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干涉儀
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光學(xué)測量
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白光干涉儀
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表面輪廓儀
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摘要
斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索
發(fā)表于 12-26 10:18
摘要
干涉測量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個(gè)典型示例,在非序列場追跡技術(shù)的幫助下,于 VirtualLab Fusi
發(fā)表于 12-25 15:42
白光干涉儀利用干涉原理測光程差,測物理量,具高精度。應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)加工、汽車零部件制造及科研等領(lǐng)域,雙重防撞保護(hù)保障測量安全?;驹恚?b class='flag-5'>白光
發(fā)表于 12-16 15:04
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。SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀正是為了滿足這一需求而設(shè)計(jì)的。產(chǎn)品特點(diǎn)SuperViewW系列光學(xué)
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隨著科技進(jìn)步,顯微測量儀器以滿足日益增長的微觀尺寸測量需求而不斷發(fā)展進(jìn)步。多種高精度測量儀器被用于微觀尺寸的測量,其中包括光學(xué)3D表面輪廓儀(白光
發(fā)表于 06-07 09:31
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顯微測量儀器被用于微觀尺寸的測量,其中包括光學(xué)3D表面輪廓儀(白光干涉儀)、共聚焦顯微鏡和臺階
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選擇適合特定應(yīng)用的技術(shù)時(shí),需要仔細(xì)考慮其特點(diǎn)和功能。白光干涉儀白光干涉儀是0.1nm縱向分辨率的光學(xué)3D
發(fā)表于 05-06 09:41
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光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉原理,以0.1nm分辨率精準(zhǔn)捕捉物體
發(fā)表于 02-19 13:47
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光學(xué)3D表面輪廓儀通過納米傳動(dòng)與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3
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3d光學(xué)輪廓儀通過利用白光的干涉和衍射現(xiàn)象,能夠?qū)ξ⑿〉?b class='flag-5'>表面高度差異進(jìn)行精確測量,并得出精準(zhǔn)的尺
發(fā)表于 12-29 09:28
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