LED能效測(cè)試失效分析

　　背景

　　隨著經(jīng)濟(jì)的迅猛發(fā)展，日趨嚴(yán)峻的能源與環(huán)境問(wèn)題成為人們關(guān)注的焦點(diǎn)。LED相比較傳統(tǒng)照明光源擁有環(huán)保、節(jié)能和壽命長(zhǎng)的優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)照明光源成為主要照明光源。在全球照明行業(yè)進(jìn)行LED全面革命的浪潮下，全球很多國(guó)家都在推行LED照明產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的制定、測(cè)試和認(rèn)證，以規(guī)范和推動(dòng)LED市場(chǎng)的良性蓬勃發(fā)展，其中以美國(guó)的LED照明能源之星認(rèn)證走在世界最前列。由于LED發(fā)熱量大，導(dǎo)致LED的光衰大，從而影響其壽命，光衰和壽命是目前燈具以及LED封裝廠家急需解決的難題。所以，壽命和光衰是出口至美國(guó)市場(chǎng)和獲得能源之星認(rèn)證的LED照明廠家最為關(guān)注的問(wèn)題。

　　定義

　　能源之星（Energy Star）是一項(xiàng)由美國(guó)政府——美國(guó)環(huán)保署（EPA）與能源部（DOE）所主導(dǎo)，并結(jié)合產(chǎn)品制造業(yè)、零售業(yè)共同參與，主要針對(duì)消費(fèi)性電子產(chǎn)品的能源節(jié)約計(jì)劃。

　　LM-80是以實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)加上數(shù)學(xué)統(tǒng)計(jì)模式獲得一致性的壽命數(shù)據(jù)，使得LED器件所進(jìn)行的光衰和壽命測(cè)試數(shù)據(jù)與LED成品燈的光衰和壽命數(shù)據(jù)兩者獲得一致性和共通性，也更使得LED成品燈具可以參考LED器件所進(jìn)行的光衰與壽命測(cè)試數(shù)據(jù)。而且，EPA（美國(guó)環(huán)保署）針對(duì)LED照明成品所頒發(fā)的能源之星標(biāo)準(zhǔn)也以此方法作為L(zhǎng)ED燈珠與成品照明光衰和壽命的判斷標(biāo)準(zhǔn)。

　　為什么要做LM-80

　　美國(guó)政府強(qiáng)力支持能源之星認(rèn)證，同時(shí)規(guī)定對(duì)銷售有能源之星認(rèn)證產(chǎn)品的廠家和使用的家庭進(jìn)行補(bǔ)貼，并要求聯(lián)邦政府機(jī)構(gòu)選擇有能源之星（Energy Star）認(rèn)證的產(chǎn)品。目前越來(lái)越多的美國(guó)客戶要求做能源之星認(rèn)證，做了能源之星認(rèn)證的產(chǎn)品在美國(guó)市場(chǎng)的價(jià)格會(huì)非常有競(jìng)爭(zhēng)力，同時(shí)滿足現(xiàn)代人對(duì)節(jié)能環(huán)保的高要求。雖然能源之星不是美要強(qiáng)制性的認(rèn)證要求，但要想在美國(guó)市場(chǎng)做好，一定要做能源之星認(rèn)證。要做能源之星認(rèn)證首先就要提供燈珠的LM-80測(cè)試報(bào)告，有了LM-80報(bào)告，燈具做DLC認(rèn)證除了可以節(jié)約3000小時(shí)的時(shí)間，還可以節(jié)省一筆不菲的測(cè)試費(fèi)用。這為燈具生產(chǎn)商節(jié)約了3000小時(shí)的時(shí)間，也就是說(shuō)有LM80報(bào)告，生產(chǎn)商的產(chǎn)品可以提前4個(gè)月在美國(guó)上市，更快更早的面向客戶，因此，封裝廠商做LM-80測(cè)試是封裝產(chǎn)品走向美國(guó)的必要條件。

　　金鑒做LM-80的優(yōu)勢(shì)

　　金鑒檢測(cè)LED能效測(cè)試中心，擁有完備的老化實(shí)驗(yàn)設(shè)備、老化場(chǎng)地，以及能源之星(Energystar)認(rèn)可的光電測(cè)試設(shè)備，并獲得美國(guó)北美照明學(xué)會(huì) （IESNA）的LED光電測(cè)試 LM 80標(biāo)準(zhǔn)、能源之星等光電性能測(cè)試資格，被“國(guó)際認(rèn)可機(jī)構(gòu)（International Accreditation Service )”授權(quán)認(rèn)可，在行業(yè)中是十分具有知名度和廣泛接受度的第三方檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)。

LM-80測(cè)試色溫分布

　　壽命推算結(jié)果

　　Test Condition 1 - 55?C Case Temp

　　Sample size90

　　Number of failures0

　　DUT drive current used in the test (mA)30

　　Test duration (hours)6,000

　　Test duration used for projection(hour to hour)1,000 - 6,000

　　Tested case temperature (?C)55

　　α5.87E-06

　　B1.007

　　Reported L70(6k) (hours)>36000

　　Test Condition 2 - 85?C Case Temp

　　Sample size90

　　Number of failures0

　　DUT drive current used in the test (mA)30

　　Test duration (hours)6,000

　　Test duration used for projection(hour to hour)1,000 - 6,000

　　Tested case temperature (?C)85

　　α5.49E-06

　　B1.003

　　Reported L70(6k) (hours)>36000

　　Test Condition 3 - 100?C Case Temp

　　Sample size90

　　Number of failures0

　　DUT drive current used in the test (mA)30

　　Test duration (hours)6,000

　　Test duration used for projection(hour to hour)1,000 - 6,000

　　Tested case temperature (?C)100

　　α5.78E-06

　　B1.002

　　Reported L70(6k) (hours)>36000

?

? ? ? ?ymf