通過驅(qū)動器源極引腳改善開關損耗
本文的關鍵要點
1. 具有驅(qū)動器源極引腳的TO-247-4L和TO-263-7L封裝SiC MOSFET,與不具有驅(qū)動器源極引腳的TO-247N封裝產(chǎn)品相比,SiC MOSFET的柵-源電壓的行為不同。
2. 要想正確實施SiC MOSFET的柵-源電壓的浪涌對策,需要逐一了解電壓的行為。
具有驅(qū)動器源極引腳的SiC MOSFET,與不具有驅(qū)動器源極引腳的SiC MOSFET產(chǎn)品相比,在橋式結(jié)構(gòu)情況下的柵-源電壓的行為不同。在上一篇文章中,我們介紹了LS(低邊)SiC MOSFET導通時的行為。本文將介紹低邊SiC MOSFET關斷時的行為。
橋式結(jié)構(gòu)中的柵極-源極間電壓的行為:關斷時
關于橋式結(jié)構(gòu)中具有驅(qū)動器源極引腳的低邊SiC MOSFET關斷時的行為,將與上一篇文章一樣,重點介紹與沒有驅(qū)動器源極引腳的TO-247N封裝產(chǎn)品之間的區(qū)別。
下圖為關斷時的各開關波形,左側(cè)為不帶驅(qū)動器源極引腳的TO-247N封裝產(chǎn)品,右側(cè)為帶驅(qū)動器源極引腳的TO-247-4L封裝產(chǎn)品。各橫軸表示時間,時間范圍Tk(k=3~7)的定義在波形圖下方有述。右下方的電路圖中給出了TO-247-4L封裝產(chǎn)品在橋式電路中的柵極引腳電流情況。在波形圖和電路圖中,用(IV)~(VII)來表示每個時間范圍中發(fā)生的事件。事件(VII)在T5期間結(jié)束后立即發(fā)生。
在橋式結(jié)構(gòu)中低邊SiC MOSFET關斷時的各開關波形
時間范圍的定義
在波形圖比較中,TO-247-4L的事件(VI)和(VII)與TO-247N的事件不同。
事件(VI)是ID發(fā)生變化的時間點,這一點與導通時的情況一致。當HS的ID_HS急劇增加時,體二極管的VF_HS急劇上升(前面波形圖中的虛線圓圈)。因此,會再次流過dVF_HS/dt導致的電流ICGD,并產(chǎn)生負浪涌。
事件(VII)是在T5期間結(jié)束、ID_HS的變化消失時,dVF_HS/dt消失,要流入柵極引腳的ICGD不再流動,ICGD的電流路徑中存在的布線電感中積蓄的能量引起的電動勢,作為柵極和源極之間的正浪涌被觀測到。而在TO-247N封裝的產(chǎn)品中,這種正浪涌幾乎觀測不到。
關于TO-247N封裝產(chǎn)品關斷動作的詳細介紹,請參考Tech Web基礎知識SiC功率元器件系列中的文章“低邊開關關斷時的Gate-Source間電壓的動作”或應用指南的“關斷時柵極信號的動作”。
為了抑制這些浪涌,必須了解上一篇文章和本文中介紹過的柵-源電壓的行為,并緊挨SiC MOSFET連接浪涌抑制電路作為對策。
如果希望了解更詳細的信息,請參考應用指南中的“柵極-源極電壓的浪涌抑制方法”或R課堂基礎知識SiC功率元器件“SiC MOSFET:柵極-源極電壓的浪涌抑制方法”(連載中)。
文章來源:Rohm
審核編輯 黃宇
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