檢測l 板卡電性能測試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗(yàn)l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺搭建。服務(wù)范圍● 車體部件:側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的,也是特性參數(shù)測試無法評估的,失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個(gè)性能參數(shù),該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時(shí)間長度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316 MOS管瞬態(tài)熱阻測試(DVDS)失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因,有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
Ω規(guī)格的IV2Q06060D7Z,均成功通過了嚴(yán)苛的車規(guī)級可靠性認(rèn)證。這一認(rèn)證標(biāo)志著瞻芯電子的SiC MOSFET產(chǎn)品已經(jīng)滿足了汽車行業(yè)對高可靠性、高性能的嚴(yán)格要求,為新能源汽車市場的高效發(fā)展注入了新的活力。
2024-03-07 09:43:18222 近日,芯進(jìn)電子推出的高性能電流傳感器CC6922,順利通過廣電計(jì)量平臺AEC-Q100車規(guī)級可靠性認(rèn)證。AEC-Q100認(rèn)證AEC-Q100認(rèn)證由國際汽車電子協(xié)會
2024-03-06 08:28:32104 Electronics Council)制定和推動,是集成電路制造商進(jìn)入汽車行業(yè)的關(guān)鍵認(rèn)證之一。 該認(rèn)證主要針對車載應(yīng)用的芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量和可靠性驗(yàn)證,特別是對產(chǎn)品功能和性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測試,以提高車載電子設(shè)備的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化程度。由于車規(guī)級芯片在可靠性、安全性和使用壽命方面的要求較消費(fèi)級芯片更
2024-03-05 14:00:40128 In Package)產(chǎn)品集成度高、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、可靠性要求高等特點(diǎn),對塑封工藝帶來了挑戰(zhàn),目前國內(nèi)工業(yè)級塑封產(chǎn)品不能完全滿足軍用可靠性要求,工業(yè)級塑封產(chǎn)品常在嚴(yán)酷的環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)下表現(xiàn)出失效。本文針對工業(yè)級塑封 SIP 器件在可靠性試驗(yàn)過程中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析研
2024-02-23 08:41:26110 電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 封裝可靠性最重要的可靠性測試,也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
的建議,來消除失效并防止失效的再次發(fā)生,提高產(chǎn)品的可靠性。服務(wù)背景AEC-Q104是基于失效機(jī)制的車用多芯片組件(MCM)應(yīng)力測試認(rèn)證規(guī)范。MCM多芯片模組規(guī)范解決了
2024-01-29 21:47:22
AEC-Q100認(rèn)證試驗(yàn)廣電計(jì)量失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì),執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例,積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。服務(wù)背景IC作為
2024-01-29 21:43:34
、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗(yàn)服務(wù),設(shè)備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)?zāi)芰?。服?wù)背景AEC-Q101對對各類半導(dǎo)體
2024-01-29 21:35:04
標(biāo)準(zhǔn)。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商,為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品,且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對IGBT進(jìn)行可靠性測試,今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場,公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營,必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和可靠性
2024-01-17 09:56:32448 導(dǎo)致半導(dǎo)體產(chǎn)品失效的外部環(huán)境條件誘因有許多。因此,產(chǎn)品在被運(yùn)往目的地之前,需接受特定環(huán)境條件下的可靠性測試,以確保其能夠經(jīng)受住不同環(huán)境條件的考驗(yàn)。
2024-01-13 11:25:42766 本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外,還將介紹針對半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性,及機(jī)械可靠性等評估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性? 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17712 、濕度相關(guān)的可靠性試驗(yàn),對失效的產(chǎn)品進(jìn)行部件或者材料更換,直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設(shè)計(jì),然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進(jìn)行分析,對此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。 Lab Companion 實(shí)驗(yàn)室在燈具
2024-01-11 16:48:40143 杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測試設(shè)備,該設(shè)備具備智能并行測試功能,能夠顯著縮短測試時(shí)間,提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢?答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報(bào)告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專業(yè)技能作為背景,對整機(jī)進(jìn)行的測試也需要相應(yīng)的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278 當(dāng)今競爭激烈的汽車市場中,汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過整車可靠性測試,汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色,從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。
此外,整車
2023-12-22 17:16:20355 在進(jìn)行船舶產(chǎn)品可靠性測試之前,需要進(jìn)行了充分的準(zhǔn)備工作。需要準(zhǔn)備各種先進(jìn)的測試設(shè)備和儀器。得以模擬真實(shí)使用環(huán)境中的條件,如溫度、濕度、壓力等,以確保測試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項(xiàng)目包括多種測試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04696 ▼關(guān)注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn),筆者平時(shí)也會參與到失效分析中,這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530 MTBF測試是什么試驗(yàn)? MTBF,即平均故障間隔時(shí)間,是衡量一個(gè)產(chǎn)品(尤其是電器產(chǎn)品)的可靠性指標(biāo)。 通過壽命試驗(yàn),可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)
2023-12-14 17:29:54350 SDNAND可靠性驗(yàn)證測試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測試至關(guān)重要。通過檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性,確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn),可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù),減少維修成本,確保
2023-12-14 14:29:34164 可靠性測試是電源模塊測試的一項(xiàng)重要測試內(nèi)容,是檢測電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測試方法。隨著對電源模塊的測試要求越來越高,用電源模塊測試系統(tǒng)測試電源模塊可以提高測試效率,確保測試結(jié)果可靠性,滿足測試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日,杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測試,可大幅度縮短WLR的測試時(shí)間。同時(shí),可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 振弦采集儀在安全監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中是一種常見的監(jiān)測手段,它可以通過采集巖體或土體振動信號來判斷其穩(wěn)定性和變形情況。在實(shí)際應(yīng)用中,振弦采集儀的可靠性和精度是極為重要
2023-12-06 13:31:33155 振弦采集儀在土體與巖體監(jiān)測中的可靠性與精度分析 振弦采集儀是一種用于土體和巖體監(jiān)測的重要設(shè)備,它可以通過測量振動信號來獲取土體或巖體的力學(xué)參數(shù),如應(yīng)力、應(yīng)變、彈性模量等。而振弦采集儀的可靠性和精度
2023-12-06 13:27:26122 加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測試:需要對芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測試,模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測試旨在評估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565 )選擇優(yōu)質(zhì)器件。
元器件是設(shè)備的基本組成單元,其質(zhì)量的好壞將直接影響到設(shè)備的可靠性。軍用通信設(shè)備應(yīng)盡量采用工業(yè)級以上產(chǎn)品,最好是軍品,并在上機(jī)前嚴(yán)格進(jìn)行老化篩選,剔除早期失效器件。
(6)充分利用
2023-11-22 06:29:05
可靠性測試是半導(dǎo)體器件測試的一項(xiàng)重要測試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試項(xiàng)目眾多,測試方法多樣,常見的有高低溫測試、熱阻測試、機(jī)械沖擊測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-11-09 15:57:52748 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測試? 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120 機(jī)械溫控開關(guān)的可靠性有多少?我看溫控開關(guān)的體積很小,價(jià)格便宜,可以用于一些溫度控制方面,不過可靠性有多少呢?
2023-10-31 06:37:26
分析表明,焊接界面粗糙,平整度較差時(shí),楔形魚尾狀根部容易受傷或粘接不牢固,導(dǎo)致鍵合拉力強(qiáng)度過低。為了提高金絲鍵合工藝可靠性,可以采用補(bǔ)球的工藝,在第二焊點(diǎn)魚尾上種植一個(gè)金絲安全球,提高鍵合引線第二
2023-10-26 10:08:26638 場景即測試空間內(nèi)的失效概率。本文將由此出發(fā),介紹若干可以用來估計(jì)罕見事件發(fā)生概率的可靠性分析方法。 01. 問題定義 我們將一個(gè)擁有D個(gè)可泛化參數(shù)的邏輯場景等價(jià)于? ?維參數(shù)空間? ?,其中? ?是一組隨機(jī)變量,其分布函數(shù)由邏輯場景決定,而? ?
2023-10-25 19:10:02253 半導(dǎo)體器件可靠性測試指的是評估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方法。這些測試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)能夠正常運(yùn)行,不會出現(xiàn)意外故障,從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 解決途徑和方法,對提高芯片粘接強(qiáng)度和粘接可靠性具有參考價(jià)值。文章還指出了芯片粘接強(qiáng)度測試過程中的一些不當(dāng)或注意點(diǎn)及其影響,并對不當(dāng)?shù)?b class="flag-6" style="color: red">測試方法給出了改進(jìn)方法,能有效地避免測試方法不當(dāng)帶來的誤判。
2023-10-18 18:24:02395 智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備,它使你可以通過手機(jī)或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式,但是這種設(shè)備并非完美無缺,它也面臨著一些風(fēng)險(xiǎn)和缺陷,需要經(jīng)過可靠性測試,確保它能夠可靠地運(yùn)行。
2023-10-17 14:07:57239 1級降額,最大的降額,適用于: a.失效將導(dǎo)致人員傷亡或設(shè)備及保護(hù)措施的嚴(yán)重破壞; b.高可靠性要求的設(shè)備卻采用了新技術(shù)新工藝; c.設(shè)備失效不能維修; d.系統(tǒng)對設(shè)備的尺寸重量有苛刻限制。
2023-10-12 11:04:412359 電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測試項(xiàng)目,同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-10-11 14:49:05350 基于可靠性試驗(yàn)所用的菊花鏈測試結(jié)構(gòu),對所設(shè)計(jì)的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造,并對不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進(jìn)行電學(xué)測試表征、可靠性測試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測試的菊花鏈結(jié)構(gòu),研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法,針對芯片偏移、RDL 分層兩個(gè)主要失效問題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝改善。經(jīng)過可靠性試驗(yàn)對封裝的工藝進(jìn)行了驗(yàn)證,通過菊花鏈的通斷測試和阻值變化,對失效位置定位進(jìn)行了相應(yīng)的失效分析。
2023-10-07 11:29:02410 可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前,環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個(gè)項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測試的研究結(jié)果來看,失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。
2023-09-27 15:09:57190 通過PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項(xiàng)措施
2023-09-25 06:26:12
服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國內(nèi)振動試驗(yàn)?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一,配備了(1~35)噸不同推力的振動臺,可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動測試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評估,公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則,制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808 硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別,對產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
標(biāo)準(zhǔn),系基于失效機(jī)理的IC電路應(yīng)力測試鑒定,是適用于車用芯片的綜合可靠性測試,也是全球汽車產(chǎn)業(yè)零件供貨商生產(chǎn)的重要指南。
● AEC-Q100可靠性認(rèn)證門檻高,測試項(xiàng)目覆蓋廣(7大類別41項(xiàng)目),如
2023-09-15 12:04:18
滾動軸承的可靠性與滾動軸承的失效形式有著密切的關(guān)系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細(xì)分析滾動軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212 ? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測試項(xiàng)目系列專題(一) ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評估,公司
2023-09-12 10:23:45698 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。
2023-09-06 10:28:051331 半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展,電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736 壽命測試是一種重要的可靠性測試方法,用于評估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力,例如時(shí)間、溫度、振動、沖擊、電壓等,并通過持續(xù)的測試和監(jiān)測來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 電子設(shè)備的持續(xù)小型化使得PCB板的布局越來越緊湊,然而不合理的PCB板布局嚴(yán)重影響了板上電子元器件的熱傳遞通路,從而導(dǎo)致電子元器件的可靠性因溫度升高而失效,也即系統(tǒng)可靠性大大降低。這也使得PCB板的溫升問題上升到一定的高度。
2023-08-01 14:20:08415 ,規(guī)劃評估驗(yàn)證策略,制定認(rèn)證測試規(guī)范性準(zhǔn)則,最終完成各項(xiàng)驗(yàn)證測試項(xiàng)目,出具權(quán)威檢驗(yàn)認(rèn)證報(bào)告。 該業(yè)務(wù)結(jié)合多種測試和FA手段,確定失效模式、探究失效機(jī)理,幫助客戶定位失效根因。 測試設(shè)備介紹? ? 1.晶圓級WLR工藝可靠性測
2023-07-23 11:16:121376 可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障。可靠性測試項(xiàng)目的科學(xué)性、合理性,抽樣和試驗(yàn)
2023-07-21 10:36:26619 2023年7月13日訊,在第十屆汽車電子創(chuàng)新大會上,以上海市汽車工程學(xué)會和上海汽車芯片工程中心為代表的聯(lián)合審核平臺正式與靈動股份簽署了《上汽車規(guī)芯片可靠性認(rèn)證審核委托意向書》。本次《意向書》的簽署
2023-07-14 10:11:46356 在半導(dǎo)體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下,加速測試不改變故障的物理特性,但會轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測試有哪些?讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182548 總之,可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過將系統(tǒng)分解為更小的組件,并為每個(gè)組件分配可靠性指標(biāo),可以進(jìn)行更詳細(xì)和全面的可靠性分析,從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810 設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測試以及市場和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-07-11 10:09:32213 和儲存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。191-0751-6775陳S 常規(guī)的可靠性測試項(xiàng)目如下: 1、氣候環(huán)境測試:高溫測試、低溫測試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測試、冷熱沖擊測試、快速溫變測試、低氣壓測試、
2023-07-04 14:30:441184 車規(guī)級功率器件未來發(fā)展趨勢
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢,GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評測方面:多應(yīng)力綜合測試方法、新型結(jié)溫測試方法和技術(shù)
●進(jìn)展方面:國產(chǎn)在趕超進(jìn)口(參數(shù)和性能),可靠性還需要時(shí)間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
集成電路封裝的可靠性等提供支撐。通常,集成電路封裝失效分析分為無損失效分析(又稱非破壞性分析)和有損失效分析(又稱破壞性分析)。破壞性物理分析(Destructive Physical
2023-06-21 08:53:40572 通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
,保險(xiǎn)絲/熔斷器提供必要的過負(fù)載保護(hù)。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險(xiǎn)絲/熔斷器廠商的測試要求,并確保符合AEC-Q200認(rèn)證的保險(xiǎn)絲/熔斷器能高標(biāo)準(zhǔn)地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會、AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)及其新修訂版E。 ? 當(dāng)今汽車電氣化供電需求復(fù)雜而
2023-06-15 16:53:541009 封裝可靠性設(shè)計(jì)是指針對集成電路使用中可能出現(xiàn)的封裝失效模式,采取相應(yīng)的設(shè)計(jì)技術(shù),消除或控制失效模式,使集成電路滿足規(guī)定的可靠性要求所采取的技術(shù)活動。
2023-06-15 08:59:55505 集成電路可拿性是指.在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時(shí)問內(nèi),集成電路完成規(guī)定功能的能力??赏ㄟ^可靠度、失效率、平均無故障工作時(shí)間、平均失效時(shí)間等來評價(jià)集成電路的可靠性。可靠性包含耐久性、可維修性和設(shè)計(jì)可靠性
2023-06-14 09:26:46849 國際通用的車規(guī)級電子元器件測試規(guī)范,成為車用元器件質(zhì)量與可靠性的標(biāo)志,電子元器件AEC-Q認(rèn)證測試,對提升產(chǎn)品競爭力,并快速進(jìn)入供應(yīng)鏈具有重要作用。 華碧實(shí)驗(yàn)室是國內(nèi)領(lǐng)先的集檢測、鑒定、認(rèn)證和研發(fā)為一體的第三方檢測與分析的
2023-06-12 09:55:26564 軍用電子元器件二篩,二次篩選試驗(yàn),進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類:
(1)檢查篩選:顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
(2)密封性篩選:液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
芯片測試治具是一種用于芯片測試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測試、參數(shù)測試和性能測試,它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性,實(shí)現(xiàn)芯片的精確測試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗(yàn),電壓暫降測試,騷擾功率試驗(yàn),電磁抗擾試驗(yàn)室,射頻測試,電磁場輻射試驗(yàn),抗繞度試驗(yàn),電瞬態(tài)干擾試驗(yàn),插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測試:
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn),加速壽命試驗(yàn)(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ess),可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),可靠性鑒定試驗(yàn),可靠性增長試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測試對于芯片的制造和設(shè)計(jì)過程至關(guān)重要。通過進(jìn)行全面而嚴(yán)格的可靠性測試,可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性,從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211462 課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測試與案例分析》講師:王老師時(shí)間地點(diǎn):北京6月15日-17日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色1.案例多,案例均來自于電路設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致的實(shí)際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預(yù)測工作
2023-05-17 08:49:55
芯片對于電子設(shè)備來說非常的重要,進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下,生產(chǎn)對進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 ]是針對于集成電路應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機(jī)理,針對于分立器件的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q101],針對于LED的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q102],針對于被動
2023-04-26 17:06:44328 計(jì)劃和先前的質(zhì)量分析,然后進(jìn)行FMEA(故障模式和影響分析)分析并提出防止產(chǎn)品潛在故障的措施,MSA(測量系統(tǒng)分析)必須分析測量結(jié)果的變化以確認(rèn)測量可靠性,SPC(統(tǒng)計(jì)過程控制)掌握生產(chǎn)規(guī)程并使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)來
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復(fù)雜的離散互連電纜會降低設(shè)計(jì)的可靠性,增加設(shè)計(jì)成本和總體設(shè)計(jì)尺寸。幸運(yùn)的是,還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計(jì)互連要求的經(jīng)濟(jì)高效且方便的解決方案,并
2023-04-21 15:52:50
失效率是可靠性最重要的評價(jià)標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117 對所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。 制造商測試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門,尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計(jì)量技術(shù)已變得至關(guān)重要,現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實(shí)驗(yàn)室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925 PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些? 實(shí)踐證明,即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確,如果PCB設(shè)計(jì)不當(dāng),也會對電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個(gè)簡單的例子,如果PCB兩條細(xì)平行線靠得很近的話,則會造成信號波形
2023-04-10 16:03:54
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測試方法,通過模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境,可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案,包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù),例如 MTBF 和 FIT,BSS138PW BSS84AKW,115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗(yàn)證測試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測試,通過向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評估系統(tǒng)可靠性的測試方法。
2023-03-29 09:18:47589 全球領(lǐng)先的智能激光雷達(dá)系統(tǒng)科技企業(yè)RoboSense速騰聚創(chuàng)獲國際公認(rèn)的測試、檢驗(yàn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)SGS簽發(fā)的AEC-Q100可靠性測試報(bào)告與證書。RoboSense速騰聚創(chuàng)激光雷達(dá)MEMS振鏡模組成為目前全球唯一通過該認(rèn)證的激光雷達(dá)掃描器件。
2023-03-27 12:04:21769 Weibull分布是最常用于對可靠性數(shù)據(jù)建模的分布。此分布易于解釋且用途廣泛。在可靠性分析中,可以使用此分布回答以下問題: · 預(yù)計(jì)將在老化期間失效的項(xiàng)目所占的百分比是多少?例如,預(yù)計(jì)將在8小時(shí)老化
2023-03-27 10:32:33880 近日,全球領(lǐng)先的智能激光雷達(dá)系統(tǒng)科技企業(yè)RoboSense(速騰聚創(chuàng))獲國際公認(rèn)的測試、檢驗(yàn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)SGS簽發(fā)的AEC-Q100可靠性測試報(bào)告與證書。
2023-03-27 09:53:20797 嗨,我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報(bào)告?FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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