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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過程。
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高低溫試驗(yàn)在電源模塊中的應(yīng)用原理是這樣的:不同的行業(yè)對(duì)電源模塊的工作溫度范圍有著不同的要求。高低溫試驗(yàn)旨在確立產(chǎn)品在極端氣候地理環(huán)境(即低溫和高溫)下的...
2024-07-05 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱 430 0
晶圓測(cè)試的對(duì)象是晶圓,而晶圓由許多芯片組成,測(cè)試的目的便是檢驗(yàn)這些芯片的特性和品質(zhì)。為此,晶圓測(cè)試需要連接測(cè)試機(jī)和芯片,并向芯片施加電流和信號(hào)。
2024-04-23 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體存儲(chǔ)器半導(dǎo)體制程 1715 0
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測(cè)試
CP(Chip Probing)測(cè)試也叫晶圓測(cè)試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對(duì)wafer進(jìn)行測(cè)試,這樣就可以把有問題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試測(cè)試機(jī) 1805 0
數(shù)字時(shí)代半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn)與智能制造解決方案優(yōu)勢(shì)
集成電路反映了一個(gè)相對(duì)較新的世界秩序,在這個(gè)秩序中,國家間的貿(mào)易緊張和供應(yīng)鏈中斷是持續(xù)的威脅,大流行病的影響也繼續(xù)影響著這個(gè)行業(yè)。盡管面臨這些挑戰(zhàn),但在...
2024-01-15 標(biāo)簽:集成電路人工智能半導(dǎo)體器件 490 0
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn),而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽:芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2093 0
封裝工序 (Packaging):是指 生產(chǎn)加工后的晶圓進(jìn)行 切割、焊線塑封,使電路與外部器件實(shí)現(xiàn)鏈接,并為半導(dǎo)體產(chǎn)品提供機(jī)械保護(hù),免受物理、化學(xué)等外界...
MEMS傳感器轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試設(shè)備
聯(lián)合儀器MEMS測(cè)試系統(tǒng)UI320采用測(cè)試機(jī)加轉(zhuǎn)臺(tái)的構(gòu)架,是對(duì)MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測(cè)試平臺(tái)。可對(duì)MEMS傳感器芯片進(jìn)行測(cè)試,支持I2C/SPI的通...
2021-12-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試MEMS陀螺儀 2291 0
成品測(cè)試主要是指晶圓切割變成芯片后,針 對(duì)芯片的性能進(jìn)行最終測(cè)試,需要使用的設(shè)備主要為測(cè)試機(jī)和分選機(jī)。晶圓測(cè)試(Chip Probing),簡稱 CP ...
2023-06-25 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試 2327 0
半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的探針卡制作及應(yīng)用
精密陶瓷基板具有優(yōu)良的電絕緣性、高導(dǎo)熱性、高附著強(qiáng)度和大的載流能力。使用溫度范圍寬,可以達(dá)到-55℃~850℃,熱膨脹系數(shù)接近于硅芯片。在多溫區(qū)測(cè)試環(huán)境...
2023-05-19 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體測(cè)試探針卡 4516 0
什么是半導(dǎo)體測(cè)試探針?半導(dǎo)體測(cè)試探針的需求來自哪里?
Chiplet將復(fù)雜芯片拆解成一組具有單獨(dú)功能的小芯片單元die(裸片),通過die-to-die將模塊芯片和底層基礎(chǔ)芯片封裝組合在一起。相較于傳統(tǒng)So...
2023-05-16 標(biāo)簽:探針半導(dǎo)體測(cè)試chiplet 1836 0
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備行業(yè)深度報(bào)告(2022)
從所處環(huán)節(jié)看,半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備從設(shè)計(jì)驗(yàn)證到最終測(cè)試均不可或缺,貫穿整個(gè)半導(dǎo)體制造過程,半導(dǎo)體集成度提升、小型化、產(chǎn)品門類增加以及需求量增大對(duì)檢測(cè)設(shè)備技術(shù)提...
2022-09-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體制造半導(dǎo)體測(cè)試 2268 1
新品上線 | 源來!我的測(cè)試方案只差一點(diǎn)大電流!
DP813和DP822可廣泛應(yīng)用于光通訊模塊測(cè)試、半導(dǎo)體測(cè)試、芯片和集成電路測(cè)試、工業(yè)ATE測(cè)試等領(lǐng)域,為工程師提供了大電流低紋波的高功率線性電源,單路...
ITECH半導(dǎo)體測(cè)試方案解析,從容應(yīng)對(duì)全球功率半導(dǎo)體市場(chǎng)風(fēng)起云涌
功率模塊供應(yīng)商會(huì)搭建不同的產(chǎn)品解決方案,并進(jìn)行轉(zhuǎn)換效率,溫升等指標(biāo)驗(yàn)證,向下游的客戶(生產(chǎn)電機(jī)控制器,UPS,光伏逆變器制造商…)提供參考案例并證明其性...
2020-08-17 標(biāo)簽:IGBT功率模塊功率半導(dǎo)體 1053 0
利用?NI?半導(dǎo)體?測(cè)試?系統(tǒng)?(STS)?軟件?的?增強(qiáng)?功能,?加速?測(cè)試?程序?開發(fā),?提高?運(yùn)營?
國家儀器該公司于今日推出了STS軟件的最新增強(qiáng)功能,這些功能可顯著提升NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的編程和調(diào)試體驗(yàn),并大大提高測(cè)試執(zhí)行速度、并行測(cè)試效率和整體設(shè)備效率。
2019-10-14 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試?NI 1206 0
本視頻主要介紹了半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備,分別有橢偏儀、四探針、熱波系統(tǒng)、相干探測(cè)顯微鏡、光學(xué)顯微鏡以及掃描電子顯微鏡。
2018-11-02 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體測(cè)試 2.7萬 0
電源紋波測(cè)試在電源質(zhì)量檢測(cè)中是很重要的一項(xiàng)參數(shù)。由于直流穩(wěn)壓電源一般是由交流電源經(jīng)整流、濾波、穩(wěn)壓等環(huán)節(jié)而形成的,這就不可避免地在直流電壓中多少帶有一些...
2016-04-07 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)量示波器紋波 7.6萬 0
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