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標(biāo)簽 > 射頻測(cè)量
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在5G設(shè)備開(kāi)發(fā)過(guò)程中執(zhí)行3GPP射頻測(cè)試不是一件容易的事。這些測(cè)試需要設(shè)置和修改許多信令參數(shù)以及對(duì)5G新無(wú)線電(NR)標(biāo)準(zhǔn)的深刻理解。新的、更復(fù)雜的射頻...
致真精密儀器丨磁場(chǎng)探針臺(tái)系列的應(yīng)用參數(shù)分析
磁場(chǎng)探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試,能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境,并進(jìn)行高精度的直流/射頻測(cè)量。
NI董事會(huì)任命Alex Davern于2017年1月1日起就任NI首席執(zhí)行官兼董事長(zhǎng),James Truchard博士將繼續(xù)擔(dān)任董事會(huì)主席。
由于移動(dòng)性和成本的優(yōu)勢(shì),無(wú)線通信領(lǐng)域的新用戶和新服務(wù)不斷增多,市場(chǎng)對(duì)于無(wú)線通信技術(shù)的需求也持續(xù)升溫。不斷發(fā)展的射頻技術(shù)會(huì)催生出更加尖端的測(cè)量?jī)x器。在3G...
NI發(fā)布相位相干射頻測(cè)量解決方案 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)于3月1日推出針對(duì)多通道多輸入多輸出(M...
2010-03-27 標(biāo)簽:射頻測(cè)量 857 0
如何提高射頻測(cè)試儀器的射頻測(cè)量技術(shù)
概覽 現(xiàn)代射頻儀器具有遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)其前代產(chǎn)品的令人印象深刻的測(cè)量能力和精度。然而,如果不能提供高品質(zhì)的信號(hào),這些儀器就不能充分發(fā)揮其潛能。完備的
2010-09-07 標(biāo)簽:射頻測(cè)量 665 0
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