為什么要實(shí)現(xiàn)芯片射頻自動(dòng)化測試？ATECLOUD如何解決痛點(diǎn)？

射頻芯片主要應(yīng)用于無線通信和雷達(dá)系統(tǒng)等領(lǐng)域，其性能直接影響到通信系統(tǒng)的質(zhì)量。而ATECLOUD-IC會(huì)針對(duì)芯片射頻自動(dòng)化測試提供一站式軟硬件解決方案，實(shí)現(xiàn)高效快速的自動(dòng)化測試，并且給予結(jié)果反饋。

芯片射頻自動(dòng)化測試的重要性

射頻芯片能實(shí)現(xiàn)無線信號(hào)的發(fā)送、接收、放大、濾波、解調(diào)等功能，被廣泛應(yīng)用在雷達(dá)、無線通信、衛(wèi)星通訊等領(lǐng)域。這種對(duì)于通信質(zhì)量要求很高，因此射頻芯片測試是非常重要的。而且射頻系統(tǒng)中信號(hào)的頻率、相位等參數(shù)對(duì)通信質(zhì)量影響很大，精度要求高，因此實(shí)現(xiàn)芯片射頻自動(dòng)化測試可以極大提高測試效率和可靠性。

ATECLOUD芯片射頻自動(dòng)化測試優(yōu)勢

ns級(jí)高精度同步測試

靈活多工位擴(kuò)展，高速并行測試，提高測試效率

支持批量測試

0代碼開發(fā)，拖拽封裝指令搭建測試方案和項(xiàng)目，一鍵運(yùn)行，快速實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試

支持表征、功能評(píng)估和批量生產(chǎn)評(píng)估

數(shù)據(jù)分析功能，會(huì)以圖表形式展現(xiàn)匯總的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)變化、波動(dòng)等清晰可見

根據(jù)所需的數(shù)據(jù)可以自定義數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出

芯片自動(dòng)化測試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC解決測試痛點(diǎn)

人工手動(dòng)測試，效率低，需要提高測試效率和準(zhǔn)確性;

測試產(chǎn)品種類繁多，測試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來的變化和需求;

記錄測試數(shù)據(jù)量大，容易出錯(cuò)，需要提高測試效率和準(zhǔn)確性;

長時(shí)間測試，工作量大，需要降低測試成本;

現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品;

需要滿足特定的測試需求，如外購配件等;

需要符合自身芯片測試方法;

需要尋找國產(chǎn)化替代方案。

天宇微納研發(fā)的ATECLOUD智能云平臺(tái)專注于各類儀器自動(dòng)化測試，該平臺(tái)簡單、易上手操作，為用戶提供整體解決方案，并分析測試結(jié)果，給予反饋。

審核編輯 黃宇