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光刻掃描儀吞吐量的成本模型

ruikundianzi ? 來源:SemiAnalysis ? 2023-02-22 14:31 ? 次閱讀

我們一直在我們的私人咨詢業(yè)務(wù)上花費(fèi)大量時(shí)間,試圖為各種邏輯和內(nèi)存工藝節(jié)點(diǎn)的工具類型建立一個半導(dǎo)體工廠資本支出的模型。我們正在密切跟蹤的項(xiàng)目是光刻支出如何在各種節(jié)點(diǎn)收縮之間演變。我們的起點(diǎn)是28nm,它從第一代 FinFET 節(jié)點(diǎn)發(fā)展到第一個 EUV 節(jié)點(diǎn),再到第一個 Gate All Around Nanosheet 節(jié)點(diǎn)(3nm 和 2nm)。

根據(jù)檢查的節(jié)點(diǎn)不同,在光刻技術(shù)上花費(fèi)的百分比會有很大差異。這里有一張關(guān)于該主題的舊 ASML 幻燈片。它似乎排除了很多各種晶圓廠的資本支出,但看起來很有趣。

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光刻支出相對于沉積和蝕刻的演變對 ASML、Lam Research、Applied Materials、Tokyo Electron等公司的相對績效有很大影響。在我們研究這個問題時(shí),最重要的一個方面是每個DUV或EUV層的曝光成本,以及它們的數(shù)量。順帶一提,一些賣方分析師試圖將每個節(jié)點(diǎn)的 EUV 曝光數(shù)計(jì)算到他們的 ASML 模型中,但結(jié)果大錯特錯。

此時(shí)您可能在想,這太棒了,但這與模具尺寸有什么關(guān)系?

傳統(tǒng)觀點(diǎn)認(rèn)為,更大的模具成本成倍增加。我們認(rèn)為我們所有的讀者都知道這一點(diǎn)。較大的裸片尺寸會增加成本,因?yàn)槿毕莞锌赡苡绊戄^大的裸片。這是小芯片革命背后的主要推動力之一。我們在使用 AMD 小芯片數(shù)據(jù)中心 CPU英特爾單片數(shù)據(jù)中心 CPU 的高級封裝系列中對此進(jìn)行了比較。

這種傳統(tǒng)的思維過程可能是完全錯誤的。讓我們使用一個帶圖片的假設(shè)示例來解釋更小的芯片制造成本更高的原因。假設(shè)一個無晶圓廠芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)正在決定是制作一個大型單片芯片還是制作 2 個小芯片 MCM 設(shè)計(jì)。左邊是一個裝滿 25 毫米 x 32 毫米、800 毫米 2 芯片的晶圓。

右邊是一個裝滿 13.5 毫米 x 32 毫米、432 毫米 2 芯片的晶圓。2 個小芯片設(shè)計(jì)的每個小芯片僅多 8% 的硅,這與 AMD 當(dāng)前的小芯片 CPU 的開銷相似。盡管兩個節(jié)點(diǎn)都被模擬為具有相同的每平方厘米缺陷數(shù) (0.1),但兩種設(shè)計(jì)中沒有缺陷的裸片數(shù)量差異很大。

單片設(shè)計(jì)每個晶圓有 30 個好管芯,而小芯片 MCM 設(shè)計(jì)每個晶圓有 79 個好管芯。假設(shè)所有有缺陷的模具都必須扔進(jìn)垃圾桶。如果沒有die yield harvesting,設(shè)計(jì)公司單晶設(shè)計(jì)只能賣30個產(chǎn)品,但是chiplet MCM設(shè)計(jì)可以賣39.5個。

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通過使用小芯片和 MCM,每個晶圓的產(chǎn)品數(shù)量增加了約 30%。如果假設(shè)每個晶圓的成本為 17,000 美元,那么無缺陷硅芯片的單片成本為 567 美元,小芯片 MCM 的成本為每個無缺陷硅芯片 215 美元,而 2 為 430 美元。顯然,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)該選擇小芯片 MCM 選項(xiàng),如果我們忽略任何功耗、芯片收集和封裝成本差異,因?yàn)樗鼈兛梢詾槊總€產(chǎn)品節(jié)省 136 美元!

如果我們告訴您這種小芯片 MCM 設(shè)計(jì)更昂貴怎么辦?

你可能不相信我們,但讓我們來看看如何。在這個假設(shè)場景中,假設(shè)產(chǎn)品使用代工 5nm 級節(jié)點(diǎn)。假設(shè)這家代工廠以約 50% 的毛利率以約 17,000 美元的價(jià)格出售這些晶圓。以下是按消耗品或工藝步驟細(xì)分的成本,包括工具折舊、維護(hù)成本、電力使用、分配的員工成本等。

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這些數(shù)字與我們的實(shí)際估計(jì)有很大偏差,但一致的是,最大的成本中心是光刻。它幾乎占加工晶圓成本的 1/3。光刻成本只是一個平均假設(shè)。根據(jù)您選擇的模具尺寸,它可能會有很大差異。

光刻工具不分青紅皂白地曝光晶圓。它需要知道哪些地方可以用光刻曝光,哪些地方不可以曝光。光掩模包含芯片設(shè)計(jì)并阻擋光線或允許光線通過以曝光晶圓。領(lǐng)先的 5nm 代工廠設(shè)計(jì)將有十幾個 EUV 光掩模和另外幾十個 DUV 光掩模。這些光掩模中的每一個都對應(yīng)于晶圓上的一個特征或特征的一部分,并且對于每個芯片設(shè)計(jì)都是唯一的。通過光刻和所有其他工藝步驟的循環(huán),這家代工廠可以在大約 10 周的時(shí)間內(nèi)在晶圓上制造出特定的 5 納米芯片。下面是 DUV 光掩模的圖片。

標(biāo)準(zhǔn)光掩模為 104 毫米 x 132 毫米。然后,光刻工具通過光掩模進(jìn)行曝光,以 4 倍的縮小率在晶圓上印刷特征。該區(qū)域?yàn)?26 毫米乘 33 毫米。大多數(shù)設(shè)計(jì)并不完全符合 26 毫米 x 33 毫米。

標(biāo)線利用率的概念出現(xiàn)了。

通常,芯片設(shè)計(jì)較小,因此光掩模可以包含多個相同的設(shè)計(jì),如上圖所示。即便如此,大多數(shù)設(shè)計(jì)也不會完全適合 26mm x 33m 的區(qū)域,因此通常光掩模的一部分也不會曝光。

如果一個芯片是 12 毫米 x 16 毫米,我們可以在每個標(biāo)線片上安裝 4 個芯片。這里的分劃板利用率非常高,因?yàn)橹挥幸恍〔糠址謩澃鍥]有暴露。對于 25mm x 32mm 的單片芯片,我們不會在狹縫和掃描方向上使用 1mm。十字線的利用率同樣很高。對于我們的 chiplet,尺寸為 13.5mm x 32mm。這個模具太大,不能并排放置 2 個模具,因此每個模具只能有 1 個模具。下圖顯示了上述示例的一些可視化效果。

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你可能會問,光罩利用率低有什么問題?

這成為一個巨大的成本問題,因?yàn)楫?dāng)我們縮小到晶圓級處理過程時(shí)會發(fā)生什么。放置在光刻工具和工具中的晶圓一次暴露晶圓 1 的光罩區(qū)域的一部分。如果使用完整的 26mm x 33mm 掩模版,光刻工具以最少的步數(shù)跨過 300mm 晶圓,寬 12 個掩模版,高 10 個掩模版。如果光罩利用率較低,則工具必須在每個方向上多次跨過晶圓。

將每個晶圓上的 25mm x 32mm 單片芯片與 13.5mm x 32mm 小芯片 MCM 設(shè)計(jì)進(jìn)行比較時(shí),我們需要跨過晶圓 1.875 倍!

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現(xiàn)代 DUV 和 EUV 工具具有狹縫和掃描。狹縫 (26mm) 是曝光的部分,它掃描 (33mm) 整個標(biāo)線板區(qū)域。Andreas Schilling 分享的下方這張來自 ASML 的關(guān)于 High-NA EUV 的 gif 展示了這個概念。對于 High-NA EUV,狹縫最大仍為 26mm,掃描減半。生產(chǎn)力的主要損失在于晶圓臺必須移動多快。

f32e2de0-b279-11ed-bfe3-dac502259ad0.gif

想象一下,如果相反,狹縫減半。吞吐量影響會大得多。

將我們的單片設(shè)計(jì)與小芯片 MCM 設(shè)計(jì)進(jìn)行比較時(shí),我們的光刻工具時(shí)間顯著增加,因?yàn)榫A必須掃描 1.875 倍。這是因?yàn)楠M縫的很大一部分沒有得到充分利用。雖然在晶圓裝載時(shí)間方面仍有一些效率,但光刻工具的大部分成本與掃描時(shí)間有關(guān)。因此,每片晶圓的內(nèi)部成本顯著上升。

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在這種假設(shè)情況下,代工廠現(xiàn)在每片晶圓的光刻成本要多花費(fèi) 2,174 美元。這是一個巨大的成本增加,代工廠無法承受已經(jīng)擁有非常緊張的利潤交易的大批量客戶。假設(shè)代工廠按利潤定價(jià),因此無論設(shè)計(jì)如何都保持 50% 的毛利率。

未充分利用掩模版上的狹縫導(dǎo)致的成本增加意味著代工廠不會以 17,000 美元的價(jià)格出售這些晶圓以維持 50.2% 的毛利率。相反,他們將以 21,364 美元的價(jià)格出售這些晶圓。單片產(chǎn)品的無缺陷硅成本仍為 567 美元。每個芯片的無缺陷硅成本不是 215 美元,而是 270 美元。每件產(chǎn)品不再是 430 美元,而是 541 美元。

Chiplet 還是 Monolithic 的決定現(xiàn)在變得更加困難。一旦您考慮了封裝成本,單片芯片很可能制造起來更便宜。此外,小芯片設(shè)計(jì)還存在一些電力成本。在這種情況下,構(gòu)建大型單片芯片絕對比使用 chiplet/MCM 更好。

這個例子是最壞的情況選擇來展示分劃線利用率的點(diǎn)。這種簡單化和假設(shè)性的分析也有很多注意事項(xiàng)。此外,與其他工藝步驟相比,5nm 之前以及我們進(jìn)入全柵時(shí)代之后的大多數(shù)其他工藝節(jié)點(diǎn)的光刻成本更低。大多數(shù)小芯片架構(gòu)可能會提高光罩利用率而不是降低它。





審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:博文:裸片尺寸和光罩難題——光刻掃描儀吞吐量的成本模型

文章出處:【微信號:IP與SoC設(shè)計(jì),微信公眾號:IP與SoC設(shè)計(jì)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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