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      MCU芯片的Memory Bist設(shè)計(jì)實(shí)戰(zhàn)(一）

      全棧芯片工程師 ? 來源：全棧芯片工程師 ? 2023-02-08 16:09 ? 次閱讀

      SRAM的MBIST測(cè)試結(jié)構(gòu)如下：

      dbefbc0a-a786-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

      SRAM的MBIST測(cè)試波形：

      dbfea2ce-a786-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

      SRAM BIST電路完成插入后，需要做一個(gè)formal check，保證Mbist插入后，logic function不發(fā)生錯(cuò)誤改變。Formal check需要注意常量設(shè)置，具體參見知識(shí)星球的詳細(xì)解釋。

      dc0dfce2-a786-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

      此處分享2個(gè)經(jīng)典問題：

      定位1：

      dc1ab81a-a786-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

      通過trace TDO信號(hào)，一直追蹤到SRAM的Q端，發(fā)現(xiàn)Q端數(shù)據(jù)輸出是X態(tài)，通過分析發(fā)現(xiàn)本質(zhì)上還是時(shí)鐘問題，什么問題呢？

      就是SRAM MBIST_CLK延時(shí)下來剛好和SRAM測(cè)試地址TADDR的跳變完全對(duì)齊了，造成了SRAM的memory model的建立/保持時(shí)間違例，SRAM model在timing違例情況下Q端輸出為X態(tài)。下文具體內(nèi)容請(qǐng)移步知識(shí)星球查看。

      歡迎加入【全棧芯片工程師】知識(shí)星球，手把手教你設(shè)計(jì)MCU、圖像傳感器、ISP圖像處理，從算法、前端、DFT到后端全流程設(shè)計(jì)。

      實(shí)戰(zhàn)MCU+ISP圖像處理芯片版圖

      dc2a1008-a786-11ed-bfe3-dac502259ad0.png

      實(shí)戰(zhàn)ISP圖像算法效果

      dc3eb3d2-a786-11ed-bfe3-dac502259ad0.jpg

      審核編輯 ：李倩

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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      原文標(biāo)題：MCU芯片的Memory Bist設(shè)計(jì)實(shí)戰(zhàn)(一）

      文章出處：【微信號(hào)：全棧芯片工程師，微信公眾號(hào)：全棧芯片工程師】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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