資料介紹
AEC-Q100 i t f li bilit t t t d fi d b th A t ti El t i C il Q100 is a set of reliability stress tests d efine d by the A utomotive Electronics Council f th ore purpose of qualifying integrated circuits (ICs) for automotive applications. Linear qualifies products based on AEC-Q100 guidelines and guarantees that all automotive products exceed current AEC- Q100 requirements by conducting additional device and package level stress tests. These additional tests may include but are not limited to the following: Power cycling liquid additional tests may include, but are not limited to the following: Power cycling, liquid-to-liquid thermal shock, instant solder shock, and 100% oxide stress tests. These unique and rigorous tests validate the robustness of Linear‘s products prior to production release.
- R570可靠性數(shù)據(jù)
- R207可靠性數(shù)據(jù)
- R030可靠性數(shù)據(jù)
- R537可靠性數(shù)據(jù)
- R352可靠性數(shù)據(jù)
- R324可靠性數(shù)據(jù)
- R081可靠性數(shù)據(jù)
- R375可靠性數(shù)據(jù)
- R183可靠性數(shù)據(jù)
- R381可靠性數(shù)據(jù)
- R379可靠性數(shù)據(jù)
- R318可靠性數(shù)據(jù)
- R258可靠性數(shù)據(jù)
- R597可靠性數(shù)據(jù)
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