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廣電計(jì)量

廣電計(jì)量一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。專(zhuān)注于為客戶(hù)提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢(xún)與培訓(xùn)等專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)。

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傳感器液態(tài)沖擊試驗(yàn),集成電路器件冷熱交替循環(huán)試驗(yàn)

型號(hào): 氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)
品牌: GRGTEST(廣電計(jì)量)

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 服務(wù)區(qū)域 全國(guó)
  • 服務(wù)資質(zhì) CNAS認(rèn)可
  • 發(fā)票 可提供
  • 報(bào)告類(lèi)型 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告

--- 產(chǎn)品詳情 ---

服務(wù)內(nèi)容

5G的商業(yè)化進(jìn)程中,裝備、航空、自動(dòng)化、汽車(chē)、電子電器儀表組件、PCB板、IC芯片等行業(yè)與領(lǐng)域?qū)ζ骷目煽啃蕴岢隽烁叩囊蟆鹘y(tǒng)的氣-氣溫沖已逐漸難以滿(mǎn)足對(duì)產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證,行業(yè)需要轉(zhuǎn)換時(shí)間更少、溫度變化更為劇烈的嚴(yán)苛方法,以篩選出性能可靠的產(chǎn)品。

服務(wù)范圍

電子電氣產(chǎn)品,如:車(chē)載模組、裝備電子、IC芯片等

參照標(biāo)準(zhǔn)

JESD22 B106、MIL-STD-202 Method 107、GJB128A: 1056等

測(cè)試周期

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、客戶(hù)指定的試驗(yàn)條件來(lái)定(按小時(shí)計(jì)算)

檢測(cè)資質(zhì)

CNAS認(rèn)可

服務(wù)背景

電子元器件產(chǎn)品在研制、生產(chǎn)等過(guò)程中會(huì)因各種原因產(chǎn)生缺陷,而產(chǎn)品的可靠性工程可通過(guò)功能性能驗(yàn)證、環(huán)境應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力等試驗(yàn)排查或激發(fā)產(chǎn)品的某些潛在缺陷,避免后續(xù)使用中出現(xiàn)不可逆轉(zhuǎn)的失效。其中,溫度沖擊試驗(yàn)(Temperature ramp >10℃/min)能夠使電子元器件在極端溫度的快速變化中,暴露出器件在弱于極端溫度變化條件下會(huì)出現(xiàn)的潛在缺陷,使產(chǎn)品的可靠性更接近實(shí)際需要,從而保證和提高電子產(chǎn)品的可靠性。

我們的優(yōu)勢(shì)

1、服務(wù)覆蓋全國(guó):廣電計(jì)量是一家全國(guó)布局、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu),技術(shù)服務(wù)保障網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國(guó)。

2、資源配置完善:廣電計(jì)量聚焦集成電路失效分析技術(shù),擁有業(yè)界領(lǐng)先的專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析系統(tǒng)設(shè)備。(引進(jìn)日本HITACHI的液冷式溫度沖擊設(shè)備)

3、提供定制化服務(wù):憑借齊全的檢測(cè)能力和多行業(yè)豐富的服務(wù)經(jīng)驗(yàn),廣電計(jì)量可針對(duì)客?的研發(fā)需求,提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢(xún)、協(xié)助客戶(hù)開(kāi)展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測(cè)試服務(wù),如配合客戶(hù)開(kāi)展NPI階段驗(yàn)證,在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶(hù)完成批次性失效分析。

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    1月11日至12日,備受矚目的后摩爾器件研討會(huì)在杭州順利召開(kāi)。廣電計(jì)量作為唯一的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)受邀參會(huì),并攜半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈綜合技術(shù)解決方案亮相。公司黨委副書(shū)記、總經(jīng)理明志茂為大會(huì)優(yōu)秀poster獲獎(jiǎng)?wù)哳C獎(jiǎng)。活動(dòng)由西安電子科技大學(xué)杭州研究院、北京大學(xué)、杭州電子科技大學(xué)聯(lián)合舉辦。多位院士聽(tīng)取了多個(gè)國(guó)家級(jí)項(xiàng)目的匯報(bào)并進(jìn)行了審核,圍繞后摩爾時(shí)代芯片領(lǐng)域的關(guān)鍵問(wèn)題展開(kāi)
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