半導(dǎo)體供應(yīng)商意法半導(dǎo)體，簡(jiǎn)稱(chēng)ST宣布，全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功。
2011-12-31 09:45:37
1370 Lite 提供一個(gè)圖形用戶界面，具有強(qiáng)大的分析工具，探針驅(qū)動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試工具。備注：Agilent HP 4155C 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4155c半導(dǎo)體測(cè)試儀是Agilent下一代精密半導(dǎo)體測(cè)試
2019-09-25 11:45:16
· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗(yàn)探針是否接觸正常· 待機(jī)模式不需要外部電源· 觸發(fā)模式可以同步AC/DC測(cè)試。· IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。Agilent4156C精密半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試
2019-09-27 09:38:39
FS-Pro系列是業(yè)界唯一的人工智能驅(qū)動(dòng)的一體化半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，單臺(tái)設(shè)備具備IV， CV 與 1/f noise 測(cè)試能力，內(nèi)建的AI算法加速技術(shù)全面提升測(cè)試效率。業(yè)界低頻噪聲測(cè)試黃金系統(tǒng)
2020-07-01 10:02:55
FastLab是一款通用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量工具軟件，主要用于在半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室中協(xié)同探針臺(tái)與測(cè)量?jī)x器進(jìn)行自動(dòng)化的片上半導(dǎo)體器件的IV/CV特性測(cè)量。 該軟件界面友好、操作簡(jiǎn)便、功能全面。機(jī)器學(xué)習(xí)算法
2020-07-01 09:59:09
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一，因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么，有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
提供測(cè)試探針及各類(lèi)Socket，有需要的聯(lián)系***
2021-12-15 11:55:24
無(wú)嚴(yán)格要求的特點(diǎn)。因此，目前檢測(cè)半導(dǎo)體材料電阻率，尤其對(duì)于薄膜樣品來(lái)說(shuō)，四探針是較常用的方法?！ ∷?b class="flag-6" style="color: red">探針技術(shù)要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時(shí)，測(cè)試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過(guò)樣品的幾何參數(shù)，輸出電流源和測(cè)到的電壓值來(lái)計(jì)算得出。
2021-01-13 07:20:44
通過(guò)材料的容易程度，是材料的一個(gè)重要參數(shù)。導(dǎo)體是允許電流通過(guò)的材料。那些阻斷電流的東西叫做絕緣體。當(dāng)電流通過(guò)導(dǎo)體和絕緣體作為一個(gè)相關(guān)參數(shù)時(shí)，有些材料會(huì)掉落在它們之間。這種材料被稱(chēng)為半導(dǎo)體。在所
2022-02-25 09:55:01
地，2020 年業(yè)界普遍認(rèn)為 5G 會(huì)實(shí)現(xiàn)大規(guī)模商用，熱點(diǎn)技術(shù)與應(yīng)用推動(dòng)下，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體材料需求有望進(jìn)一步增長(zhǎng)。寬禁帶半導(dǎo)體材料測(cè)試1 典型應(yīng)用一. 功率雙極性晶體管BJT 特性表征2 典型應(yīng)用二. 功率
2020-05-09 15:22:12
的防雷器件呢？這就是優(yōu)恩半導(dǎo)體要講的重點(diǎn)了。 首先要掌握各類(lèi)電子保護(hù)器件的工作原理、特性參數(shù)以及選型標(biāo)準(zhǔn)。優(yōu)恩半導(dǎo)體就以半導(dǎo)體放電管的選型為例，介紹一下怎么選型？ 半導(dǎo)體放電管特性參數(shù)： ①斷態(tài)電壓VRM
2017-03-20 14:45:41
半導(dǎo)體材料從發(fā)現(xiàn)到發(fā)展，從使用到創(chuàng)新，擁有這一段長(zhǎng)久的歷史。宰二十世紀(jì)初，就曾出現(xiàn)過(guò)點(diǎn)接觸礦石檢波器。1930年，氧化亞銅整流器制造成功并得到廣泛應(yīng)用，是半導(dǎo)體材料開(kāi)始受到重視。1947年鍺點(diǎn)接觸三極管制成，成為半導(dǎo)體的研究成果的重大突破。
2020-04-08 09:00:15
敏感，據(jù)此可以制造各種敏感元件，用于信息轉(zhuǎn)換。 半導(dǎo)體材料的特性參數(shù)有禁帶寬度、電阻率、載流子遷移率、非平衡載流子壽命和位錯(cuò)密度。禁帶寬度由半導(dǎo)體的電子態(tài)、原子組態(tài)決定，反映組成這種材料的原子中價(jià)
2013-01-28 14:58:38
半導(dǎo)體電容-電壓測(cè)試的方法，技巧與注意事項(xiàng)這價(jià)電子材料旨在幫助實(shí)驗(yàn)室工程技術(shù)人員實(shí)現(xiàn)，診斷和驗(yàn)證C-V測(cè)量系統(tǒng)。其中討論了如何獲取高品質(zhì)C-V測(cè)量結(jié)果的關(guān)鍵問(wèn)題，包括系統(tǒng)配置和某些擴(kuò)展C-V
2009-11-20 09:13:55
利用SMU(Source measurement unit)供應(yīng)電壓或電流，驗(yàn)證與量測(cè)半導(dǎo)體組件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲線等)。 iST宜特檢測(cè)可協(xié)助驗(yàn)證及量測(cè)半導(dǎo)體
2018-10-24 11:11:34
半導(dǎo)體熱敏電阻的工作原理資料下載內(nèi)容主要介紹了：半導(dǎo)體熱敏電阻的工作原理熱敏電阻的型號(hào)熱敏電阻器的主要參數(shù)
2021-03-24 07:15:23
探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)
2023-05-31 10:29:33
測(cè)試中我們利用40GHz頻率范圍的N5244A PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和PLTS物理層分析軟件，能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">探針的性能做全方位的測(cè)試和分析，從而作為判斷探針質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。首先利用PNAX和電子校準(zhǔn)件
2019-07-18 08:14:37
根據(jù)GB4793.1標(biāo)準(zhǔn)所要求，接觸電流測(cè)試要涉及可接觸零部件與地、可接觸零部件之間，同時(shí)還要考慮PE故障、N故障、極性切換等情況，個(gè)人感覺(jué)這個(gè)測(cè)試非常復(fù)雜耗時(shí)間，尤其是可接觸零部件之間的接觸電流測(cè)試，測(cè)試點(diǎn)太多了，想想就很崩潰。各位有沒(méi)有覺(jué)得？
2017-05-11 15:49:03
接觸電流測(cè)試是產(chǎn)品安全性能的主要檢測(cè)之一，是對(duì)產(chǎn)品是否存在觸電危險(xiǎn)的判斷依據(jù)。根據(jù)IEC接觸電流和保護(hù)導(dǎo)體電流的測(cè)量方法中提到接觸電流——當(dāng)人體或動(dòng)物接觸一個(gè)或多個(gè)裝置的或設(shè)備的可觸及零部件時(shí)，流過(guò)
2020-12-01 13:23:42
請(qǐng)問(wèn)一下接觸電阻的測(cè)量方法有哪些？
2021-04-12 06:22:47
pogo pin探針連接器設(shè)計(jì)的合理性和實(shí)用性。 1、低電壓接觸電阻 供應(yīng)電壓電流不會(huì)改變物理接觸面的大小和接觸面的氧化物及薄膜的情況下,評(píng)估接觸系統(tǒng)的接觸電阻持性,測(cè)試最大電流為100mA,最大
2016-06-12 17:05:40
) 和氧化鋁鋅 (AZO)，已成功用于太陽(yáng)能電池薄膜器件，但由于這些導(dǎo)電氧化物接觸電極應(yīng)用于一維納米線器件，將具有不同的光學(xué)行為。納米線中的一維光學(xué) Mie 共振。金屬接觸電極，如銀和銅，將具有與傳統(tǒng) ITO 接觸電極相當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)性能，而半導(dǎo)體納米線器件接近一維極限。 如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系作者刪除
2021-07-09 10:20:13
華天電力專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)接觸電阻測(cè)試儀（又稱(chēng)回路電阻測(cè)試儀），接下來(lái)為大家分享什么是接觸電阻？1.什么是接觸電阻？接觸電阻是靜態(tài)觸點(diǎn)和活動(dòng)觸點(diǎn)彼此接觸時(shí)發(fā)生的附加電阻。2.斷路器的接觸電阻有哪些部分？由動(dòng)
2021-01-19 13:58:59
什么是接觸電阻？接觸電阻就是電流流過(guò)閉合的接觸點(diǎn)對(duì)時(shí)的電阻，接觸電阻阻值范圍在微歐姆到幾個(gè)歐姆之間。下面我們一起來(lái)學(xué)習(xí)一下接觸電阻測(cè)試方法，希望能為大家提供一些幫助。
2021-03-17 06:10:49
什么是堆疊式共源共柵？低阻抗功率半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)有哪些關(guān)鍵特性？低阻抗功率半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)有哪些應(yīng)用優(yōu)勢(shì)？
2021-06-26 06:14:32
想問(wèn)一下，半導(dǎo)體設(shè)備需要用到溫度傳感器的有那些設(shè)備，比如探針臺(tái)有沒(méi)有用到，具體要求是那些，
2024-03-08 17:04:59
從娛樂(lè)產(chǎn)品、通信設(shè)備、交通系統(tǒng)，到節(jié)能應(yīng)用和醫(yī)療保健設(shè)備，在這些徹底改變我們的日常生活方式的全新應(yīng)用領(lǐng)域中，半導(dǎo)體技術(shù)日益普及，并發(fā)揮著關(guān)鍵作用，這意味著半導(dǎo)體行業(yè)的成功較其它行業(yè)更依賴于半導(dǎo)體企業(yè)
2011-03-22 17:43:00
什么是LED芯片呢？那么它有什么特點(diǎn)呢？LED芯片制造主要是為了制造有效可靠的低歐姆接觸電極，并能滿足可接觸材料之間較為小的壓降及提供焊線的壓墊，同時(shí)盡可能的多地出光。渡膜工藝一般用真空蒸鍍方法
2020-10-30 06:23:39
回路電阻的測(cè)量方法： 回路電阻測(cè)試儀，又稱(chēng)變壓器回路電阻測(cè)試儀，主要是用于測(cè)試高壓斷路器動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，斷路器導(dǎo)電回路電阻主要取決于動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，接觸電阻的存在，增大了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗
2017-06-08 14:49:19
測(cè)試對(duì)測(cè) 試系統(tǒng)的要求越來(lái)越高。通常這些器件的接觸電極尺 寸只有微米量級(jí)，這些對(duì)低噪聲源表，探針臺(tái)和顯微 鏡性能都提出了更高的要求。半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案，泰克公司與合作 伙伴使用泰克吉時(shí)利
2019-10-08 15:41:37
觸頭的接觸電阻，接觸電阻的存在，增大了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力，也是反映安裝檢修工作質(zhì)量的重要數(shù)據(jù)，目前，回路
2021-07-16 13:59:09
接觸電阻測(cè)試儀原理接觸電阻測(cè)試儀使用方法
2021-03-04 07:54:18
和微波開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題，包括不同的開(kāi)關(guān)種類(lèi)，RF開(kāi)關(guān)卡規(guī)格，和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問(wèn)題。
2019-07-10 08:02:09
和微波開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題，包括不同的開(kāi)關(guān)種類(lèi)，RF開(kāi)關(guān)卡規(guī)格，和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問(wèn)題。
2019-07-10 06:34:58
接觸電流可分為哪幾種？怎樣去測(cè)量接觸電流呢？
2021-10-08 08:37:23
、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可
2020-03-28 12:14:08
, CdTe 等；3、低阻抗材料：金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等。 四、系統(tǒng)原理：霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)主要是對(duì)霍爾器件的 I-V 測(cè)量，再根據(jù)其他相關(guān)參數(shù)來(lái)計(jì)算出對(duì)應(yīng)的值。電阻率：范德
2020-06-08 17:04:49
如題，設(shè)計(jì)中單片機(jī)系統(tǒng)需要測(cè)量斷路器的接觸電阻，因?yàn)橐龀杀銛y式的，故不能用低電阻測(cè)試儀了，需要在被試觸電兩端加一恒流源，再測(cè)其端電壓送入單片機(jī)，換算成其實(shí)際電阻，顯示在液晶屏上，現(xiàn)在找不到合適
2012-04-12 15:26:22
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求？對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式？如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試？
2021-07-30 06:27:39
項(xiàng)目需求1：開(kāi)關(guān)觸電的接觸電阻開(kāi)發(fā)2:檢測(cè)范圍0-200毫歐，可設(shè)定，可判斷，帶一個(gè)DO輸出，3：開(kāi)關(guān)最大承受電流3A4：要求：檢測(cè)電壓小于5V，5：求購(gòu)100個(gè)，急用
2019-04-08 17:16:42
、10A、20A、40A、50A、100A，這些僅用于單相測(cè)量。什么是接觸電阻？接觸電阻是表征導(dǎo)電回路的連接是否良好的參數(shù)，計(jì)量單位為μΩ。每種類(lèi)型的高壓斷路器都指定了一個(gè)值范圍。如果回路電阻超過(guò)規(guī)定值
2022-06-15 09:46:14
關(guān)于納米級(jí)電接觸電阻測(cè)量的新技術(shù)看完你就懂了
2021-04-09 06:43:22
、3A、10A、20A、40A、50A、100A，這些僅用于單相測(cè)量。什么是接觸電阻？接觸電阻是表征導(dǎo)電回路的連接是否良好的參數(shù)，計(jì)量單位為μΩ。每種類(lèi)型的高壓斷路器都分配了一個(gè)值范圍。如果回路電阻超過(guò)
2022-06-21 10:12:41
應(yīng)用范圍：探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對(duì)集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。芯片失效分析探針臺(tái)
2020-10-16 16:05:57
檢驗(yàn)合格不等于接觸可靠5) 靜態(tài)接觸電阻檢測(cè) 鑒于檢測(cè)該參數(shù)時(shí)，檢測(cè)工裝和被檢對(duì)象之間也存在接觸電阻，對(duì)連 接器及其組件(線索)等被檢對(duì)象，又不能采用焊接、壓接等固定連接工 藝，造成這一參數(shù)的實(shí)際檢測(cè)
2017-09-07 08:47:22
一.產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
HDHL系例回路接觸電阻測(cè)試儀采用先進(jìn)的大功率開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和先進(jìn)的電子線路精制而成。是高、低開(kāi)關(guān)、電纜電線及焊縫接觸電阻的專(zhuān)用
2021-11-08 14:21:39
“接觸對(duì)”導(dǎo)體件呈現(xiàn)的電阻成為接觸電阻?！ ∫话阋?b class="flag-6" style="color: red">接觸電阻在10-20 mohm以下。 有的開(kāi)關(guān)則要求在100-500uohm以下。有些電路對(duì)接觸電阻的變化很敏感。 應(yīng)該指出， 開(kāi)關(guān)的
2010-04-16 09:55:194043 意法半導(dǎo)體(STMicroelectronics，簡(jiǎn)稱(chēng)ST)宣布，全球首款未使用任何接觸式探針完成裸片全部測(cè)試的半導(dǎo)體晶圓研制成功
2011-12-21 08:51:40685 路電阻測(cè)試儀，又稱(chēng)變壓器回路電阻測(cè)試儀，主要是用于測(cè)試高壓斷路器動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，斷路器導(dǎo)電回路電阻主要取決于動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，接觸電阻的存在，增大了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力
2017-06-06 09:39:561558 考慮到接觸件膜層在高接觸壓力下會(huì)發(fā)生機(jī)械擊穿或在高電壓、大電流下會(huì)發(fā)生電擊穿。對(duì)某些小體積的連接器設(shè)計(jì)的接觸壓力相當(dāng)小，使用場(chǎng)合僅為mV或mA級(jí)，膜層電阻不易被擊穿，可能影響電信號(hào)的傳輸。故國(guó)軍標(biāo)GJB1217-91電連接器試驗(yàn)方法中規(guī)定了兩種試驗(yàn)方法。即低電平接觸電阻試驗(yàn)方法和接觸電阻試驗(yàn)方法。
2017-06-09 10:30:384603 接觸電阻的形式可分為三類(lèi)：點(diǎn)接觸、線接觸和面接觸。接觸形式對(duì)收縮電阻Ｒｓ的影響主要表現(xiàn)在接觸點(diǎn)的數(shù)目上。一般情況下，面接觸的接觸點(diǎn)數(shù)ｎ最大而Ｒｓ最?。稽c(diǎn)接觸則ｎ最小，Ｒｓ最大；線接觸則介于兩者之間。
2017-10-26 15:40:353839 
的探針法、霍爾法、I-V法實(shí)現(xiàn)。因此，參照德國(guó)din標(biāo)準(zhǔn)及我國(guó)電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，用TDCM法研發(fā)了半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀，設(shè)計(jì)并研制了電容性探頭、高精度三維測(cè)試臺(tái)，開(kāi)發(fā)了以擬合曲線為基礎(chǔ)的數(shù)據(jù)處理及繪圖軟件，實(shí)現(xiàn)了對(duì)直徑6英寸以下SiC、CJ aAs、Cd
2018-02-10 11:06:17
0 回路電阻測(cè)試儀（Loop Resistance Tester）又稱(chēng)接觸電阻測(cè)試儀，是用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻、回路電阻測(cè)量的專(zhuān)用儀器。
2018-03-11 10:37:1916313 
、high Z測(cè)量、DC測(cè)量、RF測(cè)量和微波特性測(cè)量提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)的探針、測(cè)試電纜、樣品架都有多種類(lèi)型可供選擇，從而滿足不同應(yīng)用的需要。系統(tǒng)適用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的精準(zhǔn)電學(xué)特性測(cè)量和分析。半導(dǎo)體特性分析
2018-11-15 13:51:01379 。國(guó)際通用的真空接口設(shè)計(jì)，使未來(lái)的擴(kuò)展與升級(jí)更加容易。變溫范圍從-196℃~400℃極限真空在1*10-4Pa以上應(yīng)用領(lǐng)域：半導(dǎo)體器件：片上參數(shù)測(cè)試、晶圓級(jí)可靠性、封裝器件的特性分析、C-V、I-V
2018-11-15 13:53:25831 回路電阻測(cè)試儀，又稱(chēng)變壓器回路電阻測(cè)試儀，主要是用于測(cè)試高壓斷路器動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，斷路器導(dǎo)電回路電阻主要取決于動(dòng)靜觸頭的接觸電阻，接觸電阻的存在，增大了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高
2019-04-09 16:28:113240 本文首先介紹了接觸電阻的概念，其次介紹了接觸電阻過(guò)大的原因，最后闡述了接觸電阻過(guò)大預(yù)防措施。
2019-08-01 17:23:5426341 本文首先介紹了接觸電阻作用原理，其次介紹了接觸電阻的測(cè)量方法，最后介紹了接觸電阻影響因素。
2019-08-01 17:31:4820588 
此篇我們將重點(diǎn)討論在貴金屬接觸系統(tǒng)中腐蝕對(duì)接觸電阻的影響，特別是鍍金界面。關(guān)鍵討論鍍金層下鎳底層的重要性及其對(duì)提高鍍金連接器性能的好處。
2019-09-28 07:52:002217 
回路電阻測(cè)試儀又稱(chēng)接觸電阻測(cè)試儀、開(kāi)關(guān)回路電阻測(cè)試儀、接觸回路電阻測(cè)試儀、接觸（回路）電阻測(cè)試儀。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е?b class="flag-6" style="color: red">接觸電阻增大，在大電流流過(guò)時(shí)，接觸點(diǎn)溫度升高，這更加速接觸面氧化，使接觸電阻進(jìn)一步增大，持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故，因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
2019-11-28 11:51:497412 接觸壓力對(duì)接觸電阻的影響很大，若只靠加大接觸面積的尺寸而無(wú)足夠的接觸壓力，對(duì)于減小基礎(chǔ)電阻是無(wú)法有滿意效果的。接觸壓力的增加實(shí)際上是增加接觸點(diǎn)的有效接觸面積，同時(shí)可以最大限度地抑制表面膜對(duì)接觸電阻的影響。
2020-01-31 16:26:0018267 在電源線與電氣設(shè)備或?qū)Ь€的連接處，電源線與開(kāi)關(guān)、保護(hù)裝置和較大用電設(shè)備連接的地方要進(jìn)行電氣連接，由于接觸不良，使接觸部位的局部電阻過(guò)大，叫做接觸電阻過(guò)大。
2019-12-12 16:24:146024 在接觸電流的測(cè)試過(guò)程中，有兩個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)：等效的人體阻抗網(wǎng)絡(luò)和流過(guò)這個(gè)網(wǎng)絡(luò)電流的峰值。等效的人體阻抗網(wǎng)絡(luò)即模擬人體阻抗網(wǎng)絡(luò)，在國(guó)際上通行的比較能模擬真實(shí)情況的有7種，如圖2為其中比較常用的5種模擬
2020-08-19 13:47:59948 
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況，需要測(cè)試材料的電阻率。 四探針法是目前測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率的常用方法，因?yàn)榇朔ㄔO(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高且對(duì)樣品形狀
2020-10-19 09:53:333651 
接觸電阻是什么意思 對(duì)導(dǎo)體間呈現(xiàn)的電阻稱(chēng)為接觸電阻。 一般要求接觸電阻在10-20 mohm以下。 有的開(kāi)關(guān)則要求在100-500uohm以下。有些電路對(duì)接觸電阻的變化很敏感。 應(yīng)該指出， 開(kāi)關(guān)
2021-01-28 14:21:4710854 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供如何使用接觸電阻測(cè)試儀？資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-28 08:44:2440 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供什么是接觸電阻？如何測(cè)試接觸電阻？資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-07 08:48:2918 直流接觸器觸頭接觸電阻擴(kuò)大一般會(huì)在觸頭上造成十分大的電流量，使負(fù)荷機(jī)械設(shè)備的輸入功率降低。倘若一兩個(gè)觸頭接觸電阻擴(kuò)大，還會(huì)繼續(xù)再次使負(fù)荷機(jī)械設(shè)備三相電壓不平衡，造成斷相運(yùn)行；觸頭接觸電阻過(guò)大，對(duì)電器本身也會(huì)造成過(guò)熱，使其可靠性降低。
2021-07-07 09:54:572861 史密斯英特康是全球領(lǐng)先的關(guān)鍵半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用創(chuàng)新解決方案的供應(yīng)商,其最新推出的創(chuàng)新且穩(wěn)健的Kelvin(開(kāi)爾文)彈簧探針技術(shù),適用于低至 0.35 毫米間距的Kelvin測(cè)試應(yīng)用。該探針獨(dú)特
2021-11-18 16:00:44744 四探針法通常用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體的電阻率。四探針法測(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)，它不需要較準(zhǔn)；有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針法較準(zhǔn)。 與四探針法相比，傳統(tǒng)的二探針法更方便些，因?yàn)樗恍枰僮鲀蓚€(gè)探針
2022-05-27 15:01:055441 
滑環(huán)位置主要安裝在傳動(dòng)軸上，如單元的輸出軸、齒輪箱的輸入軸和輸出軸。 與應(yīng)變計(jì)配合使用。 導(dǎo)電環(huán)運(yùn)行的主要產(chǎn)品性能測(cè)試包括外部組件尺寸檢查、單通道接觸電阻檢查、運(yùn)行期間接觸電阻檢查、環(huán)間絕緣強(qiáng)度
2022-05-29 22:58:29565 下，晶圓載物臺(tái)和周?chē)?b class="flag-6" style="color: red">探針臺(tái)之間可能發(fā)生電弧放電。 探針與器件的低接觸電阻 實(shí)現(xiàn)精確高電流測(cè)量的另一個(gè)關(guān)鍵挑戰(zhàn)是盡可能降低探針與器件的接觸電阻。這將確?？梢栽诰A上測(cè)量到器件的完整性能，并與封裝器件性能完全一致。這使得用于終端的應(yīng)用電源模
2022-06-24 18:29:321024 以上6種粉末材料在使用兩種測(cè)試方法測(cè)得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢(shì)，且趨勢(shì)一致（如圖2左圖）。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對(duì)比分析，GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測(cè)試結(jié)果均小于兩探針的測(cè)試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307 鑄鋁轉(zhuǎn)子的鋁導(dǎo)體和鐵心之間緊緊地貼在一起，過(guò)低的接觸電阻產(chǎn)生相當(dāng)大的橫向電流，特別是當(dāng)轉(zhuǎn)子斜槽時(shí)，對(duì)電動(dòng)機(jī)的雜散損耗及運(yùn)行性能有顯著影響。
2023-01-09 11:03:35732 一、凱迪正大回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品概述 凱迪正大KDHL-600A 回路電阻測(cè)試儀是用于測(cè)量開(kāi)關(guān)、斷路器、變壓器等設(shè)備的接觸電阻、回路電阻的專(zhuān)用測(cè)試設(shè)備。其采用典型的四線制測(cè)量法，通過(guò)輸出一個(gè)直流電
2023-03-14 14:41:26387 
用微安電流測(cè)試接觸電阻的測(cè)量法是目前少有的精確測(cè)試電路之一，也是目前精密測(cè)量的文章之一。
本文介紹了測(cè)量?jī)x器的設(shè)計(jì)思想，它需要運(yùn)用在室溫條件下工作的器件。所設(shè)計(jì)的儀器要利用一個(gè)1kHz的信號(hào)
2023-04-25 09:37:210 晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885 
晶圓測(cè)試的方式主要是通過(guò)測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過(guò)探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363 
半導(dǎo)體材料wafer、光伏硅片的電阻率非接觸式測(cè)量、霍爾遷移率測(cè)試儀
2023-06-15 14:12:101041 
鑄鋁轉(zhuǎn)子的鋁導(dǎo)體和鐵心之間緊緊地貼在一起，過(guò)低的接觸電阻產(chǎn)生相當(dāng)大的橫向電流，特別是當(dāng)轉(zhuǎn)子斜槽時(shí)，對(duì)電動(dòng)機(jī)的雜散損耗及運(yùn)行性能有顯著影響。Ms.參今天針對(duì)鑄鋁轉(zhuǎn)子的接觸電阻與大家進(jìn)行一個(gè)簡(jiǎn)單交流。
2023-07-24 11:24:45360 近年來(lái)，隨著電池廠商對(duì)太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的要求越來(lái)越高，在生產(chǎn)中太陽(yáng)能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽(yáng)能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測(cè)試儀，可對(duì)
2023-08-26 08:36:01331 
觸點(diǎn)接觸電阻的檢測(cè)：** 為了測(cè)試繼電器觸點(diǎn)的接觸電阻，需要使用萬(wàn)用表測(cè)量繼電器觸點(diǎn)的電阻值。
2023-11-03 16:10:17656 ?！该滥芄夥股a(chǎn)的美能TLM接觸電阻測(cè)試儀，可憑借接觸電阻率測(cè)試與線電阻測(cè)試功能，對(duì)太陽(yáng)能電池的接觸電阻、薄層電阻、接觸電阻率以及柵線的線電阻等性能進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)，并可將
2023-11-18 08:33:03409 中，接觸（回路）電阻是一個(gè)重要的參數(shù)，對(duì)電路的性能和安全起著關(guān)鍵的作用。 斷路器接觸（回路）電阻通常由三部分組成：接觸電阻、連接電阻和接線電阻。 1. 接觸電阻：指的是斷路器開(kāi)斷和閉合接觸器間的電阻。這種電阻主要由兩
2023-12-19 15:05:04445 ，「美能光伏」生產(chǎn)了美能TLM接觸電阻測(cè)試儀，該設(shè)備能做到準(zhǔn)確表征與快速檢測(cè)，并通過(guò)圖像化顯示進(jìn)行客觀的接觸電阻性能演繹。電池廠商可根據(jù)得到的性能參數(shù)對(duì)已經(jīng)結(jié)束擴(kuò)散、
2023-12-20 08:33:13206 產(chǎn)結(jié)束后電阻率在理想的閾值內(nèi)，并正常投入使用。為此，「美能光伏」生產(chǎn)了美能TLM接觸電阻測(cè)試儀，該設(shè)備憑借快速、靈活、科學(xué)、精準(zhǔn)以及檢測(cè)效率而受到廣泛青睞。光伏企業(yè)
2023-12-24 08:32:54204 在太陽(yáng)能電池電極優(yōu)化中，接觸電阻是需要考量的一個(gè)重要因素。接觸電阻是衡量金屬與半導(dǎo)體歐姆接觸質(zhì)量的關(guān)鍵參數(shù)，通過(guò)對(duì)接觸電阻的研究計(jì)算可以反映擴(kuò)散、電極制作和燒結(jié)等工藝中存在的問(wèn)題。美能「TLM接觸電阻
2024-01-14 08:32:42246 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 器主觸頭接觸電阻。接觸器是一種電氣開(kāi)關(guān)設(shè)備，用于控制電路的通斷。在接觸器中，主觸頭是負(fù)責(zé)開(kāi)閉電路的關(guān)鍵部件，它與電路中的導(dǎo)體進(jìn)行接觸。主觸頭的接觸面積和接觸質(zhì)量直接影響到電流的傳導(dǎo)效果。接觸電阻是指電流通過(guò)接觸部位時(shí)產(chǎn)
2024-02-04 16:51:01482
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