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再獲殊榮！普賽斯儀表榮獲2024年國(guó)產(chǎn)測(cè)試測(cè)量行業(yè)卓越獎(jiǎng)

12月7日，第十五屆亞洲電源技術(shù)發(fā)展論壇在深圳盛大召開(kāi)，此次論壇匯聚了來(lái)自電源領(lǐng)域的國(guó)內(nèi)外頂尖技術(shù)專家和產(chǎn)業(yè)鏈上下游企業(yè)，共同探討行業(yè)動(dòng)態(tài)及新技術(shù)趨勢(shì)。...

2024-12-10 標(biāo)簽：測(cè)量SMU數(shù)字源表 325 0

喜報(bào)！武漢普賽斯獲批2024年湖北省工程研究中心

近日，湖北省發(fā)展和改革委員會(huì)印發(fā)了《關(guān)于公布2024年湖北省工程研究中心認(rèn)定名單的通知》（鄂發(fā)改高技〔2024〕357號(hào)），武漢普賽斯電子股份有限公司（...

2024-12-10 標(biāo)簽：SMU數(shù)字源表測(cè)試設(shè)備 265 0

山東理工大學(xué)物電學(xué)院攜手普賽斯儀表共建半導(dǎo)體物理實(shí)驗(yàn)室！

在創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)發(fā)展戰(zhàn)略下，為進(jìn)一步加強(qiáng)高等教育與產(chǎn)業(yè)的深度融合，促進(jìn)科技成果轉(zhuǎn)化與人才培養(yǎng)質(zhì)量的雙重提升，山東理工大學(xué)物理與光電工程學(xué)院與武漢普賽斯儀表有限...

2024-08-21 標(biāo)簽：半導(dǎo)體SMU數(shù)字源表 599 0

普賽斯儀表攜功率半導(dǎo)體電性能表征一站式解決方案亮相慕尼黑上海電子展!

7月8日，2024慕尼黑上海電子展在上海新國(guó)際博覽中心開(kāi)幕，本屆展會(huì)以新能源汽車、儲(chǔ)能、智能駕駛、衛(wèi)星通信、機(jī)器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源...

2024-08-14 標(biāo)簽：半導(dǎo)體SMU數(shù)字源表 373 0

SMU數(shù)字源表測(cè)試IC芯片電性能方案

芯片測(cè)試作為芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、封裝、測(cè)試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過(guò)對(duì)待測(cè)器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測(cè)，區(qū)別缺陷、驗(yàn)證器件...

2024-05-13 標(biāo)簽：SMU數(shù)字源表IC芯片 570 0

如何用SMU數(shù)字源表簡(jiǎn)化晶體管的iv性能

晶體管特性參數(shù)測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件（DUT）施加電壓或電流，然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng)；通常晶體管特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。...

2024-03-13 標(biāo)簽：晶體管SMU數(shù)字源表 495 0

SMU數(shù)字源表IV掃描測(cè)試納米材料電性能方案

納米材料及器件作為戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)和高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)，是促進(jìn)產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)和高質(zhì)量發(fā)展的重要支柱之一。普賽斯數(shù)字源表具有測(cè)試精度高、微弱信號(hào)檢測(cè)能力強(qiáng)的特點(diǎn)，可...

2024-03-05 標(biāo)簽：測(cè)試SMU數(shù)字源表 794 0

薄膜材料電阻率與霍爾遷移率測(cè)試詳解

薄膜作為一種重要的材料形態(tài)，在各個(gè)領(lǐng)域中都有著廣泛的應(yīng)用。

2024-01-04 標(biāo)簽：集成電路SMU薄膜電阻 1181 0

國(guó)產(chǎn)源表的優(yōu)勢(shì)和應(yīng)用前景分析：聯(lián)訊儀器參數(shù)對(duì)比

在電子測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域，源表是重要的工具，無(wú)法或缺。國(guó)產(chǎn)源表如聯(lián)訊儀器S3022F和S3012H在性能和功能方面已經(jīng)能夠與進(jìn)口源表相媲美。 首先，進(jìn)口源...

2023-07-19 標(biāo)簽：測(cè)量SMU源表 2396 2

新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C，高速高精度測(cè)量！

聯(lián)訊儀器PXIe源測(cè)量單元(SMU)集成高精度源和測(cè)量單元，可利用PXIe源測(cè)量單元構(gòu)建高密度并行測(cè)試系統(tǒng)，以滿足大規(guī)模半導(dǎo)體集成電路的高通道密度，并增...

2023-07-18 標(biāo)簽：測(cè)量SMU數(shù)字源表 816 0

新品 ┃ 聯(lián)訊儀器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

聯(lián)訊儀器全新推出PXIe精密電源/測(cè)量單元S2012C。其最小測(cè)量分辨率達(dá)10fA/100nV，輸出電壓高達(dá)±200V。

2023-01-30 標(biāo)簽：SMU數(shù)字源表 1096 0

聯(lián)訊儀器雙通道SMU-S3022F在晶體管測(cè)試中的應(yīng)用

SMU 在單個(gè)儀表內(nèi)集成了電流源、電壓源、電流表和電壓表，可以通過(guò)液晶屏或者上位機(jī)軟件在各功能之間輕松轉(zhuǎn)換。區(qū)別于傳統(tǒng)的直流電源，SMU可以在四個(gè)象限獨(dú)...

2022-11-08 標(biāo)簽：儀器儀表SMU 1192 0

2612B源表維系通道A沒(méi)有輸出維修案例-吉時(shí)利維修中心

近日某院校送修吉時(shí)利源表2612BC，客戶反饋源表自檢不過(guò)，進(jìn)不了測(cè)試界面，后面燒了通道A沒(méi)有輸出，對(duì)儀器進(jìn)行初步檢測(cè)，確定與客戶描述故障一致。本期將為...

2023-05-12 標(biāo)簽：SMU源表 579 0

keithley 吉時(shí)利2611B數(shù)字源表

出售租賃 回收美國(guó)keithley 吉時(shí)利2611B數(shù)字源表

2023-02-28 標(biāo)簽：SMU數(shù)字源表 436 0

吉時(shí)利2602B源表、雙通道系統(tǒng)源表介紹

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2023-01-29 標(biāo)簽：SMU源表 467 0

LDO電性能測(cè)試方案

LDO常用的電性能參數(shù)測(cè)試，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測(cè)試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù)，因此一...

2021-12-24 標(biāo)簽：SMU 6385 0

高精密數(shù)字源表在OLED器件測(cè)試中的應(yīng)用

NGI推出的N2600系列高精密數(shù)字源表在一部?jī)x器內(nèi)實(shí)現(xiàn)了精密電源(PPS)與高性能數(shù)字萬(wàn)用表（DMM）的集成。線性掃描、對(duì)數(shù)掃描模式完美契合OLED電...

2021-11-21 標(biāo)簽：半導(dǎo)體SMU源表 1273 0

關(guān)于N2600系列高精密數(shù)字源表的介紹

“源表”，一種集數(shù)字萬(wàn)用表 （DMM）、電壓源、電流源、電子負(fù)載和脈沖發(fā)生器功能于一體的測(cè)量?jī)x器，可在提供精確電壓或電流的同時(shí)測(cè)量電流值或電壓值。在行業(yè)...

2021-05-28 標(biāo)簽：SMU儀器數(shù)字源表 1714 0