在芯片制程中,很多金屬都能用等離子的方法進(jìn)行刻蝕,例如金屬Al,W等。但是唯獨(dú)沒有聽說過干法刻銅工藝,聽的最多的銅互連工藝要數(shù)雙大馬士革工藝,為什么?
什么是銅互連?
芯片的金屬互連是指在芯片內(nèi)部,用于連接晶體管、電容、電阻等之間的金屬導(dǎo)線,確保芯片電信號(hào)傳輸。早期的集成電路中,鋁是制作金屬互連的主要材料,但由于銅具有更好的導(dǎo)電性和抗電遷移特性,現(xiàn)在一般用銅作為集成電路的互聯(lián)金屬。
芯片互連指的是集成電路上,不同的部件之間進(jìn)行電連接的金屬連接。這些導(dǎo)線使得芯片內(nèi)部的成千上萬乃至上億的晶體管之間可以進(jìn)行信號(hào)傳輸。簡單來說,就像幾個(gè)水庫,相互獨(dú)立。通過挖溝渠的方式,將水庫之間導(dǎo)通,來實(shí)現(xiàn)水流(電流)的流動(dòng)。如果沒有互連,芯片內(nèi)部就像一個(gè)斷路。
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什么是大馬士革工藝?
熟悉歷史和地理的朋友都知道敘利亞首都大馬士革(Damascene)這座城市,而大馬士革刀劍以其鋒利,紋理的精美而著稱。其中需要用到一種鑲嵌工藝:首先,在大馬士革鋼的表面上雕刻出所需的圖案,將預(yù)先準(zhǔn)備好的材料緊密地鑲嵌到雕刻出的凹槽中,完成鑲嵌后,表面可能會(huì)有些不平整。工匠會(huì)仔細(xì)打磨,確保整體的光滑。
了解芯片工藝的朋友不禁驚呼,這不就是芯片的雙大馬士革工藝的雛形嘛。先在介電層中刻出凹槽或孔,然后在其中填充金屬。填充后,多余的金屬會(huì)被cmp去除。簡直如出一轍。
為什么銅互連非要用雙大馬士革工藝?
銅不容易被刻蝕!與某些材料不同,銅在等離子體刻蝕過程中不容易形成揮發(fā)性化合物。對(duì)于許多材料,干法刻蝕會(huì)形成容易從表面蒸發(fā)的反應(yīng)產(chǎn)物,這些產(chǎn)物會(huì)迅速擴(kuò)散出去而不會(huì)再次沉積在晶圓表面。但是,銅與常見的刻蝕氣體反應(yīng)生成的化合物往往是非揮發(fā)性的,這使得其難以被有效地從表面去除。
干法不行,那用濕法?芯片制程新線寬在幾十納米,濕法精度根本達(dá)不到。 因此棄用干濕法刻蝕的方案,改用雙大馬士革工藝。
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雙大馬士革工藝步驟:
介電層沉積:在已有的金屬層上沉積一層介電材料。通常是一個(gè)低介電常數(shù)的材料,以減少電容和信號(hào)延遲。
孔與槽的光刻與蝕刻:首先通過光刻技術(shù)在介電層上形成圖案,定義出導(dǎo)通孔和互連槽的位置。然后,使用蝕刻技術(shù),將這些圖案轉(zhuǎn)移到介電層中,形成實(shí)際的孔和槽。
銅沉積:在孔和槽中沉積銅。通常是通過電鍍技術(shù)完成的。
化學(xué)機(jī)械拋光:去除多余的銅,使銅與介電層的表面齊平。這樣,只有孔和槽內(nèi)部的銅仍然保留。
為什么沒有干法刻蝕銅工藝?
銅的刻蝕難以生成易揮發(fā)物質(zhì),生成物會(huì)附在晶圓表面,生成物的再沉積了影響下方Cu的刻蝕速率和均勻性,甚至導(dǎo)致Cu刻蝕的停止。
一般金屬的干法刻蝕通常需要目標(biāo)材料與刻蝕氣體反應(yīng)生成易揮發(fā)的化合物。例如: 鋁刻蝕:
2Al+3Cl2→2AlCl3 鎢刻蝕:
W+Cl2→WCl6 鈦刻蝕:
Ti+2Cl2→TiCl4 AlCl3,WCl6,TiCl4均是可揮發(fā)的物質(zhì),可以通過真空系統(tǒng)從刻蝕腔室中抽出。
Cu與Cl2或F自由基的反應(yīng)式為:
Cu+Cl2→CuCl2或CuCl
Cu+F*→CuF2
CuF2,CuCl,CuCl2的物化性質(zhì)?
外觀:CuF2,白色或綠色晶體;CuCl,白色或淺綠色的粉末;CuCl2,棕黃色至綠色的粉末。
相態(tài):在常溫下,CuF?,CuCl,CuCl2均是固態(tài)物質(zhì)。
密度:CuF?,4.23 g/cm3;CuCl2,3.386 g/cm3;CuCl,4.14 g/cm3。
熔點(diǎn):CuF?,785°C;CuCl,約為430°C;CuCl2,993°C。
銅刻蝕有哪些方法?
1,在線寬很小的芯片制程中,無法用干法刻蝕,也無法用濕法刻蝕,因?yàn)闈穹涛g銅在納米尺度上難以實(shí)現(xiàn)高度均勻和精確的控制,一般濕法刻蝕在線寬為3um以上比較適用。因此,在大多數(shù)芯片制程中只能使用雙大馬士革工藝進(jìn)行Cu互連。
2,當(dāng)線寬較大時(shí),可以用濕法刻蝕來除去Cu。濕法刻蝕是使用液體化學(xué)品來去除材料的過程,對(duì)于銅這樣的金屬,需要使用特定的化學(xué)溶液進(jìn)行去除。對(duì)于大面積的銅層,如電鍍銅的種子層或較粗的銅線路,濕法刻蝕是一個(gè)有效且經(jīng)濟(jì)的選擇。
3,Cu層較薄時(shí),可以考慮用IBE(離子束刻蝕)去除。但是IBE不是主流的除銅方式,因?yàn)樗乃俾瘦^慢+Cu容易再沉積。IBE使用Ar離子轟擊晶圓表面,Ar離子與晶圓表面的碰撞使Cu發(fā)生物理剝離,但是IBE設(shè)備的成本相對(duì)較高,且處理速率比化學(xué)刻蝕方法慢很多。
審核編輯:劉清
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原文標(biāo)題:銅互連為什么不用干法刻蝕的方法?
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