納米軟件分享：電源管理芯片自動化測試方案

電源管理芯片是電子設(shè)備中非常重要的組成部分，因此對電源芯片的要求也越來越嚴格，電源管理芯片測試成為非常重要的環(huán)節(jié)。

在納米軟件與江蘇某科技公司合作的電源管理芯片產(chǎn)線測試項目中，需要完成單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出系列微模塊的14個項目的自動化測試。該公司之前是手動測試，沒有自動化測試基礎(chǔ)。靠手動完成電源芯片產(chǎn)線批量測試，不僅耗時長、無法規(guī)范測試流程、保證測試可靠性，而且無法進行數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理、滿足產(chǎn)線測試對報告的需求。因此，自動化測試是必選的測試方式。

測試項目：

輸入/出電壓范圍、輸出紋波、電壓調(diào)整率、負載調(diào)整率、反饋端電壓；

欠壓關(guān)斷及欠壓恢復滯后、輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制；

啟動過沖及啟動延時、負載躍變電壓、負載躍變恢復、效率(每路)；

效率曲線、工作開關(guān)頻率測試、SW占空比測試、輸入輸出信號相位差測試。

那么，為什么會選擇納米軟件的電源管理芯片自動化測試解決方案呢？

1. 測試系統(tǒng)兼容標準測試儀器，對接非標設(shè)備

由于需要測量電源管理芯片的多路電壓和電流，納米軟件提出萬用表切換箱的解決方案，不僅解決一臺萬用表無法滿足多點位自動測試難題，而且還節(jié)省了用多臺萬用表測的儀器成本。系統(tǒng)除了與該非標設(shè)備快速對接外，還可實現(xiàn)與直流電源、電子負載、示波器、萬用表、測試工裝等設(shè)備通訊。

2. 滿足客戶多個產(chǎn)品數(shù)據(jù)導出在同一個報告的需求

由于電源管理芯片包含單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出，為了對比、分析測試數(shù)據(jù)，需要將不同產(chǎn)品的數(shù)據(jù)導出在同一個報告中。

3. 滿足效率曲線分析的需求

該公司重點關(guān)注效率項目，需要分析不同條件下電源芯片的效率。ATECLOUD測試系統(tǒng)內(nèi)含數(shù)據(jù)洞察功能，支持多圖表類型、多方位分析數(shù)據(jù)，該功能可以展示電源管理芯片不同條件下的效率曲線。

ATECLOUD測試系統(tǒng)效率曲線圖

ATECLOUD以用戶需求為導向，突破傳統(tǒng)測試限制，功能強大，滿足多樣化的測試需求，助力更多用戶實現(xiàn)自動化測試。

審核編輯 黃宇