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GRGTEST | 電源模塊篩選項(xiàng)目之電性能檢測(cè)2024-10-18 14:33
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AI 芯片:算力功耗與安全并重,探尋功能安全新要求2024-10-15 14:38
人工智能安全第一!隨著人工智能(AI)技術(shù)的迅猛發(fā)展,AI芯片正逐漸成為推動(dòng)智能化應(yīng)用的重要引擎。它們被廣泛應(yīng)用于自動(dòng)駕駛、機(jī)器人、智能家居、醫(yī)療診斷等關(guān)鍵領(lǐng)域,賦能各類復(fù)雜計(jì)算任務(wù)。然而,AI芯片復(fù)雜的硬件架構(gòu)、算法依賴性以及高效處理大量數(shù)據(jù)的能力,既帶來(lái)了前所未有的性能提升,也帶來(lái)了潛在的功能安全挑戰(zhàn)。AI芯片集成了大規(guī)模并行計(jì)算單元,能夠?qū)崿F(xiàn)高效的深度 -
技術(shù)前沿 | 搭建數(shù)字孿生模型,開啟動(dòng)力電池服務(wù)新篇章2024-09-26 11:42
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干貨分享 | 關(guān)于空間輻射位移效應(yīng)的考核2024-09-26 11:40
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廣電計(jì)量|功率場(chǎng)效應(yīng)管過(guò)壓失效機(jī)理及典型特征分析2024-09-18 10:55
失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過(guò)電失效,分為過(guò)壓失效及過(guò)流失效的兩種失效模式。對(duì)于以功率器件為代表的EOS過(guò)電失效樣品,其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面積熔融,導(dǎo)致難以進(jìn)一步判定其失效模式。本文以常規(guī)MOS、IGBT場(chǎng)效應(yīng)管為例,從芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和明確過(guò)壓擊穿容易出現(xiàn)的失效位置及機(jī)理解釋。 -
新技術(shù)丨廣電計(jì)量成功開發(fā)系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)2024-09-11 11:01
系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)是電磁脈沖對(duì)系統(tǒng)內(nèi)部電子設(shè)備的影響和作用,這種效應(yīng)能夠通過(guò)各種途徑耦合到系統(tǒng)內(nèi)部,對(duì)電子設(shè)備造成威脅。為提升研究系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)及其防護(hù)技術(shù)效率,增強(qiáng)各行業(yè)系統(tǒng)抗電磁脈沖能力,廣電計(jì)量電磁安全工程研究所成立科研專項(xiàng)組開展系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)研究。 -
Robotaxi發(fā)展再加速,智能駕駛傳感領(lǐng)域檢測(cè)迎來(lái)全新挑戰(zhàn)2024-08-23 11:01
高階智駕的發(fā)展是無(wú)人駕駛系統(tǒng)在技術(shù)層面落地的基石,而感知是智能駕駛的先決條件,車輛的傳感器需要通過(guò)嚴(yán)苛的可靠性驗(yàn)證,方可保障智能駕駛的行駛安全。本期“專家訪談”欄目,我們邀請(qǐng)到廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析事業(yè)部資深技術(shù)專家王河清博士,探討智能駕駛中傳感系統(tǒng)面臨的安全性挑戰(zhàn)以及如何助力提升系統(tǒng)及產(chǎn)品測(cè)試效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量等問(wèn)題。 -
技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性2024-08-13 09:37
人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語(yǔ)言處理和計(jì)算機(jī)視覺(jué)等AI應(yīng)用中,訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬(wàn)億,要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運(yùn)算,需要上萬(wàn)個(gè)GPU同時(shí)工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)于傳統(tǒng)銅纜而言是個(gè)巨大的挑戰(zhàn),因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光 -
新型儲(chǔ)能全產(chǎn)業(yè)鏈、全生命周期質(zhì)量提升解決方案2024-07-16 13:20
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車規(guī)級(jí) | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測(cè)試2024-07-05 10:22
在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過(guò)50%是因?yàn)闇囟冗^(guò)高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過(guò)高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢(shì),有限的空間承載的功率密度越來(lái)越大,對(duì)熱性能測(cè)試的研究成為了行業(yè)的熱門議題。因此,熱阻測(cè)試對(duì)功率器件試可靠性驗(yàn)證及對(duì)汽車電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。