光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)系統(tǒng)的原理、參數(shù)及功能

精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)主要用于各類薄膜產(chǎn)品的檢測(cè)工作，可針對(duì)生產(chǎn)過程中的薄膜表面出現(xiàn)的斷經(jīng)、斷緯、破洞、油污、經(jīng)緯污、雙緯、稀弄、粗節(jié)紗、空織、松緊經(jīng)、圈緯、小散絲、松緯、經(jīng)起毛、開口不清等瑕疵進(jìn)行檢測(cè)，同時(shí)系統(tǒng)會(huì)把檢測(cè)出來的問題，提供生產(chǎn)統(tǒng)計(jì)質(zhì)檢報(bào)告，統(tǒng)計(jì)和分析各類疵點(diǎn)，完全取代人工肉眼進(jìn)行瑕疵檢測(cè)。大大的節(jié)省了生產(chǎn)成本，為生產(chǎn)提質(zhì)增效。那么薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)方法及特點(diǎn)是什么呢？

精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)系統(tǒng)原理：

視覺系統(tǒng)的輸出并非圖像視頻信號(hào)，而是經(jīng)過運(yùn)算處理之后的檢測(cè)結(jié)果（如缺陷、尺寸等數(shù)據(jù)）。通常，機(jī)器視覺檢測(cè)就是用機(jī)器代替肉眼來做測(cè)量和判斷。首先采用CCD照相機(jī)將被攝取目標(biāo)轉(zhuǎn)換成圖像信號(hào)，傳送給專用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度、顏色等信息，轉(zhuǎn)變成數(shù)字化信號(hào)。

圖像系統(tǒng)對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行各種運(yùn)算來抽取目標(biāo)的特征，如：面積、長度、數(shù)量、位置等。最后，根據(jù)預(yù)設(shè)的容許度和其他條件輸出結(jié)果，如：缺陷、尺寸、角度、偏移量、個(gè)數(shù)、合格/不合格、有/無等。上位機(jī)（如PC和PLC）實(shí)時(shí)獲得檢測(cè)結(jié)果后，指揮運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)或I/O系統(tǒng)執(zhí)行相應(yīng)的控制動(dòng)作（如定位和分類）。

精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：

檢測(cè)對(duì)象：保護(hù)膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學(xué)膜等等

典型瑕疵：晶點(diǎn)、黑點(diǎn)、蚊蟲、污點(diǎn)、線條、破洞等

檢測(cè)速度：Max：800m/min

檢測(cè)幅寬：任意（根據(jù)生產(chǎn)線定制）

檢測(cè)精度：0.1mm~1mm（取決于相機(jī)數(shù)量、產(chǎn)線幅寬及車速）

瑕疵標(biāo)識(shí)：自動(dòng)聲光報(bào)警、截取當(dāng)前瑕疵圖片及實(shí)時(shí)X/Y坐標(biāo)瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據(jù)批次號(hào)自動(dòng)記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

精譜測(cè)控光學(xué)薄膜污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)功能：

精確的瑕疵坐標(biāo)（X，Y坐標(biāo)）定位及顯示；

自動(dòng)聲光報(bào)警，并顯示當(dāng)前及前后10個(gè)瑕疵圖像；

實(shí)時(shí)瑕疵標(biāo)定，記錄瑕疵直徑、坐標(biāo)、類型等信息；

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)米數(shù)，報(bào)警信息顯示；

產(chǎn)品基本信息模塊，記錄產(chǎn)品批次、型號(hào)、規(guī)格、班號(hào)、操作員等信息；

根據(jù)瑕疵形狀、面積大小、灰度差異等特征實(shí)現(xiàn)瑕疵自動(dòng)分類；

自動(dòng)生成每一卷產(chǎn)品的產(chǎn)品瑕疵記錄，用戶可根據(jù)批次號(hào)直接查詢；

自動(dòng)換卷，自動(dòng)打印每一卷產(chǎn)品信息的質(zhì)量報(bào)表；

檢測(cè)歷史記錄的自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、保存、查詢、調(diào)用及打印等功能

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