影響對稱電纜耦合損耗性能的原因有哪些

　　目前等同采用IEC 61196-1（1995）的國家標準GB/T 17737.1-2000 標準中，關(guān)于屏蔽效率（SCREENING EFFECTIVENESS）有以下幾種方法：表面轉(zhuǎn)移阻抗——注入線法（頻域，幾千赫茲至3 千兆赫茲）、表面轉(zhuǎn)移阻抗——三同軸法（100MHz 以下）、容性耦合導納—— 電容法（約1000Hz 頻率）、屏蔽衰減——吸收鉗法（30～2500MHz）以及屏蔽衰減—測量 達到和超過3GHz 的屏蔽衰減as 的試驗方法等。我們通過對三同軸測試系統(tǒng)測量對稱電纜的研究，設計并組建了三同軸測試系統(tǒng)。同時對SPT、FPT、SFPT 結(jié)構(gòu)的五類、六類等屏蔽對稱電纜進行了測試和分析，總結(jié)出了一 些影響對稱電纜耦合損耗性能的因素。

　　一、 測試原理

　　差分模式下的平衡電纜會輻射一部分輸入功率，大小取決于電纜均勻性。對于非屏蔽平衡電纜（UTP）來說這種輻射就是不平衡衰減au。對帶屏蔽平衡電纜（STP）來說，這些自 線對的干擾功率被外屏蔽附加衰減，這種不對稱使屏蔽產(chǎn)生電流，并且通過轉(zhuǎn)移阻抗和容性 耦合阻抗耦合到外電路中。所以通常帶屏蔽平衡電纜（STP）的抗電磁干擾效率是由線對不 平衡衰減 au 和屏蔽層的屏蔽衰減as相加而成的。測試裝置是由被測電纜和金屬管組成的三同軸系統(tǒng)，由信號發(fā)生器激勵的匹配被測電纜 的內(nèi)電路或主電路會產(chǎn)生干擾信號，外電路或二次電路的干擾是由被測電纜的外導體（多層屏蔽電纜的最外層）和中心軸放置被測電纜的金屬管引起的，測試裝置原理圖見圖1。二次電路遠端的峰值電壓需要測量，而二次回路近端是短路的，因此測試中接收機的匹配不是必須的。如果接收機的阻抗要比二次回路特性阻抗小，遠端的峰值電壓與接收機的輸入阻抗無關(guān)。但是，為了減小失配，對不同外徑的電纜可以選用不同直徑范圍的銅管。