0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

光纖端面3D干涉儀的單色光移相干涉測量法

中科院半導(dǎo)體所 ? 來源:睞芯科技LightSense ? 2024-12-18 09:23 ? 次閱讀

簡單介紹光纖端面3D干涉儀的單色光移相干涉測量法。

現(xiàn)在一般光纖端面3D干涉儀操作界面上,都有白光和單色光(比如紅光或其他顏色)的兩個選項。 白光干涉就是WLI(White Light Interferometry),單色光就是PSI(Phase-Shifting Interferometry)。單芯光纖凸起很小,不超過半波長,用單色光干涉PSI測量就夠了。MPO的光纖凸起太大,超過半波長,單色光干涉PSI會相位模糊,只好用白光干涉WLI了。 今天說說PSI。

基于邁克爾遜干涉儀的相移干涉術(shù)

對于干涉測量系統(tǒng),使用平面度為λ/20的光學(xué)平面作為參考鏡。通過參考鏡的壓電驅(qū)動線性平移臺實(shí)現(xiàn)了相移的高精度。在移相過程中,兩個干涉光束之間的參考相位差每偏移π/2。CCD相機(jī)記錄了不同相位差0、π/2、π、3π/2和2π下的五幀干涉圖。這些幀的每個圖像像素都被解釋為通過五步相移算法訪問干涉強(qiáng)度信息進(jìn)行相位計算,這反過來又與表面高度有關(guān)。專用干涉測量是通過兩個平坦度為λ/10和λ/4的光學(xué)平面的表面進(jìn)行測試的,這兩個光學(xué)平面用作測試表面。

PSI算法

已經(jīng)開發(fā)了許多不同的數(shù)據(jù)評估策略或算法。所有這些算法都要求在參考相位變化時記錄一系列干涉圖。然后,在每個測量點(diǎn)計算模2π的波陣面相位,作為在同一測量點(diǎn)測量的干涉圖強(qiáng)度的函數(shù)的反正切。然后通過“展開”相位以去除2π相位不連續(xù)性來獲得最終的波前圖。Hariharan等人介紹了對參考相移校準(zhǔn)誤差不敏感的PSI算法。他們使用干涉圖強(qiáng)度的五個測量值。在每個順序記錄的干涉圖之間的參考光束中引入90度的光學(xué)相移。由于這些現(xiàn)在是離散測量,時間依賴性已更改為相位階躍指數(shù)i。函數(shù)δ(t)現(xiàn)在具有五個離散值:δi=0、π/2、π、3π/2和2π,其中i=1、2、3、4和5。將這五個值中的每一個代入方程,

847ceace-ba03-11ef-8732-92fbcf53809c.png

得到描述五個測量的干涉圖強(qiáng)度模式的五個方程:

848b6f36-ba03-11ef-8732-92fbcf53809c.png

從這些方程中,可以得到相位差:

84977146-ba03-11ef-8732-92fbcf53809c.png

得到高度:

84aa32e0-ba03-11ef-8732-92fbcf53809c.png

PSI光學(xué)設(shè)置

如圖所示,用于記錄干涉圖的系統(tǒng)由傳統(tǒng)的邁克爾遜干涉儀組成。兩個臂中的一個,即用作參考鏡的平面度為λ/20的光學(xué)平面,安裝在壓電換能器(PZT)上,以引入相對相位差。另一只手臂配備了測試表面。該系統(tǒng)的光源是He-Ne激光器(l=632.8nm)。激光束被擴(kuò)展并準(zhǔn)直,形成平行光束。通過改變施加到PZT的電壓而改變的參考相位為0、π/2、π、3π/2和2π。

84bed498-ba03-11ef-8732-92fbcf53809c.png

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 3D
    3D
    +關(guān)注

    關(guān)注

    9

    文章

    2878

    瀏覽量

    107534
  • 測量
    +關(guān)注

    關(guān)注

    10

    文章

    4859

    瀏覽量

    111296
  • 干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    87

    瀏覽量

    10143

原文標(biāo)題:光纖端面3D干涉儀的原理之PSI

文章出處:【微信號:bdtdsj,微信公眾號:中科院半導(dǎo)體所】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    激光干涉儀是如何測量位移的?

    、質(zhì)量控制和自動化生產(chǎn)中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。激光干涉儀的基本原理是利用激光的干涉效應(yīng)進(jìn)行測量和分析。在國際上,有多種常用的激光干涉儀技術(shù),如邁克爾遜干涉
    的頭像 發(fā)表于 09-26 08:05 ?1705次閱讀
    激光<b class='flag-5'>干涉儀</b>是如何<b class='flag-5'>測量</b>位移的?

    天文光干涉儀

    的具有吸收的探測器平面放置在透鏡的焦平面處。 考慮恒星的測量。恒星由一個多色光光源模擬,它在一個小的角度范圍內(nèi)照射干涉儀,這對應(yīng)于它的角直徑。正常入射在兩個路徑P1和P2之間沒有光程差。然而,進(jìn)入到
    發(fā)表于 12-25 15:26

    馬赫澤德干涉儀

    摘要 干涉測量法是一項用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例,在非序列場追跡技術(shù)的幫助下,于 VirtualLab Fusi
    發(fā)表于 12-25 15:42

    干涉測量

    在VirtualLab Fusion中所實(shí)現(xiàn)的快速物理光學(xué)技術(shù)為著名的干涉儀的快速仿真提供了強(qiáng)有力的工具,從而使我們能夠研究干涉圖樣中的相干和色散效應(yīng)。 基于物理光學(xué)的VirtualLab
    發(fā)表于 12-26 10:15

    邁克耳孫干涉儀

    光束2,分別射向M2和M1,并被反射回到G1。由于兩束光是相干光,從而產(chǎn)生干涉。干涉儀中G2稱為補(bǔ)償板,是為了使光束2也同光束1一樣地三次通過玻璃板,以保證兩光束間的光程差不致過大(這對使用
    發(fā)表于 12-04 01:52

    馬赫澤德干涉儀

    摘要干涉測量法是一項用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例,在非序列場追跡技術(shù)的幫助下,于 VirtualLab Fusion
    發(fā)表于 03-20 10:25

    白光干涉儀可以測曲面粗糙度嗎?

    白光干涉儀又叫做非接觸式光學(xué)3D表面輪廓,是以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成用于樣品表面微觀形貌檢測的精密儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理,光
    發(fā)表于 05-23 13:58

    白光干涉儀只能測同質(zhì)材料嗎?

    特征進(jìn)行測量和分析,是一種常見的光學(xué)輪廓測量儀器。但是許多人對白光干涉儀的使用范圍和限制性存在疑問,本文將圍繞“白光干涉儀是否智能測量同質(zhì)材
    發(fā)表于 08-21 13:46

    白光干涉儀在半導(dǎo)體封裝中對彈坑的測量

    白光干涉儀廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工程實(shí)踐各個領(lǐng)域中。它作為一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器,在測量坑的形貌方面扮演著舉足輕重的角色。 白光干涉儀怎么
    發(fā)表于 11-06 14:27

    白光干涉儀測量原理、優(yōu)勢及應(yīng)用分析

    白光干涉儀目前在3D檢測領(lǐng)域是精度最高的測量儀器之一,在同等系統(tǒng)放大倍率下檢測精度和重復(fù)精度都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡,在一些納米級和亞納米級的超精密加工領(lǐng)域,除了白光干涉儀,
    的頭像 發(fā)表于 08-15 08:04 ?1.4w次閱讀

    白光干涉儀3D形貌測量

    白光干涉儀是一款在縱向分辨率上可實(shí)現(xiàn)0.1nm的分辨率和測量可靠性的光學(xué)測量儀器。采用的光學(xué)輪廓測量法可以非接觸式測量非平坦樣品,輕松
    的頭像 發(fā)表于 12-26 16:50 ?2291次閱讀
    白光<b class='flag-5'>干涉儀</b><b class='flag-5'>3D</b>形貌<b class='flag-5'>測量</b>圖

    白光干涉儀的原理和測量方法

    白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,非接觸測量樣品表面形貌的光學(xué)測量儀器,用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,用于測試各類表面并自動聚焦
    的頭像 發(fā)表于 05-15 14:34 ?4122次閱讀
    白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>的原理和<b class='flag-5'>測量</b>方法

    白光干涉儀(光學(xué)3D表面輪廓)能測什么?應(yīng)用案例介紹

    白光干涉儀是以白光干涉技術(shù)原理,對各種精密器件表面進(jìn)行納米級測量的光學(xué)3D表面輪廓測量儀,通過測量
    的頭像 發(fā)表于 06-16 11:53 ?2614次閱讀
    白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>(光學(xué)<b class='flag-5'>3D</b>表面輪廓<b class='flag-5'>儀</b>)能測什么?應(yīng)用案例介紹

    白光干涉儀3D形貌測量之美

    有著“納米眼”之稱的白光干涉儀,是一款在縱向分辨率上可實(shí)現(xiàn)0.1nm的分辨率和測量可靠性的光學(xué)測量儀器。白光干涉儀采用的光學(xué)輪廓測量法可以非
    發(fā)表于 02-03 10:54 ?1次下載

    白光干涉儀測量原理及干涉測量技術(shù)的應(yīng)用

    白光干涉儀利用干涉原理測光程差,測物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測量安全。基本原理:白光干涉儀是利用
    發(fā)表于 12-16 15:04 ?0次下載