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電子探針

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晶界擴(kuò)散技術(shù)對電機(jī)設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn)

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學(xué)習(xí)proteus的時(shí)候,一個(gè)例子中出現(xiàn)總線上放電壓探針,用數(shù)字圖表進(jìn)行仿真,出現(xiàn)下面圖的仿真結(jié)果。按照例子來,仿真中,電壓探針不能放在總線上,在網(wǎng)上搜索的結(jié)果也是不能放到總線上。求教:電壓探針能否放置在總線上?如不能,怎么樣出現(xiàn)下圖的仿真結(jié)果?感謝!
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汽車自動(dòng)駕駛、控制芯片AECQ100認(rèn)證測試,

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WIFI探針在安防行業(yè)中的應(yīng)用價(jià)值

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2020-04-02 14:24:364222

什么是探針?相比pogopin探針模組,彈片微針模組有什么優(yōu)勢?

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PCB探針的七大種類

PCB探針是電測試的接觸謀介,屬于重要的電子部件,是電子元器件連接導(dǎo)電的載體。PCB探針廣泛用于測試PCBA的一種數(shù)據(jù)傳送,導(dǎo)電接觸,通過探針導(dǎo)電傳輸功能體的數(shù)據(jù)判斷產(chǎn)品是否正常接觸以及運(yùn)作數(shù)據(jù)正常。
2020-07-25 11:38:224815

INGUN探針在醫(yī)療行業(yè)的應(yīng)用

如何使用正確的檢測技術(shù)幫助拯救生命?INGUN通過為醫(yī)療技術(shù)領(lǐng)域提供專業(yè)的測試解決方案,支持著這個(gè)高要求行業(yè)的制造商實(shí)現(xiàn)最高的產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。我們所使用的測試探針和測試夾具不僅能確保電氣和電子
2020-08-31 17:01:434855

檢查探針的4個(gè)小建議

工具INGUN工具對于保證安全和精確檢測的作用不可小覷。只有通過最佳裝配的針套和探針,才能夠保證電子組件的順利檢測。
2020-12-30 15:45:413297

探針測試儀產(chǎn)品手冊

  HC-Z4 直線四探針電阻率測試儀,包含直線直線四探針夾具、雙探針自動(dòng)切換開關(guān)和測試軟件組成。使用時(shí)需要有一臺(tái)計(jì)算機(jī)安裝測試軟件,可以通過 R232 串行接口、以太網(wǎng)接口、USB 口和 GPIB
2021-05-06 09:20:2754

英鋼INGUN探針參數(shù)

英鋼INGUN探針各種型號(hào)參數(shù)
2022-05-17 11:43:257

射頻探針的歷史及種類介紹

1980年,在Tektronix工作的Reed Gleason與Eric Strid合作發(fā)明了第一臺(tái)高頻晶圓探針,并于1983年聯(lián)合創(chuàng)辦了Cascade Microtech公司。該公司基本上是奠基
2022-05-30 10:20:582735

真空探針臺(tái)測試流程及特點(diǎn)介紹

真空探針臺(tái)主要進(jìn)行MEMS 器件晶圓級的射頻測試、特種氣體環(huán)境測試、壓力測試、光電性能測試、溫度測試、震動(dòng)測試、聲音測試及電參數(shù) 測試,這些測試類型都基于探針臺(tái)的真空環(huán)境。當(dāng)真空探針臺(tái)腔體
2022-06-06 10:44:302018

探針臺(tái)自動(dòng)測試的流程分析

測試效率是探針臺(tái)除定位精度外的一個(gè)重要 指標(biāo)。探針臺(tái)用戶希望在保證精度、穩(wěn)定性的前提 下,最大限度地提高探針臺(tái)的測試效率,來縮短生 產(chǎn)周期,降低成本。本文將從分析探針臺(tái)自動(dòng)測試 的流程入手,提出幾種
2022-06-06 10:50:071145

Altius探針卡的主要特征是什么

Altius探針卡概述 封裝系統(tǒng)(SIP)技術(shù)是將高端邏輯和存儲(chǔ)設(shè)備結(jié)合在一起,用于計(jì)算密集型應(yīng)用(如云計(jì)算和無人駕駛汽車)的關(guān)鍵推動(dòng)力。硅中介層是在不同設(shè)備類型之間提供互連平臺(tái)的關(guān)鍵元素
2022-06-07 15:24:05328

Pyrana 探針卡的主要特征

Pyrana 探針卡概述 對于高達(dá) 10 GHz 的 RF 器件和對電感敏感的應(yīng)用,Pyrana 探針卡提供了出色的信號(hào)完整性、低寄生電感及較長使用壽命。Pyrana 探針卡整合了 Katana
2022-06-13 10:11:23502

晶圓探針測試主要設(shè)備有哪些

晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2022-08-09 09:21:103834

使用兩探針及四探針方法測得的電阻率差異

以上6種粉末材料在使用兩種測試方法測得的電阻率均隨壓力的增大而呈現(xiàn)遞減趨勢,且趨勢一致(如圖2左圖)。取90MPa壓強(qiáng)下的電阻率值進(jìn)行對比分析,GR/LFP/LRM/PBF/LCO四探針測試結(jié)果均小于兩探針的測試結(jié)果
2022-09-22 11:52:273307

探針卡類型介紹

探針卡是由探針(probe pin)、電子元件(component)、線材(wire)與印刷電路板(PCB)組成的一種測試接口,根據(jù)不同的情況,還會(huì)有電子元件、補(bǔ)強(qiáng)板(Stiffener)等的需求,主要對裸芯進(jìn)行測試,即wafer level測試。
2022-10-17 17:44:421781

使用PLTS去嵌方法和探針校準(zhǔn)片SLOT校準(zhǔn)測試結(jié)果對比

測試一:先將網(wǎng)分與線纜校準(zhǔn)后,然后連接兩個(gè)探針測試DUT,將兩個(gè)探針的S參數(shù)、兩個(gè)探針+DUT的整體S參數(shù)分別導(dǎo)出,然后使用PLTS校準(zhǔn)軟件將探針本身S參數(shù)去嵌,得到單獨(dú)DUT的S參數(shù)。
2022-12-08 15:55:424893

如何保養(yǎng)測試探針

在ICT或者FCT測試中,治具上的探針總歸會(huì)測試到一定的壽命時(shí)候變得臟污,造成測試不通,通常的情況下也許探針本身的彈性和力量還是比較好的狀態(tài),但是因?yàn)榕K污的存在造成針頭和被測試物的接觸形成很大的電阻
2022-12-28 10:15:321811

探針是如何工作的

尖端來匹配測試點(diǎn),在這里你可以參考如何選擇探針針頭的選擇。 事實(shí)上,安捷倫ICT測試機(jī)通過一個(gè)探針來檢查PCB線路的開路或短路,從而接觸焊接、引腳和通孔。在EMS(電子制造服務(wù))行業(yè)中,用于檢查電腦線路板、筆記本電腦線路板和服務(wù)器
2022-12-30 09:49:141197

淺談晶圓探針測試的目的 晶圓探針測試主要設(shè)備

晶圓探針測試也被稱為中間測試(中測),是集成電路生產(chǎn)中的重要一環(huán)。晶圓探針測試的目的就是確保在芯片封裝前,盡可能地把壞的芯片篩選出來以節(jié)約封裝費(fèi)用。
2023-01-04 16:11:501579

如何使用探針測試大電流

隨著集成電路的快速發(fā)展,許多電氣和汽車應(yīng)用都采用了大電流功能。如何安全有效地測試這類產(chǎn)品正在成為一個(gè)新的挑戰(zhàn)。 我們還開發(fā)了大電流測試探針,通常用于測試大型充放電設(shè)備。 從參數(shù)特性來看,要傳遞的電流
2023-01-10 08:40:052010

什么是探針卡?有哪些類型呢?

探針卡(Probe card)或許很多人沒有聽過,但看過關(guān)于,也就是晶圓測試方面文章的人應(yīng)該不會(huì)陌生,其中就有提到過探針卡。
2023-02-27 17:48:492327

ABB PLC探針功能介紹

PLCopen有一個(gè)參數(shù)列表,各參數(shù)都有一個(gè)參數(shù)號(hào),以參數(shù)號(hào)讀寫相關(guān)參數(shù)。另外,還可讀取伺服軸的狀態(tài)和軸錯(cuò)誤信息。 本節(jié)介紹探針功能。ABB PLC有兩個(gè)探針功能的功能塊
2023-03-08 13:55:004064

Codima:探針架構(gòu)

探頭架構(gòu)的關(guān)鍵優(yōu)勢是,數(shù)據(jù)保留在本地,只有信息在CodimaToolbox系統(tǒng)之間傳輸。此外,探針的運(yùn)行是并行的,所以對"哪些Cisco路由器技術(shù)支持期限將要結(jié)束"的整個(gè)企業(yè)視圖的請求,將在所有探針上同時(shí)處理,大大加快了進(jìn)程,并將檢索時(shí)間降到最低。
2023-04-18 11:17:02250

半導(dǎo)體晶圓測試的探針卡與LTCC/HTCC的聯(lián)系

晶圓測試的方式主要是通過測試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測試過程中,測試機(jī)臺(tái)并不能直接對待測晶圓進(jìn)行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸。
2023-05-08 10:36:02885

晶圓測試設(shè)備的“指尖”——探針

探針卡是半導(dǎo)體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件,被認(rèn)為是測試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測試電流、測試機(jī)臺(tái)有所不同,針對不同的芯片都需要有定制化的探針
2023-05-08 10:38:273464

晶圓測試設(shè)備的指尖—探針

晶圓測試的方式主要是通過測試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng),在測試過程中,測試機(jī)臺(tái)并不能直接對待測晶圓進(jìn)行量測,而是透過探針卡(Probe Card)中的探針(Probe)與晶圓上的焊墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸而構(gòu)成電性接觸
2023-05-11 14:35:142363

供應(yīng)德國英岡INGUN品牌探針

英岡ingun原裝進(jìn)口探針,測試結(jié)果可靠,直通率高,使用壽命長。
2022-03-10 16:45:041314

影像儀怎么用探針測量?

影像儀換上探針傳感器配置,相當(dāng)于一臺(tái)小的三座標(biāo)測量儀,即為復(fù)合式影像測量儀,如在需要測量高度的地方,用探針取元素(點(diǎn)或面),然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度。
2022-09-22 14:29:42757

奕葉最新四向毫米波探針臺(tái)

奕葉四向毫米波探針臺(tái)
2023-08-23 14:21:22555

測量薄層電阻的四探針

點(diǎn)擊美能光伏關(guān)注我們吧!薄層電阻在太陽能電池中起著非常重要的作用,它影響著太陽能電池的效率和性能。四探針法能夠測量太陽能電池的薄層電阻,從而精確地獲取電池片的電阻數(shù)據(jù)。「美能光伏」擁有的美能掃描
2023-08-24 08:37:061069

高頻探針-鎢針

制造工藝:制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常,鎢粉與其他金屬粉末混合,然后通過拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度,以滿足高頻測試的要求。
2023-09-15 17:04:07529

GB∕T 21636-2021 微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術(shù)語

2023-10-19 08:32:030

cascade探針acp65探針參數(shù)

ACp65是一種常用的探針,被廣泛用于研究細(xì)胞衰老、疾病發(fā)展和治療等領(lǐng)域。在本文中,我們將詳細(xì)介紹ACp65探針的參數(shù)、應(yīng)用以及未來的發(fā)展。 ACp65探針的基本參數(shù) ACp65探針是一種標(biāo)記于抗原
2024-01-10 14:39:01207

CASCADE探針臺(tái)的應(yīng)用場景 cascade探針臺(tái)用途

CASCADE探針臺(tái)是一種高級的網(wǎng)絡(luò)分析工具,可以在網(wǎng)絡(luò)中捕獲和分析數(shù)據(jù)流量。它可以幫助企業(yè)識(shí)別和解決網(wǎng)絡(luò)性能問題、網(wǎng)絡(luò)安全問題以及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化等方面的挑戰(zhàn)。CASCADE探針臺(tái)具有廣泛的應(yīng)用場景,下面
2024-01-31 14:41:25272

探針測試臺(tái)工作原理 探針測試臺(tái)為嘛測試會(huì)偏大?

探針測試臺(tái)是一種用于測試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測試的IC芯片安裝在測試座上,然后通過探針接觸到芯片的引腳,以測試芯片的功能和性能。在測試過程中,探針測試臺(tái)會(huì)生成一系列的測試信號(hào),通過
2024-02-04 15:14:19234

容器探針的三種類型介紹

如果應(yīng)用是慢啟動(dòng)類型,建議配置啟動(dòng)探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數(shù),避免存活探針過早介入導(dǎo)致容器頻繁重啟。如果應(yīng)用啟動(dòng)時(shí)間不固定建議使用啟動(dòng)探針
2024-02-26 11:08:50138

季豐電子探針臺(tái)產(chǎn)品榮獲完整CE認(rèn)證

浙江季豐精密電子有限公司近期獲得CE認(rèn)證MD證書、EMC證書和LVD證書。
2024-03-06 10:42:12227

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