光刻部的主要機(jī)臺(tái)是什幺? 它們的作用是什幺?
答:光刻部的主要機(jī)臺(tái)是: TRACK(涂膠顯影機(jī)), Sanner(掃描曝光機(jī))
為什幺說(shuō)光刻技術(shù)最象日常生活中的照相技術(shù)
答:Track 把光刻膠涂附到芯片上就等同于底片,而曝光機(jī)就是一臺(tái)最高級(jí)的照相機(jī)。 光罩上的電路圖形就是”人物“。 通過(guò)對(duì)準(zhǔn),對(duì)焦,打開(kāi)快門, 讓一定量的光照過(guò)光罩, 其圖像呈現(xiàn)在芯片的光刻膠上, 曝光后的芯片被送回Track 的顯影槽, 被顯影液浸泡, 曝光的光刻膠被洗掉, 圖形就顯現(xiàn)出來(lái)了。
光刻技術(shù)的英文是什幺
答:Photo Lithography
常聽(tīng)說(shuō)的.18 或點(diǎn)13 技術(shù)是指什幺?
答:它是指某個(gè)產(chǎn)品,它的最小”CD“ 的大小為0.18um or 0.13um. 越小集成度可以越高, 每個(gè)芯片上可做的芯片數(shù)量越多, 難度也越大。它是代表工藝水平的重要參數(shù)。
從點(diǎn)18工藝到點(diǎn)13 工藝到點(diǎn)零9. 難度在哪里?
答:難度在光刻部, 因?yàn)閳D形越來(lái)越小, 曝光機(jī)分辨率有限。
曝光機(jī)的NA 是什幺?
答:NA是曝光機(jī)的透鏡的數(shù)值孔徑;是光罩對(duì)透鏡張開(kāi)的角度的正玹值。 最大是1; 先進(jìn)的曝光機(jī)的NA 在0.5 ---0.85之間。
曝光機(jī)分辨率是由哪些參數(shù)決定的?
答:分辨率=k1*Lamda/NA. Lamda是用于曝光的光波長(zhǎng);NA是曝光機(jī)的透鏡的數(shù)值孔徑; k1是標(biāo)志工藝水準(zhǔn)的參數(shù), 通常在0.4--0.7之間。
如何提高曝光機(jī)的分辨率呢?
答:減短曝光的光波長(zhǎng), 選擇新的光源; 把透鏡做大,提高NA.
現(xiàn)在的生產(chǎn)線上, 曝光機(jī)的光源有幾種, 波長(zhǎng)多少?
答:有三種: 高壓汞燈光譜中的365nm 譜線, 我們也稱其為I-line; KrF 激光器, 產(chǎn)生248 nm 的光; ArF 激光器, 產(chǎn)生193 nm 的光;
下一代曝光機(jī)光源是什幺?
答:F2 激光器。 波長(zhǎng)157nm
我們可否一直把波長(zhǎng)縮短,以提高分辨率? 困難在哪里?
答:不可以。 困難在透鏡材料。 能透過(guò)157nm 的材料是CaF2, 其晶體很難生長(zhǎng)。 還未發(fā)現(xiàn)能透過(guò)更短波長(zhǎng)的材料。
為什幺光刻區(qū)采用黃光照明?
答:因?yàn)榘坠庵邪?65nm成份會(huì)使光阻曝光,所以采用黃光; 就象洗像的暗房采用暗紅光照明。
什幺是SEM
答:掃描電子顯微鏡(Scan Electronic Microscope)光刻部常用的也稱道CD SEM. 用它來(lái)測(cè)量CD
如何做Overlay 測(cè)量呢?
答:芯片(Wafer)被送進(jìn)Overlay 機(jī)臺(tái)中。 先確定Wafer的位置從而找到Overlay MARK. 這個(gè)MARK 是一個(gè)方塊 IN 方塊的結(jié)構(gòu)。大方塊是前層, 小方塊是當(dāng)層;通過(guò)小方塊是否在大方塊中心來(lái)確定Overlay的好壞。
生產(chǎn)線上最貴的機(jī)器是什幺
答:曝光機(jī);5-15 百萬(wàn)美金/臺(tái)
曝光機(jī)貴在哪里?
答:曝光機(jī)貴在它的光學(xué)成像系統(tǒng) (它的成像系統(tǒng)由15 到20 個(gè)直徑在200 300MM 的透鏡組成。波面相位差只有最好象機(jī)的5%. 它有精密的定位系統(tǒng)(使用激光工作臺(tái))
激光工作臺(tái)的定位精度有多高?
答:現(xiàn)用的曝光機(jī)的激光工作臺(tái)定位的重復(fù)精度小于10nm
曝光機(jī)是如何保證Overlay《50nm?
答:曝光機(jī)要保證每層的圖形之間對(duì)準(zhǔn)精度《50nm. 它首先要有一個(gè)精準(zhǔn)的激光工作臺(tái), 它把wafer移動(dòng)到準(zhǔn)確的位置。 再就是成像系統(tǒng),它帶來(lái)的圖像變形《35nm.
在WAFER 上, 什幺叫一個(gè)Field?
答:光罩上圖形成象在WAFER上, 最大只有26X33mm一塊(這一塊就叫一個(gè)Field),激光工作臺(tái)把WAFER 移動(dòng)一個(gè)Field的位置,再曝一次光,再移動(dòng)再曝光。 直到覆蓋整片WAFER。 所以,一片WAFER 上有約100左右Field.
什幺叫一個(gè)Die?
答:一個(gè)Die也叫一個(gè)Chip;它是一個(gè)功能完整的芯片。 一個(gè)Field可包含多個(gè)Die;
為什幺曝光機(jī)的綽號(hào)是“印鈔機(jī)”
答:曝光機(jī) 很貴;一天的折舊有3萬(wàn)-9萬(wàn)人民幣之多;所以必須充份利用它的產(chǎn)能,它一天可產(chǎn)出1600片WAFER。
Track和Scanner內(nèi)主要使用什幺手段傳遞Wafer:
答:機(jī)器人手臂(robot), Scanner 的ROBOT 有真空(VACCUM)來(lái)吸住WAFER. TRACK的ROBOT 設(shè)計(jì)獨(dú)特, 用邊緣HOLD WAFER.
可否用肉眼直接觀察測(cè)量Scanner曝光光源輸出的光
答:絕對(duì)禁止;強(qiáng)光對(duì)眼睛會(huì)有傷害
為什幺黃光區(qū)內(nèi)只有Scanner應(yīng)用Foundation(底座)
答:Scanner曝光對(duì)穩(wěn)定性有極高要求(減震)
近代光刻技術(shù)分哪幾個(gè)階段?
答:從80’S 至今可分4階段:它是由曝光光源波長(zhǎng)劃分的;高壓水銀燈的G-line(438nm), I-line(365nm); excimer laser KrF(248nm), ArF laser(193nm)
I-line scanner 的工作范圍是多少?
答:CD 》0.35um 以上的圖層(LAYER)
KrF scanner 的工作范圍是多少?
答:CD 》0.13um 以上的圖層(LAYER)
ArF scanner 的工作范圍是多少?
答:CD 》0.08um 以上的圖層(LAYER)
什幺是DUV SCANNER
答:DUV SCANNER 是 指所用光源為Deep Ultra Voliet, 超紫外線.即現(xiàn)用的248nm,193nm Scanner
Scanner在曝光中可以達(dá)到精確度宏觀理解:
答:Scanner 是一個(gè)集機(jī),光,電為一體的高精密機(jī)器;為控制iverlay《40nm,在曝光過(guò)程中,光罩和Wafer的運(yùn)動(dòng)要保持很高的同步性.在250nm/秒的掃描曝光時(shí),兩者同步位置《10nm.相當(dāng)于兩架時(shí)速1000公里/小時(shí)的波音747飛機(jī)前后飛行,相距小于10微米
光罩的結(jié)構(gòu)如何?
答:光罩是一塊石英玻璃,它的一面鍍有一層鉻膜(不透光).在制造光罩時(shí),用電子束或激光在鉻膜上寫上電路圖形(把部分鉻膜刻掉,透光).在距鉻膜5mm 的地方覆蓋一極薄的透明膜(叫pellicle),保護(hù)鉻膜不受外界污染。
在超凈室(cleanroom)為什幺不能攜帶普通紙
答:普通紙張是由大量短纖維壓制而成,磨擦或撕割都會(huì)產(chǎn)生大量微小塵埃(particle).進(jìn)cleanroom 要帶專用的Cleanroom Paper.
如何做CD 測(cè)量呢?
答:芯片(Wafer)被送進(jìn)CD SEM 中。 電子束掃過(guò)光阻圖形(Pattern)。有光阻的地方和無(wú)光阻的地方產(chǎn)生的二次電子數(shù)量不同; 處理此信號(hào)可的圖像。對(duì)圖像進(jìn)行測(cè)量得CD.
什幺是DOF
答:DOF 也叫Depth Of Focus, 與照相中所說(shuō)的景深相似。 光罩上圖形會(huì)在透鏡的另一側(cè)的某個(gè)平面成像, 我們稱之為像平面(Image Plan), 只有將像平面與光阻平面重合(In Focus)才能印出清晰圖形。 當(dāng)離開(kāi)一段距離后, 圖像模糊。 這一可清晰成像的距離叫DOF
曝光顯影后產(chǎn)生的光阻圖形(Pattern)的作用是什幺?
答:曝光顯影后產(chǎn)生的光阻圖形有兩個(gè)作用:一是作刻蝕的模板,未蓋有光阻的地方與刻蝕氣體反應(yīng),被吃掉.去除光阻后,就會(huì)有電路圖形留在芯片上.另一作用是充當(dāng)例子注入的模板.
光阻種類有多少?
答:光阻種類有很多.可根據(jù)它所適用的曝光波長(zhǎng)分為I-line光阻,KrF光阻和ArF光阻
光阻層的厚度大約為多少?
答:光阻層的厚度與光阻種類有關(guān).I-line光阻最厚,0.7um to 3um. KrF光阻0.4-0.9um. ArF光阻0.2-0.5um.
哪些因素影響光阻厚度?
答:光阻厚度與芯片(WAFER)的旋轉(zhuǎn)速度有關(guān),越快越薄,與光阻粘稠度有關(guān).
哪些因素影響光阻厚度的均勻度?
答:光阻厚度均勻度與芯片(WAFER)的旋轉(zhuǎn)加速度有關(guān),越快越均勻,與旋轉(zhuǎn)加減速的時(shí)間點(diǎn)有關(guān).
當(dāng)顯影液或光阻不慎濺入眼睛中如何處理
答:大量清水沖洗眼睛,并查閱顯影液的CSDS(Chemical Safety Data Sheet),把它提供給醫(yī)生,以協(xié)助治療
評(píng)論
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