0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

改變游戲規(guī)則:銀鍵合絲在電子制造中的崛起

北京中科同志科技股份有限公司 ? 2023-11-30 10:59 ? 次閱讀

銀鍵合絲作為一種先進(jìn)的微電子封裝材料,已經(jīng)在各種高性能電子產(chǎn)品中得到廣泛應(yīng)用。銀鍵合絲以其優(yōu)異的電導(dǎo)性和熱導(dǎo)性,成為了一種替代傳統(tǒng)金鍵合絲的有效選擇。然而,銀鍵合絲的力學(xué)性能對(duì)于鍵合質(zhì)量具有決定性的影響,這一點(diǎn)在微電子封裝領(lǐng)域受到了廣泛關(guān)注。以下內(nèi)容將深入探討銀鍵合絲的力學(xué)性能及其對(duì)鍵合質(zhì)量的影響。

銀鍵合絲的力學(xué)性能

銀鍵合絲的力學(xué)性能包括其強(qiáng)度、延伸性、疲勞耐受性和抗蠕變能力。這些性質(zhì)對(duì)于保證在微電子封裝過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。銀鍵合絲的強(qiáng)度指的是其在受到外力作用時(shí)抵抗斷裂的能力,而延伸性則是指其在受力時(shí)能夠伸長(zhǎng)的程度。疲勞耐受性描述的是材料在反復(fù)應(yīng)用載荷下的耐久性,抗蠕變能力則涉及到在長(zhǎng)期應(yīng)力作用下材料形變的抵抗能力。

銀鍵合絲力學(xué)性能對(duì)鍵合質(zhì)量的影響

銀鍵合絲的強(qiáng)度: 高強(qiáng)度的銀鍵合絲可以在鍵合過(guò)程中承受更大的拉伸力和壓縮力,減少在制造過(guò)程中斷裂的風(fēng)險(xiǎn)。這對(duì)于提高鍵合界面的可靠性至關(guān)重要。如果鍵合絲的強(qiáng)度不足,可能會(huì)在鍵合過(guò)程中斷裂,導(dǎo)致鍵合失敗。

延伸性: 延伸性好的銀鍵合絲可以在受到力的作用下進(jìn)行更大程度的形變而不斷裂。這使得在鍵合過(guò)程中,即使存在一定的對(duì)準(zhǔn)誤差或應(yīng)力集中,也能夠保持良好的連接。較差的延伸性可能導(dǎo)致在施加力時(shí)鍵合絲斷裂,影響鍵合質(zhì)量。

疲勞耐受性: 在電子設(shè)備的正常使用過(guò)程中,由于溫度變化和其他外部因素,鍵合絲會(huì)反復(fù)經(jīng)受應(yīng)力。高疲勞耐受性的銀鍵合絲能夠更好地抵抗這種反復(fù)應(yīng)力的影響,保持鍵合質(zhì)量。

抗蠕變能力: 在長(zhǎng)期應(yīng)力作用下,銀鍵合絲的抗蠕變能力決定了其形狀和性能的穩(wěn)定性。較差的抗蠕變能力可能導(dǎo)致鍵合絲在長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)形變,影響電子產(chǎn)品的性能和壽命。

銀鍵合絲力學(xué)性能的優(yōu)化

為了提高銀鍵合絲的力學(xué)性能,從而提升鍵合質(zhì)量,研究人員和工程師已經(jīng)開(kāi)展了多方面的工作。這包括優(yōu)化銀鍵合絲的成分、微結(jié)構(gòu)和制造工藝。通過(guò)加入微量的合金元素,可以改善銀鍵合絲的強(qiáng)度和延伸性。同時(shí),通過(guò)控制銀鍵合絲的晶體結(jié)構(gòu)和晶粒大小,可以進(jìn)一步提高其疲勞耐受性和抗蠕變能力。此外,制造工藝的改進(jìn),如提高拉絲速度和控制冷卻過(guò)程,也能顯著提高銀鍵合絲的力學(xué)性能。

銀鍵合絲在微電子封裝中的應(yīng)用

在微電子封裝過(guò)程中,銀鍵合絲的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,特別是在高密度、高性能的電子設(shè)備中。其優(yōu)異的電導(dǎo)率和熱導(dǎo)率使其成為連接微小電子組件的理想選擇。此外,銀鍵合絲相比金鍵合絲更為經(jīng)濟(jì),這在大規(guī)模生產(chǎn)中尤其重要。

銀鍵合絲的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)

隨著微電子技術(shù)的不斷發(fā)展,對(duì)銀鍵合絲的需求也在增長(zhǎng)。未來(lái)的研究可能會(huì)集中在進(jìn)一步優(yōu)化銀鍵合絲的力學(xué)性能,以及開(kāi)發(fā)更為先進(jìn)的鍵合技術(shù)。例如,納米技術(shù)的應(yīng)用可能會(huì)使得銀鍵合絲的性能得到極大的提升。此外,環(huán)境友好型的銀鍵合絲制造技術(shù)也將是未來(lái)研究的一個(gè)重點(diǎn),以降低其對(duì)環(huán)境的影響。

結(jié)論

銀鍵合絲的力學(xué)性能對(duì)于保證微電子封裝的鍵合質(zhì)量至關(guān)重要。通過(guò)不斷的材料和制造工藝創(chuàng)新,銀鍵合絲的性能正在不斷提升,從而滿足日益嚴(yán)苛的微電子封裝需求。隨著技術(shù)的發(fā)展,我們可以預(yù)期銀鍵合絲將在未來(lái)的微電子封裝領(lǐng)域發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 半導(dǎo)體封裝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    266

    瀏覽量

    13769
  • 電子制造
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    203

    瀏覽量

    22176
  • 貼片機(jī)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    9

    文章

    651

    瀏覽量

    22528
  • 回流焊
    +關(guān)注

    關(guān)注

    14

    文章

    468

    瀏覽量

    16781
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    引線鍵合的基礎(chǔ)知識(shí)

    引線鍵合 引線鍵合,又稱壓焊,是半導(dǎo)體封裝工藝的關(guān)鍵環(huán)節(jié),對(duì)封裝的可靠性和最終產(chǎn)品的測(cè)試良率具有決定性影響。 以下是對(duì)引線鍵合的分述: 引線鍵合
    的頭像 發(fā)表于 01-02 10:18 ?130次閱讀
    引線<b class='flag-5'>鍵合</b>的基礎(chǔ)知識(shí)

    帶你一文了解什么是引線鍵合(WireBonding)技術(shù)?

    電子封裝的引線鍵合技術(shù)引線鍵合技術(shù)電子封裝領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色,它通過(guò)金屬線將半導(dǎo)體
    的頭像 發(fā)表于 12-24 11:32 ?298次閱讀
    帶你一文了解什么是引線<b class='flag-5'>鍵合</b>(WireBonding)技術(shù)?

    焊接質(zhì)量控制說(shuō)明

    本文重點(diǎn)圍繞焊點(diǎn)機(jī)械性能指標(biāo)的測(cè)試方法和判定標(biāo)準(zhǔn),介紹了焊點(diǎn)測(cè)試、過(guò)程能力指數(shù)以及焊接不良的分析。 ? 焊接質(zhì)量控制
    的頭像 發(fā)表于 12-03 09:29 ?151次閱讀
    <b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>絲</b>焊接質(zhì)量控制說(shuō)明

    電子封裝用Cu,挑戰(zhàn)與機(jī)遇并存

    電子封裝領(lǐng)域,作為芯片與封裝引線之間的連接材料,扮演著至關(guān)重要的角色。隨著科技的進(jìn)步和電子
    的頭像 發(fā)表于 11-25 10:42 ?344次閱讀
    微<b class='flag-5'>電子</b>封裝用Cu<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>絲</b>,挑戰(zhàn)與機(jī)遇并存

    微流控多層技術(shù)

    一、超聲鍵合輔助的多層技術(shù) 基于微導(dǎo)能陣列的超聲鍵合多層技術(shù):
    的頭像 發(fā)表于 11-19 13:58 ?179次閱讀
    微流控多層<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>技術(shù)

    晶圓膠的與解方式

    晶圓是十分重要的一步工藝,本文對(duì)其詳細(xì)介紹。???????????????????????????? ? 什么是晶圓膠? 晶圓
    的頭像 發(fā)表于 11-14 17:04 ?559次閱讀
    晶圓<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>膠的<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>與解<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>方式

    半導(dǎo)體制造線檢測(cè)解決方案

    引線鍵合廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、半導(dǎo)體行業(yè)和微電子領(lǐng)域。它實(shí)現(xiàn)了集成電路(IC)芯片與其他電子元件(如晶體管和電阻)之間的互連。引線
    的頭像 發(fā)表于 10-16 09:23 ?610次閱讀
    半導(dǎo)體<b class='flag-5'>制造</b>的<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>線檢測(cè)解決方案

    電子封裝 | Die Bonding 芯片的主要方法和工藝

    DieBound芯片,是封裝基板上安裝芯片的工藝方法。本文詳細(xì)介紹一下幾種主要的芯片的方法和工藝。什么是芯片
    的頭像 發(fā)表于 09-20 08:04 ?932次閱讀
    <b class='flag-5'>電子</b>封裝 | Die Bonding 芯片<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>的主要方法和工藝

    金絲工藝溫度研究:揭秘質(zhì)量的奧秘!

    電子封裝領(lǐng)域,金絲(Wire Bonding)工藝作為一種關(guān)鍵的電氣互連技術(shù),扮演著至關(guān)重要的角色。該工藝通過(guò)細(xì)金屬線(主要是金絲)將芯片上的焊點(diǎn)與封裝基板或另一芯片上的對(duì)應(yīng)焊
    的頭像 發(fā)表于 08-16 10:50 ?1629次閱讀
    金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>工藝溫度研究:揭秘<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>質(zhì)量的奧秘!

    金絲強(qiáng)度測(cè)試儀試驗(yàn)方法:拉脫、引線拉力、剪切力

    金絲強(qiáng)度測(cè)試儀是測(cè)量引線鍵合強(qiáng)度,評(píng)估強(qiáng)度分布或測(cè)定
    的頭像 發(fā)表于 07-06 11:18 ?662次閱讀
    金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>強(qiáng)度測(cè)試儀試驗(yàn)方法:<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>拉脫、引線拉力、<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>剪切力

    全球首臺(tái)光學(xué)拆設(shè)備發(fā)布,和激光拆有什么不同?

    電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/吳子鵬)芯片制造的過(guò)程,拆是非常重要的一步。拆
    的頭像 發(fā)表于 03-26 00:23 ?2978次閱讀
    全球首臺(tái)光學(xué)拆<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>設(shè)備發(fā)布,和激光拆<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>有什么不同?

    銅絲的研究及應(yīng)用現(xiàn)狀

    正逐漸替代合金絲廣泛應(yīng)用于電子封裝領(lǐng)域。本文對(duì)當(dāng)前市場(chǎng)上應(yīng)用的金絲、銅絲、銀絲及鋁絲性能特點(diǎn)進(jìn)行了分析對(duì)比,探討了以鍵銅絲替代傳統(tǒng)
    的頭像 發(fā)表于 02-22 10:41 ?1221次閱讀
    <b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>銅絲的研究及應(yīng)用現(xiàn)狀

    金絲引線鍵合的影響因素探究

    共讀好書(shū) 劉鳳華 電科思儀科技股份有限公司 摘要: 對(duì)設(shè)備性能和人員技能的要求極高,屬于關(guān)鍵控制工序,質(zhì)量的好壞直接影響電路的可靠
    的頭像 發(fā)表于 02-02 17:07 ?832次閱讀
    金絲引線<b class='flag-5'>鍵合</b>的影響因素探究

    鋁質(zhì)焊盤(pán)的工藝

    共讀好書(shū) 姚友誼 吳琪 陽(yáng)微 胡蓉 姚遠(yuǎn)建 (成都西科微波通訊有限公司) 摘要: 從鋁質(zhì)焊盤(pán)后易發(fā)生欠和過(guò)
    的頭像 發(fā)表于 02-02 16:51 ?921次閱讀
    鋁質(zhì)焊盤(pán)的<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>工藝

    顛覆傳統(tǒng)制造:PLC物聯(lián)網(wǎng)如何徹底改變工廠設(shè)備數(shù)據(jù)采集的游戲規(guī)則?

    顛覆傳統(tǒng)制造:PLC物聯(lián)網(wǎng)如何徹底改變工廠設(shè)備數(shù)據(jù)采集的游戲規(guī)則? 隨著科技的不斷發(fā)展,物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)正逐漸滲透到各個(gè)領(lǐng)域,其中PLC物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)工廠設(shè)備數(shù)據(jù)采集方面發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用
    的頭像 發(fā)表于 01-23 17:41 ?443次閱讀
    顛覆傳統(tǒng)<b class='flag-5'>制造</b>:PLC物聯(lián)網(wǎng)如何徹底<b class='flag-5'>改變</b>工廠設(shè)備數(shù)據(jù)采集的<b class='flag-5'>游戲規(guī)則</b>?