使用OI-EASU321對芯片進(jìn)行EMI表面掃描測試實(shí)例

OI-EAS系列電磁干擾掃描儀是一款具有四高特征的產(chǎn)品：高性能、高柔性組合、高性價(jià)比、高端技術(shù)；也是一款自主品牌國產(chǎn)化的電磁兼容測試設(shè)備，產(chǎn)品參考GB9254、GB18655、GJB151B、IEC61697-3等電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)。OI-EAS系列EMI掃描儀是一套四向定位系統(tǒng)，與近場探頭和頻譜干擾接收機(jī)相結(jié)合，完成PCB板或類似電源適配器、智能穿戴電子設(shè)備等小型電子產(chǎn)品以及芯片的輻射騷擾自動測試；可用于測試PCB板、小型電子設(shè)備、器件等產(chǎn)品的電磁兼容性，精度可達(dá)±0.05mm。具有非常友好的設(shè)備兼容性，可兼容市面上主流的頻譜、接收機(jī)和近場探頭組等。今天我們使用OI-EASU321對泰克示波器演示版DPO DEMO 2 進(jìn)行掃描測試。

測試設(shè)備：

羅德與施瓦茨頻譜分析儀FPC1500；掃描儀OI-EASS321；固緯EMI電場探頭PR-02；

本次測量只對晶振和芯片附近進(jìn)行掃描，掃描區(qū)域尺寸（紅色框內(nèi)）40mm*80mm;

我們先設(shè)定設(shè)備參數(shù)：掃描頻率：520MHz；分辨率帶寬：10kHz；檢波器類型：最大峰值檢波；步進(jìn)：2mm；經(jīng)過一段時(shí)間的掃描后我們可以得到如下效果圖：

在520MHz可以明顯看出被測樣品掃描區(qū)域的對外輻射情況，圖片下方紅色區(qū)域是FlexRAY插針，圖片中部黃色區(qū)域是SG-625PHC晶體振蕩器。

其他測試圖片如下：