DFT:數(shù)字電路(fpga/asic)設(shè)計(jì)入門之可測(cè)試設(shè)計(jì)與可測(cè)性分析,離散傅里葉變換,(DFT)Direct Fouriet Transformer
可測(cè)試性技術(shù)（Design For Testability-
2010-06-07 11:00:48
29035 在本篇白皮書中，我們介紹了一個(gè)典型設(shè)計(jì)的 DFT 組件，并提出了多種可大幅改善 DFT 項(xiàng)目進(jìn)度的智能 DFT 方法。我們展示了如何將結(jié)構(gòu)化 DFT 和即插即用原則用于 DFT 基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，來(lái)支持與其他設(shè)計(jì)開發(fā)工作相似的并行 DFT 開發(fā)和集成。
2022-11-30 10:15:00392 TX-6000-DFT-287 - Temperature Compensated Crystal Oscillator - Vectron International, Inc
1970-01-01 08:00:00
DFT是確保芯片在制造過(guò)程中具有可測(cè)試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時(shí)， 不會(huì)破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。DFT不友好的ECO會(huì)對(duì)芯片的測(cè)試和調(diào)試帶來(lái)很大的困難，可能導(dǎo)致芯片測(cè)試效率降低甚至無(wú)法測(cè)試。
2023-05-05 15:06:37674 
DFT是確保芯片在制造過(guò)程中具有可測(cè)試性的一種技術(shù)。DFT友好的ECO是指在進(jìn)行ECO時(shí)， 不會(huì)破壞芯片的DFT功能或降低DFT覆蓋率的設(shè)計(jì)方法。
2023-03-06 14:47:07983 fft和dft的區(qū)別聯(lián)系 快速傅里葉變換（FFT）和離散傅里葉變換（DFT）是信號(hào)處理和數(shù)學(xué)計(jì)算領(lǐng)域中最常見的技術(shù)之一。它們都是用于將離散信號(hào)從時(shí)域轉(zhuǎn)換到頻域的方法，而在此轉(zhuǎn)換過(guò)程中，它們都利用傅里
2023-09-07 16:43:53694 第3章--離散傅里葉變換(DFT)
2016-12-28 14:23:30
2 首先給大家提供DFT和FFT的運(yùn)算量的教程，內(nèi)容有直接用DFT計(jì)算運(yùn)算量與用FFT計(jì)算的運(yùn)算量比較和多種DFT算法(時(shí)間抽取算法DIT算法，頻率抽取算法DIF算法等.
2011-09-08 00:01:4871 DFT在數(shù)字信號(hào)處理中有很重要的作用，如頻譜分析、FIR DF的實(shí)現(xiàn)、線性卷積等。一個(gè)重要的原因是DFT有高效算法。 為了了解高效算法的重要以及實(shí)現(xiàn)高效算法的思路，先介紹DFT的運(yùn)算特
2011-09-07 23:59:5557 簡(jiǎn) 介：這學(xué)期的信號(hào)與系統(tǒng)進(jìn)展到第五章，拉普拉斯變換與 z 變換。前幾天看到一篇博文中對(duì)于無(wú)限電阻網(wǎng)絡(luò)求解相鄰節(jié)點(diǎn)阻抗中使用了離散傅里葉變換 (DFT) 的方法比較新穎。分析了DFT在其中僅僅是起到
2022-08-16 16:26:171477 DFT性質(zhì)一覽表
2009-07-25 11:41:033822 
相信很多ICer們?cè)贚ight芯片的過(guò)程中無(wú)論前后端都聽過(guò)DFT設(shè)計(jì)測(cè)試，DFT全稱Design for Test(即可靠性設(shè)計(jì))，眾所周知，測(cè)試的目的是為了保證芯片成品的質(zhì)量以及功能邏輯的可靠性的必須 措施。
2023-03-06 14:45:101656 英諾達(dá)發(fā)布了自主研發(fā)的靜態(tài)驗(yàn)證EDA工具EnAltius?昂屹? DFT Checker，該工具可以在設(shè)計(jì)的早期階段發(fā)現(xiàn)與DFT相關(guān)的問(wèn)題或設(shè)計(jì)缺陷。
2023-09-13 09:05:18497 當(dāng)今片上系統(tǒng)的設(shè)計(jì)復(fù)雜性日益增加，可能導(dǎo)致長(zhǎng)達(dá)數(shù)小時(shí)、數(shù)天甚至數(shù)周的可測(cè)試性 （DFT） 仿真設(shè)計(jì)。由于這些往往發(fā)生在專用集成電路（ASIC）項(xiàng)目結(jié)束時(shí)，當(dāng)工程變更單（ECO）強(qiáng)制重新運(yùn)行這些長(zhǎng)時(shí)間
2023-04-20 10:21:24767 
應(yīng)用離散傅里葉變換（DFT），分析離散信號(hào)x［k］的頻譜。深刻理解DFT分析離散信號(hào)頻譜的原理，掌握改善分析過(guò)程中產(chǎn)生的誤差的方法。
2019-08-06 17:16:5511 隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）設(shè)計(jì)已成為現(xiàn)代電子設(shè)備中的主流。在SoC設(shè)計(jì)中，可測(cè)試性設(shè)計(jì)（DFT）已成為不可或缺的環(huán)節(jié)。DFT旨在提高芯片測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性，確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
2023-09-02 09:50:10737 基于滑動(dòng)DFT算法推導(dǎo)出一種改進(jìn)的周期圖功率譜估計(jì)方法，并在軟件系統(tǒng)界面中應(yīng)用。根據(jù)傳統(tǒng)的功率譜估計(jì)方法和滑動(dòng)DFT算法推導(dǎo)出改進(jìn)的功率譜估計(jì)算法，通過(guò)滑動(dòng)DFT算法計(jì)算出
2011-09-09 11:02:3235 用元素和測(cè)試點(diǎn)補(bǔ)充您的操作設(shè)計(jì)以促進(jìn)電路板的功能測(cè)試被稱為可測(cè)試性（ DFT ）設(shè)計(jì)。 DFT 與制造設(shè)計(jì)（ DFM ）不應(yīng)混淆，盡管兩者都是基于 CM 設(shè)備和過(guò)程能力的設(shè)計(jì)人員活動(dòng)。 DFM
2020-10-12 20:42:173467 今天這期小編將繼續(xù)與大家一起學(xué)習(xí)DFT的相關(guān)知識(shí)和流程代碼，在開始之前，先解決一下上期DFT學(xué)習(xí)的章節(jié)最后留下的問(wèn)題—DFT工程師在收斂時(shí)序timing的時(shí)候經(jīng)常遇到的hold的問(wèn)題，即不同時(shí)鐘域的兩個(gè)SDFF(掃描單元的SI端hold違例問(wèn)題。
2023-04-16 11:34:592407 DFT 可以降低通過(guò)問(wèn)題器件的風(fēng)險(xiǎn)，如果最終在實(shí)際應(yīng)用中才發(fā)現(xiàn)器件有缺陷，所產(chǎn)生的成本將遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于在制造階段發(fā)現(xiàn)的成本。它還能避免剔除無(wú)缺陷器件，從而提高良率。插入 DFT 亦能縮短與測(cè)試開發(fā)相關(guān)的時(shí)間，并減少測(cè)試裝配好的芯片所需的時(shí)間。
2019-09-16 14:31:511490 
為了提高快速移動(dòng)OFDM系統(tǒng)的信道估計(jì)的精度，進(jìn)一步抑制載波間干擾（ici)，本文提出了一種基擴(kuò)展模型（BEM）聯(lián)合反饋分組DFT的信道估計(jì)算法（BEM+ DFT）。首先，利用BEM算法估計(jì)出快速
2017-12-27 11:52:433 循環(huán)卷積DFT的優(yōu)化算法與仿真_韓芳
2017-03-04 18:08:580 在前端設(shè)計(jì)和功能驗(yàn)證之間做對(duì)比的情況是很常見的，但隨著IC設(shè)計(jì)業(yè)的發(fā)展，很多初入行的ICer對(duì)其他崗位之間的異同點(diǎn)也很好奇。比如驗(yàn)證和DFT。
2022-12-01 10:09:55946 在芯片做功能ECO時(shí)，DFT部分的邏輯常常被破壞，這是由于正常工作模式下修改設(shè)計(jì)的原因。
2023-03-06 09:15:18746 通過(guò)此視頻可快速瀏覽 PADS DFT 審核的一些主要功能、優(yōu)點(diǎn)和易用性。在設(shè)計(jì)流程的早期使用 PADS DFT 審核可大幅降低 PCB 的批量投產(chǎn)時(shí)間，確保 100% 的測(cè)試點(diǎn)覆蓋和制造前所有網(wǎng)絡(luò)的可測(cè)試性。
2019-05-21 08:06:002694 如何對(duì)一個(gè)時(shí)域信號(hào)（比如ADC輸出、一個(gè)采樣保持電路的輸出）做頻域DFT線性度分析？
2023-05-23 17:17:13595 
DFT的計(jì)算量
離散傅里葉變換在實(shí)際應(yīng)用中是非常重要的，利用它可以計(jì)算信號(hào)的頻譜、功率譜和線性卷積等。但是，如果使用定義式(
2008-10-30 12:59:194732 
PADS 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 審核可以縮短上市時(shí)間。了解如何盡早在設(shè)計(jì)流程中利用 PCB 測(cè)試點(diǎn)和 DFT 審核優(yōu)化設(shè)計(jì)。
2019-05-14 06:26:002741 
測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）給整個(gè)測(cè)試領(lǐng)域開拓了一條切實(shí)可行的途徑，目前國(guó)際上大中型IC設(shè)計(jì)公司基本上都采用了可測(cè)性設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)流程，DFT已經(jīng)成為芯片設(shè)計(jì)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
2020-07-06 11:38:478847 
該文利用參數(shù)估計(jì)方差最小為優(yōu)化準(zhǔn)則，計(jì)算出多頻正弦信號(hào)分段WDFT(Windowed-DFT)相位加權(quán)平均相位估計(jì)算法的最優(yōu)加權(quán)系數(shù)，并給出算法相位估計(jì)的方差公式。另外，該文對(duì)DFT“噪
2009-11-09 14:47:1715 現(xiàn)今流行的可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT：Design For Testability)為保證芯片的良品率擔(dān)任著越來(lái)越重要的角色。
2012-04-20 09:39:056090 
第2章-離散傅里葉變換(DFT)及其快速算法(FFT)
2016-12-28 14:23:306 OFDM的調(diào)制技術(shù)及DFT實(shí)現(xiàn):正交頻分復(fù)用(OFDM)技術(shù)的應(yīng)用已有近40 年的歷史，但直到70 年代，人們采用了離散傅立葉變換來(lái)實(shí)現(xiàn)多個(gè)載波的調(diào)制，簡(jiǎn)化了系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，使得OFDM技術(shù)更趨
2009-06-15 07:49:3030 離散傅里葉變換,(DFT)Direct Fouriet Transformer(PPT課件)
一、序列分類對(duì)一個(gè)序列長(zhǎng)度未加以任何限制，則一個(gè)序列可分為： 無(wú)限長(zhǎng)序列：n=-∞~∞或n=0~∞或n=-
2009-07-25 11:38:17117 在本文中，我們檢查了掃描壓縮確實(shí)有助于減少 ASIC 設(shè)計(jì)中的測(cè)試時(shí)間 （DFT），但掃描通道減少也是一種有助于頂層測(cè)試時(shí)間的方法。
2022-06-02 14:25:091209 
滑動(dòng)
DFT的推導(dǎo)是相當(dāng)簡(jiǎn)單的，并且和
DFT完全等價(jià)。也就是說(shuō)，滑動(dòng)
DFT算法相比傳統(tǒng)
DFT或FFT算法沒有信息丟失或失真。下面有完整的推導(dǎo)過(guò)程，沒有興趣的讀者可以跳過(guò)這一節(jié)，因?yàn)樗菀鬃屓讼胨?/div>
2018-02-19 01:01:009486 
Ad-hoc DFT 包括一套提倡“良好”設(shè)計(jì)規(guī)范的規(guī)則，旨在簡(jiǎn)化和加速測(cè)試流程。例如，提供置位和復(fù)位信號(hào)，使得所有觸發(fā)器均可初始化；避免引起振蕩的異步邏輯反饋；邏輯門設(shè)計(jì)應(yīng)注意避免扇入數(shù)過(guò)大（扇入
2018-04-12 14:29:002558 
數(shù)字信號(hào)處理第3章-離散傅里葉變換(DFT)
2016-12-28 14:23:300 數(shù)字信號(hào)處理(第三章-離散傅里葉變換DFT)
2016-12-28 14:23:300 對(duì)于過(guò)渡族金屬元素主要是3d族，當(dāng)然也包括4d，5d族，和稀土元素，主要是鑭系；這些元素形成的合金或者化合物中，由于存在d電子或f電子，而這兩種電子都是強(qiáng)關(guān)聯(lián)電子，在某些時(shí)候，傳統(tǒng)的DFT沒法描述
2022-08-17 14:54:08988 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供ON Semiconductor(ti)NLSX4401DFT2G相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊(cè)，更有NLSX4401DFT2G的引腳圖、接線圖、封裝手冊(cè)、中文資料、英文資料，NLSX4401DFT2G真值表，NLSX4401DFT2G管腳等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2019-08-03 04:02:19
一種基于改進(jìn)DFT算法的相位差測(cè)量研究_陳孔陽(yáng)
2017-03-19 11:46:131 在芯片做功能ECO時(shí)，DFT部分的邏輯常常被破壞，這是由于正常工作模式下修改設(shè)計(jì)的原因。
2023-02-22 11:37:12284 數(shù)字信號(hào)處理[第三章-離散傅里葉變換(DFT)]
2016-12-28 14:23:301 數(shù)字信號(hào)處理--第3章--離散傅里葉變換(DFT)
2016-12-28 14:23:300 摘要：本文簡(jiǎn)要地論述了FFT和多相位DFT濾波器組在響應(yīng)方面的差異。一般而言，多相位DFT(甚至包括任何濾波器組，比如PFT)在穩(wěn)態(tài)條件下有著很好的相鄰信道抑制性能，而瞬態(tài)響應(yīng)卻很糟糕。這符合了濾波器沖激響應(yīng)結(jié)論。
2006-03-11 13:17:031898 
均衡技術(shù)是在接收端消除無(wú)線多徑衰落信道引起的碼間干擾的重要手段。介紹了一種利用單點(diǎn)DFT運(yùn)算進(jìn)行均衡的算法，討論了在對(duì)該算法進(jìn)行定點(diǎn)仿真中遇到的幾個(gè)問(wèn)題，最后給出了浮
2011-09-16 14:36:2835 近日，西門子旗下業(yè)務(wù)Mentor宣布推出一種創(chuàng)新的可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 自動(dòng)化方法 — Tessent Connect，可提供意圖驅(qū)動(dòng)的分層測(cè)試實(shí)現(xiàn)。與傳統(tǒng)的 DFT 方法相比，該方法可幫助 IC 設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)以更少的資源實(shí)現(xiàn)更快的制造測(cè)試質(zhì)量目標(biāo)。
2019-12-04 15:54:493321 的計(jì)算能力和相當(dāng)多的時(shí)間。分層可測(cè)試性設(shè)計(jì)通過(guò)在區(qū)塊或內(nèi)核上完成了 DFT 插入和圖案生成解決了這個(gè)問(wèn)題。
2018-01-31 07:06:0910501 
NC_OFDM系統(tǒng)基于DFT_DCB降PAPR研究_朱志成
2017-02-28 20:38:200 大家好，又到了每日學(xué)習(xí)的時(shí)間了，今天咱們來(lái)聊一聊數(shù)字信號(hào)處理中DFT、DTFT和DFS的關(guān)系，咱們通過(guò)幾幅圖來(lái)對(duì)比，探討一下哦。 很多同學(xué)學(xué)習(xí)了數(shù)字信號(hào)處理之后，被里面的幾個(gè)名詞搞的暈頭轉(zhuǎn)向，比如
2018-06-11 15:15:1110962 
DFT(Discrete Fourier Transform)代表著離散傅里葉變換，是作為有限長(zhǎng)序列的在數(shù)字信號(hào)處理中被廣泛使用的一種頻域表示方法。
2023-08-09 11:26:36565 
可測(cè)試性設(shè)計(jì) （DFT） 在市場(chǎng)上所有的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化 （EDA） 工具中是最不被重視的，縱然在設(shè)計(jì)階段提高芯片的可測(cè)試性將會(huì)大幅縮減高昂的測(cè)試成本，也是如此。最近的分析數(shù)據(jù)表明，在制造完成后測(cè)試
2017-11-28 11:28:380 香山處理器的第二代微架構(gòu)，南湖微架構(gòu)，引入了L3 Cache，可配置多核形態(tài)，我們完成流片的是雙核版本的南湖。較第一代雁棲湖，設(shè)計(jì)規(guī)模在大幅膨脹，主頻也從1.3GHz提升到2GHz。規(guī)?；髮?duì)DFT設(shè)計(jì)及物理實(shí)現(xiàn)都造成新的挑戰(zhàn)，我們的設(shè)計(jì)方法學(xué)也需要與時(shí)俱進(jìn)。
2022-12-14 10:51:16921 本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是數(shù)字信號(hào)處理教程之DFT和FFT處理的學(xué)習(xí)課件免費(fèi)下載包括了：1.離散傅里葉變換，2.與傅里葉變換的關(guān)系，3.與傅里葉級(jí)數(shù)的關(guān)系，4.DFT 窗效應(yīng)，6.快速傅里葉變換。
2019-11-13 17:08:1612 DFT 偽碼捕獲算法在進(jìn)行偽碼搜索的同時(shí)估計(jì)多普勒頻偏，為了滿足捕獲精度要求，需要增加DFT 點(diǎn)數(shù)，但隨著運(yùn)算點(diǎn)數(shù)的增加硬件實(shí)現(xiàn)難度成倍增長(zhǎng)。本文提出一種基于FPGA 的在不
2009-09-22 09:59:2112 高級(jí)測(cè)試設(shè)計(jì) （DFT） 技術(shù)通過(guò)提高順序翻牌的可控性和可觀察性，提供高效的測(cè)試解決方案，以應(yīng)對(duì)更高測(cè)試成本、更高功耗、測(cè)試面積和較低幾何尺寸下的引腳數(shù)。這反過(guò)來(lái)又提高了SoC的良率，可靠性和可測(cè)試性是當(dāng)今ASIC世界的重要因素。
2022-11-23 14:53:53529 
中，被授予該獎(jiǎng)項(xiàng)的三大產(chǎn)品之一，它幫助 Mentor 搶占了 DFT 市場(chǎng)的老大位置。我們對(duì)創(chuàng)新大小的定義，不僅僅體現(xiàn)在它對(duì)產(chǎn)品本身的影響，更要能體現(xiàn)在該產(chǎn)品帶來(lái)的商業(yè)價(jià)值和市場(chǎng)份額上。
2019-10-11 15:59:302690 的電性參數(shù)發(fā)生偏移，掃描鏈測(cè)試失敗。這對(duì)DFT（Design for Test）以及ATPCJ（Automatic Test Pattern Ceneration）提出了更高的挑戰(zhàn)。
2017-11-11 16:20:384 ASIC設(shè)計(jì)的平均門數(shù)不斷增加，這迫使設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將20%到50%的開發(fā)工作花費(fèi)在與測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題上，以達(dá)到良好的測(cè)試覆蓋率。盡管遵循可測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)規(guī)則被認(rèn)為是好做法，但對(duì)嵌入式R
2011-05-28 11:56:591308 
電網(wǎng)中的主要設(shè)備都是感性負(fù)載,這就要求電源必須提供無(wú)功功率。本文論述了一種DSP 控制的新型固態(tài)無(wú)功功率補(bǔ)償器,它基于離散傅立葉變換(DFT)的諧波檢測(cè)方法。該系統(tǒng)采用自
2009-08-15 14:22:5034 已全部加載完成
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