--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 通道數(shù) 1
- 電壓 ±200V
- 直流 ±1A
- 脈沖 ±3A
- 最小分辨率 10fA/100nV
--- 產(chǎn)品詳情 ---
聯(lián)訊儀器S2012C 結(jié)構(gòu)緊湊、經(jīng)濟(jì)高效的單通道PXIe電源/測(cè)量單元,能夠同時(shí)輸出和測(cè)量電壓和電流,能夠提供最大±200V、±1 A(直流)、±3A(脈沖)、20W恒功率輸出,支持傳統(tǒng)的SMU SCPI命令,讓測(cè)試代碼的遷移變得輕松快捷,支持現(xiàn)有大廠的PXIe機(jī)箱,可支持多卡同步,集成到生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)中使用,以提高系統(tǒng)的測(cè)試效率并降低成本。
產(chǎn)品特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)
特性 | 優(yōu)勢(shì) |
Adaptive PFC(Precision-fast control)系統(tǒng) | 用戶可根據(jù)負(fù)載特性,調(diào)整相關(guān)參數(shù)來獲得精確、快速的輸出特性。 |
單通道綜合四象限電源和測(cè)量功能 | 使用單臺(tái)儀器即可輕松準(zhǔn)確地測(cè)量電流和電壓,而無(wú)需手動(dòng)更改任何連接。 |
量程:±200 V、±1 A(直流)、±3A(脈沖) | 雙板卡即可輕松的實(shí)現(xiàn)LIV掃描。 |
最小測(cè)量分辨率可達(dá)10fA/100nV | 可以使用低成本的板卡式 SMU 進(jìn)行低電平測(cè)量,而以前則需要使用昂貴的半導(dǎo)體器件分析儀。 |
高速測(cè)量 | 最高可支持1M的ADC采樣率,NPLC和采樣率可選設(shè)定。 |
免費(fèi)的PC端GUI控制軟件 | 無(wú)需編程即可從 PC 進(jìn)行遠(yuǎn)程測(cè)量和控制 |
適用于PXIe機(jī)箱 | 輕松的實(shí)現(xiàn)多通道擴(kuò)展整合到機(jī)架和堆疊系統(tǒng)中 |
為你推薦
-
低泄漏開關(guān)矩陣 2023-07-18 16:05
產(chǎn)品型號(hào):RM1010-LLC 輸出通道數(shù)量:12/24/36/48 帶寬(@ -3dB):<10 MHz (C-V, HF Port) 建立時(shí)間:< 3.5s(10 V電壓輸入開始到電流< 400 fA的時(shí) -
單通道 200V PXIe精密源表 2023-07-18 15:50
產(chǎn)品型號(hào):S2013C 通道數(shù):1 電壓:±200V 直流:±1A 脈沖:±3A 單通道最大功率:20W -
30GHz 采樣示波器 DCA62012022-11-10 13:01
產(chǎn)品型號(hào):DCA6201 -
10GHz 采樣示波器 DCA42012022-11-10 12:10
產(chǎn)品型號(hào):DCA4201 波長(zhǎng):750nm ~ 1650nm 數(shù)據(jù)速率:1-11.3Gb/s -
四通道 PXIe 精密電源/測(cè)量單元 S0342C2022-11-08 15:28
產(chǎn)品型號(hào):S0342C 通道數(shù):4 電壓:±30V 直流:±500mA 脈沖:±500mA 最小分辨率:100pA/100uV -
單通道 PXIe 精密電源/測(cè)量單元 S2012C2022-11-08 15:25
產(chǎn)品型號(hào):S2012C 通道數(shù):1 電壓:±200V 直流:±1A 脈沖:±3A 最小分辨率:10fA/100nV -
單通道 PXIe 精密電源/測(cè)量單元 S2011C2022-11-08 15:21
產(chǎn)品型號(hào):S2011C 通道數(shù):1 電壓:±60V 直流:±3A 脈沖:±10A 最小分辨率:100fA/100nV -
單通道精密電源/測(cè)量單元 S3012H2022-11-08 15:10
產(chǎn)品型號(hào):S3012H 通道數(shù):1 電壓:±200V 直流:±3A 脈沖:±10A 最小分辨率:100fA/100nV -
雙通道精密電源/測(cè)量單元 S3022F2022-11-08 14:36
產(chǎn)品型號(hào):S3022F
-
新品 | 聯(lián)訊儀器全新推出低泄漏電流開關(guān)矩陣RM1010-LLC2023-05-21 08:32
在半導(dǎo)體元器件生產(chǎn)研發(fā)或者半導(dǎo)體晶圓封測(cè)過程中需要進(jìn)行電性能參數(shù)的表征,這些測(cè)量需要將精密源表(Source/MeasureUnit),LCR表(LCRMeter),數(shù)字萬(wàn)用表(DigitalMulti-Meter)等多種精密儀器組成自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),測(cè)量非常低的電流,皮安或更小,測(cè)試系統(tǒng)中任何漏電流的存在都會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成很大影響。聯(lián)訊儀器低漏電流開關(guān)矩陣R969瀏覽量 -
新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C,高速高精度測(cè)量!2023-05-04 17:26
-
全新升級(jí) | DCA6201-支持單波100G PAM4及50G PON眼圖測(cè)試2023-03-28 18:06
-
新品 ┃ 聯(lián)訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C2023-01-30 14:32
-
聯(lián)訊儀器 | 推出25G/50G突發(fā)誤碼儀2022-12-04 09:18
-
聯(lián)訊儀器 | CoC全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)CT62012022-12-02 09:17
-
聯(lián)訊儀器 | CoC老化系統(tǒng)2022-11-30 09:14
“半導(dǎo)體激光器是光收發(fā)模塊核心器件,其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量,CoC老化測(cè)試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測(cè)試設(shè)備通過控制老化溫度,老化電流,老化時(shí)長(zhǎng)等測(cè)試條件,對(duì)老化前后的激光器功率變化,閾值變化等進(jìn)行評(píng)估,將產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造中的材料缺陷,加工缺陷等及早篩選出來,提高了進(jìn)入后端工序的產(chǎn)品的可靠性!聯(lián)訊儀器CoC老化聯(lián)訊儀 -
400G以太網(wǎng)光模塊發(fā)展及聯(lián)訊測(cè)試方案2022-11-20 09:25
云計(jì)算,VR/AR,AI,5G等技術(shù)的應(yīng)用對(duì)流量的需求非常大,流量的爆炸性增長(zhǎng)需要更高的帶寬,其中數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡(luò)傳輸距離通常較短,但是對(duì)帶寬需求更大。目前,數(shù)據(jù)中心不同機(jī)房間的互聯(lián)以及多個(gè)數(shù)據(jù)中心之間的互聯(lián)場(chǎng)景正逐步向400G甚至800G光模塊演進(jìn)。400G以太網(wǎng)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展IEEE802.3工作組主要側(cè)重以太網(wǎng)物理接口的標(biāo)準(zhǔn)化工作,截止到目前已經(jīng)發(fā)布了一系列 -
聯(lián)訊儀器裸Die半導(dǎo)體激光器芯片測(cè)試機(jī)2022-11-20 09:23
芯片良率是影響企業(yè)成本的重要因素之一,半導(dǎo)體激光器屬于化合物半導(dǎo)體,其主要材質(zhì)以非常脆的砷化鎵、磷化銦為主,在其制備的各個(gè)工藝環(huán)節(jié),良品率不高是一個(gè)普遍問題。以國(guó)外知名芯片企業(yè)為例,其生產(chǎn)能達(dá)到70%以上良率,但后道封裝以及最終產(chǎn)品嚴(yán)格判定標(biāo)準(zhǔn)等累計(jì)具有30%良率的損失。良品率不高,就需要專用的測(cè)試裝備對(duì)不良品進(jìn)行篩選,國(guó)內(nèi)在此領(lǐng)域原先一直停留在低端的Bar