廣電計量文章

• 廣電計量技術(shù)分享 | ISO26262關(guān)于驗證的要求2023-02-23 15:38

  

  ISO26262對驗證的定義是檢查對象是否滿足特定的要求，驗證的形式包括了驗證評審、走查，檢查、驗證測試、模擬仿真、原型機驗證和分析。

  仿真 驗證 991瀏覽量

• 服務(wù)項目 | 無損檢測之超聲掃描顯微鏡檢查2023-02-15 09:57

  

  超聲掃描成像檢測是無損檢測領(lǐng)域的核心檢測手段之一,廣電計量無損檢測之超聲掃描顯微鏡檢查能夠?qū)Ω鞣N不同封裝尺寸及應(yīng)用領(lǐng)域的器件進行檢測分析.

  顯微鏡 檢測 3446瀏覽量

• 車規(guī)級 | ISO26262中對獨立安全要素（SEooC）的開發(fā)要求2023-02-10 09:28

  

  廣電計量對ISO26262中對獨立安全要素(SEooC)的開發(fā)要求展開專題研究.在開發(fā)SEooC時,設(shè)計者往往無法從用戶方得到明確的安全要求.廣電計量將MCU作為SEooC的相應(yīng)的假設(shè)要進行逐項分析.

  ISO ISO26262 mcu 2839瀏覽量

• 廣電計量 | 汽車功能安全軟件安全測試方法2023-02-06 09:39

  

  廣電計量汽車安全性能測試根據(jù)軟件開發(fā)V模型，軟件安全詳細設(shè)計完成之后，需要進行相應(yīng)的軟件驗證，集成及測試等內(nèi)容，即V模型右邊內(nèi)容，具體包括：軟件單元測試，軟件集成和測試，軟件安全要求驗證。

  安全 汽車 測試 1232瀏覽量

• GRGTEST | 一文帶你了解半導(dǎo)體檢測與量測技術(shù)區(qū)別2023-01-31 09:26

  

  半導(dǎo)體行業(yè)高度全球化，大量國家/地區(qū)的企業(yè)在半導(dǎo)體生產(chǎn)的多個方面展開競爭，從半導(dǎo)體設(shè)計到制造，再到ATP(組裝、測試和封裝)。那么關(guān)于半導(dǎo)體檢測與量測技術(shù)區(qū)別，你了解多少呢？

  集成電路 半導(dǎo)體 檢測 量測 5438瀏覽量

• AEC-Q | 淺談激光雷達光電組件的車規(guī)可靠性認證2023-01-16 15:51

  

  基于激光雷達在汽車中的應(yīng)用場景和汽車自身的高可靠性要求，激光雷達及其組件要進入車用供應(yīng)鏈，必須通過嚴苛的可靠性驗證。AEC-Q102是公認、通用的光電半導(dǎo)體國際可靠性驗證標準，可為相關(guān)產(chǎn)品提供全面詳盡的驗證方案。

  激光雷達 車規(guī)級芯片 716瀏覽量

• 首批發(fā)布！廣電計量主編廣東計量協(xié)會兩項團體標準2023-01-10 10:34

  

  近日，廣東計量協(xié)會發(fā)布了兩項由廣電計量主編的團體標準T/GDAM001—2022《水利工程試驗檢測儀器設(shè)備拉脫法附著力測試儀校準》）和T/GDAM002—2022《水利工程試驗檢測儀器設(shè)備抗滑移系數(shù)檢測儀校準》。這兩項標準可有效保障測試儀技術(shù)指標，助力企業(yè)提高水利工程試驗檢測的可靠性，已于2022年12月30日正式實施。這也是廣東計量協(xié)會成立以來發(fā)布的首批團

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• 技術(shù)干貨 | 失效分析：制樣技術(shù)介紹（一）：離子研磨（CP）2023-01-10 10:28

  

  電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。本文重點介紹切片制樣技術(shù)常用到的先進輔助設(shè)備：離子研磨（CP）。

  芯片 失效分析 2500瀏覽量

• 車規(guī)級干貨 | ISO26262中對硬件安全性的定性和定量評估（上）2023-01-06 16:30

  

  ISO26262《道路車輛功能安全》國際標準是針對總重不超過3.5噸八座乘用車，以安全相關(guān)電子電氣系統(tǒng)的特點所制定的功能安全標準。ISO26262-5對如何評估硬件安全性是否符合相應(yīng)的ASIL等級（B級及以上）的方法進行了詳細規(guī)定。在對硬件整體架構(gòu)安全性進行評估時，需要對硬件整個拓撲結(jié)構(gòu)展開，分析各個元器件或子元器件層級（對MCU而言，為網(wǎng)表，布線）中的：a

  GU 電氣系統(tǒng) 1151瀏覽量

• 實例分析 | 焊點開裂失效原因分析2022-12-30 10:11

  

  本文以PCBA掉件缺陷的具體案例為例，通過對掉件區(qū)域的外部目檢、制樣鏡檢、SEM&EDS等手段，尋找出引起器件脫落的具體原因，幫助客戶進行工藝改進，減少不必要的成本耗損。

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