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電子發(fā)燒友網(wǎng)>控制/MCU>瑞薩推出一款汽車測(cè)試芯片 28納米MCU內(nèi)置自測(cè)試功能增強(qiáng)

瑞薩推出一款汽車測(cè)試芯片 28納米MCU內(nèi)置自測(cè)試功能增強(qiáng)

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2014-03-17 19:25:29

64F3672解密

` 本帖最后由 maite 于 2015-2-28 23:38 編輯 高價(jià)尋芯片解密QQ:195607629`
2015-02-09 15:45:11

英特爾將在2014年推出14納米處理器芯片

Bridge的處理器。這種處理器使用3D(三閘)晶體管?! at Bliemer還證實(shí)稱,英特爾的Tick-Tock(工藝年-構(gòu)架年)戰(zhàn)略正在按計(jì)劃進(jìn)行。這意味著第一款采用14納米技術(shù)的處理器將在
2011-12-05 10:49:55

請(qǐng)大家推薦一款模擬輸入,經(jīng)過(guò)隔離后模擬輸出的ADI芯片

我最近需要做個(gè)項(xiàng)目,里面由于采樣端和MCU控制端不是共地,所以需要一款采樣芯片具有隔離作用,能把采樣端采樣后的信號(hào)經(jīng)過(guò)隔離后再將采樣的信號(hào)發(fā)送給MCU,目前我在百度找到一款ADUM1411,但不
2018-09-25 11:24:34

請(qǐng)問(wèn)芯片里面有DMA 嗎?

這個(gè) 芯片里面有DMA 嗎?有的話我在代碼生成的配置項(xiàng)里面沒(méi)有看到啊
2018-07-23 00:49:51

請(qǐng)問(wèn)eCan 自測(cè)試模式下可以產(chǎn)生中斷嗎?

本帖最后由 只耳朵怪 于 2018-6-14 10:25 編輯 eCan 自測(cè)試模式下可以產(chǎn)生中斷嗎? F2812
2018-06-14 01:20:48

運(yùn)算放大器測(cè)試基礎(chǔ)之自測(cè)試電路與雙運(yùn)算放大器測(cè)試電路配置

IB+ 的測(cè)試電路。記住,輸入偏置電流測(cè)試最容易引起振蕩。進(jìn)行測(cè)試時(shí),定要直觀察環(huán)路輸出。圖 4.IB+ 測(cè)量電路配置使用一款雙放大器環(huán)路和各種電容器。 圖 5 是采用自測(cè)試電容法測(cè)量正輸入偏置電流
2018-09-07 11:04:41

電工技術(shù)(電工學(xué)I)典型題解析及自測(cè)試

電工技術(shù)(電工學(xué)I)典型題解析及自測(cè)試題是根據(jù)國(guó)家教育部(前國(guó)家教委)1995年修訂的“高等工業(yè)學(xué)校電工技術(shù)(電工學(xué)Ⅰ)課程教學(xué)基本要求“編寫的學(xué)習(xí)指導(dǎo)書(shū),主要內(nèi)容是
2008-09-20 21:46:120

用內(nèi)建自測(cè)試(BIST)方法測(cè)試IP核

        近幾年基于預(yù)定制模塊IP(Intellectual Property)核的SoC(片上系統(tǒng))技術(shù)得到快速發(fā)展,各種功能的IP 核可以集成在一塊芯片上,從而使得SoC 的測(cè)試、IP 核的
2009-09-09 08:33:4124

嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試的一種新型應(yīng)用

嵌入式存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試的一種新型應(yīng)用孫華義 鄭學(xué)仁 閭曉晨王頌輝吳焯焰 華南理工大學(xué)微電子研究所廣州 510640摘要:當(dāng)今,嵌入式存儲(chǔ)器在SoC 芯片面積中所占的比例越來(lái)
2009-12-20 09:26:1138

高速互連自測(cè)試技術(shù)的原理與實(shí)現(xiàn)

芯片間的互連速率已經(jīng)達(dá)到GHz量級(jí),相比較于低速互連,高速互連的測(cè)試遇到了新的挑戰(zhàn)。本文探討了高速互連測(cè)試的難點(diǎn),傳統(tǒng)互連測(cè)試方法的不足,進(jìn)而介紹了互連內(nèi)建自測(cè)試(I
2010-07-31 17:00:1615

Flash存儲(chǔ)器的內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)

內(nèi)建自測(cè)試是一種有效的測(cè)試存儲(chǔ)器的方法。分析了NOR型flash存儲(chǔ)器的故障模型和測(cè)試存儲(chǔ)器的測(cè)試算法,在此基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了flash存儲(chǔ)器的內(nèi)建自測(cè)試控制器??刂破鞑捎昧艘环N23
2010-07-31 17:08:5435

基于BIST的編譯碼器IP核測(cè)試

介紹了用于IP核測(cè)試的內(nèi)建自測(cè)試方法(BIST)和面向測(cè)試的IP核設(shè)計(jì)方法,指出基于IP核的系統(tǒng)芯片(SOC) 的測(cè)試、驗(yàn)證以及相關(guān)性測(cè)試具有較大難度,傳統(tǒng)的測(cè)試和驗(yàn)證方法均難以滿足
2010-12-13 17:09:1110

±50g自測(cè)試電路圖

±50g自測(cè)試電路圖
2009-07-03 12:03:06405

NAC-201具有自測(cè)試的電路圖

NAC-201具有自測(cè)試的電路圖
2009-07-03 13:09:10399

NAC-206具有自測(cè)試的電路圖

NAC-206具有自測(cè)試的電路圖
2009-07-03 13:09:35473

板級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)

  1.引言   在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)、國(guó)防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷,即要求電路具有自測(cè)試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測(cè)試功能
2010-11-17 10:34:481075

低功耗測(cè)試矢量生成技術(shù)的研究

在集成電路內(nèi)建自測(cè)試的過(guò)程中,電路的測(cè)試功耗通常顯著高于正常模式產(chǎn)生的功耗,因此低功耗內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)已成為當(dāng)前的一個(gè)研究熱點(diǎn)。為了減少被測(cè)電路內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的開(kāi)關(guān)翻轉(zhuǎn)活
2012-02-01 14:00:3621

TSMC 28納米Cortex-A9測(cè)試芯片超越3GHz主頻

TSMC今(3)日宣布,采用28納米高效能工藝生產(chǎn)的ARM? Cortex-A9雙核心處理器測(cè)試芯片在常態(tài)下的處理速度高達(dá)3.1GHz。
2012-05-04 08:54:331910

一種基于包的邏輯內(nèi)置自測(cè)試電路設(shè)計(jì)方法

一種基于包的邏輯內(nèi)置自測(cè)試電路設(shè)計(jì)方法
2017-02-07 16:14:5612

TMS570LS系列微控制器配置與可編程內(nèi)置自測(cè)試的概述

TMS570LS系列微控制器與可編程內(nèi)置自測(cè)試(pbist)實(shí)現(xiàn)建筑。的pbist架構(gòu)提供了一種存儲(chǔ)器BIST引擎不同的覆蓋水平在許多嵌入式內(nèi)存實(shí)例中。TMS570LS系列微控制器可分為兩類:130
2018-04-16 16:03:3812

VLSI測(cè)試與可測(cè)試性設(shè)計(jì)的學(xué)習(xí)課件資料合集

VLSI測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論, 可測(cè)試性設(shè)計(jì), 邏輯與故障模擬,測(cè)試生成,邏輯自測(cè)試,測(cè)試壓縮,邏輯電路故障診斷,存儲(chǔ)器測(cè)試與BIST,存儲(chǔ)器診斷與BISR,邊界掃描與SOC測(cè)試,納米電路測(cè)試技術(shù),復(fù)習(xí)及習(xí)題
2020-10-09 08:00:001

關(guān)于芯片設(shè)計(jì)的前端設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測(cè)試。和MBIST同理,在關(guān)鍵邏輯上加上自測(cè)試電路,看看邏輯cell有沒(méi)有工作正常。BIST總歸會(huì)在芯片里加入自測(cè)試邏輯,都是成本。
2022-08-29 15:33:302169

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測(cè)試庫(kù)用戶指南

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測(cè)試庫(kù)用戶指南
2022-11-22 08:21:450

汽車功能安全芯片測(cè)試

汽車功能安全芯片測(cè)試? 汽車功能安全芯片測(cè)試是保障汽車安全性能的重要環(huán)節(jié),也是汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車智能化技術(shù)的不斷進(jìn)步,車輛上搭載的各種智能功能也越來(lái)越多,這些功能倚賴于安全芯片來(lái)保障
2023-11-21 16:10:511066

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