精智達：DRAM晶圓老化測試設(shè)備進入驗證階段

1月2日，精智達發(fā)布最新研究報告，披露其半導(dǎo)體存儲器件測試設(shè)備的研發(fā)進展順利。DRAM晶圓老化測試設(shè)備已完成開發(fā)與測試，步入驗證階段； DRAM測試機仍處研發(fā)環(huán)節(jié)。

該公司聲稱，在半導(dǎo)體業(yè)務(wù)上，探針卡業(yè)務(wù)實現(xiàn)重大突破，開始量產(chǎn)，前景看好。

至于面板業(yè)務(wù)，公司正積極涉足MicroLED、Micro-OLED等微型顯示領(lǐng)域，已先后獲得數(shù)個Micro-LED檢測設(shè)備訂單。同時，關(guān)于微型顯示領(lǐng)域的技術(shù)開發(fā)和設(shè)備驗證工作正在穩(wěn)步展開。

談及公司近年來的對外投資行動，精智達強調(diào)，標的公司主營業(yè)務(wù)與公司業(yè)務(wù)具備高度協(xié)同效應(yīng)，有助于加速推動測試設(shè)備的核心信號處理引擎芯片國產(chǎn)化進程，同時 豐富產(chǎn)業(yè)鏈布局，提升在ATE設(shè)備市場中的核心競爭實力和供應(yīng)鏈可靠性。

更為詳細地說，標的方提供存儲芯片測試開發(fā)服務(wù)，技術(shù)水準領(lǐng)先全球，所研發(fā)出的高性能數(shù)字混合信號測試芯片涵蓋DDR5等產(chǎn)品，并支持9Gbps傳輸協(xié)議。該芯片的問世將有助于加快芯片測試裝備的研發(fā)速度及提高測試效率。