腳和通孔。在EMS(電子制造服務(wù))行業(yè)中，用于檢查電腦線路板、筆記本電腦線路板和服務(wù)器
2022-12-30 09:49:141197 
晶圓探針測(cè)試也被稱為中間測(cè)試（中測(cè)），是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測(cè)試的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:501579 隨著集成電路的快速發(fā)展，許多電氣和汽車應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測(cè)試這類產(chǎn)品正在成為一個(gè)新的挑戰(zhàn)。 我們還開(kāi)發(fā)了大電流測(cè)試探針，通常用于測(cè)試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來(lái)看，要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052010 
探針卡（Probe card）或許很多人沒(méi)有聽(tīng)過(guò)，但看過(guò)關(guān)于，也就是晶圓測(cè)試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生，其中就有提到過(guò)探針卡。
2023-02-27 17:48:492327 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過(guò)程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡
2023-05-08 10:38:273464 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363 
Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針，模擬鉗式電流表，其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣，鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中，而只需要將其前端的鉗子（電流夾）打開(kāi)，使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞，利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。
2023-05-18 11:26:007286 
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上，主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試，就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè)，以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來(lái)了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。
2023-05-26 10:56:55732 
據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道，芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示：“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試的探針芯片，將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力?！崩^新工廠啟動(dòng)之后，預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。
2023-06-15 10:31:42633 供應(yīng)電連ECT品牌Mini RF Test Cable Series（測(cè)試探針與測(cè)試線纜）
2022-03-02 11:40:11786 
了解RF射頻測(cè)試座的用途及如何選擇合適的測(cè)試探針
2023-02-24 11:03:171033 
5代IPEX天線座專用測(cè)試探針，同時(shí)兼容4代天線座。
使用壽命大于10000次。
測(cè)試性能穩(wěn)定。
2023-03-15 14:19:04869 
飛針測(cè)試：用探針來(lái)取代針床，使用多個(gè)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的、能夠快速移動(dòng)的電氣探針同器件的引腳進(jìn)行接觸并進(jìn)行電氣測(cè)量。
2023-07-25 11:12:151424 近年來(lái)，隨著電池廠商對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的要求越來(lái)越高，在生產(chǎn)中太陽(yáng)能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽(yáng)能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測(cè)試儀，可對(duì)
2023-08-26 08:36:01332 
"去嵌"是一種高頻測(cè)試中常用的技術(shù)，旨在消除測(cè)量中探針或連接線等外部元件的影響，以便更準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)試器件的性能。
2023-08-28 15:39:241153 
制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過(guò)拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿足高頻測(cè)試的要求。
2023-09-15 17:04:07529 
針對(duì)目前主流使用的RF射頻測(cè)試座與USS天線插座進(jìn)行射頻測(cè)試時(shí)如何匹配合適的射頻探針進(jìn)行選型推薦，歡迎交流合作。
2021-10-11 17:21:0336 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234
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