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PCIe 5.0對互聯(lián)芯片的性能驗證要求

是德科技KEYSIGHT ? 來源:是德科技KEYSIGHT ? 作者:是德科技KEYSIGHT ? 2021-06-18 14:36 ? 次閱讀

總線在計算機系統(tǒng)中是CPU、內(nèi)存、輸入、輸出設(shè)備傳遞信息的公用通道;主機的各個部件通過總線相連接,外部設(shè)備通過相應(yīng)的接口電路與總線相連接。

今天要介紹的主角,就是第五代總線技術(shù)PCIe 5.0,而隨著帶寬速率的提高,對互聯(lián)芯片的性能驗證要求也愈來愈高,本文會做相應(yīng)的介紹。

PCIe的前世今生

計算機總線技術(shù)經(jīng)歷了幾代發(fā)展,上世紀(jì)70年代主流是ISA,90年代主流是PCI,2000年以后至今主流是PCIe(Peripheral Component Interconnect Express),同時其他板級互聯(lián)如NVLink,Gen-Z,CCIX等也在不斷發(fā)展。

PCI Express標(biāo)準(zhǔn)由PCI-SIG 組織制定,是一種點到點的串行差分結(jié)構(gòu),PCI-SIG協(xié)會由9家董事會成員及超過830家會員單位組成,共同定義PCIe標(biāo)準(zhǔn)及一致性/互操作性測試。隨著5G技術(shù)商用和眾多應(yīng)用場景落地,數(shù)據(jù)吞吐容量需求大大增加,運算帶寬壓力也越來越大,人工智能對算力的需求也催生著異構(gòu)計算總線的進(jìn)一步加速,大數(shù)據(jù)的存儲需求從傳統(tǒng)介質(zhì)到NVMe技術(shù)演進(jìn)和應(yīng)用,這些技術(shù)需求和演進(jìn)推動著作為高性能計算架構(gòu)中的核心總線PCIe總線規(guī)范加速發(fā)展。

PCIe 5.0技術(shù)特點

PCIe 5.0 基礎(chǔ)規(guī)范v1.0正式版已在2019年發(fā)布,今年5.0 CEM規(guī)范v1.0版本剛剛定稿,目前5.0 PHY測試規(guī)范已更新到0.7版本。另外PCIe 6.0規(guī)范也在有條不紊指定當(dāng)中,基礎(chǔ)規(guī)范已到v0.7版,預(yù)計今年年內(nèi)將發(fā)布v1.0版本。

從技術(shù)上看,PCIe 5.0帶來了很多好處,同時也伴隨著更多的挑戰(zhàn),總結(jié)如下:

1

PCIe 5.0相較4.0速率及帶寬翻倍,能夠滿足更高帶寬的應(yīng)用場合;

2

PCIe 5.0對信號完整性的要求苛刻,PCIe 5.0芯片、系統(tǒng)及板卡的設(shè)計及測試難度倍增;

3

PCIe 5.0端到端鏈路損耗-36dB @ 16GHz,需使用低損耗板材及根據(jù)鏈路設(shè)計需求考慮加入Re-timer芯片;

4

PCIe 5.0對參考時鐘要求更高,規(guī)范增加了對系統(tǒng)主板參考時鐘抖動測試要求。

從商用的角度,當(dāng)前PCIe 4.0的產(chǎn)品已經(jīng)大量商用,在2021年也有支持32 GT/s的PCIe 5.0 CPU平臺和相關(guān)芯片發(fā)布,業(yè)內(nèi)主要的服務(wù)器系統(tǒng)廠商已經(jīng)投入前期研發(fā)和調(diào)試階段,2021年可以稱之為PCIe 5.0商用元年,如何快速有效的對支持PCIe 5.0的各類接口芯片及板卡進(jìn)行測試驗證,以期將產(chǎn)品快速推向市場,搶占先機,成為各廠商面臨的重要挑戰(zhàn)。

PCIe5.0高效測試方案

前文提到,PCI-SIG協(xié)會一共有9家董事會成員,是德科技是其中唯一的測試測量方案提供商,致力于高速總線技術(shù)規(guī)范及測試方案的開發(fā)和推廣,推動產(chǎn)業(yè)鏈在PCIe 3/4/5各領(lǐng)域包括IP、芯片和系統(tǒng)的驗證和實施。是德科技也是唯一能提供從軟件仿真、發(fā)射端測試、接收端測試、互連測試的完整解決方案的解決方案供應(yīng)商,同時支持PCIe 5.0的示波器及誤碼儀方案都已在硬件上支持下一代采用PAM-4技術(shù)的PCIe 6.0預(yù)研測試。

PCIe 的測試驗證,涉及內(nèi)容較多,限于篇幅,本文僅介紹部分內(nèi)容,更多內(nèi)容如PLL,各項測試組網(wǎng)詳細(xì)配置等,文末的注冊鏈接中提供了下載資料

?通道組網(wǎng)損耗測試

PCIe 5.0包括CPU和AIC 芯片封裝在內(nèi)的端到端總鏈路損耗為- 36dB @ 16GHz,兩個連接器如通過Riser卡轉(zhuǎn)接的方式需要考慮總體損耗裕量,通常要在鏈路中加入Re-timer芯片,AIC卡的總損耗不能超過-9.5 dB @16GHz。PCIe 5.0金手指插槽采用SMT的插座,損耗不能超過 -1.5 dB@16GHz。另外主板RC/CPU封裝典型損耗-8.5dB,AIC EP芯片封裝損耗-4. 2dB。如下圖所示:

為了反映實際鏈路端到端損耗特性,PCIS-SIG協(xié)會延續(xù)了PCIe 4.0的做法,除了CBB/CLB之外,還有可調(diào)ISI板,采用更高性能的MMPX連接器,和SMT的金手指連接器,測試規(guī)范要求使用頻率范圍至少20GHz的網(wǎng)絡(luò)分析儀,測量在PCIe 5.0 32GT/s的奈奎斯特頻率點16GHz頻率下的端到端損耗,包括電纜、夾具PCB、接頭、CEM插槽等損耗。如果考慮Base和CEM中規(guī)定的串?dāng)_和回波損耗測試,需要使用32GHz以上的網(wǎng)絡(luò)分析儀。

采用網(wǎng)絡(luò)分析儀作為主設(shè)備實現(xiàn)完整的通道組網(wǎng)損耗測試。高性能PNA/PNA-X系列,高性價比ENA(E5080B)系列,可分別用在芯片級和板級測試項目中,一個典型組網(wǎng)測試實物圖如下:

?Tx測試組網(wǎng)

Tx測試是基于上述的系統(tǒng)鏈路分配的組網(wǎng)環(huán)境下完成的,通過上述網(wǎng)絡(luò)分析儀測量選擇目標(biāo)損耗的走線對,構(gòu)成總的端到端損耗。PCIe 5.0的32 GT/s不需要使用Dual Port 測試方法,測試Tx時只需要將Data Lane的差分信號接到示波器進(jìn)行波形分析。針對芯片測試,遵循Base Spec,需要50GHz帶寬(UXR0504A或DSAZ504A);主板或AIC卡要求33GHz帶寬,128GSa/s采樣率,推薦選用33G帶寬示波器(UXR0334A)配合D9050PCIC一致性軟件,如下圖:

和AIC的測試組網(wǎng)

由于PCIe 5.0 要求36dB端到端損耗條件下的信號參數(shù),對示波器的底噪、ADC精度都提出更高的要求,基于新一代InP HB2C制程模擬前端,10bit ADC架構(gòu)的UXR系列示波器能夠更好的滿足測試需求。另外,需要注意Tx測試其中一項是Tx Link EQ測試,這個測試需要使用示波器配合誤碼儀進(jìn)行被測件的鏈路協(xié)商響應(yīng)測試,示波器需要4個通道直接連接,詳見文末資料下載。

?Rx測試組網(wǎng)

PCIe5.0校準(zhǔn)分為兩個測試點TP3及TP2,如下圖所示,其中32GT/s的Rx校準(zhǔn)要求50GHz帶寬示波器(UXR0504A或DSAZ504A):

TP3點,定義為誤碼儀(M8040A)輸出電纜末端,校準(zhǔn)時連接到示波器,分別校準(zhǔn)信號幅度800mV/720mV(示波器輸入電壓范圍需滿足該幅度量程),TxEQ,Rj,Sj。

TP2點,定義為從TP3繼續(xù)延伸經(jīng)過可變ISI板及CBB和CLB后,示波器內(nèi)嵌入芯片封裝S參數(shù),以及經(jīng)過參考CDR和均衡器后的TP2P壓力眼圖校準(zhǔn),TP2P校準(zhǔn)的目標(biāo)值分別為EH 15+/-1.5mV, EW 9.375+/-0.5ps。

從PCIe 4.0測試規(guī)范開始,PCIeRx Jitter Tolerance測試變更為Rx Link EQ測試,即誤碼儀(M8040A)通過PCIe鏈路協(xié)商訓(xùn)練被測件到環(huán)回模式,測試環(huán)回誤碼率等。芯片和系統(tǒng)主板Rx LEQ測試組網(wǎng)圖及基于M8040A誤碼儀的AIC Rx Link EQ實物圖,詳見文末資料下載。

?參考時鐘抖動測試

PCIe 5.0 取消了系統(tǒng)主板 Dual Port 測試模式,但專門定義了參考時鐘的測試內(nèi)容。在系統(tǒng)級的PCIe 5.0 PHY Test Spec v0.5 版本已經(jīng)列入了參考時鐘抖動的測試內(nèi)容,將 CLB邊緣 SMP 接口的時鐘信號直接通過同軸電纜接入示波器,示波器帶寬至少 5 GHz。

PCI-SIG在6月份剛剛發(fā)布了Clock Jitter Tool 5.0用于PCIe 5.0系統(tǒng)參考時鐘測試,是德科技示波器內(nèi)的D9050PCIC 一致性測試工具也包含了 PCIe 參考時鐘抖動分析工具,相噪分析選件 D9020JITA使用了相噪分析儀E5052B 的經(jīng)典互相關(guān)算法,基于UXR系列示波器可以進(jìn)行精確的參考時鐘相噪測量。

?小結(jié)

作為PCI-SIG的董事會成員中唯一的測試測量方案提供商,是德科技針對PCIe 5.0/6.0擁有完整的測試解決方案,是唯一一家完整提供從建模、仿真、互連參數(shù)表征、Tx、PLL和Rx測試解決方案的公司。

而PCIe 6.0標(biāo)準(zhǔn)將采用PAM-4調(diào)制技術(shù),PAM-4信號天然的信噪比要比NRZ信號惡化9.6dB,對噪聲更加敏感,基于10bit ADC及擁有業(yè)內(nèi)最低底噪的UXR示波器能更好的應(yīng)對這種挑戰(zhàn);M8040A誤碼儀硬件支持NRZ和PAM-4,支持PCIe 5.0的鏈路協(xié)商,CDR模塊N1076B硬件也支持32GBd或64GBd的NRZ, PAM-4,這些都為未來的技術(shù)演進(jìn)提供了硬件支持,無需更換硬件或多種硬件模塊冗余。

原文標(biāo)題:IC手記 ? PCIe 5.0與高速互聯(lián)芯片

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責(zé)任編輯:haq

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