--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 產(chǎn)地 美國
- 類型 霍爾型
- 品牌 KRi
--- 產(chǎn)品詳情 ---
因產(chǎn)品配置不同, 價(jià)格貨期需要電議, 圖片僅供參考, 一切以實(shí)際成交合同為準(zhǔn)
美國 KRI 霍爾離子源 eH 400
上海伯東代理美國原裝進(jìn)口 KRI 霍爾離子源 eH 400 低成本設(shè)計(jì)提供高離子電流, 霍爾離子源 eH 400 尺寸和離子能量特別適合中小型的真空系統(tǒng), 可以控制較低的離子能量, 通常應(yīng)用于離子輔助鍍膜, 預(yù)清洗和低能量離子蝕刻.
尺寸: 直徑= 3.7“ 高= 3”
放電電壓 / 電流: 50-300eV / 5a
操作氣體: Ar, Xe, Kr, O2, N2, 有機(jī)前體
KRI 霍爾離子源 eH 400 特性
? 可拆卸陽極組件 - 易于維護(hù); 維護(hù)時(shí), 最大限度地減少停機(jī)時(shí)間; 即插即用備用陽極
? 寬波束高放電電流 - 均勻的蝕刻率; 刻蝕效率高; 高離子輔助鍍膜 IAD 效率
? 多用途 - 適用于 Load lock / 超高真空系統(tǒng)
? 等離子轉(zhuǎn)換和穩(wěn)定的功率控制
KRI 霍爾離子源 eH 400 技術(shù)參數(shù):
KRI 霍爾離子源 eH 400 應(yīng)用領(lǐng)域:
? 離子輔助鍍膜 IAD
? 預(yù)清潔 Load lock preclean
? In-situ preclean
? Low-energy etching
? III-V Semiconductors
? Polymer Substrates
1978 年 Dr. Kaufman 博士在美國創(chuàng)立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研發(fā)生產(chǎn)考夫曼離子源, 霍爾離子源和射頻離子源. 美國考夫曼離子源歷經(jīng) 40 年改良及發(fā)展已取得多項(xiàng)專利. 離子源廣泛用于離子清洗 PC, 離子蝕刻 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 領(lǐng)域, 上海伯東是美國考夫曼離子源中國總代理.
若您需要進(jìn)一步的了解 KRI 霍爾離子源, 請(qǐng)聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士,分機(jī)107
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
為你推薦
-
inTEST 芯片高低溫沖擊熱流儀2024-10-18 13:59
產(chǎn)品型號(hào):ATS-535 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-60 至+ 225°C 特點(diǎn):集成空壓機(jī) -
inTEST BT28 桌面型高低溫沖擊熱流儀2024-09-12 13:56
產(chǎn)品型號(hào):inTEST BT28 溫度范圍:-28° 至 +225°C 溫度顯示和分辨率:+/- 0.1°C -
離子束刻蝕機(jī) 20 IBE-J2024-09-12 13:51
產(chǎn)品型號(hào):20 IBE-J 特點(diǎn):干法物理納米級(jí)刻蝕 射頻角度:可以任意調(diào)整 -
inTEST Sigma M256 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:58
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M256 產(chǎn)地:美國 腔室體積:255 L -
inTEST Sigma M170 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:55
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M170 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-185°C 至 400°C 腔室體積:165 L -
inTEST Sigma M58 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:19
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M58 產(chǎn)地:美國 寬溫度范圍:-185 °C 至 500°C 腔室體積:59 L -
inTEST Sigma M10 高低溫試驗(yàn)箱2023-12-01 10:06
產(chǎn)品型號(hào):Sigma M10 產(chǎn)地:美國 寬溫度范圍:-185°C 至 500°C 腔室體積:10 L -
inTEST Sigma 高低溫試驗(yàn)箱, 溫度環(huán)境試驗(yàn)箱2023-12-01 09:39
產(chǎn)品型號(hào):Sigma 品牌:inTEST 產(chǎn)地:美國 溫度范圍:-185°至 +500°C -
普發(fā)分流式分子泵 SplitFlow2023-07-11 10:13
產(chǎn)品型號(hào):SplitFlow 產(chǎn)地:德國 -
普發(fā)分子泵 HiPace 80 Neo2023-07-11 10:09
產(chǎn)品型號(hào):HiPace 80 Neo 產(chǎn)地:德國
-
Gel-Pak VRP 可變黏度防靜電真空釋放盒2024-10-18 14:19
-
氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏系統(tǒng)2024-09-13 10:53
上海伯東氦質(zhì)譜檢漏儀 ASM 340W 適用于動(dòng)力電池行業(yè)和汽車行業(yè)的檢漏系統(tǒng), 提供鋰電池蓋帽(蓋板)檢漏, 汽車壓縮機(jī)真空檢漏解決方案.365瀏覽量 -
KRi 霍爾離子源 EH 2000 望遠(yuǎn)鏡鏡片光學(xué)鍍膜應(yīng)用2024-09-13 10:38
-
美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀助力半導(dǎo)體芯片研發(fā)2024-09-13 10:19
上海伯東代理美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導(dǎo)體測試機(jī), 可正確評(píng)估與參數(shù)標(biāo)定芯片開發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質(zhì)檢查, 第三方認(rèn)證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測試作為一種常見的測試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導(dǎo)體特性測試.509瀏覽量 -
離子束刻蝕機(jī)物理量傳感器 MEMS 刻蝕應(yīng)用2024-09-12 13:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于半導(dǎo)體新材料和設(shè)備管道檢漏2023-11-09 15:31
-
氦質(zhì)譜檢漏儀應(yīng)用于真空鍍膜生產(chǎn)線2023-08-07 14:35
-
Gel-Pak VR真空釋放盒應(yīng)用于50V GaN HEMT 芯片2023-08-07 14:28
-
inTEST熱流儀邏輯芯片 FPGA高低溫沖擊測試2023-08-07 14:21
FPGA 芯片需要按照 JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)做溫度循環(huán) TC 測試, 讓其經(jīng)受極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換. 一般在?-55℃~150℃ 進(jìn)行測試, 傳統(tǒng)的環(huán)境箱因?yàn)樯禍厮俣仁芟? 無法滿足研發(fā)的快速循環(huán)測試需求. 上海伯東美國 inTEST 熱流儀 ATS-710E 變溫速率約 10 s, 實(shí)現(xiàn) FPGA 芯片極端高溫和低溫之間的快速轉(zhuǎn)換測971瀏覽量 -
上海伯東分子泵應(yīng)用于 LED 芯片退火合金爐2023-08-07 14:14
-
Aston Impact 高靈敏度質(zhì)譜分析儀 CVD 清洗終點(diǎn)優(yōu)化2024-10-18 13:42
-
Aston 質(zhì)譜儀等離子體刻蝕過程及終點(diǎn)監(jiān)測2024-10-18 13:33
-
Aston 質(zhì)譜分析儀搭配 Scrubber 半導(dǎo)體尾氣處理設(shè)備進(jìn)行氣體檢測2024-10-18 13:24
-
鈮酸鋰 LiNbO3 薄膜 IBE 離子束刻蝕2024-09-13 10:59
-
美國 Gel-Pak 應(yīng)用于 VCSEL 芯片生產(chǎn)2024-09-13 10:28
-
美國進(jìn)口 KRi 考夫曼離子源 KDC 160 硅片刻蝕清潔案例2024-09-13 10:10
-
inTEST 熱流儀車載顯示器高低溫光學(xué)測量應(yīng)用2024-09-12 14:17
通過美國 inTEST ATS-545 熱流儀給車載顯示器升溫或降溫, 測量其在不同溫度下任意點(diǎn)的光學(xué)特性, 實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境 -40 至 100℃ 下產(chǎn)品的亮度, 色度, 響應(yīng)時(shí)間和可視角度測試.173瀏覽量 -
HiCube 80 Eco 分子泵組搭配低溫阻抗測試儀應(yīng)用2023-12-08 14:29
-
SF6 密度繼電器氦質(zhì)譜檢漏法2023-12-08 14:21
-
新能源汽車 IGBT 功率器件高低溫沖擊測試2023-12-01 15:48