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      天狼芯半導(dǎo)體上海車規(guī)級可靠性實(shí)驗(yàn)中心正式啟用！

      今日半導(dǎo)體 ? 來源：天狼芯半導(dǎo)體 ? 2024-03-01 10:09 ? 次閱讀

      深圳天狼芯半導(dǎo)體有限公司于2023年年底在上海市嘉定區(qū)設(shè)立了車規(guī)級可靠性實(shí)驗(yàn)中心，該實(shí)驗(yàn)中心是天狼芯半導(dǎo)體重點(diǎn)打造和建設(shè)的功率器件開放實(shí)驗(yàn)平臺，主營業(yè)務(wù)為車規(guī)級功率器件（MOSFET, SiC, GaN, IGBT單管+模塊）的可靠性實(shí)驗(yàn)和驗(yàn)證，致力于為天狼芯的客戶提供可靠性測試和認(rèn)證報告。

      實(shí)驗(yàn)室總面積約為七百平方米，一期投入超過一千萬元，實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)由約十位工程師和實(shí)驗(yàn)員組成，配備了國內(nèi)及國外先進(jìn)高精度的可靠性測試設(shè)備，實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目完全按照AEC-Q101的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)來執(zhí)行，第一階段的十五個實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目已全面開始運(yùn)作。

      目前可運(yùn)行項(xiàng)目包括：高濕減速壽命試驗(yàn)Highly Accelerate Atress Test、高溫高濕反向偏High Humidity High Temp. Reverse Bias、高壓蒸煮Autoclave、溫度循環(huán)TemperatureCycling、高溫儲存HighTemperatureStorage、高溫高濕試驗(yàn)TemperatureHumidityTest、間歇性使用壽命IntermittentOperationalLife、高溫反偏HighTemperatureReverseBias、高溫柵偏HighTemperatureGateBias、掃描聲學(xué)顯微鏡(分層掃描）ScanningAcousticMicroscope等。


      審核編輯：劉清
      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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      原文標(biāo)題：正式啟用！天狼芯半導(dǎo)體上海車規(guī)級可靠性實(shí)驗(yàn)中心

      文章出處：【微信號：today_semicon，微信公眾號：今日半導(dǎo)體】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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